【課題】 成形品に形成された気孔に、特定のマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を充填した後、その形状を実質的に維持した状態で固形化して、このマーカー元素を検出することにより、成形品の表面や内部における気孔の分布を精度よく分析する方法を提供する。
【解決手段】 樹脂材料又は樹脂成形材料の成形品に形成された気孔の分布状態を分析する方法であって、
（ａ）ホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を、上記気孔内に充填する第１の工程と、
（ｂ）上記気孔内に充填された樹脂組成物を、その形状を実質的に維持して固形化する第２の工程と、
（ｃ）上記固形化した樹脂組成物中のマーカー元素を検出することにより、上記成形品に形成された気孔の分布状態を分析する第３の工程と、
を有することを特徴とする、成形品の気孔分布の分析方法。 （もっと読む）

【課題】製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する方法を提供する。
【解決手段】物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。ある実施形態では、抽出されたサンプルの物体断面表面を像形成するための方法が提供される。任意であるが、サンプルは、真空チャンバー内で繰り返し薄くされて像形成される。ある実施形態では、サンプルは、任意のアパーチャーを含むサンプル支持体に位置される。任意であるが、サンプルは、物体断面表面がサンプル支持体の表面に実質的に平行となるようにサンプル支持体の表面に位置される。サンプル支持体に装着されると、サンプルは、真空チャンバー内でマイクロ分析を受けるか、又はロードステーションにロードされる。 （もっと読む）

【課題】 スペクトルの半値幅を用いずに，スペクトルの面積に基づいて被解析層の厚さを解析することにより，解析処理の迅速化，解析処理にかかる時間の短縮化，解析精度の向上を図ること。
【解決手段】 単層或いは複数層からなる試料にイオンビームが照射されることによって上記試料で散乱した散乱粒子のエネルギースペクトルに基づいて，上記試料の深さ方向の組成分布の解析を行うよう構成されており，被解析層に相当するエネルギースペクトルが単独で出現するときの散乱角度（特定散乱角度）へ散乱した散乱粒子のエネルギーを実測し，この実測により得られた実測エネルギースペクトルに単独で出現する上記被解析層の単独エネルギースペクトルを抽出し，そして抽出された上記単独エネルギースペクトルの波形で囲まれたスペクトル面積に基づいて上記被解析層の厚さを算出する。 （もっと読む）

カソード（１０１）を有するＸ線源機器（１００）は、１または２以上の電子ビーム偏向素子を含む電子ビーム偏向手段（１０３）と、アノード（１０２）とを有する。カソード（１０１）は、電子ビーム偏向手段に向かって電子ビーム（１０４）を放射するように適合されている。電子ビーム偏向手段は、カソード（１０１）から進行する電子ビーム（１０４）を、アノード（１０２）の選択可能部分（１１０）の方に偏向させるように適合され、アノード（１０２）の選択可能部分（１１０）は、１または２以上の電子ビーム偏向素子（１０３）のうちの単一のものを活性化することにより選択することができ、単一の活性化された電子ビーム偏向素子（１０３）は、カソード（１０１）から進行する電子ビーム（１０４）の伝播経路に沿った可変位置に配置され、電子ビーム（１０４）は、アノード（１０２）の選択可能部分（１１０）の方に偏向される。アノード（１０２）は、電子ビーム偏向手段によって偏向された電子ビーム（１０４）が照射された際に、Ｘ線ビーム（１０４）を発生するように適合されている。
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【課題】 サンプルの迅速なＸＲＲ及びＸＲＤに基づいた分析用の装置及び方法を提供する。
【解決手段】 サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってＸ線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。同時に、サンプルから散乱したＸ線を、仰角の範囲にわたって、仰角の関数として検知し、この散乱したＸ線に応答して出力信号を生成するべく、少なくとも１つの検出器アレイが構成されている。この検出器アレイは、グレージング角で、サンプルの表面から反射したＸ線を検出器アレイが検知する第１の構造と、サンプルのＢｒａｇｇ角の近傍において、表面から回折したＸ線を検出器アレイが検知する第２の構造と、を具備している。そして、信号プロセッサが、サンプルの表面層の特性を判定するべく、この出力信号を処理する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線ＣＴ装置で被検体を撮像して得られる撮像データに基づいて被検体の密度を分析する密度分析について分析精度を高める。
【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置で被検体を撮像して得られる撮像データに基づいて被検体の密度を分析する密度分析方法において、撮像データに設定される複数の密度分析対象部位について、密度分析対象部位ごとにそれを中心にして複数の画素からなる密度検査領域を設定し、その密度検査領域における複数の画素の各密度値の平均値を求め、求めた平均値を密度分析対象部位の密度値として密度分析を行うようにしている。 （もっと読む）

