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Fターム[5C038FF04]の内容

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Fターム[5C038FF04]に分類される特許

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【課題】
【解決手段】分析用の第2のイオントラップ5の上流に配置された第1のイオントラップ2を含む質量分析計が提供される。第1のイオントラップ2の電荷容量は、第1のイオントラップ2の電荷容量限度まで第1のイオントラップ2内に蓄積されたすべてのイオンが次いで第2のイオントラップ5に移動する場合、第2のイオントラップ5の分析性能が空間電荷作用によって実質的に損なわれないような値に設定される。 (もっと読む)


【課題】 装置のイオン光軸に対するMCPの入射面の精度を確保して質量分解能力を向上させたTOF−MSおよびそれに用いる荷電粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 MCPをIN電極1とOUT電極とで挟み込み、その後にアノード電極、後方カバーを設置した荷電粒子検出装置100は、IN電極1より後方の構成部材がMCP入射面からみてIN電極1より内側に配置されており、後方の構成部材より外側に突出したIN電極1部分に設けられたフランジ部を利用してTOF−MSの筐体壁面330にネジ止め等により固定されていることを特徴とする。 (もっと読む)


電荷監視質量分析のための新規なシステムおよび方法が提供される。当該質量分析計は、約数ダルトンから約1015ダルトン超過までの範囲内の質量を有する、1種以上の検体の質量を測定するために用いることができる。本発明は、迅速な質量分布測定のために用いることができる。例えば、当該システムおよび方法は、癌細胞および通常細胞の質量分布が異なる場合、癌細胞を通常細胞と区別するために用いることができる。例えば、本発明により、質量分析を行うように構成される装置であって、a)検体用の気化器と、b)電荷増強器と、c)少なくとも1つの質量分析器と、d)少なくとも1つの電荷検出器と、を含む装置が提供される。 (もっと読む)


【解決手段】ガス電子増幅イオン検出器を備える質量分析計を開示する。イオン検出器は、3段構造のガス電子増幅段GEM1、GEM2、GEM3を備え、対向電極(12)が第1の電子増幅段GEM1に隣接して配置される。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】開示する質量分析装置において、イオン信号は、第一及び第二の信号に分割される。第一及び第二の信号は、異なる利得により増幅され、デジタル化される。両デジタル化信号について、到達時間/強度ペアを計算し、結果的に生じた時間/強度ペアを結合して高ダイナミックレンジスペクトルを形成する。スペクトルは、その後、他の対応するスペクトルと結合して加算スペクトルを形成する。 (もっと読む)


【課題】質量分析計
【解決手段】イオン検出器からの信号出力がアナログ−デジタル変換器を使用してデジタル化される質量分析計が開示される。飛行時間データがまだ取得されている間に、デジタル化信号からバックグラウンド・レベルすなわちベースライン・レベルが動的に減じられる。電子雑音を低減させるために、閾値もまた、デジタル化信号に動的に適用される。 (もっと読む)


【課題】従来のTOF/TOF装置および方法の利点を生かし、欠点を克服した、新しいTOF/TOF装置および方法を提供する。
【解決手段】らせん軌道型飛行時間型質量分析装置は、らせん軌道の周回ごとに飛行方向およびその垂直な面に対する空間的な収束を満たすと共に、プリカーサイオンを選択するイオンゲートは、前記らせん軌道型飛行時間型質量分析装置のらせん軌道内に置かれ、イオンゲートの後段に扇形電場が配置されている。 (もっと読む)


