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Fターム[2G043EA09]の内容

蛍光又は発光による材料の調査、分析 (54,565) | 分析法 (5,807) | 発光 (629) | アーク、スパーク、放電 (115)

Fターム[2G043EA09]に分類される特許

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【課題】微弱な放電であっても確実に沿面放電発生の有無を検出して絶縁異常個所の有無を判断する。
【解決手段】信号処理回路5は、紫外線センサ2の紫外線検出回数を検出回数データ用メモリ7に記憶し、紫外線を検出した時点の変圧器4の印加電圧位相を電圧位相データ用メモリ8に記憶する。情報処理装置6は、検出回数データ用メモリ7に記憶されている紫外線検出回数および電圧位相データ用メモリ8に記憶されている紫外線検出時電圧位相を一定時間ごとに取り込み、検出した紫外線から得られる所定時間内における各種の情報が所定の条件を満たすか否か基づいて放電発生の有無を判断する。 (もっと読む)


【課題】浸炭炉の内部の炉内ガスの状態を迅速且つ精確に求め、真空浸炭処理を再現性良く良好に行うことができる浸炭装置を提供する。
【解決手段】浸炭装置は、物体を収容する浸炭炉と、浸炭炉に浸炭ガスを供給するガス供給装置と、浸炭ガスが供給された浸炭炉の内部の炉内ガスを用いて発光する発光装置と、発光装置からの光を受光する受光装置と、受光装置の受光結果に基づいて、炉内ガスの組成を求める処理装置とを備えている。 (もっと読む)


線形センサアレイを使用した分光法を提供する。スペクトルの時間分解分析は、電荷転送デバイス感光性ピクセルセルの1次元アレイを照射し、集積回路に感光性セルと並置されたそれぞれのストレージセル(行ストレージレジスタ)に感光性セルにおける電荷を定期的に非破壊的に複写することによって実行される。ストレージセルの少なくとも一部に格納された電荷に関する情報は、集積回路の外部の構成要素に供給される。 (もっと読む)


発光分光(OES)分析器、特に、内蔵型の手持ち式OES分析器を提供する。サンプルの組成を分析するための手持ち式内蔵型バッテリ式試験計器は、サンプルの少なくとも一部分を励起するための励振器、サンプルの励起部分から光信号を受信するための小型の交差分散分光計、及び分光計からの光信号に関するスペクトルデータを処理するためのプロセッサを含む。励振器は、スパーク発生器、及びサンプル部分から光信号を発生させるための対極、レーザ、又は他のデバイスを含むことができる。分光計は、試験計器が一般合金を識別するのに必要な炭素、燐、硫黄、マンガン、シリコン、鉄、及び他の元素の相対量を検出して判断することを可能にするのに十分広い波長範囲を有する。分光計は、小さな熱膨張係数(CTE)を有する軽量材料で作られた構造部材を含む。分光計は、分光計の温度を制御することなく予測周囲温度の範囲にわたって寸法的に安定である。 (もっと読む)


【課題】グロー放電を利用した円柱状又は棒状の試料の側面の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。
【解決手段】アルゴンガス(不活性ガス)が供給される試料室(処理室)3内で、グロー放電管1が備える電極に対して、棒材等の円柱状の試料Sの側面を対向配置する。モータ38により試料Sを軸周りに回転させながら試料Sと電極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、グロー放電に伴うアルゴンイオンのイオン衝撃により試料Sの側面を掘削する。円柱状の試料Sの側面が軸対称に掘削され、グロー放電発光分析による成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Sの側面をSEM等で観察することも可能となる。 (もっと読む)


