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Fターム[2G001KA01]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 分析の目的、用途、応用、志向 (3,508) | 成分;濃、密度 (1,118)

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【課題】 高輝度化及び小型化できるX線発生器を提供する。
【解決手段】 電子を発生する電子発生手段(カーボンナノチューブ20、引き出し電極24)及び支持部材14に支持されたX線ターゲット12を真空管18内に備え、前記電子発生手段から前記X線ターゲット12へ電子を照射することにより生じるX線を所定位置へ導く管状のX線ガイド手段(X線ガイドチューブ)30を真空管18外に備えるX線発生器において、真空管18に設けた凹部28にX線ガイド手段30を挿入した構成とする。 (もっと読む)


コンピュータトモグラフィ手荷物検査または医療アプリケーションにおけるフィルタ後方投影再構成の前に運動量移動の補間をしても、必ずしも画像品質は最高にならず、計算コストも最低にならない。本発明の一実施形態では、エネルギー分解単一列ディテクタの非線形エネルギー・ビニングを提供する。これにより、自動的に、パラレル・ビニングされたディテクタのカーテシアンqサンプリングができる。これにより、フィルタ後方投影再構成の前のq補間を回避でき、空間解像度が高くなり、計算量が減少し、画像品質がよくなる。
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【課題】放射線を用いて高圧容器内を観察し、高圧容器内の観察対象の鮮明な処理画像を得ることができる高圧容器内観察装置およびその観察方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る高圧容器内観察装置10は、内部流体11等の観察対象を収容した高圧容器12と、この高圧容器12に外部から放射線Rを照射する放射線源13と、前記高圧容器12を透過した放射線Raを検出して画像信号に変換する放射線検出器14と、この放射線検出器からの画像情報から撮影画像とバックグランド画像を作成し、上記撮影画像からバックグランド画像を差分処理して処理画像を得る画像処理装置15とを有する。上記画像処理装置15で高圧容器12内の観察対象の状態観察を行なう処理画像を作成するものである。 (もっと読む)


【課題】 EPMA等の電子プローブX線分析装置において、メール等の自然文から分析条件を抽出し、自動的に分析条件の設定を行うことにより、条件入力を簡易化し間違いを減らす。
【解決手段】 正規表現などの文字列検索方法により、メールや一般のテキストファイルから分析方法、元素と特性X線種、その他分析条件に特徴的な単語を抽出し分析条件として設定する。抽出されなかった条件のうち設定が必要な条件については、抽出された条件から導かれた条件を設定するか、若しくは予め決めてある条件を設定する。 (もっと読む)


干渉散乱コンピュータ断層撮影では、回転平面のライン上にあるオブジェクトポイントからの散乱角度は、検出装置ローのファン角度の非線形関数として可変とされる。本発明の実施例によると、同一の散乱角度の下で円弧上のオブジェクトポイントからの散乱したフォトンを測定するCSCTデータ取得のためのシングルラインエネルギー分解検出装置が利用される。これは、パラレルリビニング検出装置上でのデカルトqサンプリングを自動的にもたらす。効果的には、これは、パラレルリビニングフィルタリングバックプロジェクション再構成前のq補間を回避する。
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【課題】組成成分が分からない蒸気タービンロータにおいて、応力集中部となる蒸気タービンロータの翼植込み部などの強度および余寿命時間を、その後の運用に支障をきたすことなく、非破壊的に評価する蒸気タービンロータの余寿命評価装置および蒸気タービンロータの余寿命評価方法を提案することを目的とする。
【解決手段】組成成分が不明な蒸気タービンロータ10において、組成成分を特定して蒸気タービンロータ10を構成する金属材料を特定し、特定された金属材料の情報、および蒸気タービンロータ10の使用温度、応力、作動時間に基づいて、記憶部103に記憶されている強度特定データと比較対照して、蒸気タービンロータ10の現状の強度を特定し、余寿命時間を推定することができる。また、蒸気タービンロータ10の以後の運転に支障を与えることなく、非破壊的に余寿命を評価することができる。 (もっと読む)


容器10内の製品の完全性を検査するために、製品のいくつかの特性が物理的測定方法によって検出され、その測定結果に基づいて良否信号が生ぜしめられる。測定結果は互いに関連付けられる。つまり、個々の測定結果の基準値からの偏差であって任意に重み付けおよび標準化されたものが合計され、その合計値が閾値と比較される。測定結果は、「良」の範囲および「否」の範囲を分離する1つまたはそれ以上の境界面を有する、多次元空間を形成する。 (もっと読む)


