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Fターム[5F033HH20]の内容

Fターム[5F033HH20]に分類される特許

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【課題】液滴吐出法により吐出する液滴の着弾精度を飛躍的に向上させ、微細でかつ精度の高いパターンを基板上に直接形成することを可能にする。もって、基板の大型化に対応できる配線、導電層及び表示装置の作製方法を提供することを課題とする。また、スループットや材料の利用効率を向上させた配線、導電層及び表示装置の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】液滴吐出法による液滴の吐出直前に、所望のパターンに従い基板表面上の液滴着弾位置に荷電ビームを走査し、そのすぐ後に該荷電ビームと逆符号の電荷を液滴に帯電させて吐出することによって、液滴の着弾位置の制御性を格段に向上させる。 (もっと読む)


【課題】TFTと接続するソース電極あるいはドレイン電極のスルーホールにおけるコンタクト抵抗を減少させ、表示装置の動作効率を向上させる。
【解決手段】スルーホールにおいて、TFTのソース部とソース電極8が接続している。ソース電極8は、バリヤメタル、Al合金82、キャップメタル83の3層から形成されている。バリヤメタルは半導体層と接触する下層81aとAl合金と接触する上層81bとに分かれている。バリヤメタルの下層81aをスパッタリングして形成した後、熱処理し、その後、ベースメタルの上層81b、Al合金82、キャップメタル83を連続してスパッタリングによって形成する。Al合金82と接触するバリヤメタルの上層81bは酸化されていないので、スルーホールにおけるコンタクト抵抗の上昇を防止することが出来る。 (もっと読む)


【課題】ゲート絶縁層内に拡散する汚染元素によってトランジスタ特性が低下するのを防止した薄膜トランジスタを有する表示装置、および、その製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板101の上側に積層された半導体層104と、半導体層104の上側に積層されるゲート電極106と半導体層104とゲート電極106との間に積層されるゲート絶縁層105と、ソース電極112およびドレイン電極111と、を含む薄膜トランジスタを有する表示装置であって、ソース電極112およびドレイン電極111の少なくとも一方は、ゲート絶縁層105の上側に形成されて、ゲート絶縁層105に形成されるコンタクトホール109を介して半導体層に接続され、コンタクトホール109の側壁には、窒素化合物を含む側壁膜110が形成される、ことを特徴とする表示装置。 (もっと読む)


【課題】接着層の厚さを増加させることなく、銅の下部層との接着性が向上し、銅が下部層に拡散することを防止することができる薄膜形成方法、表示板用金属配線、及びこれを含む薄膜トランジスタ表示板とその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の薄膜形成方法は、基板上にスパッタリング方法により薄膜を形成する方法であって、薄膜は、電力密度が1.5〜3W/cm、非活性気体の圧力が0.2〜0.3Paで形成する。薄膜は、非晶質構造を有することができ、チタニウム、タンタル、又はモリブデンのうちのいずれか一つで形成することができる。 (もっと読む)


【課題】従来のCMPを伴うダマシン法を用いた配線や電極の形成は、製造工程が煩雑であり高コスト化している。表示装置等の大型基板に配線形成を行うには平坦性等の高精度が要求されて好適せず、また研磨による配線材料の除去・廃棄量が多いという課題がある。
【解決手段】表示装置の形成方法は、基板上に下地絶縁層を設け、その層上に配線パターンに沿った第1の銅拡散防止層を設ける。次に、その第1の銅拡散防止層上面に第1の銅拡散防止層の幅より僅かに狭い銅配線層を積層し、銅配線層の全表面を覆うように、第2の金属拡散防止層を設ける方法である。 (もっと読む)


【課題】 パッケージに封止される半導体素子は、使用環境によって湿度の影響を受けて、半導体素子の劣化が起こることがある。パッケージに実装することが容易で、半導体素子周囲の湿度・水分量を測定・記録できる湿度センサを得る。
【解決手段】 半導体基板2上に形成した絶縁膜7の上に、水溶性金属の薄膜8を用いた湿度センサ6を形成し、水溶性金属の薄膜8の抵抗を測定する。水溶性金属とは、電位−pH図において、電位がゼロ、pHが7付近で腐食域にある金属を意味する。 (もっと読む)


