【課題】半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。
【解決手段】FIB加工と、摘出試料の移送、さらには摘出試料の試料ホルダへの固定技術
を用いる。
【効果】分析や計測用の試料作製に経験や熟練技能工程を排除し、サンプリング箇所の決定から各種装置への装填までの時間が短縮でき、総合的に分析や計測の効率が向上する。 （もっと読む）

【課題】基台に立設した２本のリニアシャフトに摺動自在にスライド台を設け、ネジ棒の上端のハンドルを回転することにより、スライド台が降下し、スライド台の下端に固定した刃部取付部から突出させた鋭利な刃部を有するスペーサーを介装した一対の切断刃で切断するもので、平行な２面を有し且つスペーサーの厚みの検査片を容易に誰でもが切り取ることができる。
【解決手段】基台１に固定されたパウチ載置台２と、基台１に立設したリニアシャフト３と、リニアシャフト３を貫通させたリニアシャフト用孔４ａとネジ孔４ｂとを形成したスライド台４と、リニアシャフト３を固定した上方枠体５と、上方枠体５に貫設した貫通孔５ａと、貫通孔５ａに貫通させハンドル６を固定すると共にネジ孔４ｂに螺合させたネジ棒７と、スライド台４に固定した刃部取付部８とを備え、刃部取付部８から突出させた一対の切断刃９を取着し間には板状のスペーサー１０を介装させた。 （もっと読む）

【課題】ビレットの連続鋳造において、偏析を評価する際に，線材での偏析を測定する方法であって、熟練を必要とせずに簡易に偏析を評価する方法を提供するとともに、鋳片に生じる短周期の偏析ばらつきに影響を受けない偏析評価方法を提供する。
【解決手段】線材に於いて偏析の評価をする際に等間隔またはランダム間隔に線材を切断した後Ｃ断面に於ける偏析の検出割合で線材品質を評価することを特徴とする偏析の測定方法である。ここにおいて、中心偏析部を含む鋳片のＬ断面について、中心偏析部に十字クロスを罫書いた透明な定規を当て、十字クロス交点と偏析粒の重なり回数割合を評価し、重なり回数割合が安定する回数以上の切断回数とすると好ましい。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。
【解決手段】試料ステージ面は、該試料ステージ面に対してメッシュ挟持用の傾斜溝を有する。集束イオンビームの照射により試料基板から微小試料片を切り出し、マイクロプローブで分離摘出後、前記試料ステージ面の傾斜溝に挟み込まれたメッシュを、メッシュの側面が前記集束イオンビームに垂直な向きとなるように傾ける。微小試料片の観察平面が集束イオンビームと垂直な向きとなるように前記メッシュの端面に接着した後、傾斜した試料ステージを回転軸の周りに１８０度回転させる。集束イオンビームを照射して透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料を作製する。 （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。
【解決手段】
本発明は、ＴＥＭ／ＳＴＥＭ試料作製の全体工程を、ＦＩＢを利用した微小試料の加工作業と、微小試料の採取及び試料ホルダへの移設作業と、を別の装置で行い、微小試料の加工作業と、微小試料の採取作業と、を並行して行うことに関する。好ましくは、キャリアにおいて微小試料を設置する箇所を液体とすると、採取具に付着した微小試料を確実、且つ迅速にキャリアに移設できる。本発明によれば、事前に集束イオンビーム装置で試料上に作製された微小試料を迅速に採取し、キャリアに設置することができるため、１個の試料を加工するためのＦＩＢ装置の占有時間が短縮し、試料作製効率が高まる。 （もっと読む）

【課題】試料片の順番が入れ替わった場合でも、試料片の仕様が誤判定されることのないシート状ゴムのサンプリング方法及びその装置を提供する。
【解決手段】シート状ゴム３の各ロットにおける最後のバッチの試料片３ａに、次のロットにおける最初のバッチの試料片３ａとの相違を判別可能な識別表示３ｂを識別表示付与機２０によって付与するようにしたので、試料片３ａの順番が入れ替わった場合でも、試料片３ａの識別表示３ｂの有無により、各ロットの段替え前後の試料片３ａが何れのロットのものかを容易に判別することができる。これにより、試料片３ａの仕様が誤判定されることがなく、誤判定によって仕様通りのゴムが後工程に送られないという不具合の発生を効果的に防止することができる。 （もっと読む）

