説明

Fターム[5F004DB01]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 被エッチング物 (6,778) | Si (1,365)

Fターム[5F004DB01]の下位に属するFターム

Fターム[5F004DB01]に分類される特許

101 - 120 / 930


【課題】シリコン含有物をエッチングする装置において、分離回収装置や除害装置を不要とし、設備コストを低減する。
【解決手段】分解部20において、フッ素含有成分を含む原料ガスに高周波又は熱エネルギーを印加して、フッ素含有成分を分解する。分解中又は分解後の原料ガスと水素含有成分とを接触させてフッ化水素を含むエッチングガスを生成する。このエッチングガスを処理槽10内の被処理物9に吹き付け、シリコン含有物9aをエッチングする。更に、処理槽10内のガスを排気手段5によって吸引して排出する。シリコン含有物9aのエッチングレートが所定以上になるよう、かつ排出ガス中のフッ素含有成分の流量が放出許容値以下になるよう、分解部20への原料ガスの供給流量、及び供給電力又は供給周波数を設定する。 (もっと読む)


【課題】本発明の実施形態は、生産性を向上させることができる反射型マスクの製造方法、および反射型マスクの製造装置を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、基板の主面に反射層を形成する工程と、前記反射層の上に吸収層を形成する工程と、前記吸収層にパターン領域を形成する工程と、前記吸収層と前記反射層とに前記パターン領域を囲む遮光領域を形成する工程と、を備え、前記遮光領域を形成する工程において、前記反射層を塩素と酸素とを含むガスを用いてエッチング処理する反射型マスクの製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】隣接デバイスの特性への悪影響を低減するTSV相互接続構造の製造方法を提供する。
【解決手段】第1の主面S1を有する基板を設け、少なくとも一つのTSV穴部と、TSV穴部を囲み残りの基板材料によって分離されるトレンチ状構造3、とをエッチングにより同時に作製する。基板の第1の主面でトレンチ状構造の開口をピンチオフするためと、TSV穴部側壁を平滑にするために、誘電性のライナー2a、2bを堆積し、トレンチ状構造にエアギャップ4を作製する。TSV相互接続10を生成するためにTSV穴部に導体材料を堆積する。 (もっと読む)


【課題】固体表面上に存在するスクラッチやそれに類する表面粗さをガスクラスターイオンビームの照射によって低減すること。
【解決手段】固体表面に対してガスクラスターイオンビームを照射する照射過程を含むガスクラスターイオンビームによる固体表面の平坦化方法であるとし、この照射過程は、固体表面のうち少なくともガスクラスターイオンビームが照射されている領域(スポット)に、複数方向からクラスターをほぼ同時に衝突させる固体表面の平坦化方法とする。スポットに対する複数方向からのクラスター衝突は、複数のガスクラスターイオンビームを照射することによって行われる。 (もっと読む)


【課題】半導体処理に用いるハロゲン含有プラズマによる侵食に耐性のあるセラミック物品を提供する。
【解決手段】セラミック物品は、典型的に、少なくとも2つの相又は3つの相を有する多相のセラミックを含む。第1の実施形態において、セラミックは、モル濃度が約50モル%〜約75モル%の酸化イットリウム、モル濃度が約10モル%〜約30モル%の酸化ジルコニウム、及びモル濃度が約10モル%〜約30モル%の酸化アルミニウム、酸化ハフニウム、酸化スカンジウム、酸化ネオジム、酸化ニオブ、酸化サマリウム、酸化イッテルビウム、酸化エルビウム、酸化セリウム及びこれらの組み合わせからなる群より選択される少なくとも1つの他の成分から形成されている。 (もっと読む)


【課題】地球環境に対する影響が小さく、かつ必要とされる性能を有するドライエッチング剤を提供する。
【解決手段】(A)1,3,3,3−テトラフルオロプロペンと、(B)H、O、CO、O、CO、COCl、CFOF、COF、NO、F、NF、Cl、Br、I、CH、C,C,C、C、C、C、HI、HBr、HCl、NO、NH、及びYFn(式中、YはCl、Br、又はIを表し、nは整数を表し、1≦n≦7である。)からなる群より選ばれる少なくとも1種のガスと、(C)不活性ガスを含むドライエッチング剤を提供する。
これらのエッチング剤を用いることにより飛躍的にプロセスウインドウを広げることができ、特殊な基板の励起操作等なしにサイドエッチ率が小さく高アスペクト比が要求される加工にも対応できる。 (もっと読む)