【課題】表示装置に代表される半導体装置において、画面サイズの大型化や高精細化に対応し、表示品質が良く、安定して動作する信頼性のよい半導体装置を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。また、Cuを含む導電層を、TFTのチャネル領域が形成される半導体層と重ならないようにし、窒化珪素を含む絶縁層で包むことで、Cuの拡散を防ぐことができ、信頼性の良い半導体装置を作製することができる。特に、半導体装置の一態様である表示装置を大型化または高精細化しても、表示品質が良く、安定して動作させることができる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層を用いた、表示装置に代表される半導体装置において、画面サイズの大型化や高精細化に対応し、表示品質が良く、安定して動作する信頼性のよい半導体装置を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。また、Cuを含む導電層を、TFTのチャネル領域が形成される酸化物半導体層と重ならないようにし、窒化珪素を含む絶縁層で包むことで、Cuの拡散を防ぐことができ、信頼性の良い半導体装置を作製することができる。特に、半導体装置の一態様である表示装置を大型化または高精細化しても、表示品質が良く、安定して動作させることができる。 (もっと読む)


【課題】MRAMを含む半導体装置において、MRAMの特性を向上することができる技術を提供する。
【解決手段】配線L3およびデジット配線DLを形成した層間絶縁膜IL3の表面に対してプラズマ処理を実施する。まず、半導体基板1Sをチャンバ内に搬入し、窒素を含有する分子(アンモニアガス)と窒素を含有しない不活性分子(水素ガス、ヘリウム、アルゴン)とからなる混合ガスをチャンバ内に導入する。このとき、窒素を含有する分子の流量よりも窒素を含有しない不活性分子の流量が多い条件で、混合ガスを導入し、混合ガスをプラズマ化してプラズマ処理を実施する。 (もっと読む)


【課題】インジウム系金属膜、アルミニウム系金属膜、及びチタニウム系又はモリブデン系金属膜からなる三重膜用エッチング液組成物を提供すること。
【解決手段】本発明のエッチング液組成物は、組成物の総重量に対して、鉄化合物0.1重量%〜10重量%、硝酸0.1重量%〜10重量%、含フッ素化合物0.01重量%〜5重量%、及び水残部を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】製造工程の複雑化と製造コストの高価格化を招くことなく、多層電極間の接続を容易に行うことが可能な電極基板の製造方法、電極基板、及び薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】下地層の上に、下層電極、層間絶縁膜、上層電極がこの順番で積層され、下層電極と上層電極とが層間絶縁膜に形成された開口部を介して電気的に接続された電極基板の製造方法であって、下地層の上に、電極材料を含有する溶液を塗布した後、乾燥させて下層電極を形成する工程と、下層電極が形成された下地層の上に、開口部を有する層間絶縁膜を形成する工程と、開口部に溶液の溶媒を滴下し、開口部に位置する下層電極を溶解した後、乾燥させることにより、電極材料を開口部の内壁に沿ってコーヒーステイン形状に形成する工程と、電極材料が開口部の内壁に沿ってコーヒーステイン形状に形成された層間絶縁膜の上に上層電極を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】オフ電流および漏れ電流が抑制された薄膜トランジスタ、および前記薄膜トランジスタを歩留り良く製造することのできる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極12上にゲート絶縁膜12を介して順次形成されるSi(i)膜13およびSi(n)膜14上に金属膜を形成し、フォトレジストパターン22をマスクとしてエッチングし、ソース電極15およびドレイン電極16を形成する。酸素を含むプラズマで処理して、フォトレジストパターン22の側面を後退させるとともに、ソース電極15およびドレイン電極16の側面および露出した上面にAl酸化皮膜17を形成する。残存するフォトレジストパターン22およびAl酸化皮膜17をマスクとして、チャネル部18のSi(n)膜14およびSi(i)膜13の表面の一部をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】銅配線層の接着性を改善するとともに、銅配線層の抵抗値が大きくなることを抑制する配線構造を提供する。
【解決手段】配線構造10では、ガラス基板11上に、チタンからなる接着層12と、酸化銅からなるバリア層13と、純銅からなる銅配線層14とが順に積層されている。接着層12は、銅配線層14をガラス基板11に確実に接着させて、銅配線層14がガラス基板11から剥がれるのを防止する。バリア層13は、配線構造10を熱処理したときに、接着層12を構成するチタン原子が銅配線層14内に拡散しないようにして、銅配線層14の抵抗値が大きくならないようにする。このため、銅配線層14は、熱処理された後も、比抵抗を小さな値に保つことができるので、信号の遅延を防止できる。 (もっと読む)


