従来のＣＴ又はＸ線手法を利用して関心領域が特定される。次いで、複数のペンシルビーム２８を利用して関心領域がスキャンされ、複数の異なる散乱Ｘ線スペクトルが得られる。次いで、スペクトルが関心領域の特徴のみによるものであるかの如く、各スペクトルに対して幾何補正が適用される。前記ビームを利用して記録された種々のスペクトルは組み合わせられ関連付けられ、関心領域３２の特徴を決定し、一方でサンプル３０中の他の部分における特徴の影響を最小限にする。
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【課題】 試料に電子線を照射する際に試料台の一部が電子線に対して影になる事を防ぐ試料台を提供すること。
【解決手段】 試料台本体１２０の先端１２０ａに測定する試料を取り付けて、前記試料を固定する。試料台支持部１１０は、試料台本体１２０を挟み込んで、ハンダを溶融させたり、あるいは、かしめたりして試料台本体１２０を固定させる。 （もっと読む）

【課題】 試料の厚みに特定した所定の試料の補正を考慮した場合に、複雑な工程を不要としながらも精度の高い蛍光Ｘ線分析方法を可能とする。
【解決手段】 蛍光Ｘ線分析方法による分析対象試料の形状を補正するための試料形状補正方法であって、試料の蛍光Ｘ線スペクトルにおけるピークの出ない高エネルギー領域ＡＲ−Ｈのバックグラウンド強度ＢＧ１、ＢＧ２に基づいて試料の厚みを補正する。 （もっと読む）

【課題】 ＦＰ法で試料の組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置などにおいて、非測定元素を多く含み、その原子番号を特定できない種々の試料について十分正確に分析できるものを提供する。
【解決手段】 仮定した元素の濃度に基づいて、試料13中の各元素から発生する２次Ｘ線4 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度を理論強度スケールに換算した換算測定強度とが一致するように、仮定した元素の濃度を逐次近似的に修正計算して、試料13における元素の濃度を算出する算出手段10を備え、その算出手段10が、蛍光Ｘ線4 を測定しない非測定元素については、平均原子番号を仮定して、対応する２次Ｘ線として散乱線4 を用い、理論強度と換算測定強度とが一致するように、仮定した平均原子番号を逐次近似的に修正計算する。 （もっと読む）

関心領域３２を持つサンプル３０を通過するペンシルビーム４０、４２、４４及び４６を利用するＣＳＩシステムが記載される。関心領域を通過するサンプルビーム４０及び４４の各コヒーレント散乱スペクトルは、それぞれの基準ビーム４２及び４６を利用したスペクトルによって減算される。関心領域３２の特徴を決定しつつ、サンプル３０の残りの領域における特徴の影響を最小化するために、測定が組み合わせられる。
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【課題】欠陥検査の検査情報に基づいて行なう欠陥の詳細検査の検査効率を高める。
【解決手段】例えば、欠陥検査装置１で検出された異物や欠陥を、ＳＥＭなどを用いた詳細検査装置３で詳細に検査してその発生原因などを解明するのであるが、詳細検査する前に、欠陥検査装置１で検出された異物や欠陥を光学顕微鏡などを用いた属性検査装置で検査して夫々の属性を求め、この属性に基づいて、これら欠陥や異物を詳細検査を必要とするものと、詳細検査を必要としないものあるいは詳細検査ができないものとに区分し、詳細検査を必要とする異物や欠陥のみ詳細検査装置３で検査するようにする。 （もっと読む）

【課題】 カーボンナノチューブ集合体を形成する各単層カーボンナノチューブの特性を効率的且つ精度良く測定して解析する。
【解決手段】 バンドル状のカーボンナノチューブ集合体とシクロアミロース溶液とを混合し、超音波処理を行うことで、単層カーボンナノチューブが分散して含まれるカーボンナノチューブ含有溶液を生成する。カーボンナノチューブ含有溶液を濾過してから回転している基板に滴下し、乾燥させることでカーボンナノチューブ薄膜を形成する。カーボンナノチューブ薄膜に均等に分散する単層カーボンナノチューブに対してラマン顕微分光方法を用いて単層カーボンナノチューブの特性を解析する。 （もっと読む）