【課題】バックチャネル部の表面のアルミニウム汚染に起因する漏れ電流を抑制を防止でき、高い信頼性と、高い歩留を実現できる構造の薄膜トランジスタを提供することを目的とする。
【解決手段】この発明に係る薄膜トランジスタは、シリコンを半導体層とするバックチャネル部を有するボトムゲート構造の薄膜トランジスタであって、アルミニウムを含むソース電極またはドレイン電極と、バックチャネル部の一部であって半導体層の表層を覆うサイアロン化合物の層とを有するものである。 (もっと読む)


【課題】電気的特性が良好な半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】結晶性半導体膜上に非晶質半導体膜が設けられた積層半導体膜の一部に対して、HBrガスと、CFガスと、酸素ガスの混合ガスを含むガスを用いてエッチングを行い、前記積層半導体膜に設けられた前記結晶性半導体膜の一部を露出させる。このようにエッチングを薄膜トランジスタのバックチャネル部を形成するエッチングに適用することで、当該薄膜トランジスタの電気的特性を良好なものとすることができる。 (もっと読む)


【課題】凹凸構造の角部分の形状変形を防いで固体表面の加工を行う。
【解決手段】上部にクラスター保護層が被覆形成された凸部とクラスター保護層が被覆形成されない凹部とでなる凹凸構造を固体表面に形成するクラスター保護層形成工程と、クラスター保護層形成工程において凹凸構造が形成された固体表面に対してガスクラスターイオンビームを照射する照射工程と、クラスター保護層を除去する除去工程とを有するガスクラスターイオンビームによる固体表面の加工方法とする。ガスクラスターイオンビームのドーズ量をn、クラスター保護層のエッチング効率を1クラスターあたりのエッチング体積Yとした場合に(但しa及びbは定数)、クラスター保護層の厚さTは、


を満たす。 (もっと読む)


【課題】レーザ光の照射を利用したエッチング加工による半導体装置の製造方法であって、複雑形状や深くて大きい除去領域等のエッチング加工が必要な広範囲の半導体装置の製造に適用可能で、高いエッチング速度が得られる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコンからなる基板10に対して、焦点位置を移動させてレーザ光Lをパルス照射し、前記単結晶シリコンを部分的に多結晶化して、前記単結晶シリコン中に連続した改質層11を形成する改質層形成工程と、前記改質層11をエッチングして除去するエッチング工程と、を備える半導体装置の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理中に基板の縁部およびトレイに付着した副生成物の除去を行って、製品の品質を向上させる。
【解決手段】基板が収容される複数の基板収容孔が設けられ、この基板収容孔の内壁から突出する基板支持部を有するトレイを基板ステージのトレイ支持部上に載置するとともにそれぞれの基板保持部上に基板を載置して、基板保持部の端縁よりはみ出した基板の縁部と基板支持部とを離間させた状態とする基板載置工程と、チャンバ内を減圧するとともに処理ガスを供給して、それぞれの基板に対するプラズマ処理を行う第1プラズマ処理工程と、トレイおよびそれぞれの基板が基板ステージ上に載置された状態にて、チャンバ内を減圧するとともに処理ガスを供給してプラズマ処理を実施し、第1プラズマ処理工程の実施により基板の縁部と基板支持部とに付着した副生成物を除去する第2プラズマ処理工程とを実施する。 (もっと読む)


【課題】より正確に所望の形状にエッチングすることができるプラズマエッチング処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマエッチング処理装置11は、その内部において被処理基板にプラズマ処理を行う処理容器12と、処理容器12内にプラズマ処理用のガスを供給するガス供給部13と、処理容器12内に配置され、その上に被処理基板Wを支持する支持台14と、プラズマ励起用のマイクロ波を発生させるマイクロ波発生器15と、マイクロ波発生器15により発生させたマイクロ波を用いて、処理容器12内にプラズマを発生させるプラズマ発生手段と、処理容器12内の圧力を調整する圧力調整手段と、支持台14に交流のバイアス電力を供給するバイアス電力供給手段と、バイアス電力供給手段における交流のバイアス電力を、停止および供給を交互に繰り返しながら行うよう制御する制御手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】シリコンの結晶異方性ドライエッチング方法、および装置を提供する。
【解決手段】シリコンWを、イオンとラジカルの作用によりエッチングを行う方法であって、シリコンWは反応室1内に配置されており、反応室1内の圧力を、イオンおよびラジカルの進行を調節する圧力に設定し、反応室1内に炭素供給源を設置する。反応室1内の圧力が高いため、イオンおよびラジカルの物理的移動の状況が変えられ、イオンの作用による物理的エッチングの進行が調節される。シリコンWの加工表面で、炭素供給源から供給された炭素とイオン、および、炭素とラジカルとが反応し、ラジカルの作用による化学的エッチングの進行が調節される。シリコンエッチングにおける、結晶方位毎に異なる必要エッチングエネルギーの領域で加工が進行する状況が作られることにより、ドライエッチングで、シリコンを結晶異方性エッチングすることができる。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板に設けられた穴の内部に導電体と誘電体を配置することにより、キャパシタを構成してなるキャパシタ構造体において、穴をより深くしたり、穴の平面形状を複雑な形状とすることなく、導電体間の対向面積を増加させて容量値の増大が実現できるようにする。
【解決手段】穴20は、シリコン基板10の一方の主面に開口する有底穴であり、穴20の内部にはシリコン基板10よりなる突起21が設けられ、穴20の底面は、突起21による凹凸面とされており、穴20の内部では、穴20の底面および側面に、これらの面側から第1の導電体31、誘電体40、第2の導電体32が順次積層されているとともに、第1の導電体31および誘電体40は、突起21による凹凸面の形状を承継した層形状とされている。 (もっと読む)


