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Fターム[2G059JJ03]の内容

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Fターム[2G059JJ03]に分類される特許

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【課題】小型かつ薄型で、測定精度の高い簡易な構成の赤外線ガスセンサを提供すること。
【解決手段】本発明の赤外線ガスセンサは、赤外光を含む光を発する赤外光源1と、この赤外光源1からの赤外線を受ける赤外線センサ5と、この赤外線センサ5上に配置された特定の波長を通すバンドパスフィルタ7と、赤外光源1と赤外線センサ5とを支持する基板2と、赤外光源1と赤外線センサ5とを覆うドーム型筐体9とを備えている。赤外線センサ5の受光面の視野内に赤外光源1の発光面はなく、赤外光源1から発した光は、ドーム型筐体9の内面に反射して赤外線センサ5に入射するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】センサー種類、構造によらず、測定前のセンサー表面をリフレッシュでき、かつ化学物質検出に影響を与え難い化学物質検出装置、及び化学物質検出装置と組み合わせて使用するクリーニング装置を提供する。
【解決手段】化学物質検出素子1と、化学物質検出素子を収納し、室内を減圧可能なセル2と、セルに気体試料を供給する気体供給流路12と、気体吸引口11とセル2の間の気体移動を遮断する弁13と、セルから気体試料を排出する気体排出流路21と、セルや気体流路内を減圧するための真空ポンプ23と、セルに気体試料を供給するための気体吸引手段24を設ける。 (もっと読む)


【課題】 反射電子像と光学像とを同時に取得することができる電子線分析装置の提供。
【解決手段】 試料表面上の分析位置に所定方向から電子線を照射する電子線源20と、試料表面上の分析位置で反射した反射電子による信号を検出する反射電子検出器40と、試料表面上の分析位置を含む領域に前記所定方向から可視光を照射する落射光用光源部60と、試料表面上の分析位置を含む領域から前記所定方向と逆方向に反射した可視光が入射して、試料表面上の分析位置を含む領域の光学像を取得する画像取得部51b、71と、試料表面上の一次元又は二次元範囲内で分析位置を走査させることにより、反射電子検出器40で信号を収集し、信号の強度に基づいて試料表面上の一次元又は二次元範囲の反射電子像を取得する制御部51とを備える電子線分析装置1であって、落射光用光源部60は、赤色領域の光を出射しないものとする。 (もっと読む)


【課題】対象標本の現象に即して、対象標本画像を高精度で解析できる画像処理装置を提供する。
【解決手段】染色標本の染色に使用される色素のスペクトルを記憶する色素のスペクトル記憶部233と、記憶された色素のスペクトルに基づいて、当該色素のスペクトルの波長方向の鮮鋭または緩慢な変化を表す変化特性を算出する変化特性算出部2501と、記憶された色素のスペクトルと算出された変化特性とに基づいて、染色標本画像の各画素の画素値から色素量および変化特性に基づく変化量を推定する色素量・変化量推定部2503とを有し、少なくとも変化量に基づいて染色標本画像を解析する演算部250と、を備える。 (もっと読む)


【課題】従来よりも小型化が可能なテラヘルツ波検出装置、テラヘルツ波長フィルター、イメージング装置および計測装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波検出装置1は、所定の波長のテラヘルツ波を通過させる波長フィルター2と、前記波長フィルター2を通過した前記所定の波長のテラヘルツ波を熱に変換して検出する検出部3と、を備え、前記波長フィルター2は、テラヘルツ波が入射する入射面と前記所定の波長のテラヘルツ波が出射する出射面とを連通する複数の孔部51を有する金属膜5と、前記複数の孔部51に充填され、かつ誘電体で構成された誘電体部6とを備え、前記複数の孔部51は、前記入射面52の法線に垂直な方向に沿って所定のピッチで設けられている。 (もっと読む)


【課題】機体ごとの器差の解消を図った分光光学計及びその校正方法を提供する。
【解決手段】サンプルガスに光を射出する光源2と、前記サンプルガスを透過した光を検出する光検出器51、52と、前記光源と前記光検出器との間に配置された光学フィルタ4と、前記光検出器51、52により得られた検出信号値に基づいて前記サンプルガス中の測定対象とする実ガスの濃度を算出する演算装置6と、を備えた分光光学計1であって、基準となる一の機体である基準機において得られた、代替ガス濃度と実ガス濃度とを関係付ける関数αと、前記基準機における前記実ガスと前記代替ガスとの光吸収率の関係と、校正対象となる一の機体である校正機における前記実ガスと前記代替ガスとの光吸収率の関係とを関係付ける関数βと、前記校正機における前記代替ガスの濃度と前記検出信号値との関係をあらわす関数と、に基づいて前記実ガスの濃度を算出するようにした。 (もっと読む)


