【課題】対物レンズの倍率によらず高速且つ高分解能に試料の画像を生成することを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、試料Ｓを励起させる照明光Ｌを発振する光源２と、試料Ｓに照明光Ｌを照射したときに蛍光した戻り光Ｒを検出するカメラ６と、照明光Ｌをカメラ６に通過させるピンホール２２を複数配列したピンホールディスク１２と、ピンホール２２に照明光Ｌを集光させるための仮想レンズ３０を仮想的に設定したときに仮想レンズ３０を部分的に重複させて、仮想レンズ３０の交点を結ぶ直線ＬＮを境界にして内側の領域を外側の領域に対称に折り返して形成される集光部２１をピンホール２２に対応して複数箇所に設けた集光部ディスク１２と、ピンホールディスク１３と集光部ディスク１２とを一体的に回転させる連結ドラム１４およびモータ１５と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】 観察対象物を構成する各材料を視覚的に区別できる光学顕微鏡観察用試料の製造方法を提供することを課題としている。
【解決手段】 光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法であって、複数種の構成材料を含む前記観察対象物の少なくとも１種の材料が変質する温度で前記観察対象物を加熱する加熱工程を実施することにより、前記観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法等を提供する。 （もっと読む）

【課題】培地の劣化の程度を客観的に判定することができる培養細胞観察用顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】照明手段は培地に照明光を照射する。検出手段は前記照明手段からの前記照明光に基づく前記培地の透過光または前記照明光に基づく前記培地からの反射光を検出する。算出手段は前記検出手段により検出された前記透過光または前記反射光に基づいて、複数の波長帯域の光についての前記培地の透過光強度または前記培地からの反射光強度の比を算出する。 （もっと読む）

【課題】共焦点及び線共焦点顕微鏡の利点と、システムの単純さ及び経済性とを併せもつ顕微鏡を提供する。
【解決手段】対応する蛍光又は蛍光染色又は標識された標的にアライメントされた異なる励起波長で動作する１以上の、さらに好ましくは２以上の光源（好ましくはレーザー）を備える。各標的からの蛍光発光は、バンドパス光学フィルタを用いて濾波され、放射データは、１以上の撮像デバイス、好ましくは２以上の撮像デバイスで集められる。 （もっと読む）

【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット１２０、対物レンズ１１５、スキャナユニット１１４、ピンホールアレイ１１３、光学的分離器１１２、光量検出器１１６、および位置検出システム１１７を有する。光源ユニット１２０は光パルスを複数の出射点から順番に繰返し出射する。対物レンズ１５は光パルスを試料上に結像させる。スキャナユニット１１４は対物レンズにより結像された光パルスを試料に走査させる。ピンホールアレイ１１３は試料に反射された反射光および蛍光の少なくとも一方の結像位置にピンホールが形成される。光学的分離器１１２は反射光および蛍光の少なくとも一方を偏向させることにより透過光の光路から分離する。光量検出器１１６は反射光または蛍光の光量を検出する。位置検出システム１１７は照射光の照射位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】簡単な光学調整および演算処理で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、干渉性を有し、試料Ｓを励起させる励起光ＥＬを発振するランプ光源２と、試料Ｓに励起光ＥＬを照射したときに蛍光した戻り光ＲＬを検出する撮像素子１２と、励起光ＥＬを平行光として試料Ｓに入射させる対物レンズ８と、対物レンズ８から直接的に入射する励起光ＥＬと干渉させるための反射光を発生させる反射面９ａを対物レンズ８の焦点Ｆの範囲内に配置して、反射面９ａに試料Ｓを搭載した試料搭載部９と、を備えている。励起光ＥＬにおいて直接光と反射光とを干渉させて定在波を発生させており、戻り光ＲＬについても直接光と反射光とを干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】装置を大型化させることなく、長さが異なる対物レンズを簡易に切り替える。
【解決手段】少なくとも１つの通常型対物レンズ１を回転軸回りに回転させて、標本Ｓに照射する照明光の光軸Ｐ上の光路に通常型対物レンズ１を選択的に配置可能に支持するレボルバ１５を備え、レボルバ１５の周方向のいずれかの位置に、光軸Ｐに一致する位置に配置された状態で、通常型対物レンズ１より長さが長いスティック型対物レンズ２を標本Ｓとは反対側から貫通状態に取り付け可能な貫通孔が設けられている顕微鏡装置１００を提供する。 （もっと読む）