【課題】 本発明の課題は、金属系材料及び非金属系材料の有害元素の定量分析において、分析作業の生産性及び信頼性を高めることが可能なインテリジェント化された分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、部品又は材料中の有害元素の検出を支援する分析装置において、前記分析装置での処理を制御する制御手段と、前記制御手段からの測定条件に従って蛍光X線測定装置に型蛍光X線分析法による定量測定を実行させた結果を取得する測定結果取得手段とを有し、前記制御手段は、前記部品又は材料の素材を判定する素材判定手段と、前記素材判定手段の結果に基づいて、前記素材の蛍光X線スペクトルに基づいて特定される測定条件に従って前記蛍光X線測定装置に定量測定を実行させ、その定量測定結果に基づいて、前記指定元素を含む物質の有無を判定する物質含有判定手段と更にを有する分析装置によって達成される。 (もっと読む)


【課題】 試料に電子線を照射してX線分析を行う電子プローブX線分析装置において、試料表面形状や状態の変化による影響を低減した元素分布像を得る。
【解決手段】 試料または電子線を走査して複数元素の特性X線強度データを二次元的に収集し、二次元データの全ての座標位置について、標準試料を用いて各元素の特性X線強度データを相対強度に変換する。これら相対強度に定量補正計算を施し、各々の元素の質量濃度を得る。座標位置毎の全元素の相対強度または質量濃度の合計値を用いて、各元素の相対強度または質量濃度を規格化し、その値をレベル分けして元素分布像として表示するようにした。さらに必要に応じて、質量濃度を用いて、座標位置毎の原子濃度、化合物濃度、原子個数などを求め、規格化して表示するようにしたので、試料表面形状や状態の変化による影響を低減した元素分布像を得ることができるようになった。 (もっと読む)


【課題】被検体中の塩素量を迅速にかつ非破壊で導出することができる方法を提供することを目的とする。
【解決手段】被検体に電磁波を照射する工程と、前記被検体を透過した電磁波により第1のシンチレータを発光させる工程と、前記第1のシンチレータで発光した光を電気信号に変換すると共に電子増幅させ、電子増幅された電気信号により、電気信号の強度に応じて複数色に発光する第2のシンチレータを発光させる工程と、前記第2のシンチレータで発光した複数色の光の輝度の強度を色別にそれぞれ検出する工程と、前記輝度の強度から前記被検体中の塩素量を導出する工程とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 超伝導X線検出器と、低温初段増幅器と、コリメータとからなる超伝導X線検出装置の先端部分において、該検出器と該コリメータとの位置の粗調整が容易な構造とし、かつ、ボンディング配線を保護できる超伝導X線検出装置およびそれを用いた超伝導X線分析装置を提供する。
【解決手段】 超伝導X線検出器の検出部とコリメータの貫通穴との位置を、該検出器と該コリメータの少なくとも外周の一部を位置の基準として製作し、基準とした外周の一部が一致するように該検出器と該コリメータを装着固定する、あるいはセンサーホルダに設けた溝の壁に基準とした外周の一部が接するように装着固定する構造としたものである。 (もっと読む)


この発明は、簡便な構造でX線撮像が可能な装置を提供するものである。 この装置においては、まず、X線源1と第1の回折格子2との間に被検体10を配置する。ついで、X線源1から第1の回折格子2に向けてX線を照射する。照射されたX線は、第1の回折格子2を通過する。このとき、第1の回折格子2では、タルボ効果を生じる。ここで、被検体10によるX線の位相のずれがあるので、第1の回折格子2の自己像は、それに依存して変形している。続いて、X線は、第2の回折格子3を通過する。その結果、上記の変形した第1の回折格子2の自己像と第2の回折格子3との重ね合わせにより、X線に、一般的にはモアレ縞となる画像コントラストを生成することができる。生成したモアレ縞をX線画像検出器4により検出することができる。生成されたモアレ縞は、被検体10により変調を受けている。したがって、検出されたモアレ縞を解析することにより、被検体10およびその内部の構造を検出することができる。
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【課題】
即発ガンマ線分析法で使用する即発ガンマ線スペクトル中には即発ガンマ線と壊変ガンマ線は同一に記録され、お互いを明白に分離することは困難であった。本発明は即発ガンマ線と壊変ガンマ線を明白に分別して測定することで分析の確度を向上させる技術を提供することを謀題とする。
【解決手段】
パルス中性子ビームを利用し、中性子パルス発生信号をスタート信号として、スタート信号からの時間情報とガンマ線検出事象をリストモードで保存し、これを解析して時間分解即発ガンマ線及び壊変ガンマ線スペクトルの測定を行う。 (もっと読む)


