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Fターム[2H052AB14]の内容

顕微鏡、コンデンサー (26,857) | 顕微鏡の観察光学系 (3,012) | 光学系の光軸が屈曲したもの (215)

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【課題】標本の形状等に関わらず、効率的に3Dイメージングを行うことができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】対物レンズの光軸に直交する方向における標本の観察範囲を複数の領域に分割する領域分割部31と、複数の領域について電動ステージの位置と標本の表面位置とを対応付けて記憶する表面位置記憶部32と、表面位置記憶部32に記憶された複数の領域についての電動ステージの位置および標本の表面位置から標本の表面形状を推定する表面形状推定部34と、表面形状推定部34により推定された標本の表面形状から任意の電動ステージの位置における標本の表面位置を決定するZスキャン条件決定部35と、対物レンズの光軸方向において、Zスキャン条件決定部35により決定された標本の表面位置を基準とする所定範囲にわたって標本からの光を検出する光検出部とを備えるレーザ顕微鏡を採用する。 (もっと読む)


【課題】簡単な光学調整で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置1は、干渉性を有し、試料Sを励起させるレーザ光Lを発振するレーザ光源2と、試料Sにレーザ光Lを照射したときに蛍光した戻り光Rを検出する検出部14と、レーザ光Lの焦点Fの範囲内に定在波を発生させるようにレーザ光Lを反射させる反射面10aに試料Sを搭載した試料搭載部10と、を備えている。直接的に試料Sに焦点Fを結ぶレーザ光Lと反射面10aで反射したレーザ光Lとを干渉させて定在波を発生させている。また、戻り光においても干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】使用者が初期設定に煩わされることがない高い利便性を有する顕微鏡システムを提供すること。
【解決手段】顕微鏡本体3と、複数の電動ユニットと、複数の電動ユニットを制御する制御部5とを備え、各電動ユニットで共通化されたコネクタにより、複数の電動ユニットが光路に沿って連結されると共に、複数の電動ユニットの回路と制御部の回路が接続されており、各電動ユニットは、制御する電動ユニットを選択するために制御部5から出力される選択信号を伝送するための複数の伝送路を有し、前記コネクタは、伝送路に選択信号を取り入れるための複数のピンを有する第1コネクタと、伝送路から選択信号を取り出すための複数のピンを有する第2コネクタとを含み、各電動ユニットの伝送路は、第1コネクタのピンアサインと第2コネクタのピンアサインとをずらすように配設されている顕微鏡システム1。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の表面に段差部があった場合でも好適に測定できるオートフォーカス装置を提供する。
【解決手段】光源と、光源と測定対象物との間に配され、光源からの出射光と測定対象物からの戻り光とが同一光路となるように通過させる光学部と、光学部を通過した戻り光によりフォーカス検出を行う検出手段と、を備える。また、光学部は、光源からの前記出射光を平行光とするチューブレンズと、チューブレンズからの前記平行光をライン形状に変形させる光形状変形手段と、光形状変形手段からのライン形状の光により前記測定対象物の表面にライン形状のパターン像を集光させる対物レンズと、対物レンズにより集光されるライン形状のパターン像を所定の角度回転させる回転手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。
【解決手段】使用者が観察対象物Sの断面曲線データの取得範囲を指示する。CPU210は、その指示に基づいてX方向に沿って連続的に並ぶ複数の帯状領域を設定するとともに、各帯状領域においてX方向に平行な複数の測定ライン上でレーザ光を走査することにより、複数の測定ラインに基づく画素データを制御部300から取得する。CPU210は、取得した複数の測定ラインの画素データに基づいて帯状領域の複数の断面曲線データを生成し、作業用メモリ230に記憶する。CPU210は、複数の帯状領域の複数の測定ラインについて生成された断面曲線データをX方向に沿って連続する測定ラインごとに連結することにより、連結された複数の断面曲線データを得る。 (もっと読む)


【課題】標本に照射する刺激光を所望の照射領域に容易に設定する。
【解決手段】標本Sの画像を取得する観察光学系10と、標本Sに刺激光を照射して刺激する刺激光学系30と、観察光学系10により取得された画像上に、刺激光学系30により刺激される標本SのROIを表示する制御部51と、制御部51により画像上に表示されたROIの大きさおよび/または位置を操作させる操作部55とを備え、制御部51が、ROIに一致するように刺激光の照射領域を調節する顕微鏡装置100を提供する。 (もっと読む)


