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Fターム[5F033HH13]の内容

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【課題】本発明は、絶縁膜を金属に密着させることができる半導体装置の製造方法と半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明に係る半導体装置の製造方法は、基板上に多結晶の金属を形成する工程と、該金属の表面粗さRaが0.051μmより大きくなり、かつ該金属の表面に1〜10μm径のランダムな方向に伸びる複数の穴が形成されるように、該金属の表面を1.0μm/min未満のエッチングレートでウェットエッチする工程と、該金属の表面に絶縁膜を形成する工程と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】熱(工程)に耐性のある配線構造を採用し、配線上の析出物の発生を抑制できる半導体素子を実現する。
【解決手段】半導体素子本体に接続する金材を含む配線パターンと、この配線パターンに一端側が接続され金材を含む接続端子と、前記半導体素子本体と前記配線パターンと前記接続端子とを覆う絶縁体と、を具備する半導体素子において、前記配線パターンあるいは接続端子の一方の面に一面が接し他面が前記絶縁体に接する面状のシリサイド体を具備したことを特徴とする半導体素子である。 (もっと読む)


【課題】多層配線を形成する際における配線の加工に要する工程を簡便にすることを課題
とする。また、開口径の比較的大きいコンタクトホールに液滴吐出技術やナノインプリン
ト技術を用いた場合、開口の形状に沿った配線となり、開口の部分は他の箇所より凹む形
状となりやすかった。
【解決手段】高強度、且つ、繰り返し周波数の高いパルスのレーザ光を透光性を有する絶
縁膜に照射して貫通した開口を形成する。大きな接触面積を有する1つの開口を形成する
のではなく、微小な接触面積を有する開口を複数設け、部分的な凹みを低減して配線の太
さを均一にし、且つ、接触抵抗も確保する。 (もっと読む)


【課題】不良品の発生を容易に防止出来て歩留まりの向上と製造条件の確認の容易な半導体素子を実現する。
【解決手段】半導体素子本体の外表面を覆って設けられた絶縁膜と、この絶縁膜に設けられ前記半導体素子本体に一端側が接する外部接続用端子と、前記絶縁膜に穿設され一端側が前記外部接続用端子に接する配線取出し孔と、を具備する半導体素子において、前記外部接続用端子の前記配線取出し孔に接する面全体に一面が接し他面が前記絶縁膜に接して設けられ前記外部接続用端子の色と前記絶縁膜の色と異なる色を有し前記配線取出し孔の穿設時に除去されることにより前記配線取出し孔の穿設完了を識別する識別膜とを具備したことを特徴とする半導体素子である。 (もっと読む)


【課題】微細な配線パターンを備えた発光装置の作製方法の提供。
【解決手段】Inと、Gaと、Znとを有する酸化物半導体層を形成し、酸化物半導体層上に第1の導体パターンを形成し、第1の導体パターンより微細な第2の導体パターンを形成し、前記第2の導体パターンと電気的に接続する発光素子を形成する発光装置の作製方法であって、第2の導体パターンは、酸化物半導体層を横断する。 (もっと読む)


【課題】ウェハハンドリングが容易であり、高精度の位置合わせを必要とせず、ビアホールとして機能する開口部を浅く形成でき、さらに開口部を埋め込む第1電極と基板との界面の割れを防止できる電極構造、及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】基板に、第1主表面側から、深さが基板の厚さよりも小さい開口部33を形成する。次に、開口部を埋め込む第1電極35を形成する。次に、第1主表面と対向する基板を第2主表面側から薄層化して、開口部の深さよりも大きい厚さとする。次に、第2主表面側111bから開口部の底面33bへ向けて、基板111に切り込みを入れる39ことによって、第2主表面側から第1電極を露出させる。次に、切り込みを埋め込む第2電極44を形成する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体積層体を製造することのできる半導体積層体の製造方法を提供する。
【解決手段】貫通電極用溝2が形成されたウエハ1の貫通電極用溝2を有する面に、半導体加工用テープ4を介して支持体5を積層する工程(1)と、ウエハ1を半導体加工用テープ4と反対側の面から研削し、貫通電極用溝2を露出させる工程(2)と、露出した貫通電極用溝2に電極部6を形成する工程(3)と、ウエハ1の半導体加工用テープ4と反対側の面に封止樹脂層7を形成する工程(4A)と、封止樹脂層7を介してウエハ1にダイシング用テープ8を貼り合わせ、半導体加工用テープ4及び支持体5を剥離する工程(4B)と、ウエハ1を個片化して半導体チップを作製する工程(5)と、前記半導体チップを、封止樹脂層7を介して他の半導体チップ又は基板に積層する工程(6)とを有する。 (もっと読む)


