本発明は、漿液性癌幹細胞（ＣＳＣ）のクローン的に純粋な集団、ＣＳＣを製造及び培養する方法、並びにその使用に関する。ＣＳＣは、ヒアルロン酸とプロテオグリカンとのグリコカリックス被覆を有するカテナ（浮遊性細胞鎖）を形成する。この発見が、グリコカリックス形成の除去又は抑制を標的とすることにより漿液性癌及び卵巣癌を治療する方法であって、グリコカリックス阻害剤との併用による化学療法を用いた併用療法を含む上記方法の開発に至った。また、本発明は、これらのＣＳＣ、並びにその他漿液性癌細胞に対する効果的な化合物を同定するための薬物スクリーニングアッセイを提供する。カテナ遺伝子特性、タンパク質、及び表面抗原を使用する方法が、漿液性癌幹細胞の存在について患者試料を監視するために提供される。
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【課題】フィルムやシート状の観察用対象物について、凍結破断法による断面観察用試料作成時における損傷や物理的変性を軽減し、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作成が可能な冶具を提供する。
【解決手段】フィルムやシート状の観察用対象物から凍結破断法によって観察用対象物の破断面を作成する観測用試料作成冶具であって、観察用対象物から切り出した試料を固定する２つの固定台と、固定台を保持するホルダーと、固定台に試料の両端を固定するための２つの固定具と、ホルダーに固定された柄と、２つの固定台の一方の固定台に固定された柄と、を備え、上記柄を固定した固定台を可動可能とし、他の一方の固定台をホルダーに固定することを特徴とする観察用試料作成用治具。 （もっと読む）

【課題】電子線マイクロアナライザ分析用の試料ホルダであって試料の着脱が容易で且つチャージアップが発生しない試料ホルダを備えた電子線マイクロアナライザを提供する。
【解決手段】包埋試料を収納する空間を形成するＵ字形保持枠を有し、枠の底部に設置したコイルバネにて包埋試料を力が作用した状態で保持し、しかも上面には試料マスクを載置してホルダと試料間の導電系を保持させつつ保持するものである。したがってチャージアップは生起しない。 （もっと読む）

【課題】電子顕微鏡または光学顕微鏡用の組織細胞標本を作製するため人や動物の臓器などの生物試料を必要な大きさに切り出し固定液で固定する際に、試料の種類別に仕切り、かつ固定液に触れさせながら試料の乾燥や劣化、変質を防ぎ、効率よく複数の試料を迅速かつ容易に細切り処理できる生物試料切出し板を提供する。
【解決手段】電子顕微鏡または光学顕微鏡用の組織細胞標本を作製するため生物試料をプレート上（２）に載せて切断する生物試料切出し板（１）であって、プレート（２）の試料載置面の全面または少なくとも一部に傾斜面（２ａ）が形成され、かつ該プレートの外周部に液漏出止めの側壁（３）が形成されている生物試料切出し板。 （もっと読む）

【課題】 被整形部材を簡易且つより安全に整形することができる整形装置を提供する。
【解決手段】整形装置１０は、被整形部材Ｓを整形するための整形装置１０であって、被整形部材Ｓを切削する切削刃１２を一方向に移動させる刃移動装置１４と、被整形部材Ｓを保持すると共に、切削刃１２の刃先の移動面Ｐに対する被整形部材Ｓの配置を調整する保持装置５０と、被整形部材Ｓにおいて切削刃１２の切削により整形される領域を観察するための観察装置６２とを備え、保持装置５０は、切削刃１２の刃先の移動面Ｐの法線方向に対して被整形部材Ｓを傾斜させる傾斜機構及び被整形部材Ｓの中心軸線Ｃ周りに被整形部材Ｓを回転させる回転機構を有する。 （もっと読む）

【課題】 分析時におけるバックグラウンドノイズを大幅に低減することが可能な微小試料台を提供すること。
【解決手段】 微小試料台１００は、半導体基板よりなる微小試料台基部１０の一面に成膜により一体化された微小試料搭載用薄膜２０を有する。微小試料台基部１０はＶ字形状の溝１１を有し、微小試料搭載用薄膜２０は溝１１の上面と溝１１の最深部との間に設けられた上端面２１を有する。微小試料台基部１０の上面１３と微小試料搭載用薄膜２０の上端面２１との間の部分が微小試料７０のガード部となる。 （もっと読む）

