【課題】イオン捕捉用の高周波電場をイオントラップ内に形成するためにリング電極に矩形波電圧を印加するデジタルイオントラップを用いた質量分析装置において、ＭＳⁿ分析の際に生成される低質量のプロダクトイオンを的確に捕捉し検出可能とする。
【解決手段】ＭＳⁿ分析において、低質量のプロダクトイオンが生成される開裂操作（Ｓ１６）の前にリング電極に印加されるイオン捕捉用の矩形波電圧の振幅を下げる（Ｓ１０）。矩形波電圧の振幅を下げることにより安定捕捉条件を満たす最小質量が下がり、低質量のプロダクトイオンも捕捉可能となる。一方、イオントラップに捕捉されるイオンのm/zが比較的高い状態のとき（Ｓ１〜Ｓ７）には、矩形波電圧の振幅は大きいので擬電位ポテンシャルは深く、高い効率でイオンを捕捉することが可能である。 （もっと読む）

【課題】四重極質量分析装置におけるスペクトル信号補正方法に関し、スキャンサイクル中に適宜ノイズを測定し、データ処理に反映させることを目的としている。
【解決手段】分子、原子等の粒子をイオン化し、イオン化した粒子を４重極マスフィルタを通したものを検出器で検出し、検出した信号をコンピュータで演算処理し、ＭＳスペクトルを得るようにした四重極質量分析装置において、ＭＳスペクトル採取におけるサイクル中に、ノイズを検出する工程を設け、ＭＳスペクトル採取におけるイオン検出信号と、前記検出されたノイズとを比較してスペクトル補正を行なうように構成する。 （もっと読む）

【課題】質量分析による分子の検出方法の提供。
【解決手段】本発明は、サンプル中の少なくとも１種の標的分子を質量分析によって検出するための方法であって、
ａ）上記サンプルの上記分子をイオン化する工程と、
ｂ）以下の工程（ｉ）及び（ｉｉ）：
（ｉ）上記工程で得られたイオンを少なくとも１種、上記標的分子に基づいて質量分析計において選択する工程、及び、
（ｉｉ）こうして選択されたイオンを断片化セルにおいて断片化する工程
をｎ回（ｎは０、１、２、３又は４）行う工程と、
ｃ）ｎが０の場合には工程ａ）で、又は、ｎが０でない場合には工程ｂ）で得られた少なくとも２種類の異なるイオンであって、上記標的分子に特有の質量電荷比ｍ／ｚを有する少なくとも２種類のイオンを質量分析計において捕捉する工程と、
ｄ）こうして捕捉された特有のイオンを上記質量分析計から放出する工程と、
ｅ）こうして放出された特有のイオンを検出器で検出する工程と
を含む方法に関する。本発明の方法は、上記特有のイオンが、工程ｄ）において同時に放出され、工程ｅ）において同時に検出されることを特徴とする。 （もっと読む）

複数の標的イオン特性および電荷減少量が受信される。複数の標的イオン特性のそれぞれの特性に対応する試料のイオン化分子の一部が、第１の位置から第２の位置に伝送され、複数の選択されたイオン化分子を産生する。試薬イオンが、選択されたイオン化分子の荷電状態を減少させるために、第２の位置に伝送される。選択されたイオン化分子の荷電状態減少は、荷電状態減少量で停止され、第２の位置に複数のパーキングした標的イオンを産生する。標的イオン特性は、移動度または質量電荷比を含むことができる。検体定量情報は、複数の標準物質について標的イオンパーキングを行い、キャリブレーション関数を生み出し、試料について標的イオンパーキングを行い、試料中の検体の濃度を決定するためにキャリブレーション関数を用いることにより得ることができる。
（もっと読む）

【課題】実用的なプロテオーム解析用質量分析装置を提供する。
【解決手段】直交加速型イオントラップ結合飛行時間型質量分析計において、イオントラップから射出されたイオンの速度分布を縮小する手段を設けることにより、一度に分析できる質量対電荷比範囲を拡大する。
【効果】プロテオーム解析におけるタンパク同定の効率が向上される。 （もっと読む）

イオンの移動度に基づいて大気圧で作動する前置フィルターと、イオン流をイオン検出器の中へと配向させるイオン集束アセンブリ、例えば、質量分析計（ＭＳ）とを備える、イオンを分析するための方法および装置。移動度に基づくフィルターは、円筒状電場非対称波形イオン移動度分析計（ＦＡＩＭＳ）、平面または吸引示差移動度分析計（ＤＭＳ）、またはイオン移動度分析計（ＩＭＳ）であり得る。イオン集束アセンブリは、イオンが通って流れる開口部を有する２つのグリッドと、２つのＤＣ電源と、グリッド間に電場を生成するための時変電源とを備える。
（もっと読む）

【課題】正イオンと負イオンの両方を高いイオン利用効率で測定する。
【解決手段】イオン源と、イオンガイドと、イオントラップとを有する質量分析装置において、イオントラップから質量選択的にイオンを排出している間に、イオンガイド部に、イオントラップにトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入する。 （もっと読む）

