第１の端部と、第２の端部と、複数のロッドと、中心縦軸とを有する、細長いロッドセットを有する質量分析計と、それを操作する方法について記載される。実施形態は、ａ）ロッドセット内へとイオンを入射することと、ｂ）複数のロッド間にＲＦ場を生成し、ロッドセット内にイオンを半径方向に閉じ込めることであって、ＲＦ場は、ロッドセットの長さの少なくとも一部に沿って変動し、各イオンに対して、イオンに作用する対応する第１の軸方向力を提供して、第１の軸方向にイオンを押出すことと、ｃ）各イオンに対して、対応する第２の軸方向力を提供し、第１の軸方向と反対の第２の軸方向にイオンを押出すこととを伴う。第１の対応する軸方向力は、イオンが中心縦軸から閾値半径方向距離未満にある場合、対応する第２の軸方向力未満であって、イオンが閾値半径方向距離を上回って中心縦軸から半径方向に変位される場合、対応する第２の軸方向力を超える。
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前駆体イオン種をそれらのフラグメントから同定する方法が、複数の前駆体イオン種およびそれらのフラグメントの質量スペクトルを高質量精度で得るステップを含む。次いで、複数の前駆体イオン種のフラグメント化から得られたフラグメント質量スペクトルが走査され、合算した質量が前駆体イオン種の１つの質量と合致するフラグメントの対を同定する。フラグメントイオンの対が前駆体イオンに合致された後、複合のフラグメントイオンスペクトルがいくつかの部分に分解され、フラグメントの対ごとに１つの部分である。分析は、さらなる対が同定されなくなるまで続く。次いで、複合のフラグメントスペクトルの分解された区域を一体に継ぎ合わせることによって、各前駆体試料イオンごとに単純化されたフラグメントイオンスペクトルが再構成される。得られた再構成されて単純化されたフラグメントスペクトルが、サーチエンジンに送られ、サーチエンジンは、各合成フラグメントイオンスペクトルごとに有力候補のスコアソートリストを返す。
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【課題】微量試料の質量分析を行う場合の分析感度を向上させる。
【解決手段】イオントラップ１８に導入するイオンを一時的に集積するためのイオンガイド１４を四重極ロッド型とし、このイオンガイド１４にそのイオン飽和量よりも少ない量のイオンを導入して、出口側端部に集積する。四重極ロッド型は八重極ロッド型と比較してイオン蓄積性は劣るもののイオン収束性が良好であり、少量のイオンをイオン光軸Ｃ近傍に閉じ込めて保持することができる。それによって、出口側ゲート電極１６が開放したときに、イオンは電場補正用電極１７及び入口側エンドキャップ電極１８２の２つの開口を経てイオントラップ１８内に効率良く導入され、高感度の分析が可能となる。また、イオンガイド１４に導入するイオン量は少量でよいので、試料の消費量は少なくて済む。 （もっと読む）

【課題】検出したいフラグメントイオンのイオンピークがスキャンの範囲外にならないように、スキャンする質量対価数比の範囲を狭くできる質量分析装置を提供する。
【解決手段】質量対価数比をスキャンしながら試料をイオン化したイオン種を分離する分離部１４と、質量対価数比毎にイオン種の検出強度を検出する検出部１５とを有し、検出強度に基づいてマススペクトルのピークの出現する質量対価数比を抽出する質量分析装置１において、ピークの出現する質量対価数比に基づいて、ターゲットイオンの質量数の自然数分の１を測定上限値として設定する設定部４と、イオン種からターゲットイオンを選んで解離しフラグメントイオンを生成する解離部１３とを有し、分離部１４は測定上限値を上限とする範囲内で質量対価数比をスキャンしながらフラグメントイオンを分離し、検出部１５は質量対価数比毎にフラグメントイオンの検出強度を検出する。 （もっと読む）

