説明

Fターム[5F041CA57]の内容

発光ダイオード (162,814) | LED形式 (36,241) | LED材料 (12,490) | 添加物 (1,555) | 添加物の材料 (865) | その他 (651)

Fターム[5F041CA57]に分類される特許

41 - 60 / 651


【課題】遠視野像の水平方向における光強度分布形状を単峰化することができる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】発光層を有する半導体発光素子100であって、発光層からの第一の光を出射する第一の光出射面131aおよび発光層からの光を反射する後端面100bを両端とする第一の光導波路121と、発光層からの第二の光を出射する第二の光出射面141aおよび後端面100bを両端とする第二の光導波路122とを備え、第一の光導波路121と第二の光導波路122とは、後端面100bで接続されており、第一の光出射面131aと第二の光出射面141aとは、第一の光の光軸と第二の光の光軸とが近づくように、互いに非平行である。 (もっと読む)


【課題】長寿命、低抵抗で、高い発光効率(特に内部量子効率)を保持した発光素子を提供することを目的とする。
【解決手段】p型クラッド層と、(AlGa1−xIn1−yP(0≦x≦0.6,0.4≦y≦0.6)からなる3層以上の活性層及び該活性層よりAl含有率xが高い2層以上の障壁層が交互に積層された多重活性層部と、n型クラッド層とを有する化合物半導体基板を用いて製造された発光素子であって、障壁層は、n型クラッド層に近い側の障壁層に比べ、p型クラッド層に近い側の障壁層の方がバンドギャップが小さく、かつ、化合物半導体基板は、多重活性層部とn型クラッド層の間に、又は、n型クラッド層中に、超格子障壁層を有するものである発光素子。 (もっと読む)


【課題】反射率の高いAl層をn側電極に使用してn型導電層とのコンタクト層に使用した場合でも、加熱によるn側電極のコンタクト性の悪化を抑制して、電圧低下を抑制することができる窒化物半導体発光素子の製造方法および窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子は、窒化物半導体材料により形成されたn型導電性基板と、n型導電性基板に、n型導電層、発光層、p型導電層、p型半導体層上に設けられたp側電極と、p型導電層とは反対側のn型導電性基板上に設けられたn側電極とを備えている。n側電極をn型導電性基板上に設けるときには、まず、n型導電性基板にSiを含む塩素系化合物ガスの雰囲気中でプラズマ照射してn型導電性基板にイオン照射層を形成する(照射工程、ステップS52)。次に、イオン照射層上に、Al電極とボンディング電極とを含む電極を形成してn側電極とする(電極形成工程、ステップS60)。 (もっと読む)


【課題】本発明は発光ダイオードの製造方法に関する。
【解決手段】本発明によると、第1反応チャンバで、基板上に第1導電型窒化物半導体層及び活性層を成長させる段階と、上記第1導電型窒化物半導体層及び活性層が成長された状態の上記基板を第2反応チャンバに移送する段階と、上記第2反応チャンバで、上記活性層上に第2導電型窒化物半導体層を成長させる段階とを含み、上記基板を上記第2反応チャンバに移送する段階の前に上記第2反応チャンバの内部は窒化物ソースガス及び上記第2導電型窒化物半導体層に含まれるドーピング元素のソースガス雰囲気に組成されることを特徴とする発光ダイオードの製造方法を提供する。本発明による発光ダイオードの製造方法を利用すると、発光ダイオードを製造するにおいて、工程システムの運用能力と生産性を向上させ、さらには、これにより得られた半導体層の結晶性、ドーピングの均一性などが向上することができる。 (もっと読む)


【課題】発光素子の光抽出効率を改善して、光効率を向上させること。
【解決手段】実施例は、第1導電型半導体層、活性層及び第2導電型半導体層を含む発光構造物と、前記発光構造物の下部に形成されて、前記活性層から放出される光を放出する透明支持層と、前記透明支持層の下部に形成され、前記透明支持層を取り囲む反射層と、前記反射層の下部に形成され、前記反射層を取り囲む伝導層と、を含む発光素子を提供する。 (もっと読む)


