説明

Fターム[4M112DA02]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | エッチング (1,709)

Fターム[4M112DA02]の下位に属するFターム

Fターム[4M112DA02]に分類される特許

41 - 60 / 418


【課題】従来に比べて高精度での製作及び組み立てが不要である加速度センサを提供する。
【解決手段】基板1と、変位可能に基板に支持され可動電極12を有する変位部材3,7と、可動電極との間に静電力を発生させる第1固定電極11とを備えた加速度センサであって、上記第1固定電極は、基板の厚み方向に直交する方向において可動電極に対向して基板に支持され、加速度の作用により可動電極に対向する面積が変化する。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能な加速度センサーを提供する。
【解決手段】基板と、基板上に位置する第1の電極層と、第1の電極層の第1の面と対向して位置する第2の電極層と、第2の電極層を基板に支持する支持部と、を含み、第2の電極層は、上記第1の面に沿った方向に動くことができ、支持部は、第2の電極層が上記第1の面に沿った方向に動くことができるように第2の電極層を基板に支持する。これにより、感度と精度を確保しつつ、基板の面に垂直な方向における加速度センサーの厚みを低減し、加速度センサーを小型化することができる。 (もっと読む)


【課題】 基板に沿った方向に相対的に移動可能な一対の対向電極を有するMEMSデバイスにおいて、他方の対向電極の下端部を削ることなく、一方の対向電極の下端部を短く削ることが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明の製造方法は、半導体ウェハを準備する工程と、半導体ウェハの下側表面から第1導電体層と絶縁体層を貫通して第2導電体層に達する第1溝部を形成する工程と、前記第1溝部に導電体からなる保護部を形成する工程と、半導体ウェハの上側表面にレジストパターンを形成する工程と、反応性イオンエッチング法により第2導電体層に一対の対向電極を形成する工程と、反応性イオンエッチング法を継続して一方の対向電極の下端部を削る工程と、絶縁体層を選択的に除去する工程を備えている。その製造方法では、前記第1溝部は一対の対向電極が対向する方向に関して他方の対向電極の両側面の外側に配置されている。 (もっと読む)


【課題】精度、小寸法、及びコスト効率的な製造を可能とするMEMSセンサ設計を提供する。
【解決手段】一態様では、微小電気機械システム(MEMS)センサは、複数のセグメントを有するジグザグ形のねじりばね(トーションばね)を備え、該ねじりばねは、可動要素すなわちプルーフマスを、その下にある基板の上に懸架している。さらなる一態様では、この複数のセグメントを有するジグザグ形のねじりばねは、熱によって誘起される応力による測定誤差を最小化するべく配向される。係るジグザグ形のねじりばねを有するMEMSセンサは、既存のMEMS製法を用いて製造可能である。 (もっと読む)


【課題】熱により誘起された高ひずみおよび測定精度の低下を生じないMEMSセンサを提供する。
【解決手段】
微小電気機械システム(MEMS)センサ20は、基板26と、基板26の平坦面28に形成されたサスペンションアンカー34、36とを備える。MEMSセンサ20は、基板26上に吊らされる、第1可動素子および第2可動素子をさらに備える。可撓性部材42、44が第1可動素子38をサスペンションアンカー34に相互接続し、可撓性部材46、48が第2可動素子40をサスペンションアンカー36に相互接続する。可動素子38、40は同一の形状を有する。可動素子は矩形または入れ子構成におけるL形状可動素子108、110であってよい。可動素子38、40は、基板26における点位置94の周りに互いに回転対称に配向される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、1つの加速度センサ素子で広範囲の加速度を検出できる加速度センサを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る加速度センサは、第一の梁31で保持され加速度により変位可能な第一の質量体21と、第一の質量体21の変位を電気量に変換可能に配置された固定電極51,52と、第一の質量体21の変位が所定の範囲を超えたときに、第一の質量体21の変位容易度に変化をもたらす変位容易度変化部材22,32,8,9とを、備えている。 (もっと読む)