【課題】ユーザが容易に対物レンズを取り外してしまうことを防止して、安全性を向上することができる対物レンズロック装置を提供する。
【解決手段】雄ネジ部を有する対物レンズ１１と、前記雄ネジ部に嵌合するネジ穴１５を少なくとも１つ有し、前記対物レンズ１１が固定されるレボルバ１３と、前記レボルバ１３に固定された対物レンズ１１の軸線回りの回転を防止する回転防止部材２０とを備える対物レンズロック装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】簡単な光学調整で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、干渉性を有し、試料Ｓを励起させるレーザ光Ｌを発振するレーザ光源２と、試料Ｓにレーザ光Ｌを照射したときに蛍光した戻り光Ｒを検出する検出部１４と、レーザ光Ｌの焦点Ｆの範囲内に定在波を発生させるようにレーザ光Ｌを反射させる反射面１０ａに試料Ｓを搭載した試料搭載部１０と、を備えている。直接的に試料Ｓに焦点Ｆを結ぶレーザ光Ｌと反射面１０ａで反射したレーザ光Ｌとを干渉させて定在波を発生させている。また、戻り光においても干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】より簡単かつ安価に振動部を作製することが可能な共焦点変位センサを得る。
【解決手段】共焦点変位センサにおける振動部４０は、固定体４６と、一端４１Ａ側の側面４１Ｓが固定体４６に固着され、他端４１Ｂ側に設けられた第１レンズ３１を光軸に沿うように往復移動させる第１振動子４１と、一端４２Ａ側の側面４２Ｓが固定体４６に固着される第２振動子４２と、を含み、固定体４６、第１振動子４１、および第２振動子４２は、平板状の部材からそれぞれ形成される。 （もっと読む）

【課題】高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源１０と、光ビームを集光して、試料２２に入射させる対物レンズ２１と、試料２２上における光ビームのスポット位置を走査するＹ走査装置１３と、試料２２に入射された光ビームのうち、異なる波長となって試料２２から対物レンズ２１側に出射する出射光と光源１０から前記試料に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタ１７と、ビームスプリッタ１７により分離された出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器３１と、分光器３１で分散された出射光を検出する検出器３２と、分光器３１の入射側に配置され、出射光を分光器３１側に通過させる複数のピンホール４２が配列されたピンホールアレイ３０を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】カム表面を観察することのできる、広視野レーザ顕微鏡を用いた新規のカム表面の観察方法を提供する。
【解決手段】テレセントリックｆθレンズ８の焦点面近傍に近接配置したカム表面10からの反射光をテレセントリックｆθレンズ８により平行光束に変換し、走査ミラー７で反射させた後に、結像レンズ11によって集光してテレセントリックｆθレンズ８の焦点面と共役の位置に設置したピンホール12ａを通過させ、ピンホール12ａを通過した反射光の光量を受光素子13で計測する。カム表面10を有するカムシャフト９をその軸ｚを中心に回転させるとともに、レーザ光に対してカム表面10が常に垂直になり、かつ、レーザ光の焦点が常にカム表面10に位置するように、カムシャフト９を移動させながら観察する。 （もっと読む）

【課題】波長の異なる複数の光を入射したときの収差を改善した共焦点スキャナを提供する
【解決手段】共焦点スキャナに用いる集光ディスクのマイクロレンズにおいて、
マイクロレンズとして複数の波長の焦点を一致させるように構成したダブレットタイプのマイクロレンズを用いた。 （もっと読む）

【課題】スーパーコンティニュームレーザパルスの様々なスペクトル色のパルス合成器を提供する。
【解決手段】顕微鏡（４０）の照明装置（２０）は、少なくとも１つの広帯域レーザ光パルス（３０）を生成するレーザユニット（２４）を有し、上記広帯域レーザ光パルス（３０）の異なる波長の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）は、互いに時間的にずらされる。広帯域レーザ光パルス（３０）の経路に配置された補正ユニット（３６）が、光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）が補正ユニット（３６）を同時に、または略同時に出るように、広帯域レーザ光パルス（３０）の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）を時間的にずらす。 （もっと読む）