【課題】フィルタで捕捉した微粒子をX線分析装置により元素分析する際、微粒子以外にフィルタのベース部材の元素も測定することになり、本来の測定対象の微粒子の元素を特定する上で障害となっていた。
【解決手段】分析用フィルタ1は、穴径100nm〜1000nmのろ過穴3を複数有する樹脂からなるフィルタベース2と、フィルタベース2の片側の表面に金(Au)をイオンスパッタにて形成した金属被覆膜4とを有する。金属被覆膜4の膜厚は、X線分析装置の電子線が貫通しない程度で、ろ過穴3を塞がない程度が望ましく、40nm〜100nmが好適である。 (もっと読む)


【課題】試料の表面分析方法を提供する。
【解決手段】(イ)N個の相異なる元素を含む試料表面のM個の相異なるデータポイントを設定し、各データポイントでの元素成分比を測定するステップと、(ロ)測定された元素成分比からデータポイント間の濃度距離値を計算するステップと、(ハ)計算されたデータポイント間の濃度距離値を利用し、試片表面の相分布を決定するステップとを含む試料表面での構成元素の成分比を利用した相分布を決定する試料表面の分析方法である。 (もっと読む)


【課題】 固体の高分子材料中に含まれる微量な金属、特に、クロム、カドミウム、鉛、水銀の分析において、精度良く、しかも短時間で分析する方法を得ることである。
【解決手段】 ホットプレートにセットされた試料台に固体高分子材料の試料片を接触して載置し、上記試料台の試料片の近傍に、硝酸水溶液または硝酸と塩酸との混酸水溶液からなる抽出用酸水溶液を滴下し、上記試料片の表面に接触させるとともに、上記ホットプレートにて加熱して、上記試料片から金属成分を抽出する。上記抽出後に、上記試料台から試料片を取り除き上記試料台の表面に残留した抽出成分を含有する抽出用酸水溶液を、上記ホットプレートによる加熱を継続し、液成分を蒸発させて、上記試料台の表面に抽出成分を乾固させる。最後に、上記試料台上に乾固した抽出成分を飛行時間型二次イオン質量分析装置にて分析する。 (もっと読む)


【課題】 簡単に目的とする分析エリアについてのみ分析を行うことができ、最適な分析条件を決定することができる生体組織中の微量元素分析装置、試料台及びこれを用いた分析方法を提供する。
【解決手段】 X線マイクロアナライザーで分析する生体組織の分析エリアを決定する分析エリア決定手段21を備えた。また、分析エリア決定手段21で決定された生体組織の分析エリアにおける分析条件を決定する分析条件決定手段31を備えた。さらに、生体組織の染色画像を取得する染色画像取得手段51と、染色画像取得手段51で得られた生体組織の染色画像とX線マイクロアナライザーで得られた微量元素分布画像とを合成する画像合成手段41とを備えた。
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【課題】 走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置(電子ビーム一致)で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。
【解決手段】 図8は電子ビームが試料の分析位置に移動中の非直線応答期間には走査ウェイト信号に基づき電子ビームの試料への照射を停止する際の各信号波形を示している。(j)は走査ウェイト信号を示している。この図8から明らかなように、電子ビームが移動する際に生じる非直線応答の時間を適切に設定することで、電子ビームの正しい位置における分析データを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】 成形品に形成された気孔に、特定のマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を充填した後、その形状を実質的に維持した状態で固形化して、このマーカー元素を検出することにより、成形品の表面や内部における気孔の分布を精度よく分析する方法を提供する。
【解決手段】 樹脂材料又は樹脂成形材料の成形品に形成された気孔の分布状態を分析する方法であって、
(a)ホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を、上記気孔内に充填する第1の工程と、
(b)上記気孔内に充填された樹脂組成物を、その形状を実質的に維持して固形化する第2の工程と、
(c)上記固形化した樹脂組成物中のマーカー元素を検出することにより、上記成形品に形成された気孔の分布状態を分析する第3の工程と、
を有することを特徴とする、成形品の気孔分布の分析方法。 (もっと読む)


【課題】 超伝導スペクトロメータ内部に余計な装置を設けることなしに,散乱イオンのサイクロトロン周回数を判別することが可能な平行磁場型ラザフォード散乱装置を提供すること。
【解決手段】 イオンビームが超伝導スペクトロメータ内に入射される前にイオンビームをパルス化し,前記イオンビームをパルス化してから,試料に散乱された散乱イオンが検出器に検出されるまでの時間を測定することにより,前記散乱イオンの飛行時間を測定し,前記飛行時間から前記散乱イオンのサイクロトロン周回数を判別する平行磁場型ラザフォード散乱装置として構成される。 (もっと読む)


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