【課題】 半導体発光装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】 半導体発光装置は、AlGaInPからなるn型クラッド層と、前記n型クラッド層上に形成され、アンドープのAlGaInPからなる発光層と、前記発光層上に形成され、Mgを添加したAlGaInPからなるp型クラッド層と、前記p型クラッド層上に形成され、Znを添加したp型のGaInPからなる電流拡散層とを有する。 (もっと読む)


【課題】素子寿命を改善できる窒化物発光素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体領域13−1は、活性層15−1上に設けられ、また第1領域13a−1及び第2領域13b−1を含む。第2領域13b−1は第1領域13a−1に沿って延在する。第1領域13a−1はリッジ部を含み、リッジ部はp型導電性を有する。第1領域13a−1の厚さT13a−1は第2領域13b−1の厚さT13b−1より大きい。III族窒化物半導体領域13−1は、p型ドーパント及び水素を含む。電極17−1は、第1領域13a−1のリッジ部の上面13c−1に接触JC1−1を成す。活性層15−1はIII族窒化物半導体からなる。金属層19−1は、水素化物を形成可能な材料からなり、また第2領域13b−1上に設けられる。多孔質陽極酸化アルミナ層21−1は、金属層19−1上に設けられる。 (もっと読む)


【課題】駆動電圧が低い半導体発光素子を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形半導体層と、電極と、p形半導体層と、発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記p形半導体層は、前記n形半導体層と前記電極との間に設けられる。前記p形半導体層は、前記電極に接するp側コンタクト層を含む。発光層は、前記n形半導体層と前記p形半導体層との間に設けられる。前記p側コンタクト層は、前記n形半導体層から前記p形半導体層に向かう第1方向に対して垂直な平面を有する平坦部と、前記平坦部から前記電極に向かって突出した複数の突起部と、を含む。前記複数の突起部の前記第1方向に沿った高さは、前記発光層から放出される光の主波長の1/4の長さよりも小さい。前記複数の突起部の前記平面内における密度は、5×10個/cm以上、2×10個/cm以下である。 (もっと読む)


【課題】GaN基板上に結晶成長する各半導体層の平坦性向上した半導体基板を実現し、この半導体基板を基礎として、特性の高性能化された半導体発光素子を提供する。
【解決手段】p型電極32と、n型電極31と、p型電極32に接続され、複数のp型窒化物系III−V族化合物半導体からなるp型積層構造(16〜20)と、n型電極31に接続され、複数のn型窒化物系III−V族化合物半導体であるn型積層構造(11〜14)と、p型積層構造(16〜20)とn型積層構造(11〜14)との間に形成された窒化物系III−V族化合物半導体からなる活性層15とを備え、n型積層構造(11〜14)がSiを5x1017cm-3以上2x1019cm-3以下の濃度で含有し、厚さが0.3nm以上200nm以下のドープ層10と、ドープ層10よりも活性層15側に設けられた超格子層13とを含む。 (もっと読む)


