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Fターム[4K030GA14]の内容

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Fターム[4K030GA14]に分類される特許

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等しい荷重下で、等しい寸法のポリエチレンテレフタレートフィルムの少なくとも2倍の引張伸びを有する高分子フィルムと、平坦化層と、ケイ素、炭素、及び水素を含むプラズマ蒸着非晶質ガラス層と、を含み、平坦化層が高分子フィルム上に配置され、非晶質ガラス層が平坦化層上に蒸着され、2%〜20%の範囲内の引張伸びを受けた後、十分な適合性を有し、伸ばされる前と比較して本質的に不変の水蒸気透過度を有する、適合性バリアシートと、適合性バリアシートの作製方法と、適合性バリアシートを含む経皮用品と、該用品を使用して哺乳動物に薬物を送達する方法と、適合性バリアシートを使用して物品を保護する方法と、を提供する。
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【課題】赤外線領域での遮熱性能に優れ、色味調整が容易で、誘電体膜積層膜のクラック耐性、耐衝撃性に優れ、低ヘイズで、耐久性(耐光性)に優れた誘電体膜積層体と、その製造方法を提供する。
【解決手段】基材上に、無機顔料を含有する層と、低屈折率誘電体膜と高屈折率誘電体膜とを交互に積層した誘電体膜ユニットとを有することを特徴とする誘電体膜積層体。 (もっと読む)


【課題】電極を大面積化しても、電極の中心部と電極の周辺部とでプラズマ生成空間におけるガスの組成が異なることを抑制できるようにする。
【解決手段】成膜室100は、第1電極120及び第2電極140を有している。第1電極120には高周波が入力される。第2電極140は、第1電極120に対向して配置され、孔を有するフレキシブル基板10が接する。第2電極140には、排気孔が形成されている。排気孔は、フレキシブル基板10の孔を介して第1電極120及び第2電極140の間のプラズマ生成空間を排気する。 (もっと読む)


【課題】長尺のシート状基板Sを真空処理室2を通して搬送し、シート状基板Sに所定の処理を施す真空処理装置における基板搬送装置であって、真空処理室2の上流側と下流側に夫々連設した上流側補助真空室3や下流側補助真空室3に繰出しローラや巻取りローラを収納せずに、且つ、真空処理室2を大気解放せずにシート状基板Sを搬送できるようにしたものを提供する。
【解決手段】上流側補助真空室3の入口部と、下流側補助真空室3の出口部と、真空処理室の入口部及び出口部とに,夫々シート状基板Sを挟むようにして閉じる仕切り弁4を配置する。また、上流側補助真空室3と下流側補助真空室3とに、夫々所定長さ分のシート状基板Sを引き込み、引き込んだシート状基板を引き出し自在に保持する基板引き込み機構5,5を配置する。 (もっと読む)


【課題】PVD法やプラズマCVD法などによりシート状の基材表面に皮膜を形成するためのシート成膜装置において、水冷構造による構造複雑化を招来することなく、成膜処理等で生ずる熱による膨張変形での各ロールの平行度の狂いを防止できるようになる。
【解決手段】本発明に係るシート成膜装置は、表面に成膜が行われるシート状の基材が巻き付けられる成膜ロール5と、成膜ロール5が内部に配備された真空チャンバ3とを有すると共に、成膜ロール5の両端を内側壁で支持する一対のベース板22と、少なくとも両側が開口30となっているチャンバ基体20とを有し、一対のベース板22の外側壁が大気開放状態となるように、チャンバ基体20の開口30に一対のベース板22の各々を組み付けることで、真空チャンバ3を構成している。 (もっと読む)


流体分配マニホールドは第1プレート及び第2プレートを有する。前記第1プレートは、長さ次元、幅次元、並びに、前記第1プレートの長さ次元及び幅次元のうちの少なくとも1つにわたって前記第1プレートを変形可能にする厚さを有する。前記第2プレートは、長さ次元、幅次元、並びに、前記第2プレートの長さ次元及び幅次元のうちの少なくとも1つにわたって前記第2プレートを変形可能にする厚さを有する。少なくとも前記第1プレート及び前記第2プレートの少なくとも一部は、流体流を導く流路を画定する凹凸パターンを画定する。前記第1プレート及び前記第2プレートは1つとなって、前記長さ次元と前記幅次元のうちの少なくとも1つに沿った高さ次元において非平面形状を形成する。
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【課題】長尺のシート状基板Sを真空処理室2に配置したドラム3を介して搬送し、この真空処理室2に配置した複数の成膜ユニット4,4,4によりシート状基板に複数の薄膜を積層して成膜する成膜装置であって、積層膜を高品質で能率良く成膜でき、且つ、装置の大型化も回避できるようにしたものを提供する。
【解決手段】複数の成膜ユニット4,4,4をドラム3に対向する所定の成膜位置に選択的に移動させるインデックス機構5と、真空処理室2の入口部と出口部に夫々配置した仕切り弁8と、真空処理室2内の入口部側と出口部側とに夫々配置した基板引き込み機構9,9とを備える。両基板引き込み機構9,9間でシート状基板Sを往復搬送し、搬送方向を切換える度に異なる成膜ユニットを成膜位置に移動して、シート状基板Sに複数の薄膜を積層して成膜する。 (もっと読む)