イオンフラグメンテーションのための衝突セルを使用するタンデム質量分析計において、システム構成要素の放電上限に到達することなく、またはそれを超えることなく、衝突誘起解離（ＣＩＤ）のために必要とされる衝突エネルギーの上限が拡大され得る。本教示は、イオンの電位エネルギーをＣＩＤフラグメンテーションのために十分な所定のレベルまで引き上げる一方、無放電条件を満たす方法について説明する。また、本教示は、生成イオンが質量分析のための十分なエネルギーを有するように、ＣＩＤフラグメンテーション後、フラグメントイオンの電位エネルギーを引き上げる方法について説明する。
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イオントラップにおいてイオンをフラグメント化する方法は、ａ）親イオンを選択することと、ｂ）保持時間間隔の間、イオントラップ内に親イオンを保持することと、ｃ）保持時間間隔内の励起時間間隔中に、ＲＦトラップ電圧をイオントラップに提供することと、ｄ）励起時間間隔中に、共鳴励起電圧をイオントラップに提供することと、ｅ）保持時間間隔のうちの少なくとも一部分の間、イオントラップ内に中性ガスを供給することによって、イオントラップ内の動作圧力の少なくとも約１０％の非定常状態圧力増加を提供することと、ｆ）保持時間間隔内で、かつ励起時間間隔の後、共鳴励起電圧を終了し、イオントラップに印加するＲＦトラップ電圧を変更して、イオントラップ内に親イオンのフラグメントを保持するように励起レベル未満の保持レベルまでマシュー安定性パラメータｑを低下させることとを伴う。
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【課題】
タンデム質量分析計にてＭＳの３乗を行う場合、装置構成の大型化やコストが増大するという課題がある。同様に、複数回のＭＳ／ＭＳ分析においてはいっそう困難である。
【解決手段】
衝突室内に調和ポテンシャルを形成する電極を配置し、１回目の衝突誘起解離で生成したフラグメントイオンを捕捉する。捕捉したイオンの中から、次なる目的イオンを軸方向共鳴励起によりイオンを選択的に出射する。励起したイオンは軸方向に励起し、調和ポテンシャルを超えることで、後段に備える電位差により２回目の衝突誘起解離が行われる。さらに、イオンを調和ポテンシャル内部に戻す操作を加えることで、複数回のＭＳ／ＭＳ分析を実施可能にする。 （もっと読む）

新規な構成要素は、質量分析システムにおいて準安定性エンティティのボンバードにより生成された二次イオンによって生じるバックグラウンドノイズを低減する。出口電極および偏向板の層状構造は、局所の低いエネルギー井戸に二次イオンを閉じ込め、二次イオンが検出器に入るのを阻止する。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】イオントラップ（１）からイオン移動度分光計（２）中へのイオンの移送を最適化してイオンのフラグメンテーションを防ぐために、イオン移動度分光計（２）の上流に構成されたイオントラップ（１）の出口領域とイオン移動度分光計（２）の入口領域との間の電位差を時間と共に時間的に変化させるイオン移動度分光計（２）が開示される。 （もっと読む）

複合混合物の化学成分の組成を決定するためのシステム、方法、及びコンピュータ読み取り可能な媒体が開示される。一の態様によれば、複合混合物の化学成分の組成の決定方法は、分離技術及び質量分析装置を用い、サンプルの分離及び質量分析データを生成し、ここで分離データはピーク情報を含み、かつ質量分析データは１次及び２次質量分析データを含む。生成された分離及び質量分析データを含む解析結果は収集及び格納される。解析結果を化学物質の特性を示す情報のライブラリと比較することにより、サンプルの化学成分が決定され、比較は分離及び質量分析データに基づいている。情報のライブラリは分離技術及び質量分析装置によって生成されるデータを含み、さらに同定され又は同定されていない化学物質の分離及び質量分析データを含む。サンプルの化学成分の表示は、人間がアクセス可能な形で利用できるようになされる。
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【課題】
【解決手段】リニアイオントラップ（６、７、８）は、中央四重極ロッドセット（６）およびポストフィルター四重極ロッドセット（８）を備える。中央四重極ロッドセット（６）およびポストフィルター四重極ロッドセット（８）の軸方向に隣接するロッド電極間の位相差を１８０度に保つことにより、中央四重極ロッドセット（６）とポストフィルター四重極ロッドセット（８）との間に軸方向の疑似ポテンシャル障壁が形成される。補助ＡＣ電圧を中央四重極（６）のロッドに印加して、イオントラップから放出されることが望ましいイオンを径方向に励起させる。この結果、イオントラップ（６、７、８）から、非断熱状態で、軸方向にイオンが放出される。 （もっと読む）

