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Fターム[5F157BB66]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 液体による洗浄形態(又は方式) (4,470) | 洗浄の補助 (842) | 洗浄液の加熱冷却 (296)

Fターム[5F157BB66]に分類される特許

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【課題】基板の処理不良を防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】処理部のスピンチャック21には、スピンベース22が回転可能に設けられている。スピンベース22上には、基板Wを保持するための複数の保持部23が設けられている。各保持部23は、保持部材52および支持ピン81を有する。基板Wに処理液(薬液)が供給される際には、基板Wが支持ピン81上に支持された状態でスピンベース22が約300rpmで回転される。基板Wにリンス液が供給される際には、基板Wが保持部材52により保持された状態でスピンベース22が約1000rpmで回転される。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の酸化を抑制または防止しつつ、シリコン基板に対し処理液を用いた処理を施すことができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】スピンチャック3は、ウエハWをほぼ水平な姿勢でその裏面(下面)を吸着して保持する保持電極板5を備えている。保持電極板5には、直流回路22の電源の負極が接続されている。保持電極板5の上方には、対向電極板10が設けられている。対向電極板10には、直流回路22の電源の正極が接続されている。対向電極板10と、ウエハWの表面とを隙間dを隔てて対向させ、対向電極板10と保持電極板5との間に電位差が与えられる。この状態で、処理液ノズルからSPMが供給される。 (もっと読む)


【課題】処理液の再利用を好適に図ることができ,しかも排気量を低減させることができる,基板処理装置を提供する。
【解決手段】ウェハWを洗浄するウェハ洗浄装置5であって,APM及び純水を供給する供給ノズル34と,ウェハWを保持するスピンチャック31と,スピンチャック31を収納する容器30とを備え,容器30は内処理室42と外処理室43を備え,スピンチャック31に対して容器30を昇降自在に構成し,内処理室42にAPM及び室内雰囲気を排出する第1の排出回路50を接続し,外処理室43に純水及び室内雰囲気を排出する第2の排出回路51を接続し,APMを供給ノズル34から再びウェハWの表面に供給するように構成した。 (もっと読む)


【課題】所定の供給対象に安定した温度で処理液を供給することができる処理液供給装置およびそれを備えた基板処理装置を提供すること。
【解決手段】薬液供給装置12は、同種の薬液が貯留された第1および第2タンク13,14と、第1ヒータ17が介装された薬液供給管15と、薬液回収管16とを備えている。第1タンク13から処理ユニット2に供給された薬液は、薬液回収管16を介して第2タンク14に回収される。第2タンク14は、薬液移送配管24を介して第1タンク13に連結されている。薬液移送配管24には、第2ヒータ25および第2ポンプ26が介装されている。第2タンク14に回収された薬液は、第2ヒータ25による温度調節を受けた後、第2ポンプ26によって第1タンク13に移送される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、NiSi(ニッケルシリサイド)を有する半導体デバイスの製造プロセスにおいて、ドライプロセス後の残渣を効果的に除去することが可能な残渣除去液を提供する。
【解決手段】ニッケルシリサイド(NiSi)を含む半導体基板をドライエッチング及び/又はアッシングした後に存在する残渣の除去液であって、(a)pKaが10以上のアミンのフッ化物塩、及びフッ化テトラアルキルアンモニウムを含むテトラアルキルアンモニウム塩からなる群より選ばれる少なくとも1種、(b)酸、及び(c)水を含み、該(a)の濃度が15重量%以上であり、pHが6〜9である残渣除去液に関する。 (もっと読む)


【課題】絶縁層や窒化チタン層を有する半導体多層積層体においても、これらの層を浸食することなく、形成されているチタン被膜を除去することが可能なチタン除去液、及びそのチタン除去液を用いたチタン被膜の除去方法を提供する。
【解決手段】本発明のチタン除去液は、フッ酸、及び水溶性有機溶剤を含有し、水溶性有機溶剤が多価アルコールを含む。このチタン除去液は、全量に対して1.0質量%以下の過酸化水素を含有してもよい。 (もっと読む)


