【課題】 選別精度の向上を図ることが可能となる粒状体選別装置を提供する。
【解決手段】 粒状体群を上下方向に沿う移送経路に沿って下降状態で移送して、上部に開口が形成された筒状の案内通路に向けて案内して、移送される粒状体群のうちで分離すべき分離対象物を検出して案内通路よりも移送方向上手側の分離箇所において、水平又はほぼ水平方向に向けてエアーを噴出して分離対象物を吹き飛ばす分離手段６と、その分離手段６にて吹き飛ばされる分離対象物を受け止めて下方側に位置する回収口３１Ａに案内する筒状の受止め案内手段３１とが設けられ、その受止め案内手段３１の内部に、傾斜案内面部分の反射により案内通路の上部開口に移行することを抑制する跳ね返り防止体３５が設けられる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電子部品供給部と整列機との間に無振動区間を形成し、電子製品が無振動状態で整列機に移送され得るようにする電子製品整列装置及び電子部品検査システムを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の電子部品検査システムは、電子部品を供給する電子部品供給部、電子部品を無振動状態で移送して整列する電子部品整列部、電子部品が配置されるガラス円板、トリガー信号とエンコーダ値を生成する電子部品位置検出部、電子部品の４面を撮影する電子部品撮影部、圧縮空気を噴射して電子部品を排出する電子部品排出部及びトリガー信号とエンコーダ値及び撮影映像を用いて、電子部品の良否判定を行った後、判定された結果に基づいて、電子部品排出部を制御する制御部を含む。本発明によれば、電子部品の安定的な整列、選別性能の向上、電子部品の排出反応速度の向上という効果がある。 （もっと読む）

【課題】 複数の検査装置で統一した判断でシミ欠陥を検出するための閾値を簡便に設定するシミ欠陥検出用閾値設定方法を提供する。
【解決手段】 モデル欠陥作成工程ＳＴ１００においてシミ欠陥を検出する基準となるモデル欠陥の画像を作成する。モデル欠陥再現情報記憶工程ＳＴ２００においてモデル欠陥作成工程ＳＴ１００にて作成されたモデル欠陥の画像を再現するためのモデル欠陥再現情報を記憶する。モデル欠陥表示工程において、モデル欠陥再現情報に基づいて検査装置の駆動手段にてモデル欠陥を再現させて表示させる。撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。画像処理工程では、撮像データを画像処理手段で画像処理してシミ欠陥を検出するパラメータを算出する。閾値設定工程では、画像処理工程にて算出されたパラメータをシミ欠陥検出用閾値として設定する。 （もっと読む）

【課題】落下している個々の粒状物ｗの左右水平方向ｆ２及び粒状物落下方向ｆ３におけるラインセンサによる撮像精度を向上させて、粒状物ｗ群からの異色粒状物の除去を確実に行えるようにする。
【解決手段】粒状物色彩選別方法において、ラインセンサの各回の左右水平方向ｆ２走査で撮像される粒状物ｗ上の範囲ｍ１が粒状物落下方向ｆ３上で、重複の生じない連続した状態か、あるいは、部分的に重複した状態に並ぶように実施する。 （もっと読む）

【課題】筒状物品の側面部に存在する欠陥を、高精度、高速に且つ、高精度に検査できる筒状物品の側面部検査方法を提供する。
【解決手段】筒状物品としての電池３の側面部の総高以下かつ半周未満を保持し、撮像手段としての撮像素子６を介して保持部以外の側面部面を検査したのち、電池３を反転させて保持し、撮像手段としての撮像素子６を介して保持部以外の側面部面を検査することにより、電池３の側面部全域を高精度に検査する。 （もっと読む）

【課題】 照明手段による異なる方向からの照明光量に差が生じることを阻止して、受光手段にて計測される受光量が適正光量範囲を外れているか否かを適切に判別することが可能となる粒状体選別装置を提供する。
【解決手段】 外周面が曲面である粒状体群を計測対象領域を通過させながら一層状態で移送して、粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で計測対象領域からの検出光を受光して受光量を計測する受光手段５の受光情報に基づいて、単位受光対象範囲毎に受光量を評価して粒状体を選別するように構成され、照明手段４が、計測対象領域の経路横幅方向に沿う方向視において、受光手段５の光軸に対して粒状体移送方向の上手側及び下手側の夫々に設けられる照明部のうちのいずれか一方がライン状光源にて構成され、他方が光反射体にて構成される。 （もっと読む）

