説明

Fターム[2F067HH04]の内容

Fターム[2F067HH04]に分類される特許

21 - 40 / 187


【課題】マルチチャンネル方式の板厚計を採用しつつ、校正処理の高速化と板厚測定精度向上を両立させることができる鋼板の板厚測定装置およびその校正方法を提供する。
【解決手段】通板中の鋼板Sを通板方向と直交する方向に検出器4を走査して鋼板Sの厚さを幅方向に沿って測定するシングルチャンネル板厚計1と、通板中の鋼板Sの幅方向に沿う厚さを鋼板Sの幅方向に沿って配列された複数の検出器6により同時に測定するとともに、通板中の鋼板Sの長手方向に沿う厚さを所定間隔で測定することにより鋼板全体の厚さ分布を測定するマルチチャンネル板厚計2とを併設し、シングルチャンネル板厚計1の検出器4の検量線を、通板前に予め測定された校正用基準板の厚さで校正し、鋼板Sの通板中に得られるシングルチャンネル板厚計1による鋼板の幅方向の鋼板の板厚測定値で、マルチチャンネル板厚計2の各検出器6の検量線を校正する。 (もっと読む)


【課題】より迅速にチップの反りを測定できる手法を提供する。
【解決手段】単結晶基板の反り測定方法であって、角度広がりを持つX線を発生させる発生ステップと、前記角度広がりを持つX線を単結晶基板に照射する照射ステップと、前記単結晶基板からの回折X線を検出して、前記単結晶基板の反りを測定する検出・測定ステップと、を含むようにする。 (もっと読む)


【課題】成膜した薄膜の膜厚を従来より広い範囲で測定できる膜厚測定方法と、均一な膜厚の薄膜を成膜する真空蒸着装置及び真空蒸着方法を提供する。
【解決手段】
薄膜材料60に電子線を照射して、薄膜材料60から蒸気を放出させ、成膜対象物80を薄膜材料60に対して走行移動させながら、成膜対象物80の表面に薄膜を成膜する際に、薄膜材料60から放出され、成膜対象物80上のX線検出装置20で薄膜と成膜対象物80とを透過した透過X線の強度を検出し、あらかじめ記憶された透過X線の強度と薄膜の膜厚との対応関係から、成膜対象物80に形成された薄膜の膜厚を測定する。測定結果を基準値と比較して、比較結果から、成膜対象物80の移動速度や電子線の照射位置の移動速度を変更し、薄膜の膜厚を増減させることで、薄膜の膜厚を基準値に近づける。 (もっと読む)


【課題】周期的構造パターンに電磁波を照射してパターン形状を計測する場合に、計測時間を増大させることなく、高精度に計測することが可能なパターン計測方法およびパターン計測装置を提供することを目的とする。
【解決手段】複数のパターンが周期的に配列して構成され、かつ、各パターンが部分的に重なる周期的構造パターンに対して、異なる複数の入射方向から電磁波を照射する照射工程と、周期的構造パターンにより散乱される電磁波を検出して、その散乱プロファイルを検出する検出工程と、検出された散乱プロファイルから周期的構造パターンのパターン形状を計測する計測工程と、を含み、照射工程では、異なる複数の入射方向は、周期的構造パターンを構成する各パターンが部分的に重ならない入射方向である。 (もっと読む)


【課題】複層膜厚の測定のために2つの線源を用いなくても、1つの線源と異なるシンチレータの組み合わせにより高精度にエネルギー弁別が行える安価でコンパクトな装置を用いて複層膜厚の同時独立算出を可能にした放射線測定方法を提供する。
【解決手段】同一線源から照射された放射線を複数の材質からなる被測定物に照射して透過させ、透過した透過線量から被測定物の物理量を測定する放射線測定方法において、透過した放射線を少なくとも2種類の検出器により検出し、それぞれの検出器からの出力を検量線を用いて弁別演算を行う工程と、弁別演算した値を用いて各層の坪量を演算する工程を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】包材の外形を精度良く推定できるX線検査装置を提供する。
【解決手段】取得部は、基準画像として、輝度毎データから例えばジッパー等の開閉部902の画像を取得する。基準画像とは、X線透過画像において映り易い画像(一の領域の厚さよりも厚い他の領域の画像を含む)である。推定部は、取得部により取得された開閉部902の画像に係る基準データに基づいて、包材903の外形およびシール部904を推定する。判定部は、推定部により推定された包材903の外形に係る外形データに基づいて内容物901の噛み込みを判定する。 (もっと読む)