【課題】タングステン又はタングステン合金を含む層や窒化チタン層を有する半導体多層積層体においても、これらの層を浸食することなく、形成されているチタン被膜を除去することが可能なチタン除去液、及びそのチタン除去液を用いたチタン被膜の除去方法を提供する。
【解決手段】本発明のチタン除去液は、フッ酸、防食剤、及び水溶性有機溶剤を含有する。防食剤としては、環内に窒素原子を2個有する含窒素5員環化合物が用いられる。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板のデバイス面に形成された回路パターンを損傷させずに洗浄処理することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】液体と気体を2流体ノズル5で混合して気液混合流体とし、気液混合流体で基板を洗浄処理する処理装置であって、気体は窒素よりも分子量が小さいことにある。 (もっと読む)


【課題】「パターン剥がれ」が生じない条件で、高いパーティクル除去比を期待できる半導体基板等の洗浄方法を提供する。
【解決手段】洗浄槽として、主洗浄槽1を用意し、主洗浄槽1内において、洗浄対象となるウェーハ2の表面に、導入口3からエッチング液を供給してエッチングを行い、その後、pH調整用媒体として、pHが9.5〜10.5未満に保たれたアルカリイオン水を供給して洗浄を行い、次いで、洗浄媒体として、pHが10.5〜12.5に保たれたアルカリイオン水を供給して洗浄を行う。 (もっと読む)


マイクロエレクトロニクス洗浄用組成物であって、a)当該組成物の約80重量%〜約99重量%の少なくとも1つの有機スルホンと;b)当該組成物の約0.5重量%〜約19重量%の水と;c)当該組成物の約0.5重量%〜約10重量%のテトラフルオロホウ酸塩イオンを提供する少なくとも1つの成分とからなり、d)任意で、少なくとも1つの多価アルコールを含む、組成物は、Si系反射防止コーティングと低k誘電体の両方を有するマイクロエレクトロニクス基板またはデバイスからエッチング/アッシング残渣を洗浄する際に特に有用である。 (もっと読む)


【課題】洗浄排液を安価な汎用の配管で排出して移送することができ、また、洗浄液の加温エネルギーの低減を図ることもできる熱回収型洗浄装置を提供する。
【解決手段】被洗浄物を高温の洗浄液で洗浄する洗浄機1と、該洗浄機1に洗浄液を供給する手段と、該洗浄機1から洗浄排液を排出する手段とを有する洗浄装置において、該洗浄機1から排出される高温の洗浄排液と該洗浄機1に供給される洗浄液とを熱交換して該洗浄排液を冷却する熱交換器4を設けたことを特徴とする熱回収型洗浄装置。 (もっと読む)


【課題】高圧二酸化炭素を用いた洗浄等の処理工程後、被処理体の表面が高い清浄度に維持される簡易な処理方法、及び処理装置を目的とする。
【解決手段】被処理体を保持、収納する高圧容器11に、フィルタ13を有する供給ライン20から、高圧二酸化炭素を供給する工程(1)と、前記高圧二酸化炭素により被処理体を処理する工程(2)と、高圧容器11内の高圧二酸化炭素を排出ライン30から排出する工程(3)とを含み、前記工程(1)及び/又は前記工程(3)のにおける高圧二酸化炭素の流量を特定の条件に調整する、高圧二酸化炭素を用いた被処理体の処理方法。また、高圧容器11と供給ライン20と排出ライン30とを備え、供給ライン20及び/又は排出ライン30に、高圧二酸化炭素の流量を調整する流量調整手段40、50を有する処理装置1。 (もっと読む)


【課題】混合槽で生成される処理液の混合比率を一定に保つ。
【解決手段】まず排出弁23,24,25を開弁し、供給弁26〜31を閉弁して、原料液体A,B,Cを排出弁23,24,25から外部に排出する。その後、LFC20,21,22が検出する原料液体A,B,Cの流量が全て所定の流量に達した後に、排出弁23,24,25を閉弁し、供給弁17,29,31を開弁して、供給弁17,29,31を通して原料液体A,B,Cを第2の混合槽3に供給する。 (もっと読む)


【解決手段】本発明の一つの実施形態は、集積回路の製造方法である。製造方法は、まず、金属-誘電体ダマシン・メタライゼーション(金属化)層を備える基板を準備し、金属上にキャップを析出させる。キャップの析出後、アミンを加えてpHを約7から13に調節した洗浄溶液で基板を洗浄する。本発明の別の実施形態は、基板の洗浄方法である。本発明のさらに別の実施形態は、洗浄溶液の組成である。 (もっと読む)