【課題】軸方向に分離している線源素子アレイを使用する３次元コンピュータ断層撮影システムにおける軸方向のサンプリングギャップを解決する。
【解決手段】個別のＸ線素子及び検出器を患者又は対象物に対してｚ軸方向に平行移動させる。線源は１回転すると同時に、ｚ軸方向に配置された線源素子同士の間隔に相当する距離だけ軸方向に平行移動する。小さい平行移動動作は、個別の線源の横列位置を通る軸平面が、個別の線源の横列位置と交わる軸平面と区別されることのないように設計される。このことにより、システムのｚ依存と、それに関係するサンプリングの問題を減少させる。 （もっと読む）

【課題】
澱粉中に微量に存在するリン含有量の定量方法として、通常化学分析法が使われている。この方法を用いる場合、試料を湿式灰化処理する必要があるが、この処理は複雑で長時間を要するため、工場での流れ作業に適用することは困難であった。したがって従来法より簡易かつ迅速なリン含有量の定量方法が必要である。
【解決手段】
リン含有量の定量のために蛍光Ｘ線分析装置を用いる。また、試料を圧縮錠剤化し、空気層の存在による測定誤差を少なくした。 （もっと読む）

【課題】 表面層を備えたサンプルの検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】 その検査方法はＸ線の平行光線でサンプル２２を照射中に、サンプル２２の第１の反射率スペクトルを取得し、サンプル２２の散漫反射特性を測定するために第１の反射率スペクトルを処理する。Ｘ線の収束光線でサンプル２２を照射中に、サンプル２２の第２の反射率スペクトルが取得される。サンプル２２の表面層の特性を求めるために散漫反射特性を使用して、第２の反射率スペクトルが解析される。 （もっと読む）

【課題】
包埋材料に包埋する前の試料の状態を正確に分析することができる被検査物の断面分析方法を提供する。
【解決手段】
下記の（１）〜（３）の工程を含む被検査物の断面分析方法。
（１）試料表面に不活性層を形成する工程
（２）不活性層を形成した試料を包埋材料に包埋して被検査物を作製する工程
（３）被検査物を切断して断面を形成し、該断面を分析する工程 （もっと読む）

【課題】 導電性膜で被われた試料に電子線を照射し、発生する特性Ｘ線を用いて組成分析を行う際に、予め導電性膜の厚さを知ること無しに、導電性膜の影響を補正した組成を求めることができるようにする。
【解決手段】 先ず未知試料表面に形成された導電性膜の厚さの近似値を求める。次に表面の導電性膜によるＸ線強度の減衰量を与える式により、該未知試料からのＸ線強度を補正し定量分析値の近似値を求める。次に該定量分析値の近似値を用いて、該導電性膜と該未知試料との組成の違いによる該厚さの近似値を真値に近づけるように補正する。該厚さの近似値を補正した値を用いて定量分析値の近似値を真値に近づけるように補正する。以下逐次近似的に、該厚さの補正と該定量分析値の補正を、予め設定してある収束条件を満たすまで交互に繰り返すことにより、導電性膜の影響を補正した未知試料の組成を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 波長分散形Ｘ線分光器（ＷＤＳ）とエネルギー分散形Ｘ線分光器（ＥＤＳ）を同時に装着した装置において、ＷＤＳで検出されたＸ線の波高分布をリアルタイムに得ることを可能とし、ＷＤＳの波高分析器の条件設定を簡単に行えるようにする。
【解決手段】 ＷＤＳのＸ線検出器に接続されている信号処理回路からの出力信号を、ＥＤＳ用として構成されているマルチチャンネルアナライザに入力できるように切換スイッチを設ける。ＷＤＳの信号処理回路の出力を、マルチチャンネンルアナライザに入力するために必要なマッチング処理を行った後、マルチチャンネンルアナライザで波高識別して積算する。波高分布をＥＤＳスペクトル表示装置に表示する。表示された波高分布からＷＤＳの波高分析器の条件を設定すると、ＷＤＳ用として構成されているシングルチャンネルアナライザの条件が自動的に設定される。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線光学素子の位置決め精度を緩和でき、可干渉性の低いＸ線源でもＸ線干渉を実現でき、一般用途への実用化が図られるＸ線シアリング干渉計を提供する。
【解決手段】Ｘ線シアリング干渉計は、Ｘ線を分割するＸ線分割光学系１０と、Ｘ線分割光学系１０によって分割されたＸ線を干渉させるＸ線干渉光学系２０などで構成され、Ｘ線分割光学系１０とＸ線干渉光学系２０との間には物体Ｗが配置され、Ｘ線分割光学系１０は、間隔Ｄ１で配置された一対の人工格子１１，１２と、人工格子１２からの回折Ｘ線のうち所望の回折Ｘ線だけをブラッグ回折によって選択する結晶格子１３を含み、Ｘ線干渉光学系２０は、間隔Ｄ２で配置された一対の人工格子２１，２２と、人工格子２２からの回折Ｘ線のうち所望の回折Ｘ線だけをブラッグ回折によって選択する結晶格子２３を含む。 （もっと読む）

