説明

Fターム[2G001LA01]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 対象試料言及(物品レベル) (2,775) | 生体、食、医 (541)

Fターム[2G001LA01]に分類される特許

201 - 220 / 541


【課題】X線の外部漏洩を効果的に抑制することが可能なX線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、シールドボックス2,3と、シールドボックス2,3内に配置されたX線照射部及びX線検出部と、物品100がX線照射部とX線検出部との間のX線照射経路60を通過するように、物品100を搬送するベルトコンベアユニット8と、X線照射部の下方においてベルトコンベアユニット8に取り付けられ、X線照射方向に関するX線照射経路60の一部を取り囲む、X線遮蔽部材19とを備える。 (もっと読む)


診断撮像装置は、原子核崩壊を示すγ線を検出する検出器素子16を含む。検出されたγ線は、タイムスタンプされ20、リストモードで記憶されるラインオブレスポンス(LOR)46を生成するのに使用される。前記LORは、画像に再構成される34。画像分析プロセッサ38は、運動アーチファクトについて前記画像を分析し、前記モーションアーチファクトを最小化するように選択されたLORを変換するように事象変換プロセッサ30を反復的に調整する。変換されたLOR50が検出器素子16の対と対応しない場合、最も近い検出器素子52、54が、決定される。候補LOR62は、最も近い検出器素子と近隣の検出器素子との間で作成される。LOR46上の事象位置40は、飛行時間(TOF)情報から決定され、次いで変換された事象位置48を生成するように変換される。変換された事象位置40に最も近く交差する候補LOR62及び適切に更新されたTOF情報は、画像再構成において使用するのに選択される。
(もっと読む)


【課題】オペレータの経験等によらずに、X線像に要求される正確さに係る情報の入力により、自動的に最適なX線検出出力の積算回数を設定することのできるX線撮影装置を提供する。
【解決手段】X線像に要求される正確さに係る情報を入力するための入力手段と、X線発生装置1の管電圧と、X線発生装置1とX線検出器3間の距離とを含み、かつ、X線検出器3の画素出力の積算回数を含まない撮影条件を設定することにより、その条件下で略一様なX線がX線検出器3の複数の画素に入射したときの各画素出力の積算回数と、その各画素出力ごとの積算値相互のばらつきとの関係を求め、その関係と入力手段15により入力された正確さに係る情報とから、当該正確さを得ることのできる積算回数を算出して自動的に設定する検出器出力積算回数設定手段を設けることにより、入力された正確さを有するX線像を得ながら、最も少ない積算回数でのX線撮影を可能とする。 (もっと読む)


【課題】薄膜包材内に物品を内包する商品であっても、薄膜包材内を漏れなく検査領域として設定し、高精度な検査を実施することが可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置10は、コンベア12によって搬送される商品Gに対して、X線照射器13からX線を照射し、X線ラインセンサ14において検出されたX線量に基づいてX線画像を作成して異物混入の検査を行う装置であって、X線ラインセンサ14において商品Gの袋B内のパンG1を検出すると、制御コンピュータ20が、パンG1の上流側および下流側に隣接する領域を、検査領域A1,A2として加える。 (もっと読む)


【課題】液体試料の観察又は検査を良好に行うことのできる検査方法及び検査装置に関し、該試料の光学像と、一次線(電子線、荷電粒子線)を用いた像の同時取得を可能にする検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】試料検査装置は、第1の面32aに液体試料20が保持される膜32と、膜32の第2の面に接する雰囲気を減圧する真空室11と、真空室11に接続され、膜32を介して試料20に一次線7を照射する一次線照射手段1と、一次線7の照射により試料20に含まれる検査対象物から発生する二次的信号を検出する信号検出手段4と、該検査対象物の光学像を取得する光学像取得手段を備え、該一次線照射手段と該光学増取得手段とが該膜32を間に介して対向配置されており、該膜32が遮光性を有している。 (もっと読む)


【課題】液体試料の観察又は検査を効率良く行うことのできる検査方法等に関し、装置のメンテナンスの向上を可能にする検査方法及びそれに用いられる試液を提供する。
【解決手段】一部が膜32から構成された試料保持体40に液体試料20として培地39と細胞38が入れてある。この液体試料に閉塞物質41を混入させる。膜32の下方から膜32を介して一次線を細胞38に照射可能で、その時に発生する二次的信号を検出することで細胞の像や情報を得ることができる。膜32が一次線照射や、何らかの機械的刺激により破壊された場合であっても、閉塞物質41が膜の破損個所を閉塞するので液漏れを最小限にすることができる。従来、膜の破壊毎に装置を洗浄する必要があったが、本発明により少なくとも10回膜が破壊されても洗浄の必要性がなくなる。 (もっと読む)