【課題】発光素子用の材料が、ホスト材料若しくはゲスト材料として有効か否かについて評価する。
【解決手段】発光素子用材料の吸収強度を測定する第1のステップと、発光素子用材料に対し、所定の時間、光を照射する第2のステップと、繰り返す。光を照射した時間に対して、吸収強度の変化について評価することで、発光素子用材料がホストまたはゲストとして適当であるかを判断することができる。発光素子用材料に照射する光は、発光素子用材料において励起に係る骨格に因って吸収される波長成分を含む光であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】側壁にすき間領域があっても高精度に入射角度を制限可能な光学センサー及電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、半導体基板10上に形成された、フォトダイオード用の不純物領域30と、フォトダイオードの受光領域に対する入射光の入射角度を制限する角度制限フィルター40と、を含む。角度制限フィルター40は、少なくとも、第1の絶縁層に対応する第1のプラグと、第1の絶縁層よりも上層の第2の絶縁層に対応する第2のプラグにより形成される。第1のプラグと第2のプラグの間には、すき間間隔bがλ/2以下のすき間領域がある。 (もっと読む)


【課題】光源装置を小さくすることができ、装置全体の小型化を図ることができるテラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置および計測装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波発生装置1は、光パルスを発生する光源装置3と、前記光源装置3で発生した光パルスが照射されることによりテラヘルツ波を発生するアンテナとを備え、前記光源装置3は、光パルスを発生する光パルス発生部4と、前記光パルス発生部4で発生した光パルスに対し、可飽和吸収に基づくパルス圧縮を行う第1のパルス圧縮部5と、前記第1のパルス圧縮部5でパルス圧縮がなされた光パルスに対し、群速度分散補償に基づくパルス圧縮を行う第2のパルス圧縮部7と、前記第1のパルス圧縮部5の前段、または前記第1のパルス圧縮部5と前記第2のパルス圧縮部7との間に設けられ、光パルスを増幅する増幅部6とを有する。 (もっと読む)


【課題】分光センサー及び角度制限フィルターを小型化する。また、角度制限フィルターの表面の平坦性を向上する。
【解決手段】角度制限フィルターは、第1の遮光性材料を含み、第1の開口部が設けられた第1の遮光層と、第2の遮光性材料を含み、且つ第1の遮光層を囲む領域に位置する第2の遮光層と、第1の遮光性材料を含み、第1の開口部と少なくとも一部が重なる第2の開口部が設けられ、第1の遮光層の上方に位置する第3の遮光層と、第2の遮光性材料を含み、且つ第3の遮光層を囲む領域であって第2の遮光層の上方に位置する第4の遮光層と、を含む。 (もっと読む)


【課題】入射光の入射制限角度を高精度に制御可能な光学センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、受光素子(例えばフォトダイオード30)と、受光素子の受光領域に対する入射光の入射角度を制限する角度制限フィルター40と、を含む。入射光の波長をλとし、角度制限フィルターの高さをRとし、角度制限フィルターの開口の幅をdとする場合に、d/λR≧2を満たす。 (もっと読む)


【課題】外部から干渉フィルターへ伝達される振動を低減することができ、分光精度の高い光モジュールを提供すること。
【解決手段】本発明の光モジュール(測色センサー)は、可動反射膜57を備える可動基板52、および可動反射膜57にギャップを介して対向する固定反射膜56を備え、可動基板52に接合される固定基板51、を備える干渉フィルター5と、干渉フィルター5を保持する筐体6と、を備える。可動基板52は、固定基板51の外周縁よりも外側に突出する突出部524を備える。この突出部524は、突出先端側に設けられ、筐体6に固定される固定部525を備える。可動基板52と筐体6によって閉じられている密閉空間58は筐体6にある充填孔61を介して充填物質59を密閉空間58に充填することが出来る。 (もっと読む)


【課題】投光ユニットを回転移動させることなく、SPR装置やSPFS装置のATR条件を測定することができ、振動ノイズなどの影響がなく高精度の測定ができるとともに、迅速に測定を行うことができる光学式検体検出装置を提供する。
【解決手段】誘電体部材上に形成された金属薄膜を有するセンサチップが装填され、励起光を照射することで検体の検出を行う光学式検体検出装置であって、誘電体部材に入射させる励起光を集光する集光レンズと、集光レンズの前側焦点距離に位置する投光位置から、集光レンズ及び誘電体部材を介して金属薄膜に励起光を照射する点光源とを備え、金属薄膜に対する励起光の入射角を変更する際に、点光源が、集光レンズの光軸に垂直な平面内で直線移動するように構成する。 (もっと読む)