【課題】
検体試料中のＡｌ又はＣｕの測定を高精度で行うことができる二次イオン質量分析法を提供すること。
【解決手段】
本発明の二次イオン質量分析法は、イオンビーム調整用試料を用いてイオン光学系の調整を行う工程と、調整されたイオン光学系の下で検体試料中の検出対象元素の二次イオン強度を測定する工程を備える二次イオン質量分析法であって、検出対象元素がＡｌ又はＣｕであるとき、イオンビーム調整用試料が、実質的に検出対象元素と異なる元素のみからなる材料で形成されることを特徴とする。 （もっと読む）

本明細書の開示は、原油の分析方法である。本方法は、各技術はそれぞれの特性を予測する少なくとも２種の異なる技術を用いる１種以上の研究室独立型装置（laboratory−independent device）で、原油の少なくとも２種の選択された特性を計測すること、計測した特性から原油の同定分析を再構築することができるプロセッサに計測した特性を伝達すること、及び計測した特性から原油の同定分析を再構築することを含む。開示された方法は、たとえば生成物の販売を交渉する業者が、生成物を販売又は購入するか否かを決定するための正確な分析情報を有するように、精油所供給原料のリアルタイム情報を提供する。 （もっと読む）

【課題】 フェノール樹脂成形品中に含有されているフェノール樹脂の分散状態を正確に確認することができるフェノール樹脂の分析方法を提供することにある。
【解決手段】 フェノール樹脂を含有する組成物もしくはその硬化物中におけるフェノール樹脂の分散状態を分析する方法であって、前記フェノール樹脂にホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれる元素を有する官能基を導入し、該元素の分散状態を検出することにより、フェノール樹脂の分散状態を分析することを特徴とするフェノール樹脂の分析方法。 （もっと読む）

【課題】 実用的な寸法形状で、十分に強度の大きい軟Ｘ線を取り出せる横型Ｘ線管などを提供する。
【解決手段】 筒状の筐体4 内にその軸方向Y に並ぶフィラメント2 とターゲット3 を有し、陰極であるフィラメント2 から放射した熱電子e_tを陽極であるターゲット3 に衝突させて、そのターゲット3 から筐体の側壁4aに向かうＸ線B を窓7 を介して出射する横型のＸ線管1 であって、筐体の側壁4aから外方向X に突出する筒状で非磁性体の突出部8 を有し、その突出部8 の先端部に前記窓7 が設けられており、突出部の側壁8aを外側から挟むように磁石10A,10B を有することにより、突出部8 を含む空間に磁場を形成して、ターゲット3 からの散乱電子e を窓7 へ到達しないように偏向させる。 （もっと読む）

【課題】 走査電子顕微鏡による試料観察に引き続いてＸ線分析を実行する場合に、試料の位置がＸ線を効率良く取り込める位置から外れていることでＸ線分析が失敗してしまうことを回避する。
【解決手段】 ＳＥＭの試料観察が終了して（Ｓ１）Ｘ線分析が開始されると（Ｓ２、Ｓ３）、合焦状態となっている対物レンズの励磁電流に基づいて試料観察終了時の試料位置を検知し、その位置がＸ線分析に適切な位置であるか否かを判定する（Ｓ４）。適切でない場合にはＸ線分析を中断し、警告メッセージを表示する（Ｓ６、Ｓ７）。この警告に対してオペレータが自動調整を選択すると（Ｓ８）、現在の試料位置と目標位置との差に基づいて試料ステージを自動的に移動させ（Ｓ９、Ｓ１０）、Ｘ線分析を再開する。したがって、試料位置が適切でない状態でＸ線分析が行われてしまうことを防止できる。 （もっと読む）

【課題】 薄膜と薄膜が形成されている基板の材料とが同じ材料を含んでいても、薄膜の微小領域における被覆率の測定を行うことができる薄膜の被覆率評価方法を提供する。
【解決手段】 検量線作成用の、シランカップリング膜２を形成したシリコン基板５をＳ−ＳＩＭＳ測定法で測定し、シランカップリング膜２に含まれる有機系のＰＦＰＥイオン強度値と、シリコンイオン強度値との検量線用イオン強度比（ＰＦＰＥイオン強度値／シリコンイオン強度値）を取得する。検量線用イオン強度比を基にして被覆率を求めるための検量線を作成する。次に、実際のシランカップリング膜２が形成されたシリコン基板５をＳ−ＳＩＭＳ測定法で測定し、シランカップリング膜２に含まれるＰＦＰＥイオンの強度値とシリコンイオン強度値の試料イオン強度比を取得する。作成した検量線を用いて、試料イオン強度比から被覆率を評価する。 （もっと読む）