ビーム内の荷電粒子が複数回の方向変更を行う質量分析計および質量分析方法。検出配列は、荷電粒子ビームの第1部分を検出して、前記荷電粒子ビームの検出された第1部分の強度に基づいた第1出力を提供する。前記検出配列は、前記質量分析計を通り、前記荷電粒子ビームの前記第1部分よりも長い経路長を伝搬した荷電粒子ビームの第2部分を検出して、前記荷電粒子ビームの検出された第2部分に基づいた第2出力を提供する。制御装置は、前記検出配列の第1出力に基づいて、前記荷電粒子ビームおよび前記検出配列の少なくともいずれかのパラメータを調整することで、前記検出配列の第2出力を調整する。
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線形イオントラップを動作させるための方法及び装置を提供する。従来の3分割した線形イオントラップと比較して、機能においてさらなる汎用性が見込まれる線形イオントラップの構成を提供する。線形イオントラップは複数のセグメントを備え、動作中、これらのセグメントが、最初のイオン集団を少なくとも空間的に第1及び第2のイオン集団に分割する。個々のセグメントは効果的に独立しており、第1のイオン集団に相当するイオンを第2のイオン集団に相当するイオンとは無関係に操作することができ、これらのイオンは、同じ条件下のイオン源により発生したものである。その後、イオンをイオントラップから放出することができる。 (もっと読む)


【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】パルス発生器1から試料3に印加されるパルス電圧やレーザー7から照射されるパルスレーザー光7aなどにより、試料3の表面の原子又は原子団をイオン化させると、発生したイオン8は、試料3と引出電極5の間に直流高圧電源2により発生された電界により加速されて飛行する。同時にイオン化された複数のイオンのうち一部は、位置感知型イオン検出器11に導入されて位置及び質量が分析される。他のイオンのうち一部は、リフレクトロン型質量分析器13に導入されて、位置感知型イオン検出器11よりも高い分解能で質量が分析される。リフレクトロン型質量分析器13による分析結果は、解析部21に通知され、位置感知型イオン検出器11により検出されたイオンの同定のために参照される。 (もっと読む)


【課題】イオン検出システムにおいて、中性子ノイズを抑制することである。
【解決手段】イオン検出システムは、イオンビーム長手方向軸線3.2に沿ってイオンビームを生成する質量分析器3.6を含む。場生成装置3.3は、前記イオンビーム長手方向軸線3.2から離れるようにイオンビーム内のイオンの方向を変更する場を生成する。変換ダイノードは、変換ダイノード表面3.7上にイオン衝突領域3.4を含む。変換ダイノードの軸3.5は、イオン衝突領域3.4を通り、前記変換ダイノード表面3.7と垂直な軸であるが、イオンビーム長手方向軸線3.2と交差しないように前記イオンビーム長手方向軸線3.2からオフセットされる。電子倍増管3.8は、前記変換ダイノード表面3.7に対するイオンの衝突によって生成される二次荷電粒子を前記変換ダイノードから受け取る。 (もっと読む)


【課題】リアルタイムのイオン分析が可能であって高効率かつ安価なイオン分析装置を提供する。
【解決手段】イオン分析装置1は、イオン発生源9から発生したイオンの比電荷および運動エネルギを分析するトムソンパラボラ型のものであって、真空容器10の内部に配置されており、コリメータ11、電磁場発生部12、金属箔13a,13b、プラスチックシンチレータ14、光フィルタ15、光検出部16、分析部17、制御部18および表示部19を備える。プラスチックシンチレータ14は、電磁場発生部12により形成された電磁場により偏向され金属箔13a,13bを通過して到達したイオンを主面に入射して、そのイオン入射位置から光を発生する。 (もっと読む)


【課題】生体分子の断片粒子は、ペプチド、たんぱく質等の質量だけでなく、アミノ酸配列決定といった構造解析に有効である。しかし、前駆イオン、断片イオンの全てが飛行時間の違いでピーク分離されるため、ピークの同定が困難な場合が多い。また、断片化した粒子の中でイオンしか分析できない。
【解決手段】本願発明においては、検出器が飛行時間と、粒子の運動エネルギーの両方を測定する。飛行時間で前駆イオンを分離し、断片粒子は運動エネルギーで分離する。 (もっと読む)


