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Fターム[5F004AA04]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 目的 (7,312) | 選択性の向上 (1,192) | エッチングマスクの改良 (327)

Fターム[5F004AA04]に分類される特許

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【課題】エッチングレートを高くしつつ、均一な角度の側壁面を有するトレンチを形成できるトレンチ形成工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】アスペクト比が所定値となるまでは保護膜形成工程と保護膜剥離工程およびエッチング工程の3工程によってトレンチ12の底部を掘り進め、アスペクト比が所定値以上となると保護膜形成工程とエッチング工程の2工程によってトレンチ12の底部を掘り進める。これにより、アスペクト比が所定値以上となったときに、ダメージ層14の厚みに応じてトレンチ12のうちエッチング工程によってエッチングされる幅が狭くなるようにでき、半導体基板10のうちダメージ層14とダメージ層14ではない部分の境界の角度がほぼ所望の角度となるようにできる。また、高アスペクト比の領域では2工程によってトレンチ12の底部を掘り進められるため、エッチングレートも増大する。 (もっと読む)


【課題】レジスト膜をマスクとした反射防止膜のエッチング工程の前に、良好にレジスト膜を改質する。
【解決手段】プラズマ処理方法は、被エッチング層上に反射防止膜であるSi−ARC15が形成され、反射防止膜上にパターン化されたArFレジスト膜16が形成された積層膜に対して、エッチングガスから生成されたプラズマにより前記レジスト膜をマスクとして前記反射防止膜をエッチングするエッチング工程と、前記エッチング工程の前に実行され、プラズマ処理装置内にCFガスとCOSガスとArガスとを含む改質用ガスを導入し、該改質用ガスから生成されたプラズマによりArFレジスト膜16を改質する改質工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】圧電体薄膜を短時間で微細加工することができるとともに、選択的に加工を停止させることができる圧電体薄膜ウェハの製造方法、圧電体薄膜素子、及び圧電体薄膜デバイスを提供する。
【解決手段】基板2上に圧電体薄膜4を備えた圧電体薄膜ウェハ1は、Arを含むガスを用いてイオンエッチングを行う第1の加工工程と、反応性ガスとArとを混合した混合エッチングガスを用いて反応性イオンエッチングを行う第2の加工工程とにより製造される。圧電体薄膜4だけを短時間でエッチングすることが可能である。 (もっと読む)


【課題】複数の段差を備えた微細な3次元構造パターンの製造に好適なパターン製造方法を提供すること。
【解決手段】ハードマスク層12の1段目の段差部15’’のパターン位置から所望の距離をずらした位置のレジスト膜13を露光させレジストパターン14’を形成し、レジストパターン14’をマスクとしてハードマスク層12をエッチングすることで、所望の位置に3次元構造の2段目の段差部19を形成出来る。また、ハードマスク層12は基板11に対してエッチング選択比が高い材料であるため、形成する3次元構造パターンに対応する2段目の段差部19の段差は、所望する3次元構造パターンよりも、深さを小さく出来る。また、ハードマスク層12に2段目の段差部19を形成するにあたり、ハードマスク層12を基板11の表面を覆うように残存させることにより、複数段のパターン形成において、基板11の帯電(チャージアップ)を抑制出来る。 (もっと読む)


【課題】レイヤ中にフィーチャを形成する方法を提供する。
【解決手段】レイヤ上にフォトレジストレイヤが形成される。フォトレジストレイヤがパターン付けされることによって、フォトレジスト側壁を持つフォトレジストフィーチャが形成され、フォトレジストフィーチャは第1微小寸法を有する。フォトレジストフィーチャの側壁上にコンフォーマルレイヤが堆積されることによって、フォトレジストフィーチャの前記微小寸法が低減される。レイヤ内でフィーチャがエッチングされ、レイヤフィーチャは、第1微小寸法より小さい第2微小寸法を有する。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる幅のパターンを同一層で形成するにあたり、パターン間の間隔の均一度を改善することができる半導体素子のパターン形成方法を提供する。
【解決手段】セル領域及びセレクトトランジスタ領域を含む下部膜上に補助膜を形成する段階と、前記セレクトトランジスタ領域の前記補助膜上部に第1保護膜を形成する段階と、前記セレクトトランジスタ領域の前記第1保護膜上部には、前記第1保護膜の幅より狭い第1フォトレジストパターンが、前記セル領域の前記補助膜上部には前記第1フォトレジストパターンの幅より狭い第2フォトレジストパターンが形成され、前記第1及び第2フォトレジストパターン間の間隔を前記第2フォトレジストパターン間の間隔と同一に形成する段階と、を含む。 (もっと読む)