【課題】ＴＥＭやＲＢＳに比較し、簡便且つ迅速に例えばイオン注入に起因する損傷の深さを測定できるようにする。
【解決手段】固体表面にイオンビームを照射し、その固体表面に絶縁物或いは半絶縁物を生成させつつスパッタエッチングを継続し、その際、固体表面から放出される二次イオンのエッチング時間に対する強度変化を計測して固体試料の単結晶、多結晶、非晶質などの結晶性を評価する方法に於いて、特定のオフセット電圧を固体試料に印加して深さ方向の結晶性変化に伴う二次イオンの強度変化を測定することが含まれてなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 試料の元素分析を的確に行うことができ、且つ蛍光Ｘ線装置の小型化を実現できる試料ホルダ、試料ホルダ用蓋及び蛍光Ｘ線測定装置を提供すること。
【解決手段】 本発明は、ホルダ本体部１、本体部１に連結される蓋２を備える試料ホルダ１００で、蓋２が、開口５及び開口５を囲む包囲面６を有する蓋本体部４、包囲面６に対向する領域に収納可能で且つ包囲面６に平行な方向に移動させることで開口５を覆うことが可能な複数のカバー部材１２を備える。 （もっと読む）

【課題】 数十ｍｇ程度の微量の粉体試料について蛍光Ｘ線分析で軽元素の測定ができ、かつ分析後に試料を容易に回収できる前処理方法を提供する。
【解決手段】 微量の粉体試料１Ａを蛍光Ｘ線分析に供するために１枚の高分子フィルム２とともにその高分子フィルム２の厚み方向に加圧成形して前記高分子フィルム２に付着させる。 （もっと読む）

【目的】マイクロフォーカスＸ線ＣＴ装置を用いた測定方法の改良に関し、より詳しくは撮影視野が狭くとも、年輪年代測定や密度測定に必要な画像幅を取得することが可能な測定装置及び測定方法を提供すること。
【構成】 試料をＸ軸方向に移動させる移動手段。試料をＹ軸方向に移動させる移動手段、試料を固定する固定手段、Ｚ軸方向に試料を移動させる移動手段、試料の断層面を傾斜させるための傾斜手段、試料をＺ軸方向の軸廻りに回転させる回転手段より構成した。センターセットフルスキャン、オフセットフルスキャン、センターセットハーフスキャン、マルチスライス法あるいはコーンビーム法で撮影する。 （もっと読む）

本発明は、放射線撮影装置に関するものである。この装置は、重水素−重水素間のまたは重水素−三重水素間の核融合反応によって生成された実質的に単一エネルギーの高速中性子を生成するための中性子線源であるとともに、シールされたチューブ状のまたは同様の態様の中性子線源を具備している。装置は、さらに、撮影対象をなす対象物を実質的に透過し得る程度に十分なエネルギーを有したＸ線源またはガンマ線源と、中性子線源とＸ線源とガンマ線源とを包囲するコリメート用ブロックであるとともに、実質的に扇型形状でもって放射させるための１つまたは複数のスロットが形成されているような、ブロックと、を具備している。さらに、線源から放射された放射エネルギーを受領しさらにその受領したエネルギーを光パルスへと変換する複数のシンチレータ画素を備えた検出器アレイを具備している。
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【課題】 試料の断面構造を観察・解析する場合、試料の温度を調整した状態で断面を加工する。
【解決手段】 試料室内で試料の断面を評価する装置であって、該試料を載置する試料ステージと、該試料の温度を調整するための温度調整手段と、該試料の断面加工、及び観察を行うため該試料に対してイオンビームを照射するイオンビーム発生手段と、前記イオンビームの試料観察の照射に応じて前記試料から放出される放出信号を検出する検出手段とを備えている。前記温度調整手段により前記試料を予め設定された温度に調整した状態で、前記イオンビーム発生手段によるイオンビームの照射、及び前記検出手段による放出信号の検出を行う。 （もっと読む）

【課題】 試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の粉体ホルダは、基台部と、基台部上に設けられた粉体保持部と、を備え、粉体保持部が、粉体保持部の基台部と反対側に粉体を収容する粉体収容孔を少なくとも１つ有し、粉体保持部の硬度が、基台部の硬度よりも小さい。 （もっと読む）

【課題】 被検査体に含まれる物質を効率良く検査することができる分析システム、分析装置、コンピュータプログラム、及び記録媒体を提供する。
【解決手段】 コンピュータ３０は、発注した部品の受入時に部品発注用のコンピュータ４０から入力された電子部品の品目に基づいて、検査要件情報データベース（４１２）を検索し、前記品目に関連付けて記憶された検査要件情報に基づいて、検査内容を示す検査内容情報を作成し、検査内容情報データベース（３６１）に記憶するととともに、検査内容情報を表示部（３５）に表示する。検査内容情報に応じて電子部品の検査部位にＸ線を照射し、検出した検出データに基づいて検査対象元素の濃度を分析し、検査結果を検査結果データベース（３６２）に記録する。 （もっと読む）