【課題】歩留・操業能率の低下を招くことなく、オンラインセンサの測定精度調整を行うことができる、鋼板のオンライン品質管理方法を提供することを課題とする。
【解決手段】製造工程中の鋼板から、打抜き装置を用いて走間でサンプル採取を行う採取位置を、鋼板の長手および幅方向の位置として決定するサンプル採取位置決定ステップと、鋼板の幅方向にトラバースしながら鋼板の品質特性を測定するオンラインセンサを、採取位置に移動させて測定を行なうオンライン測定ステップと、走間中の鋼板から採取位置でサンプルを採取するサンプル採取ステップと、採取したサンプルを測定を行なうオフライン測定ステップと、オフライン測定ステップの結果とオンライン測定ステップの結果とを比較し評価を行なうオンラインセンサ精度評価ステップと、評価に基づいて精度調整を行なうオンラインセンサの調整ステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】 より快適に且つ安全に組織分離を可能にする、比較的低コストの顕微解剖のための方法を提供する。
【解決手段】 ３軸に沿って駆動されることが可能な支持部に保持された細い針（18）を用い、前記針の先端が解剖される組織に対して相対的に駆動される、支持具に固定された平坦な薄片状の組織の顕微解剖を行うための方法において、前記針を予め設定された振幅と周波数で縦方向及び横方向の少なくとも一つの方向において振動駆動機構（20）により振動させて、組織の所定部分を切断分離するように構成する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、顎顔面インプラント治療のための、新規な骨質検査方法を提供することを課題し、骨質検査方法に使用する検査用キットを提供することを課題とする。
【解決手段】顎顔面インプラント治療のために採取した骨組織から組織切片を作製し、ｖｏｎ Ｋｏｓｓａ染色し、染色面積を測定することにより、より正確な骨質が検査可能である。本発明のキットには、組織切片をのせるためのプレパラート用ストリップと、染色剤が含まれる。 （もっと読む）

【課題】コンクリート構造物内部の特定物質について、精度良く濃度プロファイルを測定する。
【解決手段】特定物質の濃度プロファイル測定方法は、コンクリート構造物１０からコンクリートコア５０を採取し、放射線の照射により発生する特性Ｘ線を検出し、コンクリートコア５０における特定物質の濃度プロファイルを測定する特定物質の濃度プロファイル測定方法であって、コンクリート構造物の一つの採取箇所から採取されるコンクリートコア５０の直径Ｄｍｍと本数ｎとが、３０≦Ｄ・ｎおよびＤ≦５０の関係を満たす。これにより、精度良く特定物質の濃度プロファイルを求めることができる。たとえば、直径１０ｍｍのコンクリートコア５０で特定物質の濃度プロファイル測定を行う場合には、コンクリートコア５０を３本以上採取すればよく、２５ｍｍのコンクリートコア５０で濃度測定を行う場合には、２本以上採取すればよい。 （もっと読む）

【課題】好適なサンプル保管方法およびシステムを提供すること。
【解決手段】サンプルを保管する方法およびシステムは、所定の空間的関係で複数のサンプルノードをサポートするように構成された複数のサンプルキャリアと、複数のサンプルキャリアをアーカイブに選択的に置くサンプル格納デバイスと、複数のサンプルノードのうちの選択されたサンプルノードを配置して、取り除くサンプルノード取り除き装置とを実施する。代替的な実施形態がここで開示される。サンプルノード取り除き装置は、レーザおよびメカニカルクリッピングツールを含む。これらは、手動でまたは自動で操作され得る。 （もっと読む）

【課題】従来の１個の試料を搭載固定した試料台を有する透過電子顕微鏡用試料の作製方法と比べて、作製時間とＴＥＭによる観察時間が大幅に短縮することができる透過電子顕微鏡用試料の作製方法の提供。
【解決手段】イオンビームの光軸に対して垂直な面内を回転する機構を有するホルダー上の試料台に最大４個まで微小試料を搭載し、各微小試料は隣の微小試料とは９０度以上の角度になるように離すように固定することを特徴とする透過電子顕微鏡用薄片試料の作製方法及び最大４個まで使用される微小試料が、隣の微小試料とは９０度以上の角度になるように離すように搭載固定されている保持台並びに該保持台を有することを特徴とする透過電子顕微鏡観察用薄片試料ホルダーにて提供。 （もっと読む）

【課題】高分子材料や有機材料等の熱に弱い材料の断面を、イオンビームの熱による影響を抑制し、かつ、短時間で加工可能な集束イオンビームによる高分子材料加工方法及び装置を実現する。
【解決手段】試料７から微小試料片を大電流イオンビームにより切り出す前に、微小試料１８に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６により微小試料１８の周囲に熱伝達抑制用の溝１９を形成し、その後、形成した溝１９の外周を大電流イオンビームにより微小試料片を切り出す。試料に熱影響を与えない小電流イオンビームにより微小試料片１８を切り出すことも考えられるが、微小試料片１８を切り出すまでに長時間を要する。試料７に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６による溝１９の形成加工は、試料片の切り出し加工より短時間で終了可能である。 （もっと読む）

【課題】 微量の糖タンパク質糖鎖、特に電気泳動操作後のゲル中、あるいは、ブロッティング操作後のブロッティング膜上に存在する糖タンパク質の糖鎖を分析する手段を提供すること。
【解決手段】 試料中の糖タンパク質の糖鎖の分析方法であって、（ａ）糖タンパク質が保持された固相を得る工程、（b）前記固相を糖鎖遊離手段で処理する工程、（ｃ）遊離した糖鎖を前記固相から溶出させて糖鎖を含む溶液を得る工程、（ｄ）前記糖鎖を含む溶液を糖鎖と特異的に結合する捕捉担体に接触させて前記捕捉担体上に糖鎖を捕捉する工程、（e）上記捕捉担体に結合しなかった糖鎖以外の物質を除去する工程、（ｆ）捕捉担体に結合した糖鎖を再遊離し、精製された糖鎖試料を得る工程、（ｇ）糖鎖を分析する工程、を含む糖タンパク質糖鎖の分析方法。 （もっと読む）