【課題】直接変換方式のX線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、X線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、X線照射部7と、X線を直接的に電気信号に変換するタイプのX線センサを有するX線検出部8と、物品12がX線照射部7とX線検出部8との間のX線照射領域100を通過するように、物品12を搬送するベルトコンベア6と、X線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部60とを備えている。X線検出部8は、物品12の搬送経路上に配設されたX線ラインセンサ8Aと、X線ラインセンサ8Aよりも下流側でX線ラインセンサ8Aに平行に配設されたX線ラインセンサ8Bとを有している。制御部60は、X線ラインセンサ8A,8Bに対して、バイアス電圧を独立に印加可能である。 (もっと読む)


【課題】従来よりも光子密度の高い単色X線を発生することができ、単色化されたX線の波長を変更することができるX線集光装置を提供すること。
【解決手段】複数の結晶素子(11a、11b)を備え、
光源と焦点とを通る直線をx軸、該x軸に直交する方向をy軸、入射角を決めるパラメータをαとして、x軸上に位置する長さ2Lの弦を有し、かつx+(y−L/tanα)=L(1−1/tan2α)で表される円弧上に、前記結晶素子が配置され、
前記光源が前記弦の一方の端点(A)に位置し、前記焦点が前記弦の他方の端点(B)に位置し、
前記光源から放射されたX線が前記結晶素子によって反射されて前記焦点に集光するように、前記結晶素子の結晶格子面の方向が決定されている。 (もっと読む)


【課題】遮蔽カーテンとして用いられる遮蔽部材の捩じれやカールの発生、及び機械的強度及び耐久性の低下を防止しつつも、X線の漏洩を防止することが目的とされる。
【解決手段】X線検査装置1は、X線を用いて物品Pの検査を行う装置であって、筐体11と、第1及び第2の遮蔽部材151,161とを備える。筐体11には、X線が照射される内部空間S1と、外部から内部空間S1への物品Pの搬入が行われる通路W1が設けられている。第1及び第2の遮蔽部材151,161は、通路W1内に吊り下げられており、X線の遮蔽が可能である。第1及び第2の遮蔽部材の位置は、物品Pの搬送方向90において異なる。第1及び第2の遮蔽部材151,161はいずれも、互いに独立に捲ることが可能な長さの異なる第1及び第2の垂れ下がり部を有する。そして、第1の遮蔽部材151と第2の遮蔽部材161とで、第1及び第2の垂れ下がり部の配置が異なる。 (もっと読む)


【課題】直接変換方式のX線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、X線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、X線照射部7と、X線を直接的に電気信号に変換するタイプのX線センサを有するX線検出部8と、物品12がX線照射部7とX線検出部8との間のX線照射領域100を通過するように、物品12を搬送するベルトコンベア6と、X線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部60とを備えている。X線検出部8は、物品12の搬送経路上に配設されたX線ラインセンサ8Aと、X線ラインセンサ8Aよりも下流側でX線ラインセンサ8Aに平行に配設されたX線ラインセンサ8Bとを有している。制御部60は、X線ラインセンサ8A,8Bに対して、バイアス電圧の印加を独立に停止可能である。 (もっと読む)


【課題】 アスペクト比の低い回折格子を用い、挟ピッチ化を図ることが可能となるX線位相イメージングに用いられる位相格子等を提供する。
【解決手段】 X線位相イメージングに用いられる位相格子であって、
入射するX線の位相をπシフトさせて透過させる厚さに形成されている第1の突条部と、該第1の突条部の幅と同一の開口幅を有する第1の開口部とが周期的に配列されている第1の回折格子と、
前記第1の突条部と同一の幅を有する第2の突条部と、前記第1の開口部と同一の開口幅を有する第2の開口部とが周期的に配列されている第2の回折格子とを有し、
前記第2の回折格子は、前記第1の回折格子の上に、ずらして形成されていることを特徴とするX線位相イメージングに用いられる位相格子。 (もっと読む)


【課題】X線異物検査装置において、検査対象物及びX線エリアカメラに対してX線を均一に照射することにより照射強度のむらをなくす。
【解決手段】複数個のX線エリアカメラ31、32、33、34を、X線源2から等距離の円周上に、かつ、X線源2に対向するように配置する。また、複数列のコンベア41、42、43、44を、X線源2とX線エリアカメラ31、32、33、34の間において、X線源2から等距離の円周上に、かつ載置面41a、42a、43a、44aがX線源2に対向するように配置する。これにより、検査対象物及びX線エリアカメラに対してX線が均一に照射され、照射強度のむらがなくなる。 (もっと読む)


【課題】被検査物中の異物を高精度または高速度で検出できる食品用X線異物検査装置およびその方法を提供する。
【解決手段】本発明の食品用X線異物検査装置10は、被検査物12にX線を照射するX線発生部20と、前記被検査物12を透過した前記X線を検出するX線検出部30とを備えたX線異物検査装置において、前記X線検出部30のX線透過画像データを、異なる分割数で複数の画像に分割し、分割画像毎に閾値を設定して2値化して、得られた各ピクセルの2値化結果を多数決で異物13の有無の判定を行う画像処理部40を備えている。 (もっと読む)