【課題】従来の製造方法と比べて、少ない工程数で形成可能であり、また、高精度の位置合わせ技術を必要としない、配線構造とその製造方法を提供する。
【解決手段】基板10の主表面10a上に、スペーサ絶縁膜20を形成する。次に、スペーサ絶縁膜をパターニングして、下部配線形成領域42の基板の主表面を露出させる。次に、露出した基板の主表面上、及び、スペーサ絶縁膜22の上側表面22a上に配線材料を堆積させて、基板の主表面上に下部配線52を形成するとともに、スペーサ絶縁膜の上側表面上に上部配線50を形成する。 (もっと読む)


【課題】十分なキャパシタ容量が得られ、リーク電流や寄生容量を抑制した薄膜トランジスタ装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタを備え、そのゲート電極111、ソース電極131、ドレイン電極132、バス配線、画素電極133、ゲート絶縁膜121、層間絶縁膜122、半導体層141の全部もしくは一部が塗布法もしくは印刷法で形成されてなり、ゲート絶縁膜121および/もしくは層間絶縁膜122が連続膜から構成され、連続膜が薄膜部と厚膜部から構成されてなる。 (もっと読む)


【課題】無電解メッキパターンを正確に形成できる無電解メッキパターン形成用組成物、塗布液、及び無電解メッキパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】表面を有機物103で修飾されるとともに、前記表面103に触媒金属微粒子105を担持した金属化合物粒子101を含む無電解メッキパターン形成用組成物。前記有機物103としては、3-ヒドロキシ-4-ピロン誘導体、又は1,2-ジオールが挙げられる。前記触媒金属微粒子105としては、パラジウム、銀、白金、ニッケル、及び銅からなる群から選ばれる1種以上の微粒子が挙げられる。 (もっと読む)


【課題】高温にも耐え得る矩形断面の正確な金属薄膜パターンを、簡単な工程によって製造可能とすること。
【解決手段】下記に示す感光性金属錯体を含む塗布液1を基板10に塗布し(A)マスク20を介して所定の部分のみを露光した(B)。露光によりエステル結合が切れて易溶化した可溶部1Aを(C)、TMAH水溶液により除去し(D)、不溶部1Bを金属化するまで加熱し(E)、Cu等の金属30でメッキする(F)。
【化9】
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【課題】結晶欠陥が可及的に少なく、従来よりも抵抗率の低い高質のグラフェンを備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板の上方に設けられた配線とを具備する。前記助触媒層のうち前記触媒層と接触している部分は、面心立方構造もしくは六方最密構造を有し、かつ、前記面心立方構造の(111)面もしくは前記六方最密構造の(002)面が前記半導体基板の表面と平行になるように配向しているか、または、前記助触媒層のうち前記触媒層と接触している部分は、アモルファス構造もしくは微結晶構造を有する。前記触媒層は、面心立方構造もしくは六方最密構造を有し、かつ、前記面心立方構造の(111)面もしくは前記六方最密構造の(002)面が前記半導体基板の表面と平行になるように配向する。 (もっと読む)


【課題】駆動時の発熱温度を低下させる。
【解決手段】基板12の熱伝導率をNsub(W/mK)とし、熱拡散層14の熱伝導率をNkaku(W/mK)とし、熱拡散層14の膜厚をT(mm)とし、熱拡散層14の平面開口率をR(0≦R≦1)とし、S=T×Rとしたとき、例えば、基板12の熱伝導率Nsubが、Nsub<1.8の条件を満たし、熱拡散層14の熱伝導率Nkakuが、Nkaku>3.0×S^(−0.97×e^(−1.2×Nsub))且つNkaku≧Nsubの条件を満たす。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の信頼性を向上する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体装置は、電極、メッキ膜、半田、及びコネクタが設けられる。電極は、半導体チップ表面に設けられた第一の電極部と、第一の電極部上に設けられた絶縁膜の開口部を覆うように設けられ、第一の電極部に接続された突起状の第二の電極部とから構成される。メッキ膜は、第二の電極部上に設けられる。半田は、絶縁膜及びメッキ膜上に設けられる。コネクタは、一端の第一の構成部が半田上に設けられ、他端の第二の構造部が端子に接続され、電極と電極端子の間を接続する。 (もっと読む)


