【課題】 実際に光学系に半導体レーザ素子を組込んだ状態に則して半導体レーザ素子の光学特性を測定する半導体レーザ素子の光学特性生成装置および特性測定方法を提供することである。
【解決手段】 第１受光部２５は、第２受光部２６の、第２方向Ｙの一方側となる位置に設けられる。絞り１６は、半導体レーザ装置１１と、第１および第２受光部２５，２６との間に設けられる。この絞り１６の開口数ＮＡは、実際に半導体レーザ装置１１を光ピックアップ装置の光源として実装したときに、レーザ光の一部がコリメータレンズによって制限されることを考慮して、コリメータレンズの開口数ＮＡと同じ値に選ばれる。これによって第１および第２受光部２５，２６は、レーザ光のうちの利用すべき光を受光する。第１および第２受光部２５，２６によって受光した光の強度に基づいて、半導体レーザ装置１１のキンクの特性を表すキンク特性値を求める。 （もっと読む）

【課題】 半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量試験のスループットを向上し、かつ不良素子の発見のためのコストを低下できる半導体素子の試験方法を提供する。
【解決手段】 試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。ウエーハテスタにより試験可能なアバランシェ耐量試験を、ウエーハテスタによる試験が困難なＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行い、従来、モジュール状態組立後に行っていたＲＢＳＯＡ耐量試験をチップ状態で実施可能とした。 （もっと読む）

【課題】 １つの機能マクロに相当する回路を複数のチップに分割して実現する場合に、複数のチップに分割することで発生するスキューを自動で調整し、回路全体として正しく動作できるようにする。
【解決手段】 １つの機能マクロを構成する機能回路を分割して複数のチップに実装するとともに、基準となるクロック信号を基に位相が互いに異なる複数の内部クロック信号を生成して、選択した内部クロック信号を用いて行うテスト動作の結果に基づいてチップ内の機能回路に供給するクロック信号の位相を調整するようにして、位相が互いに異なる複数の内部クロック信号のなかから最適な位相のクロック信号を得て、複数のチップに分割することで発生するスキューを自動で調整し、回路全体として正しく動作できるようにする。 （もっと読む）

【課題】 発光素子の高出力化に伴ってその発光出力をモニタする受光素子の飽和が問題となっている。本発明では発光素子の特性評価試験を低価格で精度よく行え、かつ小型化が可能な発光素子試験装置を提供する。
【解決手段】 多数の微細孔を均一に分散した光吸収膜からなる遮光膜を受光素子の受光面に形成し、受光素子の出力電流を抑制することで飽和特性を制御する。具体的には、半導体レーザダイオード６からのモニタ光のうち、光吸収層１０ｅの微細孔１０ｃ以外の部分に入射したモニタ光は光吸収層１０ｅに吸収され、微細孔１０ｃ内に入射したモニタ光はホトダイオード１０の光入射面に到達する。よってホトダイオード１０における飽和が抑えられ、半導体レーザダイオード６の特性評価試験を精度良く行うことができる。また、光吸収層１０ｅは、反射光に起因する半導体レーザダイオード６の誤作動も防ぐ。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的はＴＯＦ法におけるドリフト時間の短い部分の雑音を低減した高移動度測定装置を提供することにある。
【解決手段】 測定対象物に設けられた電極に接触可能なプローブを有する測定対象物設置手段１２と、測定対象物に光を照射する光照射手段１４と、プローブを介して前記電極に電圧を印加する電圧印加手段１６と、測定対象物を流れる電流信号を検出する信号検出手段１８と、検出信号を処理する信号処理手段２０と、を備え、ＴＯＦ法測定を行う高移動度測定装置１０において、
光照射手段１４と他の手段（１６、１８）との間の接続を光接続とし、電気的に分離絶縁することで光照射手段１４から発生するノイズを低減する雑音低減手段、ＴＯＦ法測定の検出信号に混入する前記光照射手段からのノイズを除去する雑音除去手段（２０）を備えたことを特徴とする高移動度測定装置。 （もっと読む）

【課題】 半導体素子のノイズ測定において、ドレイン電圧Ｖｄから侵入するノイズの影響を低減することができる技術を提供する。
【解決手段】 ＭＯＳトランジスタ１１６のドレインに接続され、ＭＯＳトランジスタ１１６のドレインを流れる電流を電圧に変換するための抵抗１０３，１０４と、その電圧を増幅するオペアンプ１０１，１０２を備えており、オペアンプ１０１，１０２の電源はドレイン電位を基準に印加されることを特徴とする半導体評価装置。 （もっと読む）

【課題】標準撮像状態いわゆる平行光状態と射出瞳距離が短いカメラセットの光学系に近似させるために開放状態または開放状態に近い状態で、主光軸に対して鈍角度を持った光を撮像素子に入射させる場合とで、各々の開口絞り設定が必要であり、感度不均一性およびシェーディングの測定も複数回に及ぶために、測定時間が長時間化するという課題があった。
【解決手段】本発明は、光源装置中の光源部とその射出開口部間に、特定波長の光のみを選択的に透過させる色フィルターを同一面上に同心円状に複数配置し、前記色フィルターを透過した光のみを固体撮像素子へ照射し、固体撮像素子上に選択的に形成された色フィルターの同一色の画素毎に感度不均一性もしくはシェーディングを個別に測定する。 （もっと読む）

【課題】高周波素子を収納した表面実装型パッケージ等の高周波部品の高周波特性を効率良く、且つ低コストに評価できる測定用伝送線路基板とそれを用いた高周波部品の特性測定方法を提供する。
【解決手段】誘電体基板１に信号導体線２とグランド層３とからなる線路Ｘを具備し、その一方の端部にプローブ用端子部Ｙを形成し、線路Ｘの他方の端部に、部品用端子部Ｚを形成した測定用伝送線路基板Ａを用い、プローブ用端子部Ｙにコプレーナプローブ９を押し当て固定したまま、部品用端子部Ｚに対して表面実装型パッケージＰなどの高周波部品に形成されたコプレーナ端子を順次押し当てて、複数の高周波部品の高周波特性を繰り返し測定することにより、効率良く、また測定プローブの摩耗が小さく低コストで測定が可能になる。 （もっと読む）