【目的】マスクの厚さを所定の値にし、後退量とエッチング量の比を所定の値にしてトレンチの開口部の端部を丸めることで、ゲート酸化膜形成温度を950℃未満の低い処理温度にした場合でもゲート酸化膜の良好な耐圧特性と長期信頼性が得られる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】マスクであるシリコン酸化膜2の端部10をトレンチ8の開口部9の端部Aから後退させる量Xと、等方性ドライエッチングによるエッチング量Yとの比(X/Y)を2以上5以下に設定することで、Qbdの値を高くすることができて、良好なトレンチ8の開口部9の端部Aと段差12の端部Bの形状を丸めることができる。その結果、その後形成するゲート酸化膜14の熱処理温度を、950℃未満、あるいは、900℃以下で行った場合でも、ゲート酸化14の良好な耐圧特性と長期信頼性を得ることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】生産性が高く、回折格子の形状のばらつきを抑制することが可能な半導体光デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体光デバイスの製造方法は、回折格子層7、絶縁層9及びシリコン非含有樹脂層11を形成する工程と、シリコン非含有樹脂層11をパターニングする工程と、シリコン含有樹脂層13を形成する工程と、シリコン含有樹脂層13をエッチングする工程と、シリコン含有樹脂層13等の温度をSiFの凝固点以下の温度に保ちながら、CFガス及びOガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によってシリコン非含有樹脂層11をエッチングする工程と、シリコン非含有樹脂層11をマスクとして絶縁層9をエッチングする工程と、絶縁層9をマスクとして回折格子層7をエッチングして回折格子層7に回折格子7gを形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】マスク選択比を大きくでき、異方性に優れ、深くエッチングすることのできるエッチング方法及び装置を提供する。
【解決手段】エッチング装置は、真空チャンバ1内に設けた基板電極6に対向して電位的に浮遊状態に維持された浮遊電極を設け、この浮遊電極の基板電極に対向した側に、エッチング保護膜を形成する材料13を設け、浮遊電極に高周波電力を間欠的に印加させる制御手段14を設けて構成される。エッチング方法は、基板電極に対向して設けた浮遊電極の基板電極に対向した側に設けた、エッチング保護膜を形成する材料をターゲット材として用い、主ガスとして希ガスのみを用い、浮遊電極に高周波電力を印加して基板上にスパッタ膜を形成し、その後、浮遊電極への高周波電力の印加を止め、真空チャンバにエッチングガスを導入して基板をエッチングし、基板上におけるスパッタ膜の形成とエッチングとを予定のシーケンスで繰り返すように構成される。 (もっと読む)


【課題】反りのある基板に容易に凹凸構造を形成可能な治具を提供する。
【解決手段】被加工物70の上面に被覆された液状樹脂76に凹凸構造64を形成するための治具62であって、中央に形成された円形凹部と、該円形凹部を囲繞する環状凸部58と、該円形凹部の背面上に形成された凹凸構造64とを具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】容易に製造することができ、かつ信頼性の高い薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極、ゲート絶縁膜および活性層し、活性層上に第1の保護層となるGa酸化物膜を形成する。Ga酸化物膜上に第2の保護層となる感光性有機系絶縁膜を形成し、感光性有機系絶縁膜においてチャネル領域に整合する部分をパターン部とし、それ以外の部分を非パターン部とする。この非パターン部を除去し、この非パターン部の除去とともにパターン部をマスクとして非パターン部下のGa酸化物膜を除去して、第1の保護層および第2の保護層を形成しチャネル保護膜を得る。チャネル保護膜を覆うようにソース電極およびドレイン電極となる膜を形成し、この膜上にレジストパターンを形成し、チャネル保護膜をエッチングストッパとして膜をエッチングし、ソース電極およびドレイン電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】SWPの手法により微細なマスクパターンを形成するときに、酸化シリコン膜を成膜する際、及びエッチバック処理する際に、レジスト膜よりなる芯材が変形することを防止できるマスクパターンの形成方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】レジスト膜よりなる第1のライン部をマスクとして反射防止膜をエッチングすることによって、第2のライン部を含むパターンを形成する第1のパターン形成工程S13と、レジスト膜に電子を照射する照射工程S14と、酸化シリコン膜を成膜する酸化シリコン膜成膜工程S15と、第2のライン部の側壁部として残存するように、酸化シリコン膜をエッチバック処理するエッチバック処理工程S16と、第2のライン部をアッシング処理することによって、酸化シリコン膜よりなり、側壁部として残存する第3のライン部を含むマスクパターンを形成する第2のパターン形成工程S18とを有する。 (もっと読む)