イオントラップの過剰充填により引き起こされる電荷空間効果に効果的に対処するためのイオントラップ装置および方法であって、質量分析計の線形イオントラップにおいて有用である装置および方法。一実施形態では、まず、ＬＩＴを充填すると、ＬＩＴ内に小トラップ電位が産生され、次いで、過剰イオンは、ＬＩＴを退出することが可能になり、次いで、質量スペクトルの収集のためのＬＩＴからのイオンのさらなる操作および／または走査の前に、通常のトラップ条件を再確立する。
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試料中の化合物を分析するためのシステムおよび方法。一実施形態において、本技術は、試料からイオンを放射すること；放射されたイオンを指定イオンについて選択すること；指定イオンをフラグメント化すること；複数の指定イオン・フラグメントについて走査すること；それぞれの指定イオン・フラグメントに対して、指定フラグメント・クロマトグラフィー・トレースを測定すること；複数の指定フラグメント・クロマトグラフィー・トレースの非線形結合に相当する、結合されたクロマトグラフィー・トレースを生成することを含む、試料を分析する方法に関する。
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イオントラップイオン集団から、目的のイオンの値と近似するｍ／ｚ値を有するイオンを除去するための方法、イオン検出の改良分解能を提供する質量分析法、およびそのための命令によってプログラムされたプログラム可能装置を含む、低圧と低振幅の組み合わせを採用するイオントラップからのイオンの改良分離のための方法。本発明の方法では、目的のイオンの断片化に先立って、目的のイオンのｍ／ｚ値の約２質量／電荷（ｍ／ｚ）単位以内のイオンが、トラップ内で断片化され、それらの断片を捕捉されたイオン集団から効果的に除去可能である。
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質量分光分析システムにおいて用いるための試薬イオンおよび生成イオンを発生するシステムおよび方法について記載する。また、極微小濃度の揮発性有機化合物を検出するための本システムおよび方法の応用についても記載する。マイクロ波または高周波ＲＦエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 （もっと読む）

【課題】 物質の構造に関する情報の取得効率を向上し、測定及び物質同定の時間を短縮し、同定精度を向上することのできる安価な質量分析システムを提供する。
【解決手段】 タンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、試料を所望の極性でイオン化し、イオンを解離して得られたフラグメントイオンを第一、あるいは、第二の質量分析部で測定し、その結果に基づき、第二の質量分析装置の極性を決定し、質量分析測定することを特徴とする質量分析システム、及び、質量分析方法を開示する。 （もっと読む）

【課題】ＳＩＭ／スキャン同時測定時に、ＳＩＭ測定の時間間隔を短くしてクロマトグラムのピークの測定周期を短くしながら、スキャン測定の走査速度は或る程度遅くして高感度、高質量分解能での定性分析を行えるようにする。
【解決手段】特定質量Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３のＳＩＭ測定を行う合間に、所望の質量範囲Ｍｓ〜Ｍｅを複数に区分した細分化質量範囲のスキャン測定を順番に行う。そしてデータ処理の際には、上記質量範囲Ｍｓ〜Ｍｅをカバーする複数の細分化質量範囲に対するマススペクトルデータが揃ったならば、細分化質量範囲の質量の境界でデータを繋ぎ合わせることで質量範囲Ｍｓ〜Ｍｅに亘るマススペクトルを作成する。これにより、ＳＩＭ測定の結果は周期Ｔsim毎に得ることができ、スキャン測定の結果（マススペクトル）は周期Ｔscan毎に得ることができる。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】開示される質量分析計は、分析用の高性能イオントラップ（３）の上流側に配置される貯蔵用の第１のイオントラップ（２）を備える。一実施形態において、第１のイオントラップ（２）と第２のイオントラップ（３）の両方から同時にイオンのスキャンを実行する。任意の瞬間において第２のイオントラップ（３）内部に存在する電荷量を限定・制限することによって、第２のイオントラップ（３）が空間電荷密度の飽和の影響を受けることがなくなり、第２のイオントラップ（３）の性能劣化を防ぐことができる。 （もっと読む）

イオントラップを有するイオントラップ分光計システムを動作させる方法が提供される。本方法は、ａ）第１の検体を含むイオン群を提供することと、ｂ）第１の検体以外のイオンを除去することによって、フィルタリングされた第１の検体を提供することと、ｃ）フィルタリングされた第１の検体をイオントラップ内に格納することと、ｄ）第１の較正用イオン集合をイオントラップ内に格納することであって、第１の較正用イオン集合は、既知の電荷質量比を有する少なくとも１つの較正用イオンを有することと、ｅ）フィルタリングされた第１の検体および第１のイオン集合をイオントラップから透過させることと、ｆ）第１の検体質量信号ピークを発生させ、各較正用イオンを検出し、関連する較正用質量信号ピークを発生させることと、ｇ）既知の電荷質量比と、較正用質量信号ピークとを比較することによって、第１の質量信号を較正することと、を含む。
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本出願人の教示は、高周波（ＲＦ）および交流（ＡＣ）電流の両方のロッドまたは他の電極への同時印加を通して、正および負の電荷の両方のイオンを同時に収容するための多極ロッドセットまたは他の多電極デバイスを組み込む、質量分析計および他のデバイスの操作の際に有用な方法、システム、および装置を提供する。一実施形態において、多極電極セットは、複数の電極対、すなわち２Ｎ個の電極（Ｎは、１より大きい整数）を備える。そのような実施形態では、ＲＦ電圧は、第１の位相で１つおきのロッドに、反対の位相で残りのロッドに印加され得る。
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