【課題】所定の三次元の、劣化されていないまたは僅かに劣化されている構造体を試料から切り離す方法およびこの方法を実行する装置を提供すること。
【解決手段】コールドレーザーアブレーションまたはマルチフォトン吸収によって、サブミリメータ領域で試料から所定の構造体を切り離すための三次元マイクロダイセクションのための方法であって、切り離されるべき構造体の解放を、全ての空間方向における方向情報によって行う、ことを特徴とする、三次元マイクロダイセクションのための方法。 （もっと読む）

【課題】イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。
【解決手段】不透明な半導体パッケージを加工して、当該半導体パッケージの所望の部位の断面を作成する断面試料作成方法において、試料内部観察手段により半導体パッケージの内部観察画像を取得する試料内部取得工程と、試料表面観察手段により半導体パッケージの表面観察画像を取得する表面画像取得工程と、内部観察画像と表面観察画像とを表示部に表示する画像表示工程と、表示部に内部観察画像と表面観察画像とを表示させて、イオンミリングによる半導体パッケージの断面加工を行う断面加工工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】摘出された生体組織断端の固定過程で組織断端が変形することがなく、固定完了後、これに割を入れて検査標本を作製したとき、組織断端全体が適切に観察できるようにすることにある。
【解決手段】前記課題を解決するため、摘出生体組織６を固定液に浸漬して固定するとき、その変形を制御する手段として、該摘出生体組織６を載置する摘出生体組織載置板１と、該摘出生体組織載置板１を水平方向に複数挿着脱可能に収容する籠状体２とからなる摘出生体組織載置装置を提案するとともに、載置された摘出生体組織６の変形を制御するため、その周囲に沿って形状保持材７で囲んで布８を覆い、該布８が前記形状保持材７と接するよう磁石で取着して固定液へ水平に浸漬することを特徴とする摘出生体組織の固定方法を提案する。 （もっと読む）

【課題】 コンクリート構造物の断面欠損が小さく、鉄筋を損傷させないでサンプル採取を行なえ、専門工に頼らないでコンクリート中性化測定を行うことができるコンクリート中性化サンプル抽出装置および中性化測定方法を提供する。
【解決手段】 このコンクリート中性化サンプル抽出装置１は、立向き円筒状の遠心分離容器２と、この遠心分離容器２の上部に基端が開口し先端から粉状のコンクリート中性化のサンプルＳを外気と共に吸引するサンプル吸引管３と、吸引器接続口４と、サンプル抽出容器５とを備える。吸引器接続口４は、遠心分離容器２の上部の周面または偏心位置に設けられて吸引器６と接続され吸引器６から吸引を行うことで遠心分離容器２内に旋回気流を発生させる。サンプル抽出容器５は、遠心分離容器２の下部に設けられ遠心分離容器２内で前記旋回気流により遠心分離されたサンプルＳを溜める。 （もっと読む）

【課題】フィルタロッド等の棒状の包装品から包材試験片を機械的に切出すことができる包材試験片切出し装置、包材試験片に対する品質測定装置及び切出し装置を含む品質検査システムを提供する。
【解決手段】品質測定装置及び品質検査システムに使用される包材試験片切出し装置は、フィルタロッド（Ｆ）を受取る一対の受取ローラ（３８）と、これら受取ローラ（３８）上にてフィルタロッド（Ｆ）がその軸線回りに回転されるとき、フィルタロッド（Ｆ）における包材（Ｗ）のラップ部（Ｌ）を検出して位置決めするため、フィルタロッド（Ｆ）の外周面を撮像するＣＣＤカメラと、フィルタロッド（Ｆ）の両側にて包材（Ｆ）をそれぞれ切断し、ラップ部（Ｌ）を含む包材試験片を切出す一対の回転カッタ（４８）と、切出された包材試験片を吸着して取出す取出しヘッド（４６）とを備える。 （もっと読む）

本発明は、自動組織マイクロアレイ装置及びその製造方法に関する。本発明に係る自動組織マイクロアレイ装置は、駆動可能であって、少なくとも一つのドナーブロック及び少なくとも一つのレシピエントブロックが取り付けられるための空間を提供する試料モジュールと；少なくとも二つの方向に駆動可能であって、少なくとも一つのパンチチップを備え、上記少なくとも一つのドナーブロックから組織をパンチし、上記少なくとも一つのレシピエントブロックにアレイするための抽出モジュールと；上記試料モジュール及び上記抽出モジュールの駆動動作を制御し、外部から入力されるコマンドに応答し、上記抽出モジュールでのパンチ及びアレイ動作を制御する制御部と；を備える。本発明によれば、使用に便利で、且つ作業効率が改善され、パンチ動作の正確性及び配列動作の正確性を確認することができる効果がある。
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