【課題】 計測時間中に発生する超伝導X線分析装置の動作点の変動に起因するエネルギースペクトルの半値幅の増大を抑え、高いエネルギー分解能を有する超伝導Ｘ線分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 波高分析装置から出力されるエネルギースペクトルを有限時間間隔で複数回測定し保存する記憶装置と、エネルギースペクトルの各ピーク位置をシフト補正して加算するシフト補正加算処理装置を設けることとした （もっと読む）

【課題】 分析中や分析後でも、分析結果の信頼性を損なう試料の帯電が生じていることを簡単に知ることができる電子プローブＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 試料に帯電が生ずると、照射電流値Ipに対する試料吸収電流値Iaの割合が急激に低下する現象を利用して帯電の有無を判定する。図の照射電流検出器１８によって分析開始前に照射電流値Ipが検出され、分析中は試料１１から取り出される試料吸収電流Iaを電流測定回路１９で測定する。制御／演算装置１４は照射電流値Ipに対する試料吸収電流値Iaの割合Ia/Ipを求め、データベース１５の予め定めておいた帯電の判定条件データと比較して帯電の有無を監視する。帯電が生じていると判定した場合、分析経過中に表示装置１６に表示し再測定を促したり、分析終了後に分析結果とともに帯電の有無の判定結果を表示したりすることにより、信頼性の高い分析結果を得ることができる。 （もっと読む）

本発明は、UMPキナーゼの結晶構造、ならびにUMPキナーゼの阻害薬およびアロステリックモジュレーターをスクリーニング、同定および設計するためのコンピューター支援法に関する。 （もっと読む）

本発明は、次の工程を含む未知組成物の精油所固形ファウラントの同定方法に関する。即ち、固形ファウラント試料を得る工程、捕捉された原料を、溶剤を用いて試料から除去して、不溶分試料を得る工程、不溶分試料を、走査電子顕微鏡およびエネルギー分散Ｘ線で走査する工程、不溶分試料について、灰分試験を含む熱重量分析を行って、高分子、コーク、および無機元素の存在を決定する工程、不溶分試料について、元素炭素、水素、硫黄、窒素、ハロゲン、および金属の元素分析を行なう工程、不溶分試料について、光学顕微鏡試験を行なって、ワックス、アスファルテン、異方性コーク、および等方性コークの存在を決定する工程および固形ファウラントを同定する工程である。 （もっと読む）

【課題】 試料２である半導体基板上のハフニウム含有膜に、不純物として含まれる鉄、銅などの遷移金属を、正確に分析すること。
【解決手段】 イリジウムを含む陽極１１を持つＸ線管１０から発生したＸ線３の中からの分光手段１３によって選択分離したＩｒ−Ｌα線４を、試料２のハフニウム膜上で全反射する方向で照射し、全反射方向以外の方向５に発生した蛍光Ｘ線を、検出器２０で検出する。これによってＦｅ−Ｋα線が検出されるだけでなく、Ｃｕ−Ｋ線の検出の妨害となるＨｆ−Ｌα線の発生を抑制し、Ｒａｍａｎ散乱の上端エネルギーを小さく移動させて、Ｃｕ−Ｋ線との重なりを解消することができる。 （もっと読む）

【課題】 高額・大型の設備が必要なく、小型、低コストの設備で軽元素を含む絶縁体材料の分析・評価を高感度・高精度に行うことができる新規な絶縁体中の軽元素分析・評価装置を提供する。
【解決手段】 この出願の発明による絶縁体試料中の軽元素分析・評価装置は、２から１００ｋｅＶの低エネルギーを有する正イオン２を、軽元素を含む絶縁体試料３に照射するイオン発生源１と、正イオンの照射により絶縁体試料３中に含まれる軽元素から発生する特性Ｘ線を検出するＸ線検出器５と、絶縁体試料３を配置するチャンバー４を備えていることを特徴とする。 （もっと読む）