本発明は、ウエハ表面の欠陥分析のためにウエハ欠陥部位にイオンデコレーションを行う際に、デコレーション作業とイオン抽出作業とを別に分離し、イオン抽出の完了した電解液を循環させることで、デコレーション作業時に面倒で長い時間がかかる過程を最小化し、全体デコレーションにかかる時間を画期的に短縮させて、終局としてウエハ欠陥分析時間の短縮と欠陥分析の効率性を向上させることができるウエハ欠陥分析装置及びこれに用いられるイオン抽出装置、並びに該ウエハ欠陥分析装置を用いるウエハ欠陥分析方法を提供する。
また、デコレーション作業のためのイオン抽出時にイオンの活動性を向上させてイオン抽出時間を画期的に短縮させることができるウエハ欠陥分析装置及びこれに用いられるイオン抽出装置、並びに該ウエハ欠陥分析装置を用いるウエハ欠陥分析方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】試料の加工断面に不要な段差やリデポによる不要な付着物が生じることを確実に防ぐことのできる試料加工装置を提供する。
【解決手段】試料１が載置される試料台３ａと、試料台３ａに載置された試料１を間に挟んで試料台３ａと対向するように配置された遮蔽板２と、遮蔽板２の上方に位置するイオンビーム源とを備え、試料台３ａの先端側に位置する試料１の部分で遮蔽板２の側縁部２ａから露出された箇所１ａに、イオンビーム源からのイオンビーム１０を照射して試料１の加工を行う試料加工装置において、試料台３ａが、遮蔽板２よりも熱膨張率の大きな材料により構成されている。 （もっと読む）

【課題】疎水性樹脂からなる多孔質部材を対象とした場合の断面性状が整った状態の良い破断面を得ることができる破断（切断）方法を提供すること。
【解決手段】疎水性の合成樹脂材料から構成された合成樹脂製多孔質部材を破断する方法であって、多孔質部材にアルコールを含浸させる含浸工程（ステップＳ１０）と、上記アルコールを含浸させた多孔質部材を凍結する凍結工程（ステップＳ２０）と、上記凍結した多孔質部材を破断する破断工程（ステップＳ３０）とを含む、方法である。 （もっと読む）

【課題】有機絶縁膜を含む層の境界を明確に判別可能とすることができる試料作製方法および試料作製装置を提供する。
【解決手段】有機絶縁膜と他の絶縁膜とが積層されてなる試料Ｗａに対して集束イオンビーム２０Ａを照射して試料の断面を露出させる断面露出工程と、断面に対して水または水蒸気を供給しつつ、集束イオンビームを照射して断面の各膜が判別可能となるように処理する断面処理工程と、を有している。 （もっと読む）

【課題】酸化物磁性体試料の表面浄化の際に、スピン状態が変化しない表面浄化法を備えたスピン偏極走査電子顕微鏡を提供する。
【解決手段】スピン偏極走査電子顕微鏡１を、仕切弁４を介して接続されたスピン分析部２と試料表面浄化部３とを具備して構成し、特に、酸化物磁性体Ａの表面の炭化水素Ｂを活性酸素３２ａの化学的な作用によって除去するために、試料表面浄化部３は、アルゴンガス及び酸素ガスの混合ガスを生成する浄化ガス源３１と、混合ガス源３１から供給された混合ガスに電圧を加えてアルゴン酸素プラズマを発生させ、アルゴン酸素プラズマ内部から活性酸素３２ａが生成する活性酸素生成源３２と、活性酸素３２ａを流すガス流路３３と、ガス流路３３内の酸化物磁性体Ａを載置する試料ステージ５１と、ガス流路３３から外部へ活性酸素３２ａを排出する真空ポンプ３４とを具備している。 （もっと読む）

【課題】鉛直方向へ移動させる移動手段を用いなくても蓋を開けることが可能であり、かつ、搬送時であっても試料が配置された密閉空間の気密性を確保可能な分析装置を提供する。
【解決手段】分析試料を保持する試料台、及び、試料台に保持された分析試料を少なくとも覆う蓋を備え、蓋によって覆われた空間が密閉され、密閉された空間内の圧力をＰ１、蓋を境に該空間と隣接する隣接空間の圧力をＰ２、とするとき、分析試料の分析が開始されるまでに、Ｐ２＜Ｐ１とされ、少なくとも圧力差Ｐ１−Ｐ２に起因する力Ｆを受けた蓋が動くことによって空間の密閉が解除されるように、蓋の質量が決定されている、分析装置とする。 （もっと読む）

【課題】 薄膜加工位置やマイクロピラー形成位置の指定を、高い位置精度で簡単・迅速に行えるようにする。
【解決手段】 集束イオンビーム２による加工領域８０の指定に加えて、集束イオンビーム２による非加工領域９０の指定を行えるようにし、これら指定した集束イオンビーム２による加工領域８０と非加工領域９０との組み合わせによって、実際に集束イオンビーム２により加工する任意形状加工領域１００の任意形状加工データを得る。 （もっと読む）

