本発明は、試料の衝突エネルギーを調節する質量分析計に関する。質量スペクトル解析の間にイオンの断片化を制御するためのシステム、方法、またはコンピュータ使用可能な媒体が開示される。質量分析計内において開始衝突エネルギーが提供され、試料から生成された複数の前駆体イオンの少なくとも一つを断片化させて、複数の娘断片イオンを生産する。質量分析計内の、断片化していない前駆体イオンに関連するイオン電流および娘イオン断片に関連するイオン電流が測定される。そして、娘イオン断片の電流に対する、断片化していない前駆体イオンに関連するイオン電流の比率が測定される。質量分析計内で提供される衝突エネルギーが調節されて、比率が所定の範囲の値へと動かされる。
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【課題】衝突誘起解離操作において、多くの構造情報を提供すること。
【解決手段】イオントラップの衝突誘起解離操作を、ｑｚ値０.３ 位の中領域のフラグメントイオンを捕捉する操作とｑｚ値０.５〜０.８程度の高質量対電荷比のフラグメントイオンを捕捉するのに適した操作と、ＭＳ／ＭＳスペクトルの下限値の設定により低質量対電荷比のフラグメントイオンを捕捉するのに適した操作の、主高周波電圧の異なる複数回の操作を行い、得られたスペクトルの各々について、質量対電荷比に対し強度を積算する。
【効果】イオントラップにおいて、主高周波電圧の異なる複数回の操作を行うため、フラグメントイオンの質量対電荷比に応じた最適な井戸型ポテンシャルが形成されることにより、イオンが効率よくイオントラップ内に捕捉されるため、広い範囲のＭＳ／ＭＳスペクトルが取得でき、多くの構造情報を得ることができる。 （もっと読む）

質量分析計システムは、導入端と、放出端と、複数のロッドと、中心長手軸とを有する１組の細長いロッドを有する。質量分析計システムは、以下のステップを実施するように動作可能である。ａ）第１の複数のイオン群をロッドセットの導入端に導入し、ｂ）複数のロッドの間に領域を生成して、ロッドセット内に第１の複数のイオン群を閉じ込め、ｃ）第１の複数のイオン群内の第１のイオン群のための第１の質量／電荷範囲を選択し、ｄ）第１の放射状励起場を提供して、第１の質量／電荷範囲内の第１のイオン群を中心長手軸から放射状に変位させ、同時に、第１の質量／電荷範囲から離れた第２の質量／電荷範囲内にある、第１のイオン群よりも中心長手軸に近い第２のイオン群を保持し、ｅ）軸方向加速場を提供することによって、第１のイオン群に作用する第１の軸方向の力を提供する。第１の軸方向の力は、ステップｄ）では提供されない。
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イオントラップと下流の質量分析計とを有する質量分析計システムが提供される。複数のイオン群がイオントラップに提供され、第一の質量対電荷比が選択される。該下流の質量分析計は、（ｉ）該第一の質量対電荷比とは異なる第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、（ｉｉ）該第一の質量対電荷比とは異なる該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの１つを除去するように設定される。第一の質量対電荷比の第一のイオン群は、第一のイオントラップから下流の質量分析計まで排出される。
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同一イオン試料の第１の質量スペクトルおよび第２の質量スペクトルは、分析されて、反応対を決定し得る。これらの反応対は、第１の質量スペクトルに対して第２の質量スペクトルをニュートラルディファレンスだけシフトして、シフトされた質量スペクトルを提供することにより、選択されたニュートラルディファレンスに基づいて決定される。次に、シフトされた質量スペクトルをイオン試料の第１の質量スペクトルと比較し、ニュートラルディファレンスに基づいて反応対を決定する。
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【課題】不所望のイオンから所望のイオンを分離するようにさらに調整され、かつ従来印加されていた分離波形信号と同じくらいの電力を必要としないイオン分離波形信号を供給する方法および装置を提供する。
【解決手段】イオン・トラッピング・ボリューム内において所望のイオンが、イオン・トラッピング・ボリューム内に保持されるべき所望のイオンと、イオン・トラッピング・ボリュームから放出されるべき不所望のイオンと、を含むイオン・トラッピング・ボリューム内の複数のイオンに、イオン分離信号を印加することにより、所望のイオンが分離される。イオン分離信号は、周波数範囲にわたる複数の信号成分を含んでいる。複数の信号成分は、所望のイオンの永年周波数に近接する周波数を有する第１の成分と、第１の成分の周波数に隣接する周波数を有する隣接成分と、を含んでいる。第１の成分は、隣接成分の振幅よりも大きい振幅を有している。 （もっと読む）