【課題】従来のイオントラップでは、十分な擬電位ポテンシャルを確保しつつＣＩＤに十分な運動エネルギーをプリカーサイオンに与えるような駆動条件を設定した場合、低m/zのプロダクトイオンが安定捕捉領域を外れて観測できなくなる。
【解決手段】プリカーサイオンの選別を行う際には、リング電極３１に高周波高電圧を印加し、エンドキャップ電極３２、３３に共鳴励振用の交流電圧を印加する。それに引き続くＣＩＤ時には、リング電極３１ではなくエンドキャップ電極３２、３２に高周波高電圧を印加することで、プリカーサイオンと開裂により生成されたプロダクトイオンとを捕捉する。その際には、イオン選別時の高周波高電圧よりも周波数を高くするとともに振幅も大きくし、ｑ値を小さくする一方、擬電位ポテンシャルを大きくする。これにより、低m/zのプロダクトイオンが良好に捕捉され、そうしたイオンも観測できるようになる。 （もっと読む）

高いサンプル利用度で質量スペクトルを測定する方法は、第１の所定の範囲の質量電荷比を持つ質量スペクトルから第１の群の前駆イオンを質量フィルタするステップを含む。第１の群の前駆イオン中の少なくとも１種類の前駆イオンが、次に選択的にフラグメント化される。第１の群の前駆イオン中のフラグメント化された前駆イオンの第１のフラグメント質量スペクトルが測定され、一方では第１の所定の範囲内の質量電荷比の他の前駆イオンが保持される。第２の所定の範囲の質量電荷比を持つ第２の群の前駆イオンが質量スペクトルから質量フィルタされる。第２の群の前駆イオン中で、少なくとも１種類の前駆イオンが選択的にフラグメント化される。第２の群の前駆イオン中でフラグメント化された前駆イオンの第２のフラグメント質量スペクトルが次に測定される。
（もっと読む）

タンデム質量分析計において、複数の前駆体イオンを処理する方法は、イオン源によって、複数の前駆体イオンを発生させるステップを含む。複数の前駆体イオンのうちの少なくとも一部は、イオントラップ内に捕捉される。少なくとも２つの着目前駆体イオンが、濾波雑音場によって、複数の前駆体イオンから隔離される。着目前駆体イオンは、衝突セルに向かって連続的に放出される。連続的に放出された着目前駆体イオンは、衝突セル内で分裂される。次いで、分裂されたイオンの質量対電荷比スペクトルが、質量分析計によって決定される。
（もっと読む）

【課題】所定質量範囲に亘る質量走査を繰り返すスキャン測定において、１回の走査の終了電圧から次の走査の開始電圧に電圧を戻す際にアンダーシュートなどが発生して電圧値が不安定になるため、適宜の待ち時間が必要である。この待ち時間をできるだけ短縮することにより、質量走査の繰り返し周期を短くして時間分解能を向上させる。
【解決手段】繰り返し質量走査における待ち時間は、従来、分析条件に依らず一定とされていた。これに対し、本発明に係る四重極型質量分析装置では、指定された質量範囲により走査終了質量と走査開始質量との質量差ΔＭを計算し、この質量差に応じて異なるセトリングタイムを設定する。質量差ΔＭが小さく電圧安定化時間が短くて済む場合には、相対的に小さなセトリングタイムが設定される。これにより、質量走査の繰り返し周期が短くなり、時間分解能が向上する。 （もっと読む）

【課題】イオンのエネルギーが高い状態でＥＣＤやＥＴＤを行うことができ、イオンの解離効率を向上させた質量分析装置を提供する。
【解決手段】高周波電圧が印加される多重極ロッド電極及び前記多重極ロッド電極の軸方向に電場を形成する電場形成手段を備えるイオントラップと、前記イオントラップを構成する電極に電圧を印加する電源と、イオンの電荷を変化させる粒子を発生させる粒子源と、前記電源が前記軸方向にイオンが振動するように前記電場形成手段に電圧を印加した状態で、前記粒子を前記イオントラップに導入させる制御部と、を有する質量分析装置。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】開示される質量分析計は、イオントラップ（１４）と、フラグメンテーション装置（１５）と、を備える。イオントラップ（１４）内でイオンがフラグメント化されて、第１世代フラグメントイオンが形成される。イオントラップ（１４）は、比較的高質量のカットオフを有する。第１世代フラグメントイオンを、比較的低い低質量カットオフを有するフラグメンテーション装置（１５）に送る。第１世代フラグメントイオンは、フラグメンテーション装置（１５）内でフラグメント化され、必要に応じてイオン蓄積領域（１８）内に貯蔵された後に、質量分析を行なうために質量分析器（１６）に送られる。 （もっと読む）