【課題】物体の位置を取得する方法を提供する。
【解決手段】画像形成システムの第1座標空間が定められ、該第1座標空間における座標が指定される。第2の画像形成システムの第2座標空間が定められ、該第2座標空間における座標が指定される。第1座標空間の指定された座標を用いることにより、座標変換パラメータが計算される。その後、第1座標空間において少なくとも1つの物体の座標が指定され、該物体の第1座標空間座標が第2座標空間における独自の座標に変換される。 (もっと読む)


【課題】光分析装置に組み込んだ際にS/N比を高くできて高精度の測定を行うことができる波長可変干渉フィルター、光モジュールと、高精度の測定を行うことができる光分析装置を提供すること。
【解決手段】波長可変干渉フィルターであるエタロン5は、第1基板51と、第2基板52と、固定ミラー54と、可動ミラー55と、静電アクチュエーター56を備える。各ミラー54,55は、一層のTiO膜57と、一層の合金膜58とが積層されて形成される。TiO膜57の膜厚寸法TおよびAg合金膜58の膜厚寸法Sは、参照波長560nmの反射率が目標反射率91%となり、かつ、設定波長400nmの反射率が、前記金属膜のみで反射膜を構成した場合より低くなる膜厚に設定される。 (もっと読む)


【課題】測定セルを通過する試料ガスが長い透過距離を移動すると透過中にオゾンが何度も紫外線に照射され、正しいオゾン濃度測定ができない。このため、窒化物系深紫外線半導体素子を使用した、正しい測定値が得られ、装置へのダメージを排除するオゾン濃度測定装置を提供する。
【解決手段】波長200nm〜320nmを含む紫外線を発光する固体発光素子を利用して、試料ガスが吹き出るガス注入部と対抗する位置にこの試料ガスを吸い込むガス排出部で構成された試料ガス計測部を備え、試料ガスが瞬時に通過する機構を設け、ガスの乱れを無くし、透過時間を短くする事によって再オゾン化を抑える効果があり正しいオゾン濃度測定が可能になる。 (もっと読む)


【課題】基板に生じる撓みを低減して分解能を向上させた波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】エタロン5(波長可変干渉フィルター)は、固定基板51と、固定基板51に対向する可動基板52と、固定基板51に設けられた固定反射膜56と、可動基板52に設けられ、固定反射膜56とギャップを介して対向する可動反射膜57と、固定基板51に設けられた固定電極541と、可動基板52に設けられ、固定電極541と対向する可動電極542と、を備え、可動電極542の固定電極541側の面には可動絶縁膜544が積層され、可動電極542は圧縮応力を有し、可動絶縁膜544は引張応力を有して構成された。 (もっと読む)


【課題】試薬価格において、ユーザーに負担がかからない白血球の分類及びヘモグロビン濃度を測定できる血液分析装置及び血液分析方法を提供する。
【解決手段】血液分析装置は、血液試料と標識物質を含まない溶血剤とから、標識物質を含まない測定試料を調製する試料調製部と、測定試料から蛍光情報と少なくとも2種類の散乱光情報とを生成する光情報生成部と、蛍光情報と2種類の散乱光情報とに基づいて、測定試料中の白血球を、少なくとも、単球と、好中球と、好酸球と、他の集団との4つに第1分類する制御部とを備える。 (もっと読む)


【課題】S/N比を向上できる、SPFSを利用する蛍光測定装置用センサチップを用いたアッセイ方法およびアッセイ用キットを提供する。
【解決手段】支持体上に少なくとも金属部材、自己組織化単分子膜(SAM)及びリガンドを備え、表面プラズモン励起増強蛍光分光法を利用する蛍光測定装置用センサチップを用いたアッセイ方法において、前記自己組織化単分子膜上に親水性高分子層を形成し、前記親水性高分子層の層中および/または外面に前記リガンドが固定化された蛍光測定装置用センサチップを用い、前記親水性高分子層に保湿剤を接触させることを特徴とするアッセイ方法。 (もっと読む)


【課題】簡素な構成で電極間の導通を可能にする波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】エタロン5は、固定基板51と、固定基板51に対向する可動基板52とを備える。固定基板51は、接合膜531,532を介して可動基板52に接合される第1接合面515と、第1電極561の一部が形成される第1電極面516とを備える。可動基板52は、接合膜531,532を介して第1接合面515に接合される第2接合面524と、第2電極562の一部が形成される第2電極面525とを備える。固定基板51及び可動基板52が接合膜531,532により接合された状態において、第1電極面516に形成された第1電極561と、第2電極面525に形成された第2電極562とが接触する (もっと読む)


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