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Fターム[5F004DA17]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 処理に用いるガス (14,486) | NF3 (544)

Fターム[5F004DA17]に分類される特許

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【課題】NHガスの利用効率を高めることのできる酸化膜エッチング装置、及び酸化膜エッチング方法を提供する。
【解決手段】シリコン酸化膜をプロセスチャンバ11でエッチングする酸化膜エッチング装置10であって、プロセスチャンバ11の前段でガスを励起する放電管12と、この放電管12にアンモニアガスを供給するマスフローコントローラ16aと、放電管12の後段にアンモニアガスを供給するマスフローコントローラ16cと、放電管12の後段に三フッ化窒素ガスを供給するマスフローコントローラ16dとを備える。 (もっと読む)


【課題】磁気抵抗効果素子のスピン注入磁化反転特性の劣化が抑制され、製造歩留まりが高い不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、複数のメモリセルを有する不揮発性記憶装置の製造方法であって、前記メモリセルのそれぞれは、第1電極を含む下地層と、前記下地層の上に設けられた磁気抵抗効果素子と、前記磁気抵抗効果素子の上に設けられた第2電極と、を有する。前記磁気抵抗効果素子は、記憶層である第1磁性層と、前記第1磁性層の上に設けられたトンネルバリア層と、前記トンネルバリア層の上に設けられ、参照層である第2磁性層と、を含む。前記第2磁性層の表面の一部もしくは前記第1磁性層の表面の一部にイオン化されたガスクラスタを照射して、前記第2磁性層の一部および前記第1磁性層の一部をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】光散乱封じ込め効果を有効に発揮すると共に、後工程で所定の薄膜を形成するような場合でも、カバレッジよく成膜できるようにしたテクスチャー構造を持つシリコン基板を効率よく製造できる低コストのドライエッチング方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板Wを配置した減圧下の成膜室12内に、フッ素含有ガスとハロゲン含有ガスと酸素ガスとを含む第1のエッチングガスを導入し、放電用電力を投入してシリコン基板表面をエッチングする第1工程と、第1工程でエッチング済みのシリコン基板を配置した減圧下の成膜室内に、フッ素含有ガスとハロゲン含有ガスとのいずれか一方を主成分とし、これに酸素ガスを添加した第2エッチングガスを導入し、放電用電力を投入してシリコン基板表面を更にエッチングする第2工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD装置に損傷を与えることなく効率よくクリーニングする。
【解決手段】真空容器内で対向して設置された電極対の間に高周波電力を印加することで発生させたプラズマ放電によって基板上に薄膜を成膜するプラズマCVD装置において、前記真空容器内に堆積した堆積物を除去するプラズマCVD装置のクリーニング方法であって、クリーニングガス流量Qを所定値Qnへ増加させ、高周波電力Pを所定値Pnへ増加させ、キャリアガス流量Rを所定値Rnへ減少させ、その際に、Q,R,Pの内一つが変化するとき他の二つを一定にしておく期間を含んでプラズマ放電を行う放電工程と、Q、R、Pがそれぞれ所定値Qn,Rn,Pnの状態でクリーニングを行うクリーニング工程とを含むプラズマCVD装置のクリーニング方法。 (もっと読む)


【課題】 シリコン基板を貫通するビアホールの形成時におけるノッチの発生を抑制することができ、製造歩留まり及び信頼性の向上をはかる。
【解決手段】 シリコン基板貫通電極を有する半導体装置の製造方法であって、表面側に機能素子と配線層15が形成され、且つ配線層15の下層にエッチング停止層12を有するシリコン基板10の表面側に支持基板30を取着した後、基板10の裏面側を研削して厚みを減少させる。次いで、基板10の裏面側に、ビアホール用開口及び該開口よりも小径のダミーホール用開口を有するマスクを形成した後、基板10の裏面側からエッチングすることにより、配線層15の一部に達するビアホール42を形成すると共に、基板10の途中までダミーホール43を形成する。次いで、ビアホール42の側面に絶縁膜44を形成した後、ビアホール42内に配線材料を形成する。 (もっと読む)


【課題】チャネル形成領域が形成される半導体層のチャネル形成領域と逆側近傍の加工方法を工夫した半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】少なくとも結晶性半導体膜上に非晶質半導体膜が設けられた積層半導体膜の一部に対して、少なくとも第1のエッチングと第2のエッチングを行い、第1のエッチングは非晶質半導体膜の一部を残存させつつ行い、第2のエッチングは非晶質半導体膜上の被覆膜を除去させた後に、非晶質半導体膜に対するエッチングレートが高く、且つ結晶性半導体膜に対するエッチングレートが低い条件により行い、積層半導体膜に設けられた結晶性半導体膜の一部を露出させる。 (もっと読む)