流体分配マニホールドは、第1のプレートと第2のプレートとを備える。少なくとも第1のプレートおよび第2のプレートの少なくとも一部は、レリーフパターンを画成する。レリーフパターンによって画成される流体流配向パターンを第1のプレートおよび第2のプレートが形成するように、第1のプレートと第2のプレートとの間に金属結合剤を配設する。
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【課題】 プラズマCVD装置において、皮膜の脱落や基材への傷つきを防止した上で、成膜ロールの端部に皮膜が形成されることを防止する遮蔽部材を容易に交換できるようにする。
【解決手段】本発明のCVD装置1は、真空チャンバ3と真空チャンバ3内に配備されると共に電源4の両極が接続され且つ各々に成膜対象であるシート状の基材Wが巻き掛けられる成膜ロール2と成膜ロールの端部9をプラズマから遮蔽する遮蔽部材5とを備えたものであり、遮蔽部材5は成膜ロールの端部9表面の周方向に沿うような湾曲形状で成膜ロール2とは別の部材とされていて、遮蔽部材5と成膜ロール2とは一定のクリアランス10を有するように配備されると共に互いが同電位に保持されていて、このクリアランス10はシート状の基材Wが差し込み可能であると共にプラズマ11が成膜ロール2の端部側まで進入することを防止可能な距離に設定されている。 (もっと読む)


ALD薄膜堆積のシステム200,300および方法は、複数の分離された前駆体ゾーン214,216,314,316を含んだ移動を基本としたプロセスにおいて、過剰の化学吸着されていない前駆体を基板210,310の表面から除去する過剰の前駆体を除去する機構280,380を備える。過剰の前駆体を除去する機構280,380は、過剰の前駆体を、分離された前駆体ゾーンに達する前に遊離させるために、局所化された高温状態、高エネルギー状態または過剰の前駆体の共沸混合物を導入し、これにより、熱による基板の分解を生じさせることなく、CVD堆積の発生を防止する。 (もっと読む)


【課題】皮膜フレークに起因する基材上の皮膜欠陥の発生を最小にすることができるプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】本発明のプラズマCVD装置1は、真空チャンバ3と、この真空チャンバ3内に配備され且つ交流電源8の両極が接続された一対の成膜ロール2,2とを有し、この一対の成膜ロール2,2に巻き掛けられたシート状の基材Wの表面に皮膜を形成するものであって、一対の成膜ロール2,2の回転中心を結んだラインより一方側の領域の一部又は全部が成膜エリアDとされ、成膜エリアDに原料ガスを供給するガス供給手段5と、成膜エリアDから原料ガスを排気する排気手段6とが成膜エリアD内に配設され、成膜エリアD内に位置する一対の成膜ロール2,2の表面にプラズマを生成しプラズマ領域Pを形成する磁場発生手段7が設けられ、基材Wが前記プラズマ領域Pを通過するように、一対の成膜ロール2,2に基材Wが巻き掛けられる。 (もっと読む)


【課題】十分なガスバリア性を有しており、しかもフィルムを屈曲させた場合においてもガスバリア性の低下を十分に抑制することが可能なガスバリア性積層フィルムを提供する。
【解決手段】基材と、前記基材の少なくとも片方の表面上に形成された少なくとも1層の薄膜層とを備えるガスバリア性積層フィルムであって、前記薄膜層のうちの少なくとも1層が珪素、酸素及び炭素を含有しており、且つ、該層の膜厚方向における該層の表面からの距離と、珪素原子、酸素原子及び炭素原子の合計量に対する珪素原子の量の比率(珪素の原子比)、酸素原子の量の比率(酸素の原子比)及び炭素原子の量の比率(炭素の原子比)との関係をそれぞれ示す珪素分布曲線、酸素分布曲線及び炭素分布曲線において、規定の条件満たすことを特徴とするガスバリア性積層フィルム。 (もっと読む)


