【課題】簡易な装置構成で分解能が向上された試料のパターン像を得ること。
【解決手段】この画像生成装置１は、レーザ光を出射するレーザ光源３と、レーザ光の強度を変調させるレーザ出力制御部１１と、レーザ光の被測定物Ａへの照射位置を走査するレーザスキャナ５と、被測定物Ａに複数の空間変調パターンの照明光を照射するように制御する変調パターン制御部１５と、複数の空間変調パターンの照明光の照射に応じて被測定物Ａから生じる電気信号を検出する電気信号検出器７と、照明光の照射位置に関する照明位置情報と、検出された信号の特性に関する特性情報とが対応付けられた特性分布情報を含む２次元特性画像を生成する電気信号画像化部１７と、複数の空間変調パターンに対応して生成された複数の特性画像を基に、被測定物Ａのパターン画像を生成する画像データ演算部１９とを備える。 （もっと読む）

【課題】より簡単に、より明るく鮮明な観察画像を得ることができるようにする。
【解決手段】試料１３への照明光の照射により生じた蛍光のうち、対物レンズ２７に入射した蛍光は光検出器３１により受光され、コンデンサレンズ３２に入射した蛍光は、光検出器３６に受光されて、それらの光検出器の出力から１つの観察画像が生成される。コンピュータ１１は、ステージ２８を上下方向に移動させて、試料１３の複数の観察面を観察する場合、ステージ２８の上下方向の位置に応じて光検出器３１と光検出器３６の受光感度を変化させる。このとき、ステージ２８の各位置に対して定められた受光感度を示す光検出器３６の受光感度テーブルは、光検出器３１の受光感度テーブルを位置方向に反転することにより生成される。本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 （もっと読む）

【課題】試料の観察中に照明光の光路のずれを確実に検出する。
【解決手段】ハーフミラー４５は、光源１１からの照明光を２つの光に分岐する。ハーフミラー４５を透過した第１の光は、走査ユニット４８により走査され、対物レンズ５１を介して試料２に照射される。試料２から発せられた蛍光は、光電検出素子５４または光電検出素子５７により受光される。ハーフミラー４５により反射された第２の光は、ハーフミラー５８により分岐され、光電検出素子５９，６０により受光される。コンピュータ１８は、光電検出素子５９，６０の第２の光の受光位置に基づいて照明光の光路のずれを検出する。また、コンピュータ１８は、照明光の光路のずれを検出する場合、第１の光が対物レンズ５１を通過しない範囲を走査されるとき、第２の光が所定の光量以上になるように照明光の光量を制御する。本発明は、例えば、共焦点顕微鏡に適用できる。 （もっと読む）

【課題】光学フィルターとして所望の特性を実現し得る構造を有する多層膜フィルター、及び、それを用いた蛍光顕微鏡を提供する。
【解決手段】第１の材料からなる層Ｈと第１の材料と屈折率の異なる第２の材料からなる層Ｌが交互に積層される多層膜部２２を含んで多層膜フィルター２０を構成する。多層膜部２２は、３層以上を１周期とする周期的な膜厚構造を有する。 （もっと読む）

【課題】本発明では、タッチパネルを用いて電動ユニットの操作を行う場合のその操作性の向上させる顕微鏡コントローラを提供する。
【解決手段】顕微鏡コントローラは、タッチパネル部と、電動ユニットを操作するための操作機能をタッチパネル部の所定の表示領域に設定する機能設定部と、操作機能が設定された表示領域である操作表示領域に対して行われた物理的接触による入力を検出する入力検出部と、検出された入力結果に基づいて、操作表示領域への入力された位置を示す入力点の数及び該入力点の移動態様を判定し、判定された入力点の数に応じて、電動ユニットの動作態様を決定し、決定した移動態様に基づいて、電動ユニットの駆動を制御する指示を行うための制御指示信号を生成する制御部と、電動ユニットの動作を制御する外部装置に対して、制御指示信号を送信する通信制御部と、を備えることにより、上記課題の解決を図る。 （もっと読む）

