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Fターム[5F157BC13]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄液成分による洗浄 (2,109) | 洗浄液 (1,241) | 濃度 (167)

Fターム[5F157BC13]に分類される特許

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【課題】極めて低い濃度に精度良く調整された薬液を、基板に供給することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】混合部材13には、集合導入管(低濃度薬液流通管)15と、アンモニア導入管16、過水導入管17、塩酸導入管18および高濃度ふっ酸導入管(高濃度薬液流通管)19が接続されている。集合導入管15は大流量の処理液が流通するラインである。集合導入管15は、低濃度ふっ酸配管33を介して、タンク38と循環路36を構成する循環配管39の途中部に接続されている。循環配管39とタンク38とによって循環路36が構成されている。循環配管39の途中部には、温度調節ユニット41が介装されている。 (もっと読む)


【課題】基板を品質よく処理することができる基板処理装置、ガス溶解液供給方法、および、基板処理方法を提供する。
【解決手段】二流体ノズル21と、二酸化炭素が溶解された炭酸ガス溶解水を二流体ノズルに供給する溶解液供給管22と、炭酸ガス溶解水の溶存ガスと同じ二酸化炭素をキャリアガスとして二流体ノズル21に供給するキャリアガス供給管23と、を備えている。二流体ノズル21は、炭酸ガス溶解水の液滴をキャリアガス(二酸化炭素)とともに基板Wに噴射する。噴射された炭酸ガス溶解水は溶解濃度が比較的に高い状態で基板Wに着液する。よって、基板を品質よく処理することができる。 (もっと読む)


【課題】 ベースから基板が落下することを低減し、十分な洗浄ができる基板の製造方法、を提供することを目的とする。
【解決手段】 ベース2に接着されたブロック1と、アルカリ液4と、を準備する工程と、ベース2に接着されたブロック1をスライスし、ベース2に接着された基板列とする工程と、基板列をアルカリ液4により洗浄する工程と、基板列をベース2から剥離し複数の基板1aとする工程と、を有し、アルカリ液はBrix値で管理される。 (もっと読む)


【課題】酸素濃度を低減した処理液で基板を処理できる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wを保持するスピンチャック3と、スピンチャック3に保持された基板Wに対向する基板対向面34を有し、基板対向面34の周囲からスピンチャック3に向かって突出した周壁部32が形成された遮断板6と、スピンチャック3に保持された基板Wに処理液を供給する第1上側処理液供給管35とを備えている。第1上側処理液供給管35には、第2上側処理液供給管38を介して第1配管内調合ユニット51から薬液が供給される。この薬液は、薬液原液と、不活性ガス溶存水生成ユニット50によって純水中の酸素が脱気され、当該純水中に不活性ガスが添加されて生成された不活性ガス溶存水とが第1混合部59内で混合されることにより調合されたものである。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】本発明の一実施形態によると、腐食防止剤と、可溶化剤と、脱酸素剤と、pH調整剤としても機能する錯化剤とを含む洗浄溶液が提供されている。本発明の別の実施形態では、pH調整剤と、随意的な錯化剤と、腐食防止剤とを含む洗浄溶液が提供されている。洗浄溶液は、可溶化剤を随意的に有してもよく、界面活性剤を随意的に有してもよく、誘電体エッチャントを随意的に有してもよい。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物の洗浄面の大径化に容易に対応できる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る超音波洗浄装置は、伝搬液15に超音波エネルギーを与える超音波振動子13と、前記超音波振動子によって超音波エネルギーが与えられた伝搬液を流す超音波伝搬管12と、前記超音波伝搬管の下方に配置された、被洗浄物21を保持する保持機構と、前記保持機構によって保持された被洗浄物の洗浄面に洗浄液を供給する洗浄液供給機構と、を具備し、前記超音波伝搬管12は、その側面が、前記洗浄液供給機構によって前記洗浄面に洗浄液を供給することで該洗浄面に形成される該洗浄液の液膜19に接触するように配置されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 (111)表面のシリコン(Si)基板に、原子レベルで超平坦な表面を実現する。
【解決手段】 シリコン基板(111)表面を、予め、フッ化アンモニウム(NHF)溶液で表面処理した後、濃度68%,沸点120.7℃の共沸硝酸溶液内に浸漬して、前記シリコン基板表面に二酸化シリコン(SiO)主体の被膜を形成し、ついで、濃度40重量%のフッ化アンモニウム(NHF)溶液で上記二酸化シリコン(SiO)主体の被膜をエッチング除去する。AFM像では、バイレイヤー ステップが観測され、表面粗さの指標(RMSラフネス値)が0.07nmと判定され、原子レベルでの超平坦な表面が形成できた。 (もっと読む)