【課題】複数の段差を備えた微細な3次元構造パターンの形成に好適なパターン形成方法及びパターン形成体を提供する。
【解決手段】パターン形成方法は、基板上に第1層目のハードマスク層12、エッチストッパ層13、第2層目のハードマスク層22を形成し、該ハードマスク層及びエッチストッパ層をパターニングし、該ハードマスク層をエッチングマスクとして基板11に異方性エッチングを行う。複数の段差を備えた微細な3次元構造パターン形成方法及びパターン形成体。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理装置のステージ電極の表面が損傷したとき、上記表面部分だけを容易に交換できるようにする。
【解決手段】ステージ電極20を電極本体21と電極板22とに分割する。電極本体21の周端面21eと電極板22の周端面22eとは互いに面一になっている。ステージ電極20の外周に沿って複数の枠部材30を設ける。これら枠部材30を進退機構5によって退避位置と進出位置との間で進退させる。枠部材30を進出位置に位置させると、枠部材30の位置決め面33が上記周端面21e,22eに当接し、電極板22が位置決めされる。また、枠部材30の段差31によって被処理物9が位置決めされる。 (もっと読む)


【課題】結晶性半導体膜に対する非晶質半導体膜のエッチング選択比が高いエッチング方法を提供する。
【解決手段】結晶性半導体膜上に非晶質半導体膜が設けられた積層半導体膜の一部に対して、Br系ガスと、F系ガスと、酸素ガスの混合ガスを用いてエッチングを行い、前記積層半導体膜に設けられた前記結晶性半導体膜の一部を露出させる。このようにエッチングを行うことで、露出された部分の膜減りを抑えることができる。更には、当該エッチング方法を薄膜トランジスタのバックチャネル部を形成するエッチングに採用することで、当該薄膜トランジスタの電気的特性を良好なものとすることができる。該薄膜トランジスタ上には絶縁層が設けられていることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】EUV光及び検査光において吸収体層での反射率を低減でき、EUV光および検査光の両方において高コントラストな反射型フォトマスクを提供する。
【解決手段】基板1と基板1上に形成された反射体層2と、反射体層2上に形成された吸収体層3を持つEUVマスクブランクにおいて、吸収体層3の表面に所定の大小二つの表面粗さの凹凸4を形成する。 (もっと読む)


【課題】気相エッチング法によりシリコンウェーハ表層部を短時間で均一にエッチングするための手段を提供すること。
【解決手段】弗化水素酸と硫酸との混酸Aを収容した密閉容器内に、混酸Aと接触しないようにシリコンウェーハを配置し、次いで、窒素酸化物を含む硝酸水溶液である溶液Bを前記密閉容器内に導入して混酸Aと混合し、混酸Aと溶液Bを混合した溶液から蒸発するガスによって前記密閉容器内で前記シリコンウェーハ表層部を気相分解する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理装置のステージの表面が損傷したとき、上記表面部分だけを容易に交換できるようにする。
【解決手段】ステージ20を、ステージ本体21とその上側の表面板22とに分割する。ステージ20を挟んで両側には、処理ヘッド10の移動に用いる一対のレール61が設けられている。このレール61上にステージ保守用クレーン30を設置する。クレーン30のフレーム31の一対の支え部32の下端部にスライダ34をそれぞれ設け、これをレール61にスライド可能に嵌合する。フレーム31の天井部33に吊具51を昇降可能に垂下し、これに連結部52を設ける。好ましくは、連結部52をボルト55にて表面板22の端面に連結する。 (もっと読む)


101 - 120 / 930