【課題】従来の低温電子顕微鏡はコストが嵩むことにより、生物試料の低温観察のコストもまた相対的に嵩むため、普及が難しい。
【解決手段】電子顕微鏡の予冷型試料台は試料載置手段と、冷却エネルギー蓄積手段とを備えている。試料載置手段は、液化ガスをその中に貯留する液化ガス貯留空間を備えている。冷却エネルギー蓄積手段は、試料載置手段の下方に配置されることで、試料に持続的に冷却エネルギーを供給し、ひいては電子顕微鏡を用いて試料を観察する時間を延長できる。 （もっと読む）

【課題】光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。
【解決手段】プレパラート２の上に置かれた分析試料１に液状の樹脂３ａを滴下して固化させ固体状樹脂３ｂとする試料固定過程と、上記固体状樹脂の表面を除去して分析試料を露出させる表面除去過程と、上記表面除去過程を経た分析試料を光学顕微鏡で観察する光学顕微鏡観察過程と、特定の物質７が存在すると光学顕微鏡で特定された分析試料の部分に印を付けるマーキング過程と、上記印が付けられた部分を他の部分から分離する分離過程と、上記分離された部分を電子顕微鏡で分析する電子顕微鏡分析過程とを含む光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法とした。 （もっと読む）

【課題】断面加工方法および装置において、断面加工の加工効率を向上することができるようにする。
【解決手段】観察目標断面２、または観察目標断面２を含む観察領域で、試料１の断面観察を行うために、試料１に対して順次除去加工を施すことによって破断位置を移動させて破断面１ｃを形成していく断面加工方法であって、観察目標断面２の近傍において破断面１ｃが形成可能な範囲に、除去加工によって破断可能、かつ破断面１ｃ内で破断形状が識別可能となるマーク部４Ａ、４Ｂを形成するマーク部形成工程と、このマーク部形成工程で形成されたマーク部４Ａ、４Ｂを含む範囲で、試料１およびマーク部４Ａ、４Ｂに対して除去加工を施して、破断面１ｃを形成する断面形成工程と、この該断面形成工程で形成中または形成後の試料１の断面の観察像を取得する観察像取得工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】高分子材料や有機材料等の熱に弱い材料の断面を、イオンビームの熱による影響を抑制し、かつ、短時間で加工可能な集束イオンビームによる高分子材料加工方法及び装置を実現する。
【解決手段】試料７から微小試料片を大電流イオンビームにより切り出す前に、微小試料１８に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６により微小試料１８の周囲に熱伝達抑制用の溝１９を形成し、その後、形成した溝１９の外周を大電流イオンビームにより微小試料片を切り出す。試料に熱影響を与えない小電流イオンビームにより微小試料片１８を切り出すことも考えられるが、微小試料片１８を切り出すまでに長時間を要する。試料７に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６による溝１９の形成加工は、試料片の切り出し加工より短時間で終了可能である。 （もっと読む）

物質を収容する容器に角度回転の振動をさせることにより、物質を分離し得る。意外なことに、より高密度又はより重い物質は回転軸に相対的に近くに集まり、より低密度又はより軽い物質は回転軸から相対的に遠くに集まり得る。アーチ状経路に沿う振動は、高い溶解効率を提供する。代替的に、マイクロモータが容器に取り外し可能に収容された羽根車を駆動し得る。溶解はバッチ式、流通停止又はセミバッチ式、又は、連続流通式で行い得る。溶解の効率を高めるために、溶解用粒子物質を溶解すべき物質又は溶解された物質よりも多くし、及び／又は、空気をチャンバーから実質的に除去し得る。 （もっと読む）

【課題】イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。
【解決手段】不透明な半導体パッケージを加工して、当該半導体パッケージの所望の部位の断面を作成する断面試料作成方法において、試料内部観察手段により半導体パッケージの内部観察画像を取得する試料内部取得工程と、試料表面観察手段により半導体パッケージの表面観察画像を取得する表面画像取得工程と、内部観察画像と表面観察画像とを表示部に表示する画像表示工程と、表示部に内部観察画像と表面観察画像とを表示させて、イオンミリングによる半導体パッケージの断面加工を行う断面加工工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡用薄片試料の作製時間を効率よく短縮し、また、作製した試料が包埋樹脂と剥離を起こし難く、観察可能個所を増やすこと。
【解決手段】高分子薄膜試料の断面を透過型電子顕微鏡で観察するための断面薄片試料の作成方法であって、
前記高分子薄膜試料を複数枚重ねる工程と、複数枚重ねた状態で前記試料を切断する工程と、前記高分子薄膜試料をモールドに入れ、樹脂に包埋する工程と、前記包埋された樹脂を硬化させる工程と、前記試料が包埋された硬化後の樹脂ブロックをウルトラミクロトームで薄片化する工程とを含むことを特徴とする断面薄片試料の作成方法。 （もっと読む）