【課題】精度よく基板に塗布されたはんだと部品とのはんだ付け検査を行なうX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置は、予め基板に塗布されたはんだの厚みとして、クリームはんだ印刷におけるマスク厚を取得し、記憶しておく。検査対象の基板のマスク厚から、基板面に平行な断層のうち検査対象とする高さ方向の範囲を設定し、その断層数Nを特定する(S801)。X線検査装置は、各断層について検査ウィンドウ中のはんだの面積Sおよび真円度Tを計測し(S807〜S819)、その最小値がいずれも基準値以上である場合にはその検査ウィンドウのはんだ付けが良好と判定し(S821、S823)、一方でも基準値を下回ったら不良と判定する(S821、S823)。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X線強度が弱い場合でも、正確に磁性層厚さが測定できる層厚測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 蛍光X線分析法を用いて非磁性支持体上に少なくとも磁性層を設けた磁気記録媒体の磁性層厚さを測定する層厚測定装置であって、該層厚測定装置は、X線の発生源であるX線管と、磁気記録媒体に照射されたX線により発生した蛍光X線を受ける検出器と、これらを含んで外気と遮断し、前記X線と前記蛍光X線を透過させるX線窓を有する密閉箱と、を含み、該密閉箱内は空気よりも密度の小さい気体で置換されており、前記X線窓と前記磁性層との距離が1〜50mmであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】良品と不良品の形状差異が小さい不ヌレ不良が発生した場合にも、高精度に半田付け状態の良否判定を行う。
【解決手段】基板側半田量を測定する基板側半田量測定ステップと、部品側半田量を測定する部品側半田量測定ステップと、基板側半田量と部品側半田量とに基づいて、半田付け後の良品の半田径を算出する基準半田径算出ステップと、基板にX線を照射するX線照射ステップと、基板を透過したX線を検出するX線検出ステップと、検出したX線に基づいて、半田付け後の半田の水平断面画像もしくは透過画像を生成する画像生成ステップと、生成した水平断面画像もしくは透過画像から半田径を測定する半田径測定ステップと、基準半田径算出ステップにおいて算出した半田径と、半田径測定ステップにおいて測定した半田径とを比較して、半田付け状態を判定する比較判定ステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】十分な強度を有してタイヤに負荷を与える負荷部材によりX線が吸収され難く、負荷状態にあるタイヤの鮮明な断面画像を得ることができるタイヤ用CT装置を供する。
【解決手段】タイヤTを保持するタイヤ保持装置10と、タイヤ保持装置10により保持されたタイヤTの外周踏面に負荷部材21を押圧するタイヤ負荷装置20と、タイヤTにX線を照射し透過X線を検出してタイヤTの断面画像を得るX線CT装置30とを備えるタイヤ用CT装置において、負荷部材21は、タイヤTの外周踏面に対向して接する木板からなる踏面板22がアルミニウム製またはカーボン複合材からなる薄い板材26を加工して形成された薄板構造体25に固着されて構成されるタイヤ用CT装置。 (もっと読む)


【課題】放射線を用いた検査装置の撮像系を簡便に補正する手段を提供する。
【解決手段】保持部は、治具と一体に構成されている、被検査体を固定する。検出部は、前記被検査体または前記治具を透過した放射線を検出して透過画像を生成する。ずれ量特定部36は、前記治具の透過画像を取得してその透過画像に映し出された治具の特徴点を特定し、当該透過画像に映し出された治具の特徴点と前記透過画像全体の中心とのずれ量を算出する。撮像制御部40は、前記ずれ量に基づいて前記被検査体と透過画像を取得する放射線検出器との位置関係を補正する。 (もっと読む)


【課題】高価な位置決め機構や複数式の検査機器を用いることなく、感度・鮮鋭度の高い画像を取得できると共に、搬送される被検査物の内部部位の寸法を高精度で測定可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線発生手段と、X線を感知できるCCD素子を被検査物の進行方向と直交する方向に1ライン配列すると共に進行方向に2列以上配列し、各列のCCD素子により、搬送される被検査物を繰り返し露光して取得した像を一列ずつシフトながら重ね合せて被検査物のX線透過像を出力するラインセンサーカメラを有する撮像手段と、被検査物を前記進行方向に搬送すると共に、撮像手段が1ライン単位で各列のCCD素子の電荷を転送して読み出す際の電荷転送速度に合わせた搬送速度で被検査物を搬送する搬送手段と、撮像手段から出力されるX線透過像に基づいて被検査物の内部を含む所定の検査対象部位の寸法を測定する寸法測定手段と、を備えた構成とする。 (もっと読む)


【課題】通電時のみ放射線発生可能なX線を用いて、リチウムイオン2次電池の負極の塗工量測定を行うことで、放射性物質の取り扱い業務、管理業務などから作業者の負担を軽減ずる。
【解決手段】X線発生装置と、該X線発生装置から出射された一次X線が照射されてコンプトン散乱線を発生する被検査物と、からなり、
前記被検査物の測定に用いるX線のエネルギーを概ね40−80keVとして前記被検査物に照射して前記被検査物から生じた前記コンプトン散乱線を測定する。 (もっと読む)