【課題】SON構造の半導体装置において、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができ、プロセスラインの汚染を防止することができて、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】SON構造9上部のシリコン層32の段差18をアライメントマーク20として用いることによって、アライメントマーク20の形状崩れが防止されて、フォトリソグラフィー工程で高精度の位置合わせができるようになる。また、段差18が小さいためにフォトリソグラフィー工程で凹部へのレジストの残留やプロセス途中で発生するゴミの残留が防止され、プロセスラインの汚染が防止できる。その結果、素子特性の劣化が防止され、信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】上部電極の直下に下部電極を簡単に形成でき、上部電極と下部電極との短絡を防止し、センサの検出精度を向上できるMEMSセンサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】ベース基板7上に駆動用電極22を選択的に形成し、駆動用電極22を被覆するように、SiOからなる電極被覆膜23を形成する。次に、電極被覆膜23上に、犠牲ポリシリコン層52および犠牲酸化膜53を順に形成する。次に、犠牲酸化膜53上に、ポリシリコン層26を形成し、エッチングにより、固定電極27、可動電極28およびコンタクト電極29の形状に成形する。同時に、それらの間にトレンチ56を形成する。次に、トレンチ56の底部をさらに掘り下げて、犠牲酸化膜53から犠牲ポリシリコン層52を露出させる。そして、犠牲ポリシリコン層52を完全に除去することにより、固定電極27の櫛歯部32および可動電極28の櫛歯部39の直下に空洞37を形成する。 (もっと読む)


【課題】オフセットドリフトが少ない圧力センサを提供する。
【解決手段】p型半導体からなり、下面をエッチングされることにより形成された矩形のダイヤフラム31を有する半導体基板3と、n型半導体からなり、半導体基板3の上面の、ダイヤフラム31の4辺のそれぞれの中点近傍に形成された4つの拡散領域10a〜10dと、p型半導体からなり、4つの拡散領域10a〜10dの上部にそれぞれ形成され、半導体基板3の上面にホイートストンブリッジを構成する4つのゲージ抵抗4a〜4dとを備え、4つの拡散領域10a〜10dが、4つの拡散領域10a〜10dと4つのゲージ抵抗4a〜4dとのそれぞれの間の逆バイアス電圧が、互いに等しくなるような電位にそれぞれ接続する。 (もっと読む)


【課題】空洞内に位置する可動部を品質良く作動できる電子装置を提供する。
【解決手段】基板2上の側壁部23及び第1封止層30に覆われた空洞部33内に位置する可動部7bと、空洞部33内に設置され空洞部33内の気体を吸着する第1ゲッター部34及び第2ゲッター部35と、基板2と対向する場所に位置する第1封止層30及び第2封止層32と、を備え、第1封止層30は第1孔30a及び第2孔30bを有し、第2封止層32は第1孔30a及び第2孔30bを封止する。 (もっと読む)


【課題】ヒンジが熱応力の影響を受けないようにし、温度特性の向上を図る。
【解決手段】方形状の縁部24を有する可動部21が、可動部21の内側に位置して可動部21と同一材料で形成されたヒンジ22により支持され、入力加速度に応じて可動部21が変位する加速度センサにおいて、ヒンジ22は縁部24の一辺24aと平行に延伸されて一直線上に位置された一対のヒンジ22よりなり、一対のヒンジ22の各一端は縁部の対向二辺24b,24cにそれぞれ連結され、一対のヒンジ22の各他端はヒンジ22と同一材料で形成された枠部31及び接続部32を介して固定部23に支持される。枠部31は固定部23のまわりに位置し、接続部32によって固定部23と連結され、接続部32はヒンジ22の延伸方向と直交する方向に設けられる。 (もっと読む)


【課題】エアダンピング効果の影響を低減でき、さらに効率よく製造することができるMEMSセンサおよびその製造方法を提供すること。
【解決手段】表面21および裏面22を有し、振動膜7と、当該振動膜7を支持し、当該振動膜7の直下に空間6を区画するフレーム部8と、振動膜7に保持された錘9とを有するSOI基板2において、フレーム部8の底面(底壁)83に、そのフレーム部8の内側面82から外側面81に至る溝10を形成する。 (もっと読む)


【課題】製造コストの増加を抑制しながら、互いに絶縁すべき複数の配線を交差させることができ、しかも物理量検出を良好に維持することができるMEMSセンサを提供する。
【解決手段】表面21に一対のX−検出素子Dが設けられたSOI基板2上の第2層間膜20上に、これらX−検出素子D間を接続する素子間配線43を敷設する。一方、第2層間膜20上において、素子間配線43を横切る方向にX−ブリッジ配線31の主配線36およびZ−検出上部電極配線33の主配線36が敷設されている。これらの主配線36との接触を避けるために、X−検出素子Dの下部電極25と同一層に中継配線45を形成し、この中継配線45を利用して素子間配線43が構成する回路を第2層間膜20内に迂回させる。 (もっと読む)