【課題】その配置が簡素であり、各誘導ビーム経路用の光学素子の数を削減することができるような試料照射装置を提供する。
【解決手段】本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。照射ビーム経路における配置を簡素にし、光学素子を削減するために、少なくとも１つの光学素子（７）が照射ビーム経路（２，４）の少なくとも一方に配置され、光学素子（７）が光を変性するようになっている。 （もっと読む）

【課題】検出手段を保護して光量オーバーによるオーバーロードを防ぎ、好適なデータを取得できる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】試料を照明するための照明光学系と、前記試料からの光をピンホールの開口に集光するための集光レンズと、前記ピンホールの開口を介して前記試料からの光を受光する検出手段と、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段と、前記照明光学系と前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段とを制御する制御手段とを有する共焦点顕微鏡であって、前記制御手段は、前記照明光学系を用いた前記試料への刺激と前記試料の画像取得のシーケンスを制御し、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの間に前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを制御して、前記検出手段への光の入射を阻害する。 （もっと読む）

【課題】小型で軽量なＸＹガルバノミラーペアを有する走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、照明光であるレーザ光を射出する光源であるレーザユニットと、このレーザ光を集光して標本１６に照射する対物レンズと、レーザユニットと対物レンズとの間に配置され、レーザ光により標本１６の面を走査するための走査部である制御型及び共振型ガルバノスキャナ１１，１２と、を有する。そして、制御型及び共振型ガルバノスキャナ１１，１２は、第１ミラーであるＸミラー１１Ｘ，１２Ｘと、第２のミラーであるＹミラー１１Ｙ，１２Ｙと、を有し、Ｘミラー１１Ｘ，１２Ｘ及びＹミラー１１Ｙ，１２Ｙを、レーザ光の入射角が４５°より小さくなるように配置する。 （もっと読む）

【課題】マイクロレンズとピンホールとの間にビームスプリッタを設けずともマイクロレンズを介すことなく反射光を光検出器に導くことができる三次元画像取得装置を提供する。
【解決手段】共焦点光学系を用いた三次元画像取得装置１０であって、マイクロレンズ板１３は、照明光を集光する複数のマイクロレンズが二次元に配設される。照明側開口板１４は、マイクロレンズの集光位置に設けられた照明側開口部を有し、照明側開口部によりマイクロレンズが集光した照明光を被計測体１７に向けて通過させる。偏光ビームスプリッタ１５は、照明側開口板１４を通過した照明光を透過するとともに、被計測体１７からの反射光を照明光の光路とは異なる光路に反射する。検出側開口板２１は、照明側開口部と光学的に共役な位置に設けられた検出側開口部を有し、検出側開口部により偏光ビームスプリッタ１５で反射された反射光を光検出器に向けて通過させる。 （もっと読む）

【課題】 背景領域のみの情報を別途取得することなく、処理対象の画像から背景領域での輝度ムラを精度良く求める。
【解決手段】 画像処理装置は、観察対象を撮像した画像を取得する取得部と、画像のうちで観察対象の領域を除いた背景領域での輝度分布を推定する推定部とを備える。推定部は、背景領域の残差に対して観察対象の残差よりも大きな重みを付与した状態で最小二乗法の演算を行って、背景領域での輝度分布を推定する。 （もっと読む）

【課題】ユーザが煩雑な作業を行うことなく、観察対象物の表面の状態を短い時間で正確に観察することが可能な顕微鏡システム、表面状態観察方法および表面状態観察プログラムを提供する。
【解決手段】観察対象物に照射された光を受光する受光素子の出力信号に基づいて複数の画素に対応する画素データが出力される。画素データの値を調整するための感度パラメータが設定される。感度パラメータとして第１の感度値が設定された状態で、複数の画素データが取得され、画素データのピーク値がしきい値以下である画素の数が検出される。単位領域の全画素数に対する検出された画素数の比率が算出され、比率が予め定められた基準値以上である場合に第１の感度値とは異なる第２の感度値により画素データが取得され、比率が予め定められた基準値よりも小さい場合に第１の感度値とは異なる第２の感度値により画素データが取得されない。 （もっと読む）