【課題】 干渉を使用することで従来の光学系より高分解能画像を得ることが可能な光学系において、安定した信号を得る。
【解決手段】 物体から出射する応答光の特定の偏光状態の光を選択し、これを二つのビームに分離する。分離された二つのビームを異なる偏光状態にし、一方のビームを像反転させた後、両者を集光かつ干渉させる。干渉光を複数に分離し、それぞれに異なる偏光フィルタを挿入し、検出する。それぞれの信号を組み合わせた処理をすることで、両ビームの位相差に影響されない安定な振幅情報を得る。 (もっと読む)


【課題】共焦点走査型顕微鏡の走査ユニットを操作するために走査座標値又は補正した走査座標値を見つけ出すための方法、又は、単純な手法で特に画像エッジにおいて試料の正確な画像を創り出すことができる、走査型顕微鏡を用いて試料の画像を創り出す方法、を提供する。
【解決手段】試料32の創出すべき画像の画像点のデカルト画像座標値(X,Y)について、当該デカルト画像座標値の球座標系への座標変換を用いて球走査座標値(φ,θ)を見つけ出し、共焦点走査型顕微鏡20の走査ユニット28を走査するための走査座標値(φ,θ)を算出し、当該走査ユニット28は、当該球走査座標値(φ,θ)にしたがって走査する。 (もっと読む)


【課題】所定の動作波長範囲内で所定の分光エネルギー分布を有する配光用光学素子の提供。
【解決手段】配光用光学素子10は、光が入り込む透明体12と、透明体12の内部に形成される光分岐層18とを含み、光分岐層18は、動作波長範囲において、透明体12に入り込む光を反射して反射射出光束を生成するような所定の波長依存性反射率と、透明体12に入り込む光を透過させて透過射出光束を生成するような波長依存性透過率を有し、光学素子10は、光分岐層18とは別に、透明体12の上に形成された補償層構造28、30をさらに含み、補償層構造28、30を通過する光に関するその透過率は、動作波長範囲内で、反射射出光束と透過射出光束の分光エネルギー分布が合致し、その差が最大でも波長に依存しないずれの数値と等しい量となるように、光分岐層18の反射率と透過率とに応じて設定される。 (もっと読む)


【課題】STED光シートを用いるSPIM顕微鏡を提供する。
【解決手段】y方向の照明光源とz方向検出光カメラとを有するSPIM顕微鏡(選択的面結像顕微鏡)が開示される。xスキャナは、x方向に照明光線を走査することによって、連続的な光シートを生成する。STED失活光線を選択的にオンにすることによって、光シートを選択的に、より薄くすることができ、したがって、光学解像度を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】装置構成を小型化できる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】試料を励起する励起光を射出する光源と、試料に前記励起光を集光させることにより試料から発生した蛍光を撮像装置に導く共焦点光学系と、を備えた共焦点顕微鏡に関する。共焦点光学系は、励起光の振幅又は位相を変調するとともに励起光を試料に対して選択的に透過させる空間光変調装置を含む。 (もっと読む)


【課題】磁気力場中での結晶成長の観察を可能とし、個別のタンパク、個別の成長条件において常に最短の時間で実験を終了することができようにし、効率的な高品位結晶の生成を可能とする強磁場中顕微鏡観察装置を提供する。
【解決手段】超伝導マグネット1が形成する超強磁場に設置され軸方向の移動操作及び軸回りの回転操作が可能な中空軸11と、中空軸11内に設置されたCCDイメージセンサ、傾斜鏡12、対物レンズ13及び結像レンズ14とを備え、結晶生成容器3の中央部に設けられた透孔内に挿通されて設置され、CCDイメージセンサは、中空軸11の側面に開設された観察窓5を通じて、傾斜鏡12、対物レンズ13及び結像レンズ14を介して、中空軸11の周囲の結晶生成容器3内を観察した画像の画像信号を出力する。 (もっと読む)


【課題】遮光絞りを配置した際の新たな迷光の発生を抑えることが可能な観察装置及び顕微鏡装置を提供すること。
【解決手段】第1の結像レンズL1と反射部材Mとを有し、顕微鏡本体に着脱可能に取り付け、顕微鏡本体の対物レンズから入射した光束を反射させた後、観察像を結像させる観察装置3及び顕微鏡装置。反射部材は、光軸ALを含む領域に入射する光束を反射する反射面Frと、反射面に設けられ、光の反射を防止する反射防止部とを有する。 (もっと読む)