【課題】エッチング処理後の放置時間の長短に係わらず、効率的に堆積物を除去することができ、かつ、パターン中の構造物の二酸化シリコンに対するダメージを抑制することのできる堆積物の除去方法を提供する。
【解決手段】基板上にエッチングによって形成されたパターンの表面に堆積した堆積物を除去する堆積物除去方法であって、前記基板を加熱しながら酸素プラズマに晒す酸素プラズマ処理工程と、前記酸素プラズマ処理工程の後、前記基板を、処理チャンバー内でフッ化水素ガスとアルコールガスの混合ガスの雰囲気に晒し、かつ、前記アルコールガスの分圧を第1の分圧とする第1の期間と、処理チャンバー内を排気し前記アルコールガスの分圧を第1の分圧より低い第2の分圧とする第2の期間とを、複数サイクル繰り返すサイクル処理工程と、を具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】シリコン球状体の上の半球部分のみならず下の半球部分にもテクスチャー形状を形成できるシリコン球状体用の加工電極装置及び加工方法を提供する。
【解決手段】電極2上に載置して真空雰囲気内でテクスチャーを加工される加工電極装置は、シリコン球状体14の表面に対して、磁力線が少なくとも45°の角度になるように構成した磁石組み込み電極を有する。加工方法は、前記処理基板に、シリコン球状体の表面に対して、磁力線が少なくとも45°になるように構成した磁石12を組み込み、反応性イオンエッチング法により、エッチングガスとしてμテクスチャーを形成する際に反応に寄与するフッ素系ガスと、マスク材をより効率的に形成しテクスチャー形成を促す塩素系ガスと、シリコン球状体の表面を酸化させまたマスク材のポリマーの大きさを制御する酸素ガスとを含むガスを使用して、シリコン球状体の表面に微細なμテクスチャーを加工する。 (もっと読む)


【課題】窒化アルミニウム被覆膜が基材表面に強固に密着してなる耐熱・耐腐食性部材を提供すること。
【解決手段】窒化アルミニウムを主成分とした被覆膜によって、基材の少なくとも一部が覆われた部材。前記被覆膜が、その最表面に0.5原子%以上40原子%以下のフッ素を含有する窒化アルミニウム膜であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】精密なテクスチャを有するテクスチャ形成面を有するシリコン基板を提供することを目的とする。
【解決手段】テクスチャ形成面を有するシリコン基板において、前記テクスチャ形成面には、複数の第一の凹凸と、前記第一の凹凸のそれぞれに形成された複数の第二の凹凸とが形成されており、前記第一の凹凸の頂点同士の間隔は3〜20μmであるシリコン基板を提供する。このようなシリコン基板は、好ましくは、前記シリコン基板の表面に複数の第一の凹凸を形成し;前記複数の第一の凹凸を形成されたシリコン基板の表面にエッチングガスを吹き付けて、前記第一の凹凸のそれぞれに、複数の第二の凹凸を形成して製造される。ここで、前記エッチングガスには、ClF,XeF,BrF,BrFおよびNFからなる群から選ばれる一以上のガスが含まれる。 (もっと読む)


【課題】シリコン等をエッチングするための反応ガスの利用効率を高め、エッチングレートを高くする。
【解決手段】被処理物9を搬入側排気チャンバー20、処理チャンバー10、搬出側排気チャンバー30の順に搬送する。処理チャンバー10内に反応ガスを導入する。排気手段5によって、排気チャンバー20,30の内圧が外部の圧力及び処理チャンバー10の内圧より低圧になるよう、排気チャンバー20,30内のガスを吸引して排気する。好ましくは、連通口13,14におけるガス流の流速を0.3m/sec〜0.7m/secとする。 (もっと読む)


【課題】 最大ガス流量に関する自由度に富み、電極カバー部材の薄型化も可能であり、かつ、ガス導入時の処理室内におけるガス挙動の経時的な変化も発生し難いガス吐出機能付電極を提供すること。
【解決手段】 複数のガス穴54を有するベース材52と、ベース材52の複数のガス穴54のそれぞれに対して1対1で対応するガス穴53を複数有し、ベース材52に固定されて被処理体をプラズマ処理する処理空間に面して配置される電極カバー部材51と、を含み、電極カバー部材51のガス穴径を、ベース材52のガス穴径よりも大きくする。 (もっと読む)


【課題】被処理物が有機物にて汚染されている場合でも、シリコン含有物を効率良くエッチングする。
【解決手段】原料ガスを大気圧近傍のプラズマ空間23に導入してエッチングガスを生成する(生成工程)。エッチングガスを、温度を10℃〜50℃とした被処理物90に接触させる(エッチング反応工程)。原料ガスは、フッ素含有成分と、水(HO)と、窒素(N)と、酸素(O)と、キャリアガスを含む。原料ガス中の窒素と酸素とキャリアガスの合計体積流量(A)とフッ素含有成分の体積流量(B)との比は、(A):(B)=97:3〜60:40である。原料ガス中の窒素と酸素の合計体積流量は、窒素と酸素とキャリアガスの合計体積流量の2分の1以下である。窒素と酸素の体積流量比は、N:O=1:4〜4:1である。 (もっと読む)