開示された装置は、一対のグリッド無しイオンミラー(12)、ドリフト空間(13)、直交イオン加速器(14)、オプションの偏向器(15)、イオン検出器(16)、一組の周期的レンズ(17)、及びエッジ偏向器(18)を備えた多重反射型飛行時間質量分析計(MR‐TOF MS)(11)を有する。MR‐TOF MSにおける長い飛行によって決定される低い繰り返し速度でのイオン注入のデューティーサイクルを改善するために、多様な対策がとることができる。入射イオンビームと加速器をMR‐TOF内のイオン経路に対して実質的に直交する方向に向けることができ、イオンビームの初期速度は、加速器を傾けビームを同じ角度だけ旋回させることで補償される。任意の多重反射、又はマルチターン質量分析計のデューティーサイクルを更に改善するために、イオンガイドを用いて軸方向イオン速度を変調することによってビームを時間圧縮することができる。加速器内におけるイオンの滞留時間は、ビームを静電トラップ内に閉じ込めることによって改善できる。加速器内における滞留時間を長くした装置は、感度と分解能の両方を改善できる。 (もっと読む)


【課題】 異なる電圧印加状態においても荷電粒子の飛行軌跡を所望の状態に維持できるよう電界パターンを調整した荷電粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 MCP群2をIN電極1とOUT電極3とで挟み込み、OUT電極3に対向してアノード基板40を配置し、アノード端子41からコンデンサ62を介して出力信号部であるBNC端子6に接続されている。ここで、IN電極1とアノード基板40を後方から覆う後方カバー5との間に配置される各構成部材は、径方向においてIN電極1の側壁から外側へと突出しないように配置されている。 (もっと読む)


イオンをイオン源(22)から検出器(34)へ導くための流路(16)を形成し、且つ、流路(16)におけるイオン(36)の質量対帯電比を分離するための電場を作る少なくとも2つの電極(12、14)と、電場に対向する流体方向(28)とを含む直交流型イオン移動度分析器(CIMA)(12)。
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【課題】試料に応じて適した検出器を切り換えて使用できるようにする。
【解決手段】イオン検出器は、イオンを受け取る入口開口部と、ファラデーカップと、電子増倍器と、入口開口部を通して受け取ったイオンを方向づけるよう配置されたイオンビームコントローラとを備える。コントローラは、受け取ったイオンがファラデーカップによって検出されるようにコントローラが作動する第1の構成と、受け取ったイオンが電子増倍器によって検出されるようにコントローラが作動する第2の構成との間で切り替え可能である。 (もっと読む)


複数の電極を有する少なくとも1つのイオンチャネルの形状のイオンフィルタを有するイオン移動度分光計について記載される。導電層に印加される時間変化する電位により、充填剤はイオン種を選択的に入れることができる。電位は、駆動電界成分および横電界成分を有し、好ましい実施形態において、電極のそれぞれは、駆動電界および横電界の両方の成分を生成するのに関与する。デバイスは、ドリフトガスフローがなくても用いることができる。分光計の種々の用途であるようなマイクロスケール分光計を製作するための微細加工技術について記載される。 (もっと読む)


【課題】 本発明の課題は、荷電粒子測定の位置有感飛行時間測定における検出効率を飛躍的に向上させる装置を提供することにある。
【解決手段】 本発明による装置は、静電場を用いて荷電粒子を外部ダイノードに衝突させ、生成した2次電子を不均一磁場で制御してMCPと位置有感型検出器により検出することにより、歪の少ないズーム画像を得ることをおよび、2次電子に変換して検出するために、MCPの感度を向上させることを特徴とする。 (もっと読む)


質量分析計の焦点面検出器アセンブリは、この質量分析計の焦点面を横切るイオンを検出するような形態の検出器、およびこの焦点面に平行な平面に、この質量分析計の磁石を出るイオンが、上記イオン検出器と接触する前に上記メッシュを通過するように位置決めされるように横たわる電気伝導性メッシュを含む。このメッシュは、回路接地に対して低電圧電位で維持され、これは、マイクロチャネルプレート電子増倍管のようなその他のデバイスからの高電圧電荷から上記磁石を通過するイオンを遮蔽する。このメッシュは、上記磁石に直接取り付けられ得るか、またはいくらか離れた距離に位置決めされる。上記検出器のアレイは、ファラデーカップ検出器アレイ、ストリップ電荷検出器アレイ、またはCCD検出器アレイを含む、任意の適切なデバイスを含み得る。
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