【課題】配線を設計通りの形状に形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板と、前記半導体基板の第1の面に位置する電極と、前記第1の面に設けられ、前記電極とオーバーラップする位置に開口部を有する絶縁膜と、を有する構造体を用意する工程と、前記絶縁膜の前記第1の面側の面とは反対側の第2の面に、樹脂突起を形成する工程と、前記電極および前記樹脂突起を覆う第1導電膜を前記第2の面に形成する工程と、前記第1導電膜の前記第2の面側の面とは反対側の第3の面に、前記第1導電膜の前記第3の面より反射率の低い第2導電膜を形成する工程と、前記第2導電膜の前記第3の面側の面とは反対側の第4の面に、フォトレジスト層を形成する工程と、前記フォトレジスト層の一部をマスク層で覆った状態で、前記フォトレジスト層を露光する工程と、前記フォトレジスト層を現像し、フォトレジストパターンを形成する工程と、前記フォトレジストパターンをマスクとして前記第1導電膜および前記第2導電膜をエッチングすることにより、前記第1導電膜から形成された配線であって、前記樹脂突起の少なくとも一部を覆い、かつ、前記電極と接続する前記配線を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】マイグレーションの問題を生じることなく、微細でアスペクトの高く絶縁特性に優れた絶縁膜を備えた貫通電極を有する素子付き基板、赤外線センサーおよび貫通電極形成方法を提供する。
【解決手段】予め、素子回路形成前のベース基板にビアホールを形成し、前記ベース基板の素子回路形成面と前記ビアホールの内面に熱酸化により絶縁膜を形成する熱酸化を行なう。前記熱酸化工程後に前記ビアホール形成部に導電部を有する素子回路を形成した後、前記素子回路形成工程後に前記ビアホールに導電体を埋め込み形成するようにしている。 (もっと読む)


【課題】簡略化された構成を有するトランジスタアレイを、簡易的に製造することが可能なトランジスタアレイの製造方法を提供することを主目的とする。
【解決手段】金属基板を用い、上記金属基板上に、絶縁性材料からなり、貫通孔を有する絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、上記絶縁層上に、ドレイン電極が上記絶縁層に形成された貫通孔を介して上記金属基板に接続されるように薄膜トランジスタを形成する、薄膜トランジスタ形成工程と、上記金属基板をパターニングすることにより、上記金属基板を画素電極とする画素電極形成工程と、を有することを特徴とする、トランジスタアレイの製造方法を提供することにより、上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】 はんだからなるバンプの形成工程中やフリップチップ実装時に、スズのようなはんだ成分がバンプ電極のアンダーバリアメタルを透過してその下のパッド電極と反応し、バンプとパッド電極間の接合信頼性が低下することを防止する。
【解決手段】 半導体基板1上に形成されたパッド電極3とはんだからなるバンプ8間にアンダーバリアメタル6が形成される。アンダーバリアメタル6は保護絶縁膜4に形成された開口5に露出するパッド電極3上から開口5周囲の保護絶縁膜4上までを被覆する。しかしバンプ8の底面はアンダーバリアメタル6より小さく、望ましくは開口5より小さく、且つ開口5内部領域の垂直上方に形成される。 (もっと読む)


【課題】再配線のランド部にバンプ電極が接続された半導体集積回路装置において、再配線と半田バンプとの接着強度を向上させる。
【解決手段】再配線20のランド部20Aは、再配線20を構成する5層の金属膜(バリアメタル膜13、シード膜14、Cu膜15、第1Ni膜16および第2Ni膜17)のうち、最上層の第2Ni膜17の面積が他の金属膜(バリアメタル膜13、シード膜14、Cu膜15、第1Ni膜16)の面積よりも大きくなるように構成され、この第2Ni膜17の表面に半田バンプ21が接続されている。そして、半田バンプ21の端部では、第2Ni膜17の直下にポリイミド樹脂膜22が形成されている。 (もっと読む)


【課題】電流のリークを抑制する電子素子用金属層を提供する。
【解決手段】被形成面12に、金属インクを塗布し金属粒子層を形成しパターニングする。基板側からランプ照射し、金属粒子層の下層部分のみを溶融させ、下層部分の金属粒子どうしを融着させる。金属粒子の融着層14Aと金属粒子の非融着層14Bとをこの順で有する積層体で構成されたゲート電極14とする。 (もっと読む)


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