【課題】非常に多くの成分や化学ノイズを含むサンプルを分析する場合、検出成分全てのタンデム質量分析スペクトルを効率よく得ることは困難である。
【解決手段】分析対象とするイオンの質量情報（質量ｍ、電荷数ｚ）、LC保持時間、及び、タンデム質量分析スペクトル情報（解離イオンのm/zや強度など）を登録する内部データベースを有する質量分析システムを用いる。質量分析スペクトルが取得した後に、内部データベースを検索し、タンデム質量分析における前駆イオン候補数等に応じて、前駆イオン群を幾つかのグループに分類し、グループ毎に纏めてタンデム質量分析を実施する分析シーケンスを実時間で決定し、質量を分析する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は質量分析方法及び装置に関し、別の高速粒子源にて高速粒子を作り出してイオンに衝突させ、また、衝突エネルギーを可変にすることで、１つの装置で多くの構造情報を得ることができる質量分析方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 イオンを発生するイオン源１と、該イオン源１からのイオンを入力するイオントラップ型質量分析計１０と、該イオントラップ型質量分析計１０内部のイオンに高速粒子を衝突させる高速粒子源７と、前記イオントラップ型質量分析計１０から排出されるプロダクトイオンを検出する検出器８とから構成される。 （もっと読む）

本発明は一般に多重反射静電システムに関し、より詳しくは、オービトラップ静電イオントラップにおける、またこれに関する改良に関する。単一の電極を模倣した動作が可能な電極アレイを有する静電イオン捕捉装置を操作する方法が提案され、この方法は、３つまたはそれ以上の電圧であって複数の電極の各電極に印加された場合に、単一の電極に電圧を印加することによって発生する電場に近似した静電捕捉電場を発生させる３つまたはそれ以上の電圧を決定するステップと、決定された３つまたはそれ以上の異なる電圧を各電極に印加するステップとを含む。さらなる改良点は、１つまたは複数の収集された質量スペクトルの強度の異なるピークから複数の特徴を測定して特質を導き出し、測定された特質を使って複数の電極に印加されるべき電圧を改善することにある。
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【課題】イオンの高感度分析および高いイオン選択性能が可能な質量分析装置を実現する。
【解決手段】質量分析装置は、イオンを生成するイオン生成部１と、イオンを蓄積、単離、解離、排出するイオントラップ部１２と、排出イオンを検出する検出部３３と、イオントラップ部の動作を制御する制御部３４を有し、直前の質量分析で取得した結果から各工程もしくは各工程直前での総イオン蓄積量を計算し、各工程の中の少なくとも１つの工程で、総イオン蓄積量に依存してイオントラップ部に印加する電圧条件を補正する。 （もっと読む）

イオンをイオントラップ内に導入する方法及びイオン蓄積装置について記述している。導入手段を使用し、イオントラップに対する導入開口部を通じて第１イオンをイオントラップ内に導入する。導入手段の動作条件を調節し、第１イオンとは異なる極性の第２イオンを同一の導入開口部を通じてイオントラップ内に導入している。
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試料内の要素の質量スペクトルを得る方法を開示する。質量電荷比Ｍ１／Ｚ１、Ｍ２／Ｚ２、．．．Ｍｎ／Ｚｎを有する試料前駆イオンが生成され、解離場所（１９２）において断片化され、質量電荷比ｍ１／ｚ１、ｍ２／ｚ２、．．．ｍｎ／ｚｎのフラグメントイオンを生成する。フラグメントイオンは、静電型又は「オービトラップ」型のイオントラップ（１３０）内へ誘導され、前駆イオンのＭ／Ｚ比に従った群としてトラップに入る。各群の質量電荷比は、トラップ内における、イオンの軸方向の運動によって決定される。トラップ内の電場は変形させられる。すると、異なる前駆イオンから生じた、等しいｍ／ｚ比を有するイオンが分離される。これは、電場の変形によって、軸方向の運動がｍ／ｚのみではなく、他の要素にも依存するようになるからである。
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【課題】本発明は、高速に電荷分離およびイオンモビリティー分離が可能であり、高いDuty Cycleの測定を行うことが可能なリニアトラップに関する。
【解決手段】イオン源と、イオン源によりイオン化されたイオンをトラップするイオントラップと、イオントラップを構成する電極の電圧を制御するイオントラップ制御手段と、イオントラップから排出されたイオンを検出する検出器とを有する質量分析装置であって、イオントラップ制御手段は、電荷分離に用いる電圧の周波数と、第１の電荷を有する第１のイオンをイオントラップ外部へ排出し、第１の電荷より電荷数の少ない第２の電荷数を有する第２のイオン群をイオントラップ内部へ保持する電圧のゲイン値とについて質量電荷比毎のテーブルを有し、設定された質量電荷比に基づいて電圧を制御する。
【効果】従来技術に比べ、感度が大幅に向上する。 （もっと読む）