【課題】 装置全体を大型化させることなくコンパクトな配置構成としながら、且つ、受光手段の視野角を広くさせることなく、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大にして処理能力を増大させることが可能となる粒状体選別装置を提供する。
【解決手段】 粒状体群を計測対象領域を通過させながら経路横幅方向に沿って横拡がり状態で移送する対象物移送手段ＴＩと、経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で計測対象領域からの光を受光する受光手段５と、計測対象領域を照明する照明手段４と、複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段とが設けられ、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように、計測対象領域からの光を光軸方向に折り返して受光手段に導く光反射式の折り曲げ光路形成手段９を備えている。 （もっと読む）

【課題】印刷装置で印刷された印刷物の品質を検査する技術に関し、特に、赤外線領域において異なる特性を有するインキで印刷された印刷物の検査技術に関する。
【解決手段】赤外線領域において異なる特性を有するインキを印刷した印刷物３の検査方法であって、照明手段２から前記印刷物の表面に赤外線又は赤外線を含む光を照射し、画像入力手段５では、前記印刷物を赤外線の７５０ｎｍ以上の波長領域で撮像した赤外線画像データを入力し、記憶手段では、前記入力した赤外線画像データと、標準となる印刷物の赤外線基準画像データを記憶し、画像処理手段６では、前記赤外線画像データと、あらかじめ登録してある前記赤外線基準画像データとを比較し、その比較結果に基づいて前記印刷物３の印刷品質を検査することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 異形状の検査対象物であっても、短時間、且つ高い精度で表面の検査が可能な表面検査方法及び表面検査装置を提供する。
【解決手段】 高速判定ステーション３における短時間での判定で中立品であると判定されたコンロッド２ａのみが、高精度判定ステーション５においてより高い精度で判定される。したがって、検査対象物がコンロッド２のように異形状であっても、短時間、且つ高い精度での判定処理が可能になる。 （もっと読む）

【課題】短時間で高精度にＰＤＰの隔壁の形状不良を検出し良否判定ができる検査方法および検査装置を提供する。
【解決手段】プラズマディスプレイパネル用基板２１に形成された隔壁１０の形状を検査する検査方法において、平行に配列された複数の隔壁１０のうち１つの隔壁１０に照明光が照射されるように、プラズマディスプレイパネル用基板２１の隔壁形成面側から照明光を照射し、そのときの隔壁１０からの反射光を撮像し、撮像により得られた画像データについて画像処理を行うことにより隔壁１０の欠陥の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】プリント基板の検査対象領域が規格化されている一般のＣＣＤラインセンサカメラ１台の有効撮像領域よりも大きくても、コストを極力抑え、且つ、検査処理時間が増大せず、検査処理効率を向上させながら、高精度に検査することのできるプリント基板の外観検査装置を提供する。
【解決手段】搬送機構と、前記搬送機構を介して搬送されるプリント基板１５を撮像する撮像部１０を有するプリント基板の外観検査装置である。撮像部１０が、プリント基板１５の検査対象領域を前記搬送方向に沿って複数に分割するプリズムミラー１１と、プリズムミラー１１で分割された複数の領域の像を、撮像するラインセンサカメラ１２，１３を有する。ラインセンサカメラ１２，１３が、互いに略等しい光学特性を持ち、且つ、入射面が、プリント基板１５における前記搬送方向に対して垂直な同一仮想線Ｌ１上に配置されている。 （もっと読む）

【課題】 表示用パネルの電極に付着している塵埃によるプローブ及びプローブユニットの損傷を防止することにある。
【解決手段】 検査装置は、矩形の表示用パネルであってこれと平行の面内で一方向に間隔をおいて形成された複数の電極を有する表示用パネルの検査に用いられる。検査装置は、表示用パネルが配置される配置領域を形成する配置領域形成装置と、配置領域に配置された表示用パネルの電極に付着している異物を検出して、異物が存在するとき異物信号を出力する異物検出装置とを含む。 （もっと読む）

【課題】安価な印刷物検査装置の提供が望まれていた。
【解決手段】画像データを低解像度に変換したＰＰＦ形式の画像データを作成するＰＰＦ処理機能を含むＣＩＰ３データコンバータと、印刷装置に用いる印刷版の作成のために、印刷物を構成する多値画像データをＲＩＰ処理して画像を記録するための２値画像データに変換する画像データ処理装置と、画像読取手段と、前記画像読取手段で読み取った検査用画像データと、前記ＣＩＰ３データコンバータで得られたＰＰＦ形式の画像データを比較して印刷物の検査を行う比較手段を備えた印刷物検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】外部環境などに影響されずに安定して物品表面の状態を検査できる方法とシステムを提供する。
【解決手段】物品の被検査面をＣＣＤカメラにより撮影し，その画像によって物品表面を検査する方法であって，画像中において被検査面を示している画素から任意の２つの画素を選択し，それらを比較することによって物品の表面を検査をする。２つの画素を選択するに際し，例えば点対称もしくは線対称である画素を選択することができる。また，選択された２つの画素について，例えば輝度を比較する。 （もっと読む）