【課題】グロー放電を利用した球状の試料の掘削を可能とする試料掘削方法、及び試料掘削装置を提供する。
【解決手段】アルゴンガス(不活性ガス)が供給される試料室(処理室)3内で、グロー放電管1が備える電極に対向して下方に配置された載置部31に球状の試料Sを載置し、複数のセラミックボール(球)32によって試料Sの移動を拘束した上で、試料Sを電極に対向配置させる。超音波発振器(発振器)33から振動を載置部31に加えながら試料Sと電極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、グロー放電に伴うアルゴンイオンのイオン衝撃により試料Sの表面を掘削する。振動によって試料Sはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Sの表面をSEM等で観察することも可能となる。 (もっと読む)


【課題】薄膜積層体の深さ方向分析を行う場合において、各層の界面の位置を正確に特定することが可能な界面検出方法及び界面検出装置を提供すること。
【解決手段】グロー放電により発生させた不活性ガスイオンを試料表面に衝突させ、試料表面から飛び出した粒子をプラズマ中で励起するグロー放電発光手段を備えた装置に試料を設置し、試料表面をスパッタリングする第1工程と、プラズマで励起された粒子が基底状態に戻る際に放出するトータル発光量FIを測定する第2工程と、トータル発光量FIの1次微分値FI’及び/又は2次微分値FI”を算出する第3工程と、1次微分値FI’の絶対値及び/又は2次微分値FI”の絶対値が第1しきい値α(0≦α)以下となる時間tn(nは、1以上の整数)を算出する第4工程とを備えた界面検出方法、及び、界面検出装置。 (もっと読む)


【課題】 潤滑剤におけるトライボプラズマ現象の発生状況を把握し、潤滑剤の劣化を測定する方法及びそれに用いる測定装置を提供する。
【解決手段】
半球ピンと潤滑剤を載せたディスクの摺動接触点で発生する光子像を、紫外線透過レンズで構成された光学顕微鏡を通して検出し、UV像の発生の有無により、トライボプラズマが潤滑剤の潤滑点の近傍に発生しているかどうかを判定することからなる潤滑剤の劣化測定方法。 (もっと読む)


【課題】界面に物理的な凹凸や構成元素の拡散による中間層が存在する場合であっても、界面情報を正確に検出することが可能な薄膜積層体及び界面検出方法を提供すること。
【解決手段】基材と、前記基材表面に形成された1又は2以上の薄膜と、基材−薄膜間、又は、薄膜−薄膜間の少なくとも1つの界面に形成されたマーカとを備えた薄膜積層体、及び、この薄膜積層体をグロー放電発光分光分析装置に設置し、前記薄膜積層体の表面をスパッタリングする第1工程と、前記薄膜積層体の表面から飛び出し、かつ、プラズマ中で励起された粒子が基底状態に戻る際に放出する光を集光し、集光された光を分光する第2工程と、前記分光された光の内、前記薄膜積層体の界面に形成されたマーカに対応する光を検出する第3工程とを備えた界面検出方法。 (もっと読む)


【課題】表面の汚染物質を確実に除去することができる表面前処理方法及び表面前処理装置を提供すること。
【解決手段】グロー放電により発生させた不活性ガスイオンを試料表面に衝突させ、表面から飛び出した粒子をプラズマ中で励起するグロー放電発光手段を備えた装置に試料を設置し、試料表面をスパッタリングする第1工程と、プラズマ中で励起された粒子が基底状態に戻る際に放出するトータル発光量FIを測定する第2工程と、トータル発光量FIを測定しながら、1次微分値FI’及び2次微分値FI”を逐次算出する第3工程と、測定を開始してから最初に、1次微分値FI’の絶対値又は2次微分値FI”の絶対値の少なくとも一方が第1しきい値α以下となり、かつ、他方が第2しきい値β(0<α≦β)以下になったときに、スパッタリングを停止させる第4工程とを備えた表面前処理方法、及び、表面前処理装置。 (もっと読む)