【課題】低減された酸素濃度のp型窒化ガリウム系半導体層を有するIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体素子11は、基板13、n型III族窒化物半導体領域15、発光層17、及びp型III族窒化物半導体領域19を備える。基板13の主面13aは、該第1の窒化ガリウム系半導体のc軸に沿って延びる基準軸Cxに直交する面Scから50度以上130度未満の範囲の角度で傾斜する。p型III族窒化物半導体領域19は、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21を含み、第1のp型窒化ガリウム系半導体層21の酸素濃度は5×1017cm−3以下である。第1のp型窒化ガリウム系半導体層21のp型ドーパント濃度Npdと酸素濃度Noxgとの濃度比(Noxg/Npd)が1/10以下である。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体の結晶性を高め、窒化物半導体発光素子の動作電圧を高める。
【解決手段】本発明の窒化物半導体発光素子は、基板上に形成されたn型窒化物半導体層と、該n型窒化物半導体層上に形成された発光層と、該発光層上に形成されたp型窒化物半導体層とを含み、n型窒化物半導体層は、1層または2層以上を積層したものであり、n型窒化物半導体層を構成する少なくとも1層は、SiとSnとをn型ドーパントして含み、かつInを等電子ドーパントとして含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高い光出力を保ちつつ、信頼性が改善された発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、発光層と、クラッド層と、電流拡散層と、第2の層と、電極と、を有する。クラッド層は、第1の導電形を有する。電流拡散層は、島状または網状の凸部および前記凸部に隣接して設けられた底部を含む表面を有する加工層と、前記加工層と前記クラッド層との間に設けられた第1の層と、を含む。電流拡散層は、第1の導電形の不純物濃度を有する。第2の層は、前記加工層と前記クラッド層との間に設けられ、前記電流拡散層の不純物濃度よりも高い不純物濃度を有する領域、および前記電流拡散層のドーパントとは異なるドーパントを有する領域、のいずれかからなる第1の導電形を有する。電極は、前記加工層の前記表面のうち前記凸部および前記底部が設けられていない領域に設けられる。 (もっと読む)


【課題】チップサイズ6.5mil(165μm)に対応するLED用エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】原料ホルダ1とその下方に配置された回収ホルダ2との間にスライダー3をスライド自在に設け、そのスライダー3に原料ホルダ1の原料溶液溜4から原料溶液が供給されると共に回収ホルダ2の溶液収納槽5へ原料溶液を排出する基板ホルダ部6を形成し、その基板ホルダ部6内に基板8を縦に複数枚保持させた後、スライダー3をスライドさせて基板ホルダ部6内に原料溶液を供給し、基板8上にエピタキシャル層を液相エピタキシャル成長させた後、スライダー3をスライドさせて基板ホルダ部6内の原料溶液を排出するLED用エピタキシャルウェハの製造方法において、基板8を基板ホルダ部6内に保持させる際に、隣り合う基板8,8間のメルト幅13を3mm以下とし、LED用エピタキシャルウェハの総厚を190μm以下とする。 (もっと読む)


【課題】信頼性を向上させた発光素子用エピタキシャルウェハ、及び発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子用エピタキシャルウェハは、n型基板1上に、少なくともP(燐)系結晶のn型クラッド層3、AlGa(1−x)As、又はGaAsなどのAs(砒素)系結晶で形成した量子井戸構造を有する発光層5、及びp型クラッド層7が順次積層された化合物半導体と、n型クラッド層3と発光層5との間に、発光層5を構成するAlGa(1−x)As層とは異なるAlGa(1−x)As層4とを有している。 (もっと読む)


【課題】単層で発光波長が相違する複数の発光を出射するIII族窒化物半導体単層を備えたIII族窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】基体と、基体上に形成され、ドナー不純物とアクセプター不純物が添加され且つガリウムを必須の構成元素として含むガリウム含有III族窒化物半導体層である多波長発光III族窒化物半導体層と、を備え、多波長発光III族窒化物半導体層は、窒素を含む第V族元素よりガリウムを含む第III族元素を化学量論的に富裕に含み、原子濃度が6×1017cm−3以上5×1019cm−3以下の範囲の珪素と、原子濃度が5×1016cm−3以上3×1018cm−3以下の範囲のマグネシウムと、合計の原子濃度が1×1017cm−3以下の範囲の遷移金属元素と、を含み、且つ、バンド端発光とは別に、波長400nm以上750nm以下の波長帯域において波長が異なる3個以上の光を同時に出射することを特徴とするIII族窒化物半導体素子。 (もっと読む)


【課題】p型III族窒化物半導体の電気特性を向上できるIII族窒化物半導体光素子を提供する。
【解決手段】窒化ガリウム系半導体領域15及び窒化ガリウム系半導体領域19は、基板13の主面13a上に設けられる。窒化ガリウム系半導体領域19は、p型ドーパントとしてマグネシウムを含むIII族窒化物半導体膜21を有しており、III族窒化物半導体膜21は、III族構成元素としてアルミニウムを含む。III族窒化物半導体膜21の酸素濃度は、1.0×1017cm−3以上の範囲にあり、III族窒化物半導体膜21の酸素濃度は、1.5×1018cm−3以下の範囲にある。また、III族窒化物半導体膜21の水素濃度は1.0×1017cm−3以上の範囲にあり、III族窒化物半導体膜21の水素濃度は1.5×1018cm−3以下の範囲にある。 (もっと読む)


