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Fターム[2F067AA51]の内容

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【課題】ドリフトが生じやすい試料であっても、輪郭の明瞭さが安定した試料像を得ることができる画像形成方法及びその方法を用いる荷電粒子線装置を提供する。
【解決手段】画像形成方法は、試料Sをラインスキャンによって撮像し、第1の画像データを得る第1の撮像工程と、第1の画像データの輪郭の明瞭さを数値化する第1の数値化工程と、第1の数値化工程で得られた第1の画像データの輪郭の明瞭さを表す数値M1から、明瞭さの閾値Msを設定する閾値設定工程と、試料Sをエリアスキャンによって撮像し、第2の画像データを得る第2の撮像工程と、第2の画像データの輪郭の明瞭さを数値化する第2の数値化工程と、第2の画像データの輪郭の明瞭さを表す数値M2が閾値Msを満たしているか判定する判定工程と、判定工程の結果に基づいて、画像を選択して記憶する記憶工程とを備えるものとした。 (もっと読む)


【課題】液滴吐出ヘッドにおける液滴の挙動を観察する。
【解決手段】ノズル13が連通する液室12に充填された液に振動印加または加熱により液滴15をノズル孔14から射出させる液滴吐出ヘッド10に対しエックス線をパルス照射する照射手段と、照射手段により照射された液滴吐出ヘッドのエックス線透過像または反射像を画像化する画像化手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】微細な半導体パターンに対する広視野な撮像領域(EP)において、コンタミネーション、画像の撮像ずれや歪みに対してロバストなパノラマ画像合成を実現できるようにした走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成技術を提供することにある。
【解決手段】走査荷電粒子顕微鏡を用いた広視野な撮像領域(EP)におけるパノラマ画像合成技術において、各調整ポイントの配置並びに各局所撮像領域(及び各調整ポイントの撮像順からなる撮像シーケンスを最適化して撮像レシピとして作成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】鍛造直後に鍛造物の寸法を測定可能な鍛造物寸法測定装置を提供する。
【解決手段】鍛造物寸法測定装置10であって、鍛造物に向けてX線を照射するX線照射手段12と、X線が照射された鍛造物のX線画像を撮影するX線画像撮影手段14と、撮影されたX線画像が示すX線強度分布に基づいて、鍛造物表面に形成されている酸化物と鍛造物との境界を画定する境界画定手段16aと、画定された境界に基づいて、鍛造物の寸法を算出する寸法算出手段16bを備えている。 (もっと読む)


【課題】半田接合部に存在するボイドを特定し、そのボイドによる影響を除くことにより、基準となる位置を正確に特定することができる半田接合部の基準位置特定方法および基準位置特定装置を提供する。
【解決手段】本方法は、基板上の電子部品の半田接合部に放射線を照射して透過放射線を検出する透過放射線検出工程と、検出した透過放射線の2次元強度分布からボイドと判定される領域の特徴情報を取得するボイド情報取得工程と、2次元強度分布の強度変化に関する特徴情報(エッジ画像)を取得する2次元強度分布特徴情報取得工程と、ボイド情報に基づいて2次元強度分布特徴情報からボイド情報を除去した2次元強度分布補正特徴情報(補正エッジ画像)を取得する2次元強度分布補正特徴情報取得工程と、2次元強度分布補正特徴情報から所定の特徴を示す情報を基準位置情報として抽出し、これに基づいて基準位置を特定する基準位置特定工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】実製品と同等の被検体に対して衝撃を与え、その被検体の内部構造に掛かる衝撃を観察ないし解析することにある。
【解決手段】X線発生器1から照射されたX線ビーム9内で被検体4に衝撃を与え、当該被検体4から透過してくるX線強度分布であるX線透過像を、高速度カメラ11を備えたX線検出器3で毎秒100フレーム以上の速度で連続撮影し、デジタルの透過像に変換し記録する。この記録されたデジタルの透過像を、表示手段8,13によって毎秒100フレーム以上の速度から所定の低減倍の速度のもとにスローモーションで動画表示し、前記被検体の内部構造の状態を観察する衝撃試験装置である。 (もっと読む)


【課題】
本発明の目的は、同種画像間の画像認識に用いられるテンプレートと同等の情報を、設計データに基づいて形成されるテンプレートに付加することで、実画像を取得することなく、設計データに基づいてテンプレートを作成することのできる容易性の維持と、テンプレートと実画像の一致度を高めることによる画像認識技術性能向上の両立にある。
【解決手段】
上記目的を達成するために、以下に設計データに基づいて、画像認識用のテンプレートを作成する際に、当該テンプレートによって特定される領域の材料情報に基づいて、当該テンプレート内の各位置の輝度情報を設定する方法,装置、及びプログラムを提案する。また、その一例として、材料の情報に加えて、上記領域上に配置されたパターンの大きさ,画像取得装置の装置条件,試料の層情報,パターンの線分情報の少なくとも1つの情報に基づいて、輝度レベルを設定する。 (もっと読む)


