荷電粒子（例えば光電子）スペクトロメータは、解析される試料の組成に関するエネルギースペクトラムを生成する第１のモード、および解析される試料の表面の荷電粒子画像を生成する第２のモードで動作可能である。検出器が、双方の動作モードで生成される荷電粒子を検出するために用いられる。スペクトロメータの動作方法は、第１と第２のどちらのモードが用いられるか選択し、検出器がそれに従って動作される工程を含む。
（もっと読む）

【課題】 高額・大型の設備が必要なく、小型、低コストの設備で軽元素を含む絶縁体材料の分析・評価を高感度・高精度に行うことができる新規な絶縁体中の軽元素分析・評価装置を提供する。
【解決手段】 この出願の発明による絶縁体試料中の軽元素分析・評価装置は、２から１００ｋｅＶの低エネルギーを有する正イオン２を、軽元素を含む絶縁体試料３に照射するイオン発生源１と、正イオンの照射により絶縁体試料３中に含まれる軽元素から発生する特性Ｘ線を検出するＸ線検出器５と、絶縁体試料３を配置するチャンバー４を備えていることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、検査区域がファン形状の放射ビームにより円軌道に沿って照射されるＣＴ方法に関する。この検査区域においてコヒーレント状に散乱する放射は、検出器ユニットにより測定され、この検査区域における散乱強度の空間における変化が前記測定値から復元される。回転面の２つの線形依存ベクトルと波動ベクトルトランスファとにより規定されるボリュームにおける逆投影により復元が行われる。
（もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、購入または販売する材料や部品中の有害元素の有無を蛍光Ｘ線によって分析する分析装置に係り、特に、材料に関する専門的知識を必要とすることなく、有害物質の有無を効率的に検査可能とする分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、元素を測定する測定器と、
製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有する分析装置によって達成される。 （もっと読む）

【課題】 例えば、バイオアッセイに用いるプローブ分子の固定化に利用される微細な粒子状の基体等、微小な物体に対しても、必要に応じて多数種の標識を付す際に有効な物体の標識方法の提供。
【解決手段】 微小な物体に対しても、それを構成する材料の一部として、予め選択される複数種の原子の種類数（ｎ）と、前記選択された原子個々の含有量の有無、あるいは、含有量の水準とを利用して、少なくとも二進法ｎ桁の数値情報に相当する、含有原子の組成条件に従って調製される標識用材料を用いることで、必要に応じて多数種の標識を付すが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 砲弾のＸ線透視画像からその特徴量（特徴情報）を精度良く求めて砲弾の種別を精度良く識別することのできる物体識別方法および装置を提供する。
【解決手段】 砲弾における損壊し易い部品部分の画像成分をＸ線透視画像から除去した後、前記Ｘ線透視画像の輝度ヒストグラムに従って前記砲弾の外形や構造を検出する為の閾値を決定し、この閾値に基づいてＸ線透視画像から抽出された画像成分から前記砲弾の特徴量を検出してその種別を判定する。特に肉厚の砲弾底部を基準として砲弾の特徴量を検出する。 （もっと読む）

【課題】元素を直接に測定することを可能にして、細胞や血球などの粒子における様々な元素間の相関を得ることができるようにする。
【解決手段】測定対象物を含む試料液を所定の流速で流して試料液流を生成する試料液流生成手段と、上記試料液流生成手段により生成された試料液流中の測定対象物に単色Ｘ線を照射する単色Ｘ線照射手段と、上記単色Ｘ線照射手段から照射された単色Ｘ線の測定対象物への照射に伴い該測定対象物を構成する元素から放出された蛍光Ｘ線を検出する蛍光Ｘ線検出手段とを有する。 （もっと読む）

本発明は、ＳＩＭＳまたは電子分光法の如き分析目的で表面の電子的特性を変化させる方法において、視準された調整可能なストリームの形で使用可能な純粋な中性セシウム（Ｃｓ^０）を超高真空下でインサイチュ堆積することに存することを特徴とする方法に関する。本発明はまた、前記方法を実施するために設計された特別なカラムおよび対応するエネルギおよび／または質量分析装置に関する。
（もっと読む）