【課題】光量の損失が抑制された顕微鏡アダプタユニットを提供する。
【解決手段】光源ＬＳを含む光源ユニット２から標本面ＳＰに至る照明光の光路中に配置される顕微鏡アダプタユニット４を、第１のレンズ群（レンズＬ４及びレンズＬ３）と第２のレンズ群（レンズＬ２及びレンズＬ１）で構成する。照明光は、第１のレンズ群により略平行光束に変換されて第２のレンズ群に入射する。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡装置筐体をコンパクト化するとともに、工具のふらつきを防止して保持する収容機構を備えた顕微鏡を提供する。
【解決手段】棒状をなす工具２１を収容する工具収容機構２１を備える顕微鏡装置１００であって、工具収容機構２０は、顕微鏡装置１００の高さ方向に略沿った方向へ工具２１を位置決めして保持する第一保持部２０ａと、前記高さ方向と直交する方向に略沿った方向へ工具２１を位置決めして保持する第二保持部２０ｂと、を備え、顕微鏡筐体１側面に配置されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】対物レンズの瞳位置が変化しても高い照明の均一性を実現する落射蛍光照明装置、及び、それを備えた蛍光顕微鏡を提供する。
【解決手段】落射蛍光照明装置１は、照明光を射出する光源Ｓと、コレクタレンズＣＬと、フライアイレンズ光学系ＦＬと、対物レンズＯＢと、フライアイレンズ光学系ＦＬと対物レンズＯＢの間に配置されるリレー光学系ＲＬを含む。フライアイレンズ光学系ＦＬは、各々複数のレンズ要素からなる第１のフライアイレンズ面ＬＳ１及び第２のフライアイレンズ面ＬＳ２を含む。さらに、第２のフライアイレンズ面ＬＳ２と共役な位置ＣＰと対物レンズの瞳位置ＰＰとの距離をＤ０、対物レンズＯＢの同焦点距離をＬｏｂとするとき、落射蛍光照明装置１は、以下の条件式を満たす。
０．３≦Ｄ０／Ｌｏｂ≦０．７５
また、蛍光顕微鏡１００は、落射蛍光照明装置１を含む。 （もっと読む）

【課題】 参照鏡面についたゴミなどが像面に映り込むのを防ぎ、良好な測定が可能な干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 対物レンズ系２１と、対物レンズ系２１と試料２２との間の光路中に配置された光路分割プリズム２３と、光路分割プリズム２３によって分割された一方の分割光路中に配置される参照鏡２４とを有し、光路分割プリズム２３によって分割された他方の分割光路中に配置される試料２２からの反射光と、参照鏡２４からの反射光とを干渉させる干渉対物レンズ２０において、参照鏡２４は、透明の基板部材２４ａの裏面に反射膜２４ｂが形成された裏面反射鏡であり、試料２２と光路分割プリズム２３との間に、裏面反射鏡の基板部材２４ａによって生じた光路差を補正する光路差補正部材２５を有する。 （もっと読む）

【課題】 対物レンズの大型化を招くことなく、観察視野周辺の光量を十分に確保でき、良好な観察画像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。
【解決手段】 ランプハウス１１からの照明光を、中空ミラー２２を介し、対物レンズ１４の外周部に形成された照明光路を通して、標本１６に照射させる顕微鏡１において、中空ミラー２２と対物レンズ１４との間に、照明光の光束径を変換する光学部材２５（例えば、中空形状のプリズム）を有する。 （もっと読む）

【課題】観察対象の光軸方向に異なる複数点の観察を同時性を維持しつつ鮮明に行うことを可能とする。
【解決手段】パルスレーザ光Ｌ_１を発生するレーザ光源４と、該レーザ光源４から発せられたパルスレーザ光Ｌ_１から時間間隔をあけた複数のパルスレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２を生成するパルス分割部５と、該パルス分割部５により生成される１以上のパルスレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２毎に、光軸方向に異なる位置に集光するように、該パルスレーザ光Ｌ_１，Ｌ_２の波面を異ならせる固定式の波面変換部６とを備える光源装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】 構成の簡素化を図りつつ、高ＮＡで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 干渉対物レンズ１０は、参照ミラー１２と、光源３１からの照明光を試料３４へ向かう光と参照ミラー１２へ向かう光とに分割する光路分割プリズム１１と、光路分割プリズム１１を内部に備え、この光路分割プリズム１１と試料３４との間に配置された第１のレンズ群２１と、光路分割プリズム１１と参照ミラー１２との間に配置された第２のレンズ群２２とを含む、複数のレンズからなる対物レンズ系２０とを有し、対物レンズ系２０を構成するレンズを介して光路分割プリズム１１に入射した照明光を、第１のレンズ群２１を介して試料３４へ向かう光と、第２のレンズ群２２を介して参照ミラー１２へ向かう光とに分割し、試料３４から第１のレンズ群２１を通して得られる反射光と、参照ミラー１２から第２のレンズ群２２を通して得られる反射光とを光路分割プリズム１１で重ね合わせて干渉縞を形成する。 （もっと読む）

