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気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成長法 (11,750) | プラズマCVD (3,069)

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【課題】TFTデバイスにおける高品質ゲート誘電体層を形成するのに有用な方法及び装置を提供する。
【解決手段】高密度プラズマ酸化(HDPO)処理層がチャネル、ソース、及びドレイン領域上に形成されて誘電体インターフェースを構成し、次に、1つ以上の誘電体層をHDPO層上に堆積して高品質ゲート誘電体層を形成する。HDPO処理は、一般的に、誘導及び/又は容量結合RF伝達デバイスを用いてプラズマを発生し、基板上で発生したプラズマを制御し、また酸化源を含有するガスを注入して界面層を成長させる。次に、第2誘電体層をCVD又はPECVD堆積処理を用いて基板上に堆積する。 (もっと読む)


【課題】チャンバ構成部品のような加工片の表面にテクスチャを設ける方法及びシステムを提供する。
【解決手段】本方法は、加工片をテクスチャ化チャンバへ供給するステップと、加工片の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップとを含む。形成されたフィーチャは、一般的には凹み、突起、及びそれらの組合わせである。プロセスチャンバ内の汚染を減少させる方法も提供される。この方法は、1またはそれ以上のプロセスチャンバ構成部品の表面を横切って電磁エネルギのビームを走査させて該表面上に複数のフィーチャを形成させるステップと、1またはそれ以上のチャンバ構成部品をプロセスチャンバ内に位置決めするステップと、プロセスチャンバ内においてプロセスシーケンスを開始するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】減圧下の処理室内で比較的高温となる処理が行われるような場合でも伝熱の影響を受けずに、処理室内に配置される部品を精度よく移動でき、構成部品組付の作業性が良い移動装置を提供する。
【解決手段】移動装置SMは、Z軸方向に所定間隔を存して配置された固定プレート5と可動枠6とを備える。固定プレートの開口51に嵌着された真空フランジ52を介して、処理室11を画成する外壁面に固定プレートが着脱自在に装着される。可動枠にアクチュエータ7〜7が設けられ、各アクチュエータのZ軸方向にのびる連結ロッド77で固定プレートと可動枠とが連結され、各アクチュエータの作動によりX軸方向、Y軸方向及びθ方向の少なくとも一方向に、固定プレートに対して可動枠が相対移動自在である。可動プレートに立設された複数本の保持ロッド8が、上記外壁面の透孔15に設けたシール部品16を介して処理室内に突出してマスクMを保持する。 (もっと読む)


【課題】誘導結合プラズマ処理装置において、大きな面積であっても効率的に高周波エネルギーを供給する高周波コイル配置を提供する。
【解決手段】誘電結合プラズマチャンバー200のためにRFエネルギーを結合するための配置であり、RFコイル215又はRF放射体は、チャンバー200のシーリング220に形成された溝の内部に組み込まれており、絶縁フィラーは、溝内のコイルを覆っている。シーリング220は、二つのプレート、つまり、導電性物質からなる上部プレートと誘電体物質からなる底部プレートからなり、物理的に接触している。コイルからの磁場の拡散を制御する磁気シールドはコイル215の上方に設けられてもよく、流体流路は、熱制御を提供するために導電性プレート内に設けられてもよい。また、流体導管は、金属プレートと誘電体プレートとの間のスペース中にガスを注入できるように設けられてもよい。 (もっと読む)


【課題】基体ホルダー外周面に残留したダストが円筒状補助基体と円筒状基体の端面間の隙間から飛散することを防ぐことができる真空処理方法を提供し、画像欠陥の原因となる電子写真感光体の球状突起を低減することにある。
【解決手段】真空処理方法であって、チャッキング部材の一部と円筒状補助基体の円筒状基体とは反対側の端面とが接触することによりチャッキング部材が円筒状補助基体を加圧し、円筒状補助基体が円筒状基体を押圧して両者の端面同士を密着させる工程と、円筒状基体と円筒状補助基体の端面同士が密着した状態で、搬送容器内を真空排気する排気工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】歪みを減少し、品質を向上させることができる成長基板及び発光素子を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施例による発光素子は、シリコン基板と、前記シリコン基板上に形成され、前記シリコン基板の一部を露出する第1バッファ層と、前記第1バッファ層及び前記露出されたシリコン基板を覆い、前記シリコン基板と共晶反応する物質からなる第2バッファ層と、前記第2バッファ層上に形成される第3バッファ層と、前記第3バッファ層上に形成される発光構造物とを備え、前記第2バッファ層はボイドを含む。 (もっと読む)


【課題】プラズマ発生器内のセンサの電源の具体的な構成を提供する。
【解決手段】プラズマ発生器は、容器10と、容器10に取り付けられ互いに対向するアンテナ(第一電極)22および下部ステージ(第二電極)32とを有し、アンテナ22に所定の周波数の電圧が印加されて下部ステージ32に交流バイアス電圧が印加されることにより、容器10内にプラズマ1が発生する。プラズマ発生器内の下部ステージ(第二電極)32にウェハ2が載せられており、測定装置4がウェハ2に載せられている。測定装置4は、電源装置41、センサ42、マイクロコンピュータ(測定結果処理器)44を有する。センサ42は、プラズマ発生器の内部の状態を測定する。電源装置41は、センサ42の電源となり、プラズマ1の発生に伴って生ずる光を受けて、電力に変換する太陽電池41aを備える。センサ42は太陽電池41aから電力を受けて作動する。 (もっと読む)