【課題】入射角に応じた反射Ｘ線強度を求めるＸ線反射率測定方法において，アナライザー結晶を用いて入射角の読み取り目盛りを高精度に修正することにより，入射角の測定精度と再現性を高める。
【解決手段】反射率測定の前に，入射角ωの読み取り目盛りの修正作業を実行する。その修正作業では，受光スリット１８の開口幅をＸ線反射率測定時よりも広くして，反射経路の途中にアナライザー結晶５８を配置して，試料１６の表面からの全反射Ｘ線２０を検出する。そのとき，試料表面に対する入射Ｘ線１０の入射角ωａを正確に決定でき，それに基づいて入射角の読み取り目盛りを修正する。その後，アナライザー結晶５８を反射経路から外して，試料表面のＸ線反射率測定を実施する。入射角を高精度に決定できるので，高精度の反射率測定が可能になる。 （もっと読む）

【課題】 土壌処理現場等での分析が可能である一方で分析能が十分でない蛍光Ｘ線分析方法において、極めて微量の有害金属元素等の分析を可能とする方法、および当該方法で用いるカラムとシステムを提供する。
【解決手段】 本発明に係る水中微量元素の蛍光Ｘ線分析方法は、（1）金属および／または類金属とのキレート形成能を有する官能基を側鎖に有するキレート高分子が充填されたカラムに被分析液を通液させることによって、被分析液中の金属および／または類金属をキレート高分子に吸着させる工程；（2）金属および／または類金属を吸着したキレート高分子に蛍光Ｘ線を照射して蛍光Ｘ線元素分析を行なう工程；および（3）得られた元素分析値を、被分析液中の元素濃度に換算する工程；を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 被測定物の形状が不揃い、かつ微量でも、測定精度良くかつ測定時間を短くすることを可能とする。
【解決手段】 物質測定装置は、被測定物を高温に熱し柔らかくする溶融ステーション３と、被測定物をプレスするプレスステーション４と、被測定物に含まれる物質を蛍光Ｘ線分析方法によって測定する測定ステーション５と、被測定物を前記各装置間で移動させる回転テーブル１とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 ２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。
【解決手段】 炭素非粒子団及び粒子団荷電粒子ａを、質量分析器１により粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２とに選別し、これらの粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２を物質表面に照射する。荷電粒子を粒子団で物質に照射すると、粒子団が被照射物質と衝突する際に、粒子の有するエネルギーが物質表面の狭い領域に集中し、エネルギー密度の高い場が生じる。このような荷電粒子団の照射による特異的な高密度エネルギー場の中では、イオン化反応が促進され、非粒子団照射時に比べて生成される２次粒子の量が増加する。また、荷電粒子団の代わりに中性粒子団を用いた場合にも同様の効果を奏する。 （もっと読む）

【課題】 シート状成形体のシート厚さを測定するべく流動体の密度或いは面密度を測定することにより，シート状成形体が不良と判定された場合の流動体の無駄な消費を軽減し，また，キャリアフィルム等の平面担持体上に担持される流動体の調整作業を容易にすること。
【解決手段】 流動体収容器５に収容された流動体６をキャリアフィルム等の平面担持体１上にシート状に連続的に担持させ，該担持されたシート状の流動体を脱水，乾燥させる前に，上記流動体収容器５に収容された上記流動体６に含まれる上記元素或いは化合物の密度及び／若しくは上記平面担持体１上に担持されたシート状の流動体６ａに含まれる上記元素或いは化合物の面密度等を測定し，該面密度等を測定した後に，上記シート状の流動体６ａを脱水，乾燥させて上記元素を含んでなるシート状成形体６ｂを成形する。 （もっと読む）

【課題】 分析領域の特定を簡便に行うと共に正確な分析を行うことが可能な、２次イオン質量分析方法を提供することにある。
【解決手段】 試料２２の分析領域３０の近傍に溝４０を作成した後、試料断面を出してその切断面５０を分析対象面とし、切断面５０に表出した溝４０を目印として分析を行い、分析領域３０を特定する。 （もっと読む）