【課題】側壁転写技術により倒れにくいマスクパターンを形成するNANDフラッシュメモリ等の製造方法を提供する。
【解決手段】非晶質シリコン膜21上に第1膜のシリコン酸化膜22を形成し(a)、所定のラインアンドスペースのパターンに加工して中間パターン23を形成する(b)。中間パターン23は、パターン部23aを有するとともに、パターン部23aの間に残存部23bを残してた状態で形成される。中間パターン23をスリミング処理し、非晶質シリコン膜21上に芯材パターン24を形成する(c)。残存部23bは除去される。芯材パターン24上に第2膜のシリコン窒化膜を形成し、エッチバック処理で側壁パターンを形成し、芯材パターン24を除去してマスクパターンを得る。マスクパターンは、段差のない非晶質シリコン膜21上に形成されるので応力差に起因した倒れの発生を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】セルアレイ内部とセルアレイの端部とでパターンを均一に形成できる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、第1の領域と第2の領域とが画定された基板上にエッチング対象層を形成するステップと、該エッチング対象層上に第1の開口を有する第1の感光膜パターンを形成するステップと、該第1の感光膜パターンの表面に遮光膜を形成するステップと、該遮光膜が形成された第1の感光膜パターン上に、前記第1の領域と第2の領域とを同時に露光して複数の第2の開口を有する第2の感光膜パターンを形成するステップと、前記第1の感光膜パターンと第2の感光膜パターンとをエッチングバリアとして、前記エッチング対象層をエッチングして複数のパターンを形成するステップとを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】スループットを短縮し、所望の回路パターンを形成することが可能な半導体回路パターンの形成方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に被エッチング膜を形成し、この被エッチング膜上に現像液溶解性膜を形成する。次に、現像液溶解性膜上にフォトレジスト膜を形成し、フォトマスクを介してフォトレジスト膜を露光する。さらに、現像液を用いてフォトレジスト膜を現像する。この工程では、フォトレジストパターンの下側の現像液溶解性膜を、アンダーカット状の残存部分を残すように溶解させる。次に、フォトレジスト膜を覆うように耐エッチング膜を形成したのち、フォトレジスト膜を除去することにより、被エッチング膜上に、フォトレジスト膜の開口部に対応する耐エッチング膜のパターンを形成するリフトオフ工程を行う。その後、現像液溶解性膜と耐エッチング膜とをマスクとして、被エッチング膜をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】ナノおよびマイクロマシン(N/MEMS)デバイスに単結晶ダイヤモンドを利用することは困難であり、報告例がなかった。それは、犠牲層である酸化物上に単結晶ダイヤモンドを成長させることが困難なためである。従来技術では、犠牲層酸化物上に多結晶或いはナノダイヤモンドを作製することによって、カンチレバー等を作製しているが、機械性能、振動特性、安定性及び再現性は不十分であった。
【解決手段】本発明は、ダイヤモンド基板101内の高濃度イオン注入領域がグラファイトに改質されることを利用し、改質されたグラファイト層104を犠牲層として電気化学エッチング除去し、その上に遺されたダイヤモンド層を可動構造体とする。作製されたカンチレバー106は高い周波数の共鳴振動を示した。単結晶ダイヤモンドを使用することによって、N/MEMSデバイスの機械性能、安定性および電気特性を改良することができる。 (もっと読む)


【課題】製造コストの増加および歩留まりを低下させることなく、配線抵抗を下げることのできる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板100上の絶縁膜104上にマスク材料膜106を形成した後、第1のトレンチ形成用開口と第2のトレンチ形成用開口とを有するマスクパターン109をマスク材料膜106に形成する工程と、マスク材料膜106上に、第1のトレンチ形成用開口を露出する第3のトレンチ形成用開口112を有し、且つ、第2のトレンチ形成用開口部を覆うレジストパターン113を形成する工程と、レジストパターン113及びマスクパターン109を用いて、絶縁膜104内に第1のトレンチ115を形成する工程と、レジストパターン113を除去した後、マスクパターン109を用いて、絶縁膜104内に第2のトレンチを形成する工程とを備えている。 (もっと読む)


【課題】コストの上昇を招くことなく、より安定した状態でInPの層がドライエッチング法によりエッチングできるようにする。
【解決手段】塩素ガスを用いたドライエッチング法によりマスクパターン106をマスクとして基板101を選択的にエッチングすることで、基板101にビアホール(開口パターン)107を形成する。例えば、温度条件を200℃程度とし、塩素ガスを用いた反応性イオンエッチング法によりエッチングすればよい。 (もっと読む)


【課題】半導体素子の微細パターン形成方法を提供する。
【解決手段】半導体素子の微細パターン形成方法はパターン対象層上に多数の第1感光膜パターンを形成しS100、パターン対象層および多数の第1感光膜パターン上に境界膜を形成しS110、境界膜上に平坦化膜を形成しS120、平坦化膜上に多数の第2感光膜パターンを形成しS130、多数の第2感光膜パターンを利用して多数の平坦化膜パターンを形成しS140、多数の平坦化膜パターンおよび多数の第1感光膜パターンを利用して多数のパターン対象層パターンを形成するS150ことを含む。 (もっと読む)


【課題】フッ素プラズマにてドライエッチングを行う場合でも耐プラズマ性が高く、エッチング後も残存してパターニング不良が発生する恐れがないレジスト用ペーストを提供する。
【解決手段】スクリーン印刷によってパターニング塗布されたペースト102をレジストとする。該ペーストは、耐フッ素プラズマ性を有する粒子からなる充填剤を樹脂に対して添加することを特徴とし、前記充填剤は、耐フッ素プラズマ性を有する酸化イットリウム(Y)およびイットリウム・アルミニウム・ガーネット(YAG)のいずれか1種または両者の混合物である。 (もっと読む)


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