【課題】装置の大型化、複雑化およびコストアップを招くことなく、観察対象から発生する蛍光を高いＳＮ比で検出できる蛍光検出装置を提供する。
【解決手段】励起光源102から射出される励起光を観察対象115に照射し、該観察対象115から発生する蛍光を光増幅器110により光増幅して検出する蛍光検出装置１において、励起光源102から射出される励起光を光増幅器110に入射させて、観察対象115から発生する蛍光を光増幅する。 （もっと読む）

【課題】目的とする蛍光を選択的に視野観察することが可能な蛍光顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】磁気共鳴により蛍光強度が変動する蛍光体１を含む試料１６に励起光を照射し、蛍光体１の蛍光を観察する光学顕微鏡３と、電子スピン磁気共鳴を発生させる高周波磁場を試料１６に照射する高周波磁場発生部５と、高周波磁場を変調する変調信号を生成する変調部７と、高周波磁場を変調しながら光学顕微鏡３で観察した試料表面の光強度を複数の画素のそれぞれでサンプリング時間毎に検出する検出器９と、複数の画素の中から光強度の時系列変動が変調信号と互に相関している対象画素を抽出する処理ユニット１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】非線形光学効果により試料から発せられる物体光の位相情報を取得する。
【解決手段】非線形顕微鏡１０１は、励起光ω１，ω２を試料１０２に照射し、非線形光学効果により試料１０２から発せられる非線形物体光を観察するための顕微鏡である。非線形顕微鏡１０１は、試料１０２の観察面において励起光ω１，ω２を走査するガルバノミラー１１９と、非線形物体光と同じ角振動数の参照光ωｒの位相をシフトする位相シフタ１１７と、非線形物体光と参照光ωｒとの干渉光を検出する検出器１２２とを備え、位相シフタ１１７は、観察面における励起光ω１，ω２の集光位置がｘ軸方向に所定の距離だけ移動する毎に、参照光ωｒの位相を９０度ずつシフトする。本発明は、例えば、非線形レーザ走査顕微鏡に適用できる。 （もっと読む）

【課題】光学システム及びその作動方法を提供すること。
【解決手段】本発明の光学システム及びその作動方法は、試料を観察する顕微鏡、又は試料にレーザーなどの光を照射する光照射装置などにおいて、試料の移動又は顕微鏡観察者の目（又は光照射装置では光源）の移動なしでも、光学系を用いた斜角光経路を形成して試料の垂直面だけでなく前後左右の側面まで一定の斜角で観察（又は光照射装置では光照射）し或いは観察（又は光照射装置では光照射）位置を変化させることができる。 （もっと読む）

本発明は対象物を走査する装置に関し、この装置は、照明光ビーム（２４）を解析対象となる対象物の領域に集束させる集束レンズ系（３０）を備える。アクチュエータアセンブリが集束レンズ系（３０）に連結され、所定の走査パターンにしたがって、前記集束レンズ系（３０）を照明光ビーム（２４）の基準位置における照明光ビーム（２４）の中心軸に関して横方向に移動させる。前面ガラス（３８）が、照明光ビーム（２４）の方向に見た場合に集束レンズ系（３０）の下流に配置される。内側浸漬剤（４０）が集束レンズ系（３０）と前面ガラス（３８）との間に配される。外側浸漬剤（４８）は、前面ガラス（３８）と対象物との間に注入することができる。
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【課題】支柱を所望傾倒位置に保持する際、必要な保持力を容易に確保することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とし、更に、前記支柱の傾倒操作に際し、小さな力で容易に傾倒操作することが可能な顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】光学系ユニットを設ける支柱を支持軸の廻りに回動自在に支持すると共に、所望の位置に傾倒させた状態で保持する顕微鏡用架台及びその架台を備えた顕微鏡。顕微鏡用架台３は、支持軸３ｂよりも直径が大きい内周面４５ａを有する第一の回動規制部材４５と、支持軸よりも直径が大きく、内周面と圧接されて支柱の回動を規制する外周面を有する第二の回動規制部材５２と、第一の回動規制部材又は第二の回動規制部材を拡縮させて内周面と外周面とを圧接又は離間させる操作を行う操作部材とを備えている。 （もっと読む）