【課題】遮蔽扉の開閉を容易にし、且つ清掃時に洗浄水やゴミなどの滞留をなくし、清掃性を向上させる。
【解決手段】筐体2と、X線発生器21と、筐体2の前面側に突出するとともにX線検出器22を備えた搬送部8と、筐体2の前面側から取り付け取り外しが可能な搬送ベルト13と、検査領域Pを覆う前面板5の周縁に縁板6が立設された遮蔽扉4とを備えたX線異物検出装置1において、遮蔽扉4は、開状態のときに前方に向かって下り斜面した下り傾斜部5aと、下り傾斜部5aから連続して上り傾斜した上り傾斜部5bとを有し、水抜き孔10が上り傾斜部5aと下り傾斜部5bの境界に設けられ、筐体2は、筐体2の前面に突設され、遮蔽扉4が閉状態のときに水抜き孔10を塞ぐためにこの孔10に嵌入する閉塞部材15を備えた。 (もっと読む)


【課題】焦点から検出器に向けて拡がりをもったビームにより透視画像の撮影を行うX線撮影装置において、焦点からの距離に対応したビーム照射範囲を把握しやすくする。
【解決手段】検体が載置されるトレイ14を、ビームの焦点30から、複数のあらかじめ定められた距離の位置において支持する支持フレーム24を設ける。支持フレームは、前記の位置においてトレイを支持するため、その位置ごとに、トレイを受け入れる受け入れ部22を有する。トレイには、それぞれの受け入れ部に対応して、その受け入れ部により支持された際のビームの照射範囲を示すマークが付されている。 (もっと読む)


NEMOタンパク質のCC2−LZドメインの結晶であって、その三次元構造が解像度約3.25ÅでのX線回折により決定されている。本発明は、また、CC2−LZドメインのための結晶化方法に関する。CC2−LZ結晶及びまたそれらの結晶構造に由来する情報を使用して、CC2−LZとの相互作用に入る化合物を同定及びデザインする。 (もっと読む)


【課題】軽元素から成る微小な試料に対しても充分な高分解能、高コントラストを得ることができ、in-situの状態で試料を観察することができるX線顕微装置を提供する。
【解決手段】電子銃の電子源からの電子線をX線ターゲットに当ててX線を発生させるX線発生手段と、試料に照射されたX線の透過X線を撮像素子で撮像する撮像手段とを具備したX線顕微装置において、X線発生手段は波長0.1〜1.2nmの長波長の特性X線を発生し、X線ターゲットを真空封止するX線透過窓基材はベリリウムで成り、X線透過窓基材の厚さが10〜60μmであると共に、撮像手段の試料室が密封構成であり、試料室にガスを充填して試料の透過画像を撮像手段で得る。 (もっと読む)


試験サンプル(1)は、例えば食品や医薬品、特にパッケージされた物品の異物のスポットに、X線や金属検出器を利用して生産ラインの測定及び監視装置(5)の性能を試験するのに適している。試験サンプル(1)は、特定のサイズの金属粒子のような基準試験体(3)を閉じ込めた薄板状のカード(2)を有する。このカード(2)又は他のサンプル(1)は、光学スキャナ(12)によって読み取り可能なバーコードを含む少なくとも1つの識別ゾーン(4)を支持している。装置(5)を試験するために、カード(2)は、この装置を通過する物品のパッケージ(13)に置かれる。光学スキャナ(12)は、正しい試験サンプル(1)が提示されたのを確認するために、バーコードを読み取り、結果がコンピュータ(9)のログに記録される。この結果が提示された特定の試験サンプル(1)から予期されるものと一致しなければ、装置の再較正又は修理の必要がある。
(もっと読む)


【課題】被検査物における所望の範囲を視覚的に特定することが可能なX線検査技術を提供する。
【解決手段】X検査装置は、被検査物TGに対してX線を使用して検査を行う検査部1と、検査部1において検査された被検査物TGに対してマーキングを行うマーキング部10とを備えている。検査部1は、被検査物TGにX線100を照射するX線照射部3と、X線照射部1から照射されて被検査物TGを透過したX線100を検出するラインセンサ4と、被検査物TGにおいて透過X線量に関する所定の条件を満足する範囲、例えば異物や空洞部分あるいは脂肪分の範囲を、ラインセンサ4での検出結果に基づいて特定する検査制御部6とを有している。マーキング10部は、検査制御部6で特定された、異物、空洞部分、脂肪分などの範囲を被検査物TGにマーキングする。 (もっと読む)


【課題】X線タルボ・ロー干渉計による高感度X線撮像法において、マルチスリットの設置を省略できるX線源及びそれを用いたX線撮像装置を提供する。
【解決手段】X線源10は、基板11と、複数のストライプ部12とを備える。複数のストライプ部12は、基板11の表面上に配置されている。かつ、複数のストライプ部12は、互いに間隔を置いて配置されている。さらに、複数のストライプ部の配置間隔dは、ほぼ一定とされている。基板11又はストライプ部12のうちのいずれか一方は、励起ビームの照射によって必要量のX線を発生する金属とされている。 (もっと読む)


201 - 220 / 541