【課題】銅を含む配線の腐食を抑制できる洗浄工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】まず半導体基板1上に銅を含む配線5wが形成される((A)工程)。配線5w上にエッチングストッパ膜6esが形成される((B)工程)。エッチングストッパ膜6es上に絶縁層6が形成される((C)工程)。絶縁層6に、エッチングストッパ膜6esに達するビアホール6vが形成される((D)工程)。ビアホール6vおよび絶縁層6の表面が有機溶剤Cで洗浄される((E)工程)。配線5wが露出するようにエッチングストッパ膜6esが除去される((F)工程)。露出した配線5wに電気的に接続する配線6wがさらに形成される((G)工程)。 (もっと読む)


【課題】洗浄液のランニングコストを低減する洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄液を循環させながら基板を洗浄する洗浄槽と、洗浄槽の排気中に含まれる気化している洗浄液を液化する凝縮器と、凝縮器により液化された洗浄液を洗浄槽に還流する還流手段とを備える。前記洗浄液は炭酸エチレンを含み、凝縮器は空気を冷媒としてもよく、気化している洗浄液の液化に伴って熱気として排出する。前記洗浄装置は、さらに、前記凝縮器から排出される熱気を、洗浄液の固化防止用熱源として洗浄装置の所定箇所に供給する。 (もっと読む)


【課題】液状被膜中へのガス成分の改善された拡散で半導体ウェーハを湿式化学的処理するのに特に効果的な方法を提供する。
【解決手段】a)半導体ウェーハを回転させ;b)100μmまたはそれ以下の直径を有する気泡を有する清浄化液体を、回転する半導体ウェーハに適用し、こうして液状被膜を半導体ウェーハ上に形成させ;c)回転する半導体ウェーハを、反応性ガスを有するガス雰囲気に晒し;d)液状被膜を除去する。
【効果】改善された粒子の清浄化がマイクロバブルとシリコン表面を腐蝕する清浄化化学薬品との組合せによって達成され、清浄化液体中への反応性ガスの改善されたガス輸送(拡散)は、有機汚染物質および金属含有汚染物質の酸化および除去を簡易化し、ウェーハの中心での液状被膜の隆起は、マイクロバブルの使用によって減少される。 (もっと読む)


【課題】乾燥用流体の消費量を抑制でき、乾燥用流体の汚染も防止できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板Wを保持する基板保持部1と、基板保持部1に保持された基板Wに対してアルカリを含む処理液を供給する第1の処理液供給部2aと、基板保持部1に保持された基板Wに対して乾燥用流体を供給する第2の処理液供給部2bとを備える処理液供給機構2と、を具備し、第2の処理液供給部2bの乾燥用流体吐出ノズル2fが、不活性ガスを噴射する外側配管と、この外側配管内に設けられ、乾燥用流体を吐出する内側配管との多重構造を有し、乾燥用流体を吐出しないとき、外側配管から不活性ガスを噴射して内側配管を外気から遮断するように第2の処理液供給部2bを制御する汚染抑制機構8を備える。 (もっと読む)


【課題】バンプショートの発生を防止して半導体素子の歩留まりを向上させるフラックスの洗浄方法を提供すること。
【解決手段】フラックス洗浄剤によりウェーハ1を洗浄する洗浄処理工程(A)と、前記洗浄処理後、連続して、液温40℃以上の脱イオン水によりウェーハ1をリンスする第1リンス処理工程(B)と、前記第1リンス処理後、連続して、液温25℃以下の脱イオン水によりウェーハ1をリンスする第2リンス処理工程(C)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】重大な金属腐食を伴わずにマイクロエレクトロニクスのデバイスを洗浄するのに有用であり、ILDに適合する洗浄製剤を提供する。
【解決手段】(a)フッ化物イオンを提供する少なくとも1種のフッ化物化合物、(b)アルファ−ヒドロキシカルボニル化合物のアミンまたはアンモニウム化合物とのオリゴマー型またはポリマー型結合体である少なくとも1種の「褐変」アルファ−ヒドロキシカルボニル化合物、および(c)水を含有する、半水性洗浄製剤を提供する。かかる製剤は、(d)少なくとも1種の極性、水混和性有機溶媒、(e)pH7以上、好ましくはpH約9.5ないし約10.8の最終組成物を産生するのに十分な量の、少なくとも1種の金属イオン不含塩基、および、1種またはそれ以上の(f)多価アルコール、および(g)界面活性剤を含む他の任意成分も含み得る。 (もっと読む)


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