【課題】溶湯表面との放電で発光現象が不安定であっても高精度に溶湯成分を分析できる発光分光分析方法、装置を提供する。
【解決手段】溶湯Mに下部が浸漬される発光筒1を備え、該発光筒1は、筒体2内に溶湯表面との間に放電を起こす電極3と前記放電による励起光を採光する複数の光ファイバー4(4A,4B)とを配設した構成とし、さらに発光筒1の下端側に回転ロッド13を中心に旋回するスラグ除去部材10を配設する。スラグ除去部材10により溶湯Mの表面からスラグSを除去しながら発光筒1を所定深さだけ溶湯Mに浸漬させ、発光筒1内を不活性ガス雰囲気として電極3と溶湯Mの表面との間にスパーク放電を起こし、その励起光を各光ファイバー4により対応する分光器に伝送する。そして、最終的に各分光器ごとに求めた成分データを演算器に集めて、溶湯成分を最終決定する。 (もっと読む)


【課題】非破壊検査により浸炭後の鋼の炭素濃度分布を簡便に求めることができる炭素濃度分布測定方法およびこれを用いた浸炭部材の製造方法を提供すること。
【解決手段】浸炭後の鋼の表面からの深さとその深さにおける炭素濃度との関係を無次元化して表した回帰曲線を仮定し、この回帰曲線の炭素濃度軸方向を(Q−P)倍してPを加えるとともに、この回帰曲線の深さ軸方向を(B−A)/{ρ×S×(Q−P)}倍して、浸炭後の鋼の炭素濃度分布を求める測定方法とする。但し、Q:浸炭後の鋼の表面炭素濃度(wt%)、P:浸炭前の鋼の表面炭素濃度(wt%)、B:浸炭後の鋼の重量(g)、A:浸炭前の鋼の重量(g)、ρ:鋼の密度(g/m)、S:鋼の表面積(m)。また、前記測定方法を用いて、一定炭素濃度となる表面からの深さを求め、浸炭部材を非破壊検査する検査工程を有する製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】レーザ光とスパーク放電を利用した発光分光分析方法において、レーザ光による試料蒸気と対電極との間でスパーク放電を発生させ、金属試料の成分を分析するための方法を提供する。
【解決手段】金属試料1にレーザ光3を照射し、さらに、金属試料1と対電極2との間にスパーク放電を発生させ、発生したスパーク放電による発光スペクトルを分光することで、金属試料1の成分を分析する発光分光分析法において、金属試料1と対電極2との間隔Aは、スパーク放電が発生する電圧を印加しても放電せず、かつレーザ光3を照射した直後ならばスパーク放電が発生する距離とする。 (もっと読む)


【課題】電極クリーニング、成形および交換時等における電極のメンテナンスの効率化を実現する電極ホルダを提供する。
【解決手段】電極ホルダ21は、電極5を保持する電極ホルダであって、筒状の本体10と、ノック部1と、チャック8と、締めリング9と、弾性部材7と、電極収納部6と、動作部3とを備える。ノック部1は、本体10の上側に設けられ、本体10に対して軸方向に相対移動可能である。チャック8と締めリング9と弾性部材7とは、本体10の下側に設けられ、電極5の繰り出しを行う。電極収納部6は、チャック8と連結され、電極5をチャック8に供給する。動作部3は、電極収納部6の上側に固定されるとともに、ノック部1が上側に着脱可能に取り付けられる。ノック部1が下側に押下されると、動作部3と電極収納部6とチャック8と締めリング9と弾性部材7とが下側に押動されるとともにチャック8が電極5を適量繰り出す。 (もっと読む)


【課題】目的元素の定量分析の際に任意の元素の半定量分析も実行して、目的元素の定量値を評価する際に有用な情報を同時に表示する。
【解決手段】ユーザーは予め定量分析を実行する目的元素と半定量分析を実行する元素とを設定し、目的元素については標準試料の濃度等の設定も行っておく。分析が開始されると、まず標準試料の測定を実行して得られたデータに基づき定量分析処理部201は検量線を作成して検量線保存部204に格納する。次に未知試料の測定を実行して蓄積部22にデータを格納すると、定量分析処理部201は設定波長のデータを読み出して検量線を参照して目的元素毎に定量値を求め、半定量分析処理部202は定性データベース205を参照して波長を決めて該波長に対応するデータから半定量値を計算する。処理制御部206は計算された定量値、半定量値を併せて表示部25に表示する。 (もっと読む)