コーティング装置が非直交コータ・ジオメトリを含み、それによってガラス・リボンに対するコーティングを改善し、またコーティングの収率を改善する。コーティング装置は、リボンを、ガラス形成チャンバ内に設けたコーティング区間を通る第1の仮想的なストレートライン23に沿って移動させるための第1の装置を含む。コータは、コーティング・ノズル80及び排出孔83を有し、それぞれが長手方向の軸線を有する。コーティング・ノズル80は、コーティング蒸気をコーティング区間に向けて方向付け、排出孔82は、蒸気をコーティング区間から除去する。第2の装置によって、コーティング・ノズル80及び排出孔82がコーティング区間に面する状態で、コータが経路に対して間隔を置いた関係に取り付けられる。第2の仮想的なストレートライン94がコーティング・ノズル80の長手方向の軸線に垂直であり、第1の仮想的なライン23と第2の仮想的なライン94とは0度超から90度の範囲内の角度を定めている。
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【課題】長尺のテープ状基材に対して安定した組成のY系超電導層を形成できるとともに、装置の小型化と生産性の向上を図ることができる超電導線材の製造方法及びCVD装置を提供する。
【解決手段】基材導入領域においてテープ状基材を移動させながら加熱する第1工程と、成膜領域においてテープ状基材を移動させながら成膜温度に加熱するとともに、このテープ状基材表面にY系超電導層を成膜する第2工程と、を有する超電導線材の製造方法において、第1工程では、テープ状基材の表面温度が成膜温度よりも30℃を超えて高くならないように温度制御を行う。第2工程では、成膜されるY系超電導層内に含まれるBaとYの原子比をXBa/X、CuとYの原子比をXCu/X、CuとBaの原子比をXCu/XBaとしたときに、XBa/X>1.0、XCu/X<3.0、XCu/XBa>1.2となるように原料ガスを導入する。 (もっと読む)


薄膜を形成するための蒸着反応器および方法。蒸着反応器は、円の孤に沿って配列された、第1の部分から第3の部分を備える。第1の部分は、第1の部分内の凹部に物質を注入するための少なくとも1つの第1の注入部を有する。第2の部分は、第1の部分に隣接しており、第1の部分の凹部に連通可能に接続された凹部を有する。第3の部分は、第2の部分と隣接しており、第2の部分の凹部と連通可能に接続された凹部と、蒸着反応器から物質を排出するための排出部とを有する。
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【課題】長尺な基板をドラムに巻き掛けて長手方向に搬送しつつ、基板に成膜を行なう際に、ドラムに高いバイアス電位を印加する場合でも、高品質な膜を効率よく連続成膜することができ、かつ、製造装置の損傷を防止することができる機能膜の製造装置および製造方法を提供する。
【解決手段】ドラムの端面に対面して設けられる、接地される導電性の板であるアース板と、ドラムの端面とアース板との間に配置される絶縁部材とを有することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


多孔性非セラミック基材上にコンフォーマルコーティングを堆積させる方法は、コンフォーマルコーティングが残留するように反応性ガスが基材を貫流することを必要とする。たとえ基材が本来疎水性のもの、例えば、オレフィン材料であったとしても、このプロセスを用いて、基材の内部細孔の表面を親水性にすることができる。本方法は、ロールツーロールプロセス、又はバッチ処理で用いることができる。後者の場合のいくつかの都合のよい実施形態では、バッチ反応器及び表面形状適合的にコーティングされた基材(1つ又は複数)はそれぞれ、全体として、最終生産物、例えば、フィルタ本体及びフィルタ要素の一部となり得る。
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【課題】可撓性基板に対する処理の品質に面内分布が生じることを抑制でき、かつ基板のたわみを十分に抑制できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】カソード電極130及びアノード電極120は、処理容器110内に互いに対抗して配置される。アノード電極120は、帯状の可撓性基板50を加熱する。またアノード電極120の側面のうち、平面視において可撓性基板50が搬送時に通る部分には、湾曲部122,124が設けられている。湾曲部122,124は、可撓性基板50の搬送方向と同方向に傾斜を有し、平面視において縁が外側に凸となる方向に湾曲している。 (もっと読む)


【課題】シャワーヘッド電極に加えて、低コストでメンテナンスが容易な原料ガスの供給機構を用いることにより、基板への膜の均一性を向上させることが可能なプラズマCVD装置及びプラズマCVDによる成膜方法を提供することにある。
【解決手段】本発明は、真空容器2内に原料ガスを供給して、プラズマCVD成膜法により基板1の表面に薄膜を形成するプラズマCVD装置において、真空容器2内には、原料ガスを供給するためのシャワーヘッド電極9が配設されているとともに、シャワーヘッド電極9に対して側面方向から原料ガスを供給するためのガス供給機構14がさらに配設されている。 (もっと読む)


【課題】ガス冷却を用いた成膜方法において、基板への損傷を抑制しながら、十分な基板冷却能力を確保する。
【解決手段】本発明の薄膜形成装置は、薄膜形成領域9において基板7の裏面に近接する冷却体10と、冷却体10と基板7の裏面の間にガスを導入するガス導入手段とを備え、冷却体10は、基板と近接し赤外光を透過する透過体と透過体を介して基板と対向する吸収体から構成される。このような構成によって、基板から放射された輻射光が透過体を透過し、透過体を介して基板と対向する輻射率が大きな吸収体に吸収されるため、冷却体10から基板7への輻射を抑制することが出来る。 (もっと読む)


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