Ｘ線蛍光発光を使用して化学物質をスクリーニングするためのフロー装置及び方法である。本発明は、少なくとも一つの対象バインダに結合するための潜在的な薬剤化学物質の混合物をスクリーニングするための方法及び装置を含む。前記方法によれば、少なくとも一つの対象バインダを伴う潜在的な薬剤化学物質の溶液を準備した後、前記溶液は少なくとも二つの分離された成分にフロー分離される。各成分はＸ線励起ビームに被曝される。検出可能なＸ線蛍光信号を放射するいずれの成分も隔離される。
（もっと読む）

【課題】迅速かつ容易に生コンクリートの単位水量の測定ができ、測定精度の向上を可能とする生コンクリートの単位水量測定装置を提供する。
【解決手段】中央部に貫通孔５および挿入ガイド筒３を有する円盤状の上蓋２によって、空気量試験（ＪＩＳ Ａ１１２８）用の生コンクリートＰを収容する試料容器１の上部を覆い、棒状のセンサー８を、この貫通孔５に挿通させて試料容器１の中心部に配置し、この試料容器１を、支持体１３下端から天板１２までの高さＨを４０ｃｍ以上とした天板１２上に載せて測定することで、地面１９の水分等の水素原子の影響を受けずに精度良く、迅速かつ容易に測定をすることができる。 （もっと読む）

【課題】
被分析試料の表面から深さ方向の元素分布分析をすることができる電子線プローブマイクロＸ線分析方法を提供すること
【解決手段】
本発明の電子線プローブマイクロＸ線分析方法は、被分析試料５表面に電子線２を照射し、この電子線２により被分析試料５表面から誘導放出される特性Ｘ線の強度を測定する電子線プローブマイクロＸ線分析において、測定する特性Ｘ線の被分析試料５表面に対する角度を所定の範囲内で変化させて、複数の角度で特性Ｘ線の強度を測定し、各角度で測定した特性Ｘ線の強度に基づいて被分析試料５の元素分析をする。 （もっと読む）

【解決手段】画像装置10はフォトン検出器およびこれに接続されたアクセス回路を含む。フォトン検出器は、フォトンを検出し、それに応答した信号を生成する。アクセス回路は、イベント感知モードで動作するように、非常に高いレートでフォトン検出器からの信号を読む。装置10はまた、信号を処理し、対象の画像に関するデータを生成するための信号処理モジュール15を含む。本発明の種々の実施例にしたがって、信号処理モジュール15は空間解像度回路、フォトンエネルギー解像度回路、時間解像度回路、またはこれらの組み合わせを含むことができる。
（もっと読む）

【課題】 従来の方法においては、分析点に金属箔を被覆するので、被覆した金属箔が試料の分析点に接触し、分析点の表面を汚したり、傷めたりする問題点があった。
【解決手段】 本願発明は、上記従来の欠点を解消するため、開口のある導電膜を、該開口の部分が分析点に当るように試料に被せ、電子ビームは、該開口を通して試料に照射し、オージェ電子も該開口から取り出して、分析する構造としたものである。これにより、分析点の汚染を回避できるとともに、試料表面におけるチャージアップも避けることができる。 （もっと読む）

【課題】 ＣＴ計測において使用するためのＣＴ再構成の技法が提供される。
【解決手段】 境界単位ＣＴ再構成方法は、推定境界（５０）を獲得するために、被検体の境界を初期設定する過程（４８）と、推定境界（５０）に基づいて、フォワードモデルを定義する過程と、システム行列（５４）を獲得するために、フォワードモデルを線形化する過程と、推定境界（５０）を更新するために、システム行列（５４）を使用して、反復画像再構成プロセスを実現する過程とを含む。そして、境界は、ほぼ一様な減衰を有する１つの領域の１つの稜線に対応する。 （もっと読む）