【課題】薄膜結晶についても容易に表面形状や結晶性を評価可能な技術を提供する。
【解決手段】X線波面センサは、入射されるX線を複数の光束に分割する波面分割素子と、各光束を試料の異なる領域に照射し、それぞれの反射光を干渉させて検出する計測器とを備える。例えば、X線発生装置10から入射されるX線をX線プリズム12によって波面分割し、一方の光束はそのまま試料14に当て反射光を検出器16で検出する。もう一方の光束は、X線プリズム15によって偏向して試料14に当て反射光を検出器16で検出する。検出器16に現れる干渉縞の向きや間隔から、試料結晶14の表面形状や結晶性の評価が可能となる。 (もっと読む)


【課題】わずかな間隔の違いを拡大して表現するモアレ法を、特に微細な領域での測定を得意とする電子線モアレ法を用い、容易に走査照射装置の走査精度を検定する方法を提供する。
【解決手段】検定試料として、グリッドを形成する材料と基板とが粒子線又はエネルギー線に対する透過性又は反射特性又は電子やイオンの発生特性が異なるようにして、前記基板にグリッドが形成された基準板に対して、平行にあるいは鋭角な角度を持って前記粒子線又はエネルギー線を走査状に照射して画像を得る。広範囲における倍率を検定できるよう、基準となるグリッドを校正すべき装置の能力に見合うように作製し、これを用いてモアレ縞を発生させ、このモアレ縞の形状より、走査幅の不均一や不正確さを検定校正する。 (もっと読む)


【課題】焼入れ硬化層の深さ等を高精度に評価できて、高度な焼入れ品質が要求される焼入れ部品でも好適に使用可能な焼入れ硬化層の評価方法及びその装置を提供する。
【解決手段】焼入れ部品の硬化層形成部分を誘導加熱して硬化層を形成した後に、前記硬化層の画像を撮像すると共に硬化層の電気的特性値を測定し、該画像データと電気的特性値とに基づいて硬化層の深さ等を評価することを特徴とする。また、前記画像が、X線による透過画像もしくは光CT、磁気共鳴による断層画像であり、前記電流的特性値が、電流値と周波数の少なくとも一つであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】フォトマスクのパターン又はフォトマスクのOPCパターンの寸法を容易に且つ正確に測定する。
【解決手段】本発明のパターン測定方法は、所定のパターンに対応する基準パターンと、予め指定された測定点と、を取得するステップと、基準パターンの外形線のうち、測定点の両側の直線状の2本の線分を含むように測定領域を設定するステップと、所定のパターンの走査像に、測定領域を重ね合わせ、測定領域にある、所定のパターンの走査像の2本の輪郭線の間の寸法を測定するステップと、を含む。測定領域は、2本の線分に接続される角部の近傍を含まないように設定する。 (もっと読む)


【目的】本発明は、面積測定方法および面積測定プログラムに関し、走査型電子顕微鏡を用いて測定対象の任意形状の図形の全方位のエッジ位置をラインプロファイルでそれぞれ検出して当該図形の各エッジ位置を正確に決定してその面積を極めて高精度に測定する目的とする。
【構成】電子線ビームを測定対象の任意形状の図形に面走査してパターン画像を取得するステップと、パターン画像の輪郭線を抽出するステップと、輪郭線の所定各点において、直交する直交角度θを算出するステップと、算出した直交角度θの方向に、細く絞った電子線ビームでライン走査してラインプロファイルを生成するステップと、ラインプロファイルからエッジの位置を検出し、エッジの位置を図形の輪郭線の位置と決定するステップと、生成した図形の輪郭線で囲まれた内部の面積を算出するステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】被検体に対する撮影画像を使った検査を容易かつ高精度で行うことができる検査装置と、コンピュータをそのような検査装置として動作させる検査プログラムを提供する。
【解決手段】同一の被検体に対する、互いに撮影時刻が異なる複数の撮影画像を入手する画像入手部310と、複数の撮影画像のうちの2つの撮影画像について、一方の撮影画像の変形によりそれら2つの撮影画像を一致させるのに要する変形量を算出する変形量算出部330と、その変形量に基づいて、2つの撮影画像相互間における時間経過で被検体に生じた変形の箇所を検出する変形検出部370と、その時間経過で被検体に生じた亀裂等の箇所を検出する欠陥検出部360とを備えた。 (もっと読む)