【課題】
トラップＴＯＦ／ＭＳでＭＳⁿ 分析を行う際、トラップ部に許容量以上のイオンが導入されるとトラップ内でスペースチャージを引き起こし、マス軸がずれてしまい、正確な
ＭＳⁿ 分析が行えなくなるという問題があった。
【解決手段】
本測定開始前に簡易測定を行い、トラップ内に導入されるイオン（信号）量を測定し、その量によりトラップ部にイオン導入をする際に印加する補助交流電場の印加電圧および印加範囲を設定することにより上記課題を解決する。
【効果】
装置内にトラップ部とＴＯＦの２つの質量分析計を具備するハイブリット型のトラップＴＯＦ／ＭＳにおいて、ＭＳⁿ 分析時の感度向上が実現する。 （もっと読む）

本発明は、イオンを捕捉する方法およびイオントラップアセンブリに関する。本発明は特に、質量分析計内でイオンの質量分析を行なう前に、イオントラップ内で気体を利用するイオンの捕捉に用途がある。本発明は、各ボリュームがターゲットイオントラップを含んでいて、一つのボリュームから次のボリュームへイオンが移動できるように構成された一連のボリュームからなるイオントラップアセンブリのターゲットイオントラップ内でイオンを捕捉する方法を提供し、これによりイオンが捕捉されることなく繰り返しボリュームを通過して、ターゲットイオントラップに流入および流出することが可能である。電位を用いて、イオントラップアセンブリの各々の端部からイオンを反射することができる。オプションとして、電位井戸および／または気体利用冷却を用いて、ターゲットイオントラップ内でイオンを安定させることができる。
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本発明は、未反応イオンと反応生成物イオンの両方から質量スペクトルを収集する、反応セルを含む質量分析計に関する。より詳細には（但し、他を除くものではない）、本発明は、前駆物質およびフラグメントイオンから質量スペクトルを収集するタンデム型質量分析法に使用できることが分かった。本発明は、イオンを、質量分析器へ送る前に、フラグメント化またはその他の処理のための反応セルへ送る配置を提示する。あるいは、イオンは、迂回経路に沿って質量分析器へ直接進むことができる。 （もっと読む）

【課題】 ％オーダーで混合された混合ガスの各ガス成分の濃度を四重極質量分析計を用いてリアルタイムかつ連続的に測定が可能な混合ガスの分析方法及び装置を提供する。
【解決手段】 混合ガス中に含まれる最も濃度の高い成分を希釈ガスとして使用し、該希釈ガスによって希釈した混合ガスを四重極質量分析計に導入し、前記最も濃度の高い成分を除く成分を分析対象として各成分の濃度を測定する。四重極質量分析計は、希釈ガスをベースガスとし、分析対象となる各成分の合計量をベースガス中の濃度が１０％以下とした校正ガスを使用して校正する。 （もっと読む）

第１の四重極ロッドセット質量フィルタ（７）、衝突セル（８）、イオン移動度分光計またはセパレータ、イオン移動度分光計またはセパレータの下流に配置されたイオンガイドまたは衝突セル（１３）、第２の四重極ロッドセット質量フィルタ（１６）、およびイオン検出器（１５）を含む質量分析計が開示される。 （もっと読む）

衝突またはフラグメンテーションセル（５）の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ（３）を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル（５）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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質量分析計のイオントラップ（１０４）は、ＲＦトラップ電圧をイオントラップ（１０４）の複数の電極（１０２、１０６、１１０）の少なくとも１つに印加して、イオントラップ（１０４）内のイオンの少なくとも一部をトラップするためのＲＦトラップ電圧源（１１２）と、共鳴励起電圧パルスを電極（１０２、１０６、１１０）に印加して、選択されたイオンの組の少なくとも一部を衝突させ、イオンフラグメントに破壊されるようにするための共鳴励起電圧源（１１４）と、共鳴励起電圧パルスの終了に続く所定の遅延期間の後で、ＲＦトラップ電圧を第２の振幅に減少させて、後の分析のために、低質量イオンフラグメントをイオントラップ（１０４）内に保持するようにＲＦトラップ電圧源（１１２）を制御するためのコンピュータ（１１６）とを含む。
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