【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】画素、メモリ部、又はCMOS回路等に配置されたトランジスタのチャネル形成領域213、214と重なる第1の配線(ゲート電極)の一部または全部と第2の配線(ソース線またはドレイン線)154、157とを重ねる。また、ゲート電極と第2配線154、157の間には第1の層間絶縁膜149及び第2の層間絶縁膜150cを設け、寄生容量を低減した半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】配線形成後に500℃以上の高温プロセスが存在する場合に適用可能なCu配線を形成すること。
【解決手段】500℃以上の温度の処理をともなう後工程が施されるCu配線の形成方法は、表面にトレンチおよび/またはホールを有する基板上の少なくともトレンチおよび/またはホールの底面と側面に、Cuの格子面間隔との差が10%以内の格子面間隔を有する金属からなる密着膜を形成する工程と、密着膜の上に前記トレンチおよび/またはホールを埋めるようにCu膜を形成する工程と、 Cu膜形成後の基板に350℃以上のアニール処理を行う工程と、Cu膜を研磨してCu膜のトレンチおよび/またはホールに対応する部分のみを残存させる工程と、研磨後のCu膜にキャップを形成してCu配線とする工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】電気的抵抗が低い相互接続構造、および、かかる相互接続構造を形成する方法を提供する。
【解決手段】相互接続構造は、少なくとも1つの開口を含む誘電物質を含む。少なくとも1つの開口内には、任意のバリア拡散層、結晶粒成長促進層、凝集めっきシード層、任意の第2のめっきシード層、および導電性構造が配置される。典型的にはCuである金属含有導電性物質を含む導電性構造は、バンブー微細構造を有し、平均グレイン・サイズが0.05ミクロンよりも大きい。いくつかの実施形態では、導電性構造は、(111)結晶方位を有する導電性結晶粒を含む。 (もっと読む)


【課題】 レジスト材料の利用効率を向上させて、作製コストの削減を目的としたレジス
トパターンの作製方法、レジストパターンの除去方法、半導体装置の作製方法を提供する
ことを課題とする。
【解決手段】 本発明は、減圧下で、被加工物上に、感光剤を含む組成物を吐出してレジ
ストパターンを形成するステップを有することを特徴とする。また、前記レジストパター
ンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、若しくは、前記レジストパタ
ーンに、フォトマスクを介して前記感光剤の感光波長域の光を照射するステップ、前記レ
ジストパターンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、前記被加工物上
の前記レジストパターンを除去するステップを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】低温で処理できる印刷法を用いて、配線の断線による欠陥を修正する場合に、欠陥修正用の導電性材料が不要な部分まで広がることを防止することができる技術を提供する。
【解決手段】本発明に係る回路基板の欠陥修正方法は、基板20上に形成された3本の配線21,22,23のうち、配線22のパターンに生じた断線箇所24の周辺に絶縁性材料を用いてバンク25を形成する工程と、そのバンク25を形成した後で断線箇所24に導電性材料を塗布することにより、当該導電性材料からなる欠陥修正部26を形成する工程とを有する。この方法では、配線22の断線箇所24に導電性材料を塗布したときに、導電性材料の広がりがバンク25によって抑制される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、ウエハが反るのを防止できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、互いに対向する第1及び第2の主面を有するGaAs基板と、前記GaAs基板の前記第1の主面上に形成され、Pd、Ta、Moの少なくとも1つから構成された第1の金属層と、前記第1の金属層上に形成され、Ni系合金又はNiから構成された第2の金属層と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】印刷塗布して形成された絶縁膜の絶縁特性を良好に保持した状態で、生産性を向上することが可能なアクティブマトリックスアレイ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】下地層34上に絶縁膜インクを印刷塗布する。印刷塗布された絶縁膜インクに含まれる溶媒が所定の絶縁特性が得られるまで十分に揮発させる前に終了するように絶縁膜インクを焼成して絶縁膜32を形成する。下地層34上に形成された絶縁膜32上に1つ以上の開口部33を有する導電層31を形成する。それにより、導電層31に設けられた開口部33から絶縁膜32内に残っている溶媒を揮発させることができるので、導電層31におおわれた絶縁膜32の絶縁特性を良好にすることができる。また、絶縁膜32が十分に揮発する前に、絶縁膜32上に導電層31を形成することができるので、生産性を良くすることができる。 (もっと読む)


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