【課題】精密な形状加工され、低反射率のテクスチャ形成面を有するシリコン基板を提供すること、およびそれを用いて太陽電池を提供すること。
【解決手段】本発明によって、テクスチャを形成されたテクスチャ形成面を有する基板面方位(100)のシリコン基板であって、前記テクスチャ形成面には、複数の逆錐状の凹部が形成され、かつ前記逆錐状の凹部の錐面は階段状であるシリコン基板を提供する。本発明のシリコン基板は、好ましくは、ガスエッチングによってテクスチャを形成することで得る。 (もっと読む)


【課題】プラズマ生成空間から処理空間に進入するプラズマの光エネルギーを低下させ、生産性を向上することができるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係るプラズマ処理装置は、被処理物を載置する載置部103を有する処理容器101と、前記被処理物Wを処理するためにプロセスガスを活性化してプラズマを生成するプラズマ生成部6と、前記プラズマを生成した空間と前記被処理物を処理する空間7の間に設けられた遮光部8とを備え、前記遮光部は、内壁部に遮光面を持つ開口部を有し、前記プラズマの光が前記遮光面に遮られることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】段差を有する膜構造を高精度にエッチングするプラズマ処理装置またはドライエッチング方法を提供する。
【解決手段】真空容器107と、この真空容器内部の処理室内に配置されその上面にエッチング対象のウェハ112が載せられる下部電極113と、下部電極113にバイアス電位を形成するための高周波電力を供給するバイアス印加装置118,120と、前記処理室内に反応性ガスを導入するガス供給手段111と、前記処理室内にプラズマを生成するための電界を供給する電界供給手段101〜103と、前記高周波電力により前記ウェハ112に入射する前記プラズマ中のイオンのエネルギーの分布を調節する調節装置127とを備えたプラズマ処理装置。 (もっと読む)


【課題】無機膜をマスクとして有機膜をエッチングする場合に、ボーイング等のエッチング形状不良を生じさせずにエッチングすることができるプラズマエッチング方法を提供すること。
【解決手段】処理容器内に、その表面がシリコン含有物からなる上部電極と、被処理基板が載置される下部電極とが配置され、上部電極と下部電極との間にプラズマを形成して被処理基板に対してプラズマエッチングを行うプラズマエッチング装置を用い、無機膜をマスクとして被処理基板の有機膜をプラズマエッチングするにあたり、有機膜を途中までプラズマエッチングし、その後、プラズマを形成しつつ上部電極に負の直流電圧を印加して、エッチング部位の側壁に上部電極のシリコン含有物を含む保護膜を形成し、その後、プラズマエッチングを継続する。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板の表面にマスクパターンに応じた凹凸構造を形成する基板のプラズマ処理において、凹凸構造を形成するための第1プラズマ処理により生じる副生成物を除去するための第2プラズマ処理の時間を短縮化する。
【解決手段】基板のプラズマ処理方法において、サファイア基板をチャンバ内に配置して、BClが主体のガスに、CF、SFおよびNFのいずれかのガスを混合した混合ガスをチャンバ内に供給して、サファイア基板に対してプラズマ処理を行い、サファイア基板の表面にマスクパターンに応じた凹凸構造を形成する、第1プラズマ処理工程と、チャンバ内へ処理ガスを供給してプラズマ処理を実施し、第1プラズマ処理工程の実施によりチャンバ内に付着した副生成物を除去する第2プラズマ処理工程とを含んで実施する。 (もっと読む)


【課題】 ワーク表面に均一な濃度で処理ガスを吹き付けることができる表面処理用ノズル装置を提供する。
【解決手段】
ノズル装置のガス通路は、処理ガスが供給されるガス供給口と、上記ガス供給口からの処理ガスを分け、一直線上に間隔をおいて水平に並んだ多数の分岐下流端12bへと送る通路分岐部と、これら分岐下流端12bの配列方向と平行をなして直線的に連続して延びる合流部80と、流れ方向変更部90と、吹出スリット61とを有している。流れ方向変更部90は、多数の分岐下流端12bから合流部80へ送られてきた処理ガスを、下向きに送る第1通路部分91と、上向きに送る第2通路部分92と、下向きに送る第3通路部分93とを有し、この第3通路部分93からの処理ガスが吹出スリット61からワークWに向かって下向きに吹き付けられる。 (もっと読む)


【課題】ゲッタリング層の除去と凹凸構造の形成とを、ドライプロセスで行う手法を提供することで、半導体基板の汚染を防ぎ、かつ低コストで光発電体用の半導体基板を提供する。
【解決手段】ゲッタリング層を有する半導体基板を用意するステップと、前記半導体基板のゲッタリング層に、エッチングガスを供給して、半導体基板の表面に凹凸形状を形成するステップとを含む、光発電体用半導体基板の製造方法を提供する。エッチングガスは、ClF,XeF,BrF,BrFおよびNFからなる群から選ばれる一以上のガスを含むことが好ましく、さらに分子中に酸素原子を含有するガスをさらに含むことが好ましい。 (もっと読む)


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