【課題】 測定面積を小さくでき、低コスト化が可能で、測定レンジの狭くないシート厚さ測定装置を提供する。
【解決手段】 放射線源1から出射された放射線2の、シート状物体3を通過した透過量を放射線検出器14で検出し、透過量に基づいてシート状物体3の物理量を測定するシート物理量測定装置において、放射線2の照射範囲を検出する放射線アレイ検出部61,62と、放射線アレイ検出部61,62から出力される信号に基づいて、放射線検出器14と放射線源1とのアラインメントずれによって放射線検出器61,62の出力に生じる誤差を補正する補正手段10とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 オンライン測定中でも測定面積の変更が容易なシート厚さ測定装置を提供する。
【解決手段】 放射線源1からシート状物体3に出射された放射線2の透過量を放射線検出器14で検出し、シート状物体3の物理量を測定するシート物理量測定装置において、放射線検出器14は1次元又は2次元のアレイ素子から構成され、アレイ素子のうちシート状物体3の測定領域7に対応した素子から出力される信号を選択する選択手段6を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
パッケージに封入された結晶試料の形状を非破壊で評価できる技術を提供する。
【解決手段】
結晶試料の形状評価方法は、(a)仮想xyz直交座標系を有する空間の、xy面上に結晶試料を配置し、xz面に平行にX線を結晶試料上に照射し、結晶試料の所定結晶面からxz面に平行に回折されるX線を検出するように、X線ソース、X線検出器を配置し、y軸回りのωスキャンを行なって回折X線強度が最大となる角度ωを、結晶試料面内の位置の関数として検出する工程と、(b)回折X線強度が最大となる角度ωを結晶試料のx軸方向に積分し、結晶試料のx軸方向の形状を評価する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】X線を用いて物品の形状の異常を簡易かつ高精度に検査する。
【解決手段】X線検査装置10は、画像生成部21aと検査領域抽出部21bと包絡図形導出部21cと検査部21d,21eとを備える。画像生成部21aは、ソーセージS1,S2のX線画像61を生成する。検査領域抽出部21bは、X線画像61から検査領域B1,B2を抽出する。検査領域B1,B2とは、ソーセージS1,S2に対応する領域である。包絡図形導出部21cは、包絡図形C1,C2を導出する。包絡図形C1,C2とは、検査領域B1,B2全体を包含し、かつ、外周が凸の線のみで表される図形のうち、面積が最小となる図形である。検査部21d,21eは、包絡図形C1,C2に基づいてソーセージS1,S2の形状を検査する。 (もっと読む)


【課題】検査対象パターン画像と、設計データ等の検査対象パターンを製造するために使用するデータを用いて検査対象パターンを検査するパターン検査装置および方法を提供する。
【解決手段】検査対象パターン画像と前記検査対象パターンを製造するために使用するデータを用いて検査するパターン検査装置であって、前記データから線分もしくは曲線で表現された基準パターンを生成する生成手段と、前記検査対象パターン画像を生成する生成手段と、前記検査対象パターン画像のエッジを検出する手段と、前記検査対象パターン画像のエッジと前記線分もしくは曲線で表現された基準パターンとを比較することにより、前記検査対象パターンを検査する検査手段とを備え、前記検査対象パターン画像を検査する検査手段は、検査対象パターンごとの変形量を使用して検査する。 (もっと読む)


特にコンクリート内の棒鋼に適する、放射線を使用したトモグラフィ決定を改善する方法および配置。この方法には、物体を透過性放射線で照射し、前記物体を通過した前記放射線を記録手段に記録し、高密度の放射線吸収材料ででき独立して識別され個別化された複数の基準要素を備え、この基準要素を規則的に配置し、前述の測定を識別し、照射時間を決定し、測定に使用した記録手段に記録された情報に基づいて物体内の対象物の位置および寸法を決定することが含まれる。 (もっと読む)


【課題】浅い位置に埋設された埋設物の位置及び形状の検出を従来例に比較して高い精度で行え、従来には行えなかった埋設物の材質の推定を行う非破壊探査装置を提供する。
【解決手段】本発明の非破壊探査装置は、送信波を発信し、反射波を受信するマイクロ波レーダ部と、反射波形から送信波形を減算して差分波形を求める差分計算部と、差分波形及び送信波形の相互相関のヒルベルト変換を行い、複素反射係数の絶対値のモデル適応度関数を得る相互相関ヒルベルト変換部と、モデル適応度関数の時間差の最大値及び最大値の時間差を保持し、所定の時間差幅の境界モデル適応度関数に変換する境界モデル適応度演算部と、測定点毎の反射波の境界モデル適応度関数を考慮点の信頼度とし、反射波の境界モデル適応度関数のヒストグラムにより逆投影画像を生成する逆投影像生成部と、逆投影画像にてヒストグラムの極大値を与える送信波形の位相を求める位相検出部とを有する。 (もっと読む)


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