【課題】白色LED等の半導体素子を簡単な構造をもって簡便に提供する。
【解決手段】基体と、前記基体上に形成され、ドナー(donor)不純物とアクセプター(acceptor)不純物が添加され且つガリウム(元素記号:Ga)を必須の構成元素として含むIII族窒化物半導体層と、を備え、前記III族窒化物半導体層は、窒素を含む第V族元素よりもガリウムを含む第III族元素を化学量論的に富裕に含んでなり、バンド(band)端発光とは別に、バンド端発光より長い波長の領域において、波長が異なる少なくとも3個の光を同時に出射する多波長発光III族窒化物半導体単層を備えていることを特徴とするIII族窒化物半導体素子。 (もっと読む)


【課題】
バッファ層に導電性を持たせつつもバッファ層上に形成されるデバイス層において良好な結晶性を得ることができる積層半導体およびその製造方法を提供する。
【解決手段】
前記GaN系窒化物半導体膜とは異種の材料からなる基板上に第1のバッファ層および第2のバッファ層を交互に3回以上繰り返し積層した中間層を形成する。前記中間層の上にGaN系窒化物半導体膜を成長させてデバイス層を形成する。前記第1のバッファ層は、単結晶成長温度よりも低い温度でシリコンをドープしつつGaN系窒化物半導体膜を成長させることにより形成される。前記第2のバッファ層は、単結晶成長温度でシリコンをドープしつつ互いに組成の異なる2種類のGaN系窒化物半導体膜を交互に繰り返し成長させることにより形成される。前記第1のバッファ層は、前記第2のバッファ層よりも高濃度でシリコンドープされる。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物系超格子と超格子上のIII族窒化物系活性領域とを有する発光ダイオードを提供すること。
【解決手段】活性領域は、少なくとも1つの量子井戸構造を有する。量子井戸構造は、第1のIII族窒化物系バリア層と、第1のバリア層上のIII族窒化物系量子井戸層と、第2のIII族窒化物系バリア層とを含む。III族窒化物系半導体デバイスと、少なくとも1つの量子井戸構造を含む活性領域を有するIII族窒化物系半導体デバイスの製造方法とが、提供されている。量子井戸構造は、III族窒化物を含む井戸支持層と、井戸支持層上のIII族窒化物を含む量子井戸層と、量子井戸層上のIII族窒化物を含むキャップ層とを含む。またInXGa1-XNとInYGa1-YNとの交互層(ここで0≦X<1および0≦Y<1、ならびにXはYに等しくない)の少なくとも2つの周期を有する窒化ガリウム系超格子を含む。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物系超格子と超格子上のIII族窒化物系活性領域とを有する発光ダイオードを提供すること。
【解決手段】活性領域は、少なくとも1つの量子井戸構造を有する。量子井戸構造は、第1のIII族窒化物系バリア層と、第1のバリア層上のIII族窒化物系量子井戸層と、第2のIII族窒化物系バリア層とを含む。III族窒化物系半導体デバイスと、少なくとも1つの量子井戸構造を含む活性領域を有するIII族窒化物系半導体デバイスの製造方法とが、提供されている。量子井戸構造は、III族窒化物を含む井戸支持層と、井戸支持層上のIII族窒化物を含む量子井戸層と、量子井戸層上のIII族窒化物を含むキャップ層とを含む。またInXGa1-XNとInYGa1-YNとの交互層(ここで0≦X<1および0≦Y<1、ならびにXはYに等しくない)の少なくとも2つの周期を有する窒化ガリウム系超格子を含む。 (もっと読む)


41 - 60 / 651