【課題】より精度の高いオートフォーカスを行うことができ、撮像した画像データの色再現性をより向上させることができる。
【解決手段】試料101からの光を光路Aで撮像ユニット110に導き、光路BでAFユニット112に導く。AFユニット112に導かれた光を分割し、光路Cと光路Dとに導く。第1の平面上に投影される光路Cに導かれた光と、第1の平面上に投影される光路Dに導かれた光とのコントラストの差に基づいて、撮像ユニット112の撮像面に光路Aに導かれた試料101からの光による試料101の像が結像するように、撮像ユニット110の焦点を調節する。撮像ユニット110に導かれた光を用いて、試料101の像を撮像し画像データを生成する。AFユニット112に導かれた光を用いて、試料101のスペクトル情報を検出する。検出したスペクトル情報に基づいて、画像データの色調を補正する。 (もっと読む)


【課題】位相差光学系を用いたデフォーカス量検出処理において、デフォーカス量の検出可能範囲内に観察対象をより高速に配置することが可能な顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る顕微鏡制御装置は、サンプルの拡大像を撮像する顕微鏡のステージ又は鏡筒の少なくとも何れかを駆動制御して、サンプルの焦点位置を調整する駆動制御部と、複数の焦点位置で顕微鏡により撮像されたサンプルの複数の位相差像のそれぞれについて、当該位相差像内の局所的な領域での合焦度の評価値を算出する評価値算出部と、算出された合焦度の評価値に基づき、位相差像を利用してサンプルのデフォーカス量を検出するデフォーカス量検出処理の処理範囲を決定する処理範囲決定部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】試料を培養中の容器全体を観察して発現した試料塊を特定でき、さらにこの特定
した試料塊を拡大して詳細を観察することが可能な観察システムを提供する。
【解決手段】試料が入った容器全体を観察することで前記試料を観察する全体観察部と、 前記容器内の一部の領域を拡大して前記試料を観察する拡大観察部を備えた観察装置であって、前記全体観察部と前記拡大観察部は前記試料に光を照射するための照明及び前記試料を観察するための光学系を各々有するとともに、前記容器を通過する前記全体観察部の光学系の光軸および前記拡大観察部の光学系の光軸とが一致するように構成した。 (もっと読む)


【課題】試料を傾けることなく観察方向を様々な方向に変更して立体的な観察を行う。
【解決手段】対物レンズ14を介して、それぞれ異なる方向から標本12を観察する一対の観察光学系13−1および13−2と、観察光学系13−1および13−2の光軸L1およびL2上にそれぞれ配置され、光軸L1およびL2を直交方向に移動させる円筒プリズム15−1および15−2と、円筒プリズム15−1および15−2による光軸L1およびL2の移動方向が同一の方向となるように、円筒プリズム15−1および15−2の傾斜角度を変更する傾斜機構とを備える。本発明は、例えば、実体顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)


【課題】位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像に基づいて生成された、当該位相差像間の位相差に関する位相差情報を、前記顕微鏡に固有な光学的歪みに起因する位相差のオフセット情報に基づいて補正するオフセット処理部と、オフセット補正後の前記位相差情報に基づいて、前記サンプルのデフォーカス量を算出するデフォーカス量算出部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】多色光を用いて試料を高精度で観測できる試料観測装置を提供する。
【解決手段】波長の異なる複数の光をそれぞれパルス光として試料31に順次照射する光照射部10と、光照射部10からのパルス光の照射により試料31から発生する応答光を受光して光応答信号を出力する光検出部40と、光照射部10からのパルス光の照射に同期して、光検出部40から、当該照射されたパルス光に対応する光応答信号を取得するサンプリング部50と、サンプリング部50で取得された光応答信号を処理する信号処理部70と、を備える。 (もっと読む)


【課題】撮影の動作を増加しない前提で、カラー情報を有する立体的輪郭映像を得ることができ、そしてカラー情報を有し奥行きがより深い平面的明瞭映像を得ることができる撮影装置とその撮影方法を提供する。
【解決手段】測量物に対してスキャンを行い、光源と、第1分光器と、顕微接物レンズ組と、第2分光器と、単色映像センシングデバイスと、映像センシングデバイスと、を含む撮影装置において、光源は、照射光ビームを射出するためのものであり、第1分光器は、照射光ビームを反射するためのものであり、顕微接物レンズ組は、測量物の上方に設けられ、反射基準面を含み、第2分光器は、第1分光器の上方に設けられ、工作光ビームを第1子光ビームと第2子光ビームとに分け、単色映像センシングデバイスは、第1子光ビームの行進経路に設けられ、映像センシングデバイスは、第2子光ビームの行進経路に設けられる。 (もっと読む)


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