【課題】半導体加速度センサに製造上の加工バラツキが生じたとしても他軸感度を抑制して加速度の検出精度を向上させる手段を提供する。
【解決手段】外枠部と、外枠部の中心部に配置された重錘部と、外枠部と重錘部とを接続する少なくとも一対の可撓部を有し、一対の可撓部は一の可撓部の外枠部と重錘部との延在方向に他の可撓部が配置される半導体加速度センサであって、Y軸可撓部のY軸上に一直線状に、Y軸可撓部の一方の外枠部側から重錘部側に向かって第1のY軸抵抗素子、第1のZ軸抵抗素子、第2のZ軸抵抗素子、第2のY軸抵抗素子の順にこれらを並べて配置し、Y軸可撓部の他方の重錘部側から外枠部側に向かって第3のY軸抵抗素子、第3のZ軸抵抗素子、第4のZ軸抵抗素子、第4のY軸抵抗素子の順にこれらを並べて配置する。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて出力精度の向上を図ることのできる加速度センサ、及び該加速度センサを備えた加速度センサシステムを提供する。
【解決手段】MEMS技術で形成される静電容量型の加速度センサであって、基板1と、基板に対向して配置された検出フレーム21,22と、基板に対向して配置された慣性質量体5と、検出フレームに対向し基板に配置される検出電極41、42とを備え、さらに、検出電極に隣接して基板上に設けられ検出電極の出力値を補正するための補正電極101,102を備えた。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェハ状態で同心円状に分布する寸法ばらつきが個片化後の半導体装置の性能に与える影響を低減可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ1を回転させながら半導体ウェハ1の主面にレジストを塗布する第1工程と、レジストを露光及び現像して半導体ウェハ1の主面にパターンニングされたレジスト膜を形成する第2工程と、レジスト膜を介して半導体ウェハ1の主面をエッチングする第3工程と、を含む工程により、半導体ウェハ1の主面に力学量を検出する構造体12を含む半導体装置10を複数個形成する半導体装置の製造方法であって、複数の半導体装置10に含まれる各々の構造体12は、平面視において、各々の構造体12の所定の領域B,Cが半導体ウェハ1の中心近傍Oを向くように配置される。 (もっと読む)


【課題】寄生容量や入力容量の影響が低減された高感度なセンサを提供する。
【解決手段】センサは、可動部分を含む第1の電極101と、第1の電極101に対向して配置された第2の電極102とを有し、容量変化により物理量を検知する第1の容量変化検出部100と、反転入力端子121を有する増幅器120と、第1の容量素子20とを備えている。第1の容量変化検出部100と第1の容量素子20とは、増幅器120の反転入力端子121と出力端子123との間で互いに直列に接続されて増幅器120の帰還容量を構成する。 (もっと読む)


【課題】外力の大きさ及び方向、並びに加速度を検出することができ、簡易な構造で、製造を容易にすることのできる力学量センサ及び力学量センサの製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る力学量センサは、基板と、前記基板上に配置された固定部と、前記固定部に一端部が支持されて前記基板から離隔して配置された可動部を含む複数の可動電極と、前記複数の可動電極の他端部にそれぞれ隣接して力学量の検出方向に配置された固定電極と、前記可動電極に電気的に接続された第1端子と、前記固定電極に電気的に接続された第2端子と、を備え、前記複数の可動電極は、それぞれ内部応力を有する薄膜を含み、前記複数の可動電極の前記他端部は、それぞれ対向する前記固定電極と電気的に接触し、前記複数の可動電極の前記他端部は、印加される外力に応じて変位し、前記固定電極と電気的に非接触となることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体装置及びその製造方法に係り、浮動構造体の支持基板への当接を他の当接を生じさせることなく実現させて、浮動構造体と支持基板との電気的接続を確保することにある。
【解決手段】半導体からなる支持基板と、支持基板上に設けられる絶縁層と、絶縁層上に設けられる活性層と、を備える半導体装置において、絶縁層の一部がエッチング除去されることにより活性層の一部に浮動構造体を形成し、その後、導電性部材を少なくとも浮動構造体を含む活性層に押し付けることで、その浮動構造体を支持基板に当接させて、浮動構造体と支持基板とを導通させる。 (もっと読む)


【課題】トランスデューサーの製造コストを低減する。
【解決手段】ナノシートトランスデューサ(1)は、溝(100a)と前記溝によって互いに隔てられた電極支持部(101)と厚さ1μm未満のシート状の可撓電極(104)とが形成されたシリコンからなる基板(100)と、前記電極支持部上に形成された導電膜からなる固定電極(103)と、前記固定電極と前記電極支持部との間に形成された絶縁層(102)と、を備え、前記可撓電極は前記基板の主面に対して垂直である。 (もっと読む)


41 - 60 / 418