【課題】発光分析装置においては、多数のスパーク放電を行により、電極上に試料電極から蒸発した堆積物が形成され、これを除去するための電極の研磨作業が負担となる。
【解決手段】放電ギャップとイグナイタ回路と主放電電源を有する発光分析装置で、イグナイタ回路はイグニッショントランスと一対の電流制御装置と励磁電源とを有し、イグニッショントランスの二次コイルには放電ギャップと主放電電源が直列に接続されて主放電電流経路を形成し、イグニッショントランスの一次コイルには一対の電流制御装置と前記励磁電源が直列に接続されて励磁電流経路を形成し、さらに一対の電流制御装置は、互いに逆の極性で接続される。励磁電源の電圧極性を反転することで、イグニッショントランスの二次コイルに発生させる高電圧の極性を反転し、同時に主放電電源の電圧極性を反転することで、主放電電流の向きを反転する。逆極性の放電により電極上の堆積物を除去する。 (もっと読む)


【課題】中心軸を回転中心として回転するブラシを用いた自動電極クリーニング機構を有する発光分析装置において、動きのスムーズな、駆動機構に対する付加の少ない自動電極クリーニング機構を提供する。
【解決手段】自動電極クリーニング装置のブラシ9は、図1に見られるように、毛足21の先端を回転軸に対して角度を持つ斜めの平面に沿って剪断されている。本実施例においては、具体的には毛足21の直径は約18mm、毛足21の最長部の長さは約10mm、最短部の長さは6.5mmである。電極2と接触する鋼線本数が、従来のブラシに比べて少ないため、接触抵抗が大幅に低減される。このため、回転駆動機構や往復運動駆動機構への負荷が減少し、スムーズな駆動が実現される。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、簡単な工夫で、分析結果に対する金属組織の影響を回避し、分析精度を従来より向上可能なスパーク放電発光分光分析方法及びその装置を提供することを目的としている。
【解決手段】分析試料を載置、固定し、該分析試料に対向する位置に設けた電極との間でスパーク放電して得られたスペクトル線に基づき、該分析試料が含有する元素を定量するスパーク放電発光分光分析方法を改良した。具体的には、前記分析試料を、溶融金属からサンプリングして冷却、凝固させたものにすると共に、前記分析試料の測定対象面が、該分析試料の金属組織のうちの柱状晶部となるように位置決めする。 (もっと読む)


【課題】スパーク放電発光分析法を用いて金属試料の板厚断面の成分濃度を迅速かつ正確に評価する方法を提供する。
【解決手段】測定対象物である金属試料の表面を予め傾斜研磨加工した後、スパーク放電発光分析法を用いて該金属試料の厚みが薄くなる表面傾斜方向にそって隣接する分析点同士が重畳しないように分析点を移動させつつ、各分析点から得られる発光スペクトルを分光分析し、特定成分に対応する波長の発光強度から金属試料の各厚みに対応する特定成分の濃度を求めることを特徴とするスパーク放電発光分析による金属試料の厚み方向成分濃度評価方法。 (もっと読む)


【課題】測定試料を分解したときに生じる発光強度の経時変化により、測定試料における元素の化学結合状態を判定することができるようにすることである。
【解決手段】測定試料Wにエネルギを加えて、その測定試料W中の励起された元素が発する光を検出して、前記測定試料Wを分析する発光分析装置1であって、前記光の強度を検出する光検出部8と、前記光検出部8により検出された光強度の経時変化に基づいて、前記測定試料Wにおける元素の化学結合状態を識別可能に出力する経時変化出力部9と、を備えるようにした。 (もっと読む)


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