【課題】プラズマを用いて被処理基板に対してプラズマ処理を行なうプラズマ処理装置において、被処理基板載置部材の上に載置された被処理基板に傷が付くことを抑制する。
【解決手段】被処理基板100に対してプラズマ処理を行なうプラズマ処理装置1Aは、被処理基板載置部材5と、被処理基板載置部材5の表面5a上に設けられ、被処理基板載置部材5の上に載置された被処理基板100を上方支持することによって、被処理基板100と被処理基板載置部材5との間に隙間Sを形成する支持部材4と、被処理基板100に面するようにプラズマを生成することによって、被処理基板100にプラズマ処理を行なうプラズマ生成部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被処理体以外の部位への成膜を抑制した大気圧プラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置は、誘電体内にアンテナとアースが形成された面放電型の誘電体バリア放電方式のプラズマ源において、被処理体を前記プラズマ源に略接触させ、被処理体に対してプラズマ源を設置した面とは反対の面にプラズマを生成するようにした。 (もっと読む)


【課題】大気開放することなく真空槽内に付着したZr化合物を除去することのできるZrBO膜の形成装置を提供する。
【解決手段】プラズマCVD装置10は、基板Sを収容して接地電位に接続される真空槽と、載置された基板Sを加熱する基板ステージ13と、真空槽内に活性状態の酸素ガスと、Zr(BHとを各別に供給するシャワープレート16とを備え、加熱された基板S上でZrBO膜を形成する。シャワープレート16は、チャンバ本体11に対して電気的に絶縁された導体であり、シャワープレート16に接続された高周波電源RF1と、真空槽内にフッ素ガスを供給するクリーニングガス供給部とを備え、基板Sが真空槽内に収容されていない状態で、クリーニングガス供給部は、真空槽内にフッ素ガスを供給し、高周波電源RF1は、シャワープレート16に供給する高周波電力でフッ素ガスをプラズマ化して真空槽内に付着したZr化合物を除去する。 (もっと読む)


【課題】 表面処理中のパーティクルを計測し、パーティクルの粒度分布、荷電状態を測定し、その発生源を特定することにより、重点的・効率的なメンテナンスが可能な方法及び装置を提供する。
【解決手段】 プラズマ6を用いた真空チャンバ1内に1個以上のパーティクル計測用基材4を配置し、前記パーティクル計測用基材4にプラズマ電位より高い電位、略同一の電位、低い電位のうち少なくとも1つの電圧を前記基材4に個別に印加して所定の表面処理を実施した後前記基材に付着した前記パーティクルの粒度分布を計測し、該計測結果から所定の算出式により前記パーティクルの粒度別帯電状態の分布を算出する。 (もっと読む)


【課題】高品質な膜の形成を可能とできるプラズマ成膜方法を提供する。
【解決手段】プラズマ状態とし、重畳バイアス電圧をバイアス電圧印加部11に印加し、マイナス電圧区間ではイオンがワーク14に衝突して該ワーク表面に膜層を形成して行き、プラス電圧区間53では前記膜層の弱い付着力のイオンは該膜層から離れ移動し、かつ、電子が前記膜層に衝突して弱い付着力のイオンおよび該膜層の一部を剥がし、強付着力の膜による第1回目強付着膜層を残し、マイナス電圧区間とプラス電圧区間を繰り返すことにより、前記第1回目強付着膜層〜前記第n回目強付着膜層からなる多層膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】 シリコン系薄膜の製造方法に関して、大面積の基板を用いた場合においても、高品質かつ均一な薄膜を得られる方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 少なくとも、高周波電極と、該高周波電極と対向して配置される基板と、該高周波電極と対向して配置され、かつ、該基板を保持するホルダとを含み、プラズマCVD装置を使用するシリコン系薄膜の製造方法であって、
該高周波電極面と該ホルダ面との距離(E/H)、および該高周波電極面と該ホルダに保持された基板の面との距離(E/S)の差D=(E/S)−(E/H)が、
2mm以上4mm以下であり、かつ該距離(E/S)が、5mm以上10mm以下であることを特徴とするシリコン系薄膜の製造方法である。好ましくは該シリコン系薄膜が非晶質シリコン系薄膜であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理システム及び方法が、より高い動作周波数で向上した入力インピーダンスを有するRF電力を複数の電極に、より均一に分配するように提供される。
【解決手段】プラズマ処理システムは、電力バス及び接地バスと、正相一次電極バス及び負相一次電極バスと、正相二次電極バス及び負相二次電極バスとを含む。電力バス及び接地バスは、負相二次電極バスに、正相二次電極バスに供給されるRF信号と180度位相がずれたRF信号が提供されるように、絶縁トランスにより二次電極バスに結合される。二次電極バスは、コンデンサーにより各正相一次電極バス及び負相一次電極バスに結合される。一次電極バスのそれぞれは、真空チャンバー内の電極に結合される。一次電極バスをRF接地に結合する負荷コイルが、コンデンサーと協働して、電力バスでの入力インピーダンスを調整することができる。 (もっと読む)