【課題】試料透過後の線束を減ずる事無く、放射線検出素子に入力させることでS/Nを改善した放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線源と、該放射線源からの放射線を被検査物を介して受光する第1放射線検出素子と、該第1放射線検出素子の近傍に配置された前記第1放射線検出素子と同等の第2放射線検出素子を少なくとも一つ設けるとともに、前記第2放射線検出素子を前記放射線から隔離する隔離手段を備えている。 (もっと読む)


【課題】放射線の瞬時的な変動(スパイク)に対して、検出器の出力値を選択したデータを除去して演算を行うことで、高精度測定が可能な線源変動補正方法を提供する。
【解決手段】放射線発生装置と、該放射線発生装置からの放射線出力を検出する放射線検出器と、該放射線検出器から連続して出力されるデータを予め定めた時間毎に順次グルーピングし、該グルーピングした領域に含まれる複数のデータを加算平均して出力する放射線検出器の線源変動補正方法において、前記グルーピングした領域の中の選択したデータを除去して加算平均した値を用いて放射線の強さを演算する。 (もっと読む)


【課題】量産品で安価なX線管を用いて、高いX線管電圧にて高出力線量の白色X線を発生させると共に、白色X線からローパスフィルタ手段により低エネルギー域の軟X線を高線量で抽出して試料に照射可能なX線測定装置を実現する。
【解決手段】X線源から出射される軟X線を含むX線を試料に照射し、試料の透過線量をX線検出器で検出するX線測定装置において、
前記X線源より円錐状に出射されたX線ビームを、スライスした扇状ビームX線に生成するコリメータと、
前記扇状ビームX線を所定の角度で入射し、反射した前記軟X線を前記試料に照射する反射ミラーと、
を備える。 (もっと読む)


【課題】ビームハードニングの発生を抑制しつつ、フラックスの空間的な強度分布を改善し、中央部と周辺強度のフラックスのエネルギー分布と線量を揃え、測定位置に起因する測定誤差を低減することを可能とするX線測定装置を実現する。
【解決手段】X線源から出射されるX線を試料に照射し、試料の透過線量をX線検出器で検出するX線測定装置において、
前記X線源より円錐状に出射されたX線を扇状に薄くスライスしたスライスビームX線にビーム変換するコリメータと、
このコリメータと前記試料の間に介在し、前記スライスビームX線のフラックスの一部を通過または遮蔽し、ビームハードニングを抑制すると共に前記フラックスの強度分布を調整するフラックス遮蔽板と、
を備える。 (もっと読む)


【課題】ウェブ又は板状の被測定物の温度分布が異なる場合であっても、ウェブ又は板状の被測定物の温度を正確に測定することができる温度測定装置及び温度測定方法を提供する。
【解決手段】ウェブ又は板状の被測定物aの物理量を測定する際に、ウェブ又は板状の被測定物aの温度を測定する温度測定装置である。エアーカーテン形成手段10にて、ウェブ又は板状の被測定物aの物理量測定部位を外部からの気流を遮断する気流流入防止雰囲気に形成し、その雰囲気中でウェブ又は板状の被測定物aの温度又はウェブ又は板状の被測定物aの近傍の温度を測定する。 (もっと読む)


【課題】被検査物の形状異常を容易かつ迅速な方法で判断することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】形状異常判断部は、一の領域における濃淡情報として変化線KH1と、他の領域における濃淡情報として変化線KH2とを比較することにより、被検査物の形状異常を判断する。具体的には、同一の検出位置における変化線KH1の濃淡値と変化線KH2の濃淡値とが比較される。例えば、検出位置A1における変化線KH1の濃淡値K1と変化線KH2の濃淡値K2との差S1が所定範囲内か否かが形状異常判断部により判断される。この場合、差S1が所定範囲を超えるものであれば、形状異常が存在すると判断される。 (もっと読む)


【課題】新たな設備を設けないで、被測定物の上下動による誤差を補正し、測定精度の向上を図った放射線厚さ計を提供することを目的とする。
【解決手段】被測定物3を搬送するパスライン平面と垂直な方向で、被測定物を挟むように設けるC型フレーム1dと、C型フレームの対向する一方の腕部に設ける放射線源1aと、他方の腕部に設け、透過放射線を検出する主検出器1bと、主検出器1bの周囲で、被測定物から散乱する散乱線を検出する副検出器1cとを備える検出部1と、主検出器で検出する放射線の増減による出力変化と副検出器で検出される散乱線成分の出力変化とが一致するように予め求められる補正計数を記憶し、前記被測定物が前記パスライン平面と垂直な光軸方向に移動した場合に、副検出器の出力から補正計数を選択して乗じ、さらに、主検出器と副検出器との差を求める補正演算部2aと厚さを求める厚さ演算部2bとを備える演算部2とを備える。 (もっと読む)


21 - 40 / 187