【課題】被処理物である粒状物ｗ群中に異常色粒状物ｗ２が大きな割合で混入しているときに、既存技術の簡易な変更により、正常色粒状物ｗ１に外力を付与して該正常色粒状物ｗ１を精度よく選り出す。また被処理物である粒状物ｗ群中に正常色粒状物ｗ２が大きな割合で混入しているときに、簡易な構成変更により、異常色粒状物ｗ２に外力を付与して該異常色粒状物ｗ２を精度よく選り出すことを可能とする。
【解決手段】異常色粒存在検出部１３から伝達された存在検出信号を不存在検出信号に、また異常色粒存在検出部１３から伝達された不存在検出信号を存在検出信号に反転させるものとした検出信号反転手段１３Ａを設け、該検出信号反転手段１３Ａから発出された存在検出信号に関連して外力付与手段１４が異常色粒状物ｗ２群などに含まれる正常色粒状物ｗ１に外力を付与して該正常色粒状物ｗ１を除去する。 （もっと読む）

【課題】 コンベア上に載置されて搬送される原料中に混入している異物を光学的に検出するに好適な簡易な構成の異物検査装置を提供する。
【解決手段】 可視光および近赤外線光を含む光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する光源と、コンベア上の可視光および近赤外線光を含む光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構を備えて該光の照射領域を局部的に視野する光学系と、この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および／または該原料中に混入している異物による可視光および近赤外線光の反射光の強度をそれぞれ検出する光検出素子と、この光検出素子が検出した可視光および近赤外線光の反射光の強度の差分値が所定のレベル値を超えたとき、原材料中に前記異物が混入していると判定する。 （もっと読む）

【課題】 従来技術における問題点を解決した選別機の制御システムの提供。
【解決手段】 本発明の穀粒選別機のための制御システムは、検査領域に並列に流下される原料穀粒Ｏを穀粒の流れを横切ってライン状に各穀粒毎に高速で連続して検知し且つ選別する選別機Ａと、前記原料穀粒及び前記選別機によって選別された穀粒のうちの一部を検査領域に並列に流下するように供給され、供給された穀粒の流れを横切ってライン状に各穀粒毎に高速で連続して検知し且つ判別分類する検査機Ｂと、前記検査機による判別分類結果に基づいて、該検査機の判別分類結果が目標理想値になるように前記選別機の選別設定値を設定するようになされた制御装置Ｃと、から主として構成されている。 （もっと読む）

【課題】検査結果の信頼性を向上させることができるとともに、海苔の厚みが変化することがあっても所定枚数の海苔が積層して包装されていることを検査することができる海苔の包装体の検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】所定枚数の海苔束の包装体が連結された海苔の包装体をコンベア上に載置して前記海苔束の積層枚数を検査するに際して、コンベアの下方に下部照明を配置して前記海苔の包装体に光を照射し、前記下部照明によって照射されて前記海苔の包装体を透過した光を前記コンベアの上方に配置したカメラによって検出して検査画像を作成し、前記検査画像に基づいて前記海苔束の包装体を透過した光の透過輝度を算出し、前記透過輝度を予め設定した基準値と対比して前記海苔束の積層枚数の適否を検査する。 （もっと読む）

【課題】
複数種類の容器が搬送されてきても容器の形状種類ごとに整列機構部品を取り替える必要がない容器内異物検出装置としたい。
【解決手段】
液体が封入された透明な容器を搬送しながら撮像手段２０で容器１を撮像し、容器内における異物を画像処理によって検出する容器内異物検出装置であり、搬送路の撮像手段２０を設置した位置より上流側に搬送されてくる容器１を整列させるとともに撮像手段２０を通り過ぎる容器１の移動速度よりも遅い速度で容器を移動させる整列搬送手段１４を設けた。 （もっと読む）

【課題】 部品点数が少なく製造コストが安く、またコンパクトで設置面積の小さい外観検査装置および外観検査装置用搬送部を提供する。
【解決手段】 本実施形態に係る外観検査装置１００においては、回転する水平回転搬送部１０１の両端に検査対象物を配置し、水平回転搬送部１０１を構成するアーム１２０，１２１を１８０度表裏反転させることによって、移動と反転と測定時の３次元移動を効率的に行うことができ、搬送に必要なステージやハンドの数を削減することができる。また、回転ステージを中心にその周辺に２次元捺印面検査機能、２次元下面測定（ＢＧＡタイプの半導体装置等電子部品ならばボール面、ＱＦＰタイプの半導体装置等電子部品ならばリード下面）検査機能を配置するため、全体的にコンパクトな設置面積が実現可能になる。 （もっと読む）