【課題】ＳＩＭ測定において四重極質量フィルタへの印加電圧をステップ状に変化させる際に必要なセトリング時間をできるだけ短くするとともに、質量を切り替える際の過渡状態のときに不所望のイオンが検出器に多量に入射することを防止する。
【解決手段】四重極電極へ印加される直流電圧Ｕが高周波電圧の振幅Ｖよりも遅い応答である場合、ＳＩＭ測定対象の複数の質量が指定されると、制御部は１０はそれら質量を高い順に並び替え、最適セトリング時間算出部１０１は各質量毎に質量差と変化後の質量とからセトリング時間を決める。これにより、質量差が小さくなってセトリング時間を相対的に小さくすることができる。また、質量をステップ状に切り替える際にマチウ方程式による安定領域図上でＵ／Ｖが安定領域の外側を通るため、不所望のイオンが四重極質量フィルタを通過しにくくなり検出器のダメージを軽減できる。 （もっと読む）

【課題】 分子をイオン化し及び／又は開裂するためのエネルギー可変型光イオン化装置（１２）を使用する質量分析計を提供する。
【解決手段】 本装置は、特定の分子結合だけを断ち切ることによって分子を制御された態様で開裂しあるいは過度な断片化を伴うことなく分子をイオン化するようにイオン化光子エネルギーを調整可能にする波長の範囲からイオン化光子波長を選択できるようにする。波長の選択は、プラズマチャンバからのイオン化光子（３８）の窓なし放射と組み合わせられるプラズマ形成ガス（３４）の選択によって可能となる。選択されたイオン化光子波長を特徴とする質量分析方法も開示される。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】開示されるイオン移動度分光計において、イオンをイオン移動度分光計（５）に通して、時間的に分離させる。比較的高いイオン移動度を有するイオンが、非破壊式イオンゲート（６）を透過する一方、比較的低いイオン移動度を有するイオンは、イオンを前方に透過させないようにイオンゲート（６）が切り替えられると、イオン移動度分光計（５）内に捕捉される。イオンゲート（６）を透過したイオンは、下流側イオントラップ（７）に捕捉される。捕捉されたイオンは、上流側に戻され、上流側第２イオントラップ（４）に捕捉される。 （もっと読む）

【課題】
検出可能なフラグメントイオンのピークの数を増やした、電子捕獲解離を用いる質量分析装置を提供する。
【解決手段】
本発明の質量分析装置は、試料からイオンの生成を行うイオン源２と、イオンの蓄積および選択を行うイオントラップ部３と、イオンを電子捕獲解離するイオン解離部４と、イオンの質量分析を行う飛行時間質量分析部７と、を備えた質量分析装置であって、質量分析を行ったイオンの価数に応じて電子捕獲解離の反応時間が可変である。 （もっと読む）

【課題】３連四重極型質量分析装置において、第１段四重極又は第３段四重極の一方又は両方でスキャンが実行される際の時間分解能を向上させる。
【解決手段】測定モードやスキャン条件を含む分析条件が設定されると、データ生成部４０は各部に印加する電圧値を１組とした１スキャン分の制御データテーブルを作成し、内部ＲＡＭ４１に格納する。このテーブルはＤＭＡ転送によりＦＰＧＡ２３のテーブル保持部５１に格納される。一方、m/z差算出４３がスキャン開始m/zと終了m/zとの差DZを算出し、予め作成されたテーブル４４を参照してスキャン間時間決定部４５がスキャン間時間Tmを決める。m/z差DZが小さいほど電源の電圧安定化時間が短いため時間Tmも短い。タイミング制御部５３は１回のスキャン終了時点から時間Tmだけ待ち、次のスキャンを実行するようにデータ読み出し部５２を制御する。これにより、m/z差に応じて単位時間当たりのスキャン回数が変化する。 （もっと読む）

ａ）第１の時間において、第１のイオントラップ内にイオンを蓄積するステップと、ｂ）第２の時間において、第１の複数のイオンを第１のイオントラップから第２のイオントラップ内へと通過させるステップであって、第１の複数のイオンは、第１の質量範囲内の質量を有する、ステップと、ｃ）第２の時間において、第２の複数のイオンを第１のイオントラップ内に留保するステップであって、第２の複数のイオンは、第１の質量範囲と異なる第２の質量範囲内の質量を有する、ステップと、ｄ）第３の時間において、第１の複数のイオンを第２のイオントラップから通過させるステップと、ｅ）第３の時間において、第２の複数のイオンを第１のイオントラップから第２のイオントラップ内へと通過させるステップとを伴う、タンデムイオントラップを操作するための方法が提供される。
（もっと読む）

【課題】目的のイオンが十分な確保でき、ＭＳ／ＭＳ測定が最適化されたイオントラップ質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料をイオン化するイオン源部と、イオン源にて生成されたイオンを、三次元四重極電界を形成することで所定の質量電荷比に従いイオンを閉じ込め、不要なイオンを排出し、目的のイオンのみを四重極電界内に閉じ込め、衝突誘起解離を行い、フラグメントイオンを生成し、そのイオンを質量分離し、検出器に輸送するイオントラップ部とイオンの量を電流値に変換する検出部とで構成される質量分析装置において、イオン捕捉操作における捕捉イオン量かつ目的イオン量をＭＳ／ＭＳ測定を行うために最適化し、イオン選択操作および衝突誘起解離操作を行い、ＭＳ／ＭＳスペクトルを得る。 （もっと読む）