【課題】パルス化された質量流量の前駆気体(precursor gases)を半導体処理チャンバの中へ搬送するシステム及び方法を提供する。
【解決手段】搬送チャンバ12と、チャンバ12の中への質量流量を制御する第1の弁14と、チャンバ12からの質量流量を制御する第2の弁とを含み、実際に、プロセス・チャンバの中へ流れ込む物質の量(質量)を測定する。チャンバ12内部の圧力の測定値を提供する圧力トランスデューサ18と、チャンバ12の表面上又は内部の温度の測定値を提供する温度センサ20とを有する。入力装置22は、所望の質量流量を受け取り、コンピュータ・コントローラ24が、圧力トランスデューサ18と温度センサ20と弁14及び16と入力装置22とに接続され、出力装置26は、コントローラ24に接続されており、システム10によって搬送される質量に関する指示。 (もっと読む)


【課題】シンプルな構成により、放電電極と対向電極との間隔を正確に設定可能にし、安定した製膜品質を得るとともに、製膜処理を施す基板の生産性を向上させる。
【解決手段】製膜装置1(真空処理装置)は、真空チャンバ2と、真空チャンバ2の内部に設けられた放電電極面4bを有する放電電極4と、真空チャンバ2の内部に設けられて、放電電極面4bとの間に所定の電極面間隔Cを介して平行に対向する対向電極面5bを有する対向電極5と、対向電極5を駆動して電極面間隔Cを変更する電極駆動機構15と、電極面間隔Cを決定するとともに、真空チャンバ2内の真空状態を維持しながら真空チャンバ2の外部から電極面間隔Cの設定を調整可能な電極面間隔調整装置28とを備えている。 (もっと読む)


【課題】上下方向で基板両面が基板よりも大きい輪郭の処理手段で覆われる場合でも基板とマスクの相対位置を撮像し、基板とマスクを精度よく位置決めでき、CVD装置に適用したときでも、膜厚や膜質の面内均一性よく成膜できる真空処理装置を提供する。
【解決手段】処理室1a内で基板Sに対向配置されるマスクMと、基板に対してマスクを相対移動させる移動手段63と、基板上側に配置されて基板の片面に対してマスク越しに所定の処理を施すガス導入部3及び高周波電源5と、基板の他面を覆うように基板下側に配置される本体21を有して基板の他面側から所定の処理を施す加熱プレート2とを備える。本体21下側に撮像手段7を設け、本体21に上下方向の透孔24aを形成すると共に透孔内に透光性部材24bを埋め込んで撮像用光路24を構成し、撮像用光路を通して撮像手段により基板とマスクの相対位置を撮像し、この撮像データを基に移動手段を制御する。 (もっと読む)


【課題】製膜速度の低下を抑制しながら、クラスターフリーもしくはクラスターが極少したシリコン系薄膜を製膜できるシリコン系薄膜の製造方法及びシリコン系薄膜の製造装置を提供することを目的とする。
【解決手段】シリコン系薄膜の製膜装置は、基板101が収容された真空容器内にSiを含む原料気体を供給し、プラズマ発生部103に設けた放電電極106に高周波電力を供給し、原料気体のプラズマを発生させて基板101上にシリコン系薄膜を製膜するシリコン系薄膜の製膜装置であって、基板101と放電電極106との間にクラスター除去部104が配置され、クラスター除去部104は、開口率が50%以上となるよう複数の開口部を備え、開口部は前記プラズマ発生部側と基板側を連通させ、開口部の開口幅が、製膜時の圧力下でのSiナノクラスターの平均自由行程の2倍以下であり、開口部の長さが、開口幅の2倍以上である。 (もっと読む)


【課題】基板用キャリアへの電気的接触を改善した要素を備える真空処理チャンバを提供する。
【解決手段】 具体的な実施例は、キャリアを支持する台を有するプラズマ処理チャンバを提供し、複数の固定ポストおよび弾性接触部が台の領域を通じて配布されている。固定ポストはキャリアへの物理的な支持を与える。一方、弾性接触部は、信頼性が高く繰り返し可能なキャリアへの多点電気的接触を提供する。 (もっと読む)


【課題】基板の温度均一性を向上させつつ、基板を高速に昇温する。
【解決手段】処理室内に設けられた第2基板支持部の上方に、処理室内に搬入された前記基板を第1基板支持部により第2基板支持部から離して支持させ、ガス供給部により処理室内にガスを供給させ、処理室内の圧力を基板の搬入時の圧力より高めさせた状態で、加熱部により基板を昇温させ、所定時間経過した後に、第1基板支持部から第2基板支持部へと基板を移載させ、加熱部により基板を加熱させながら基板を処理させる。 (もっと読む)


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