【課題】塩化物等の析出のおそれがなく、かつ配管の劣化を直ちに検出可能なウェーハ製造装置用の配管構造及びこの配管構造を備えたウェーハ製造設備を提供する。
【解決手段】ウェーハ製造装置に塩酸を供給する配管構造において、外管21と、外管21の内部に挿入されたフッ素樹脂からなる内管22とを備え、内管22が塩酸を流通させる酸流通路23とされ、外管21と内管22の間には隙間24が設けられてこの隙間24が析出防止用流体を流通させる流体通路25とされていることを特徴とする配管構造12、14を採用する。 (もっと読む)


【課題】電解硫酸の生成のための電流効率を向上させるとともに、同時に、レジスト等の洗浄剥離効率を高めることのできる電解硫酸による洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】硫酸電解槽1に外部より第1の硫酸溶液を供給して電解を行い、前記硫酸電解槽1内に酸化性物質を含有する第1の電解硫酸を生成する工程と、前記硫酸電解槽1に、外部より、先に供給した第1の硫酸溶液より濃度の高い第2の硫酸溶液を供給して、前記硫酸電解槽1内において、前記第2の硫酸と前記第1の電解硫酸とを混合するとともに、更に、電解を行い、前記硫酸電解槽1内に硫酸と酸化性物質を含有する第2の電解硫酸よりなる洗浄液を生成する工程と、前記洗浄液を用いて洗浄対象物23の洗浄処理を行う洗浄処理工程とを備えたことを特徴とする電解硫酸による洗浄方法及び当該洗浄装置を用いた半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】薬液の使用量を抑えつつ基板表面を良好に処理することができる基板処理方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】初期薬液処理では、基板表面Wfにシリコン酸化膜が形成されており、基板表面Wfは親水面となっている。そこで、初期薬液処理(時刻0から時間T1が経過するまでの間)においてはフッ酸溶液の流量を510(mL/min)に抑えてフッ酸の使用量を抑制している。一方、初期薬液処理により基板Wのシリコン層の少なくとも一部が露出してくるタイミングでフッ酸溶液の流量を1530(mL/min)に増大させて連続薬液処理中を実行しているため、基板表面Wfの一部にシリコン層が露出して疎水面が形成されたとしてもフッ酸溶液が基板表面Wf全体をカバレッジしてシリコン酸化膜のエッチング除去を継続させることができる。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素を用いた半導体装置等では、理論値通りの特性が得られないことが多いため、本発明では、その原因を究明して炭化珪素の改善を図る。
【解決手段】炭化珪素表面における金属不純物濃度が高いこと、その表面金属不純物濃度を1×1011(atoms/cm)以下にすることにより、実質的に特性の劣化を防止できることを見出した。このような高い清浄度の表面を有する炭化珪素は硫酸と過酸化水素水を含む水溶液を用いて洗浄することによって得られる。 (もっと読む)


【課題】高濃度オゾン水中のオゾン濃度の減衰を抑制して、オゾン濃度の高い加熱オゾン水を効率的に製造することができる加熱オゾン水の製造方法を提供する。
【解決手段】純水又は炭酸ガス含有純水にオゾンガスを溶解させたオゾン水を加熱する加熱オゾン水の製造方法において、オゾン水を、液体を加熱媒体とする熱交換手段2により昇温速度6.0〜10.0℃/秒で60〜90℃に加熱する加熱オゾン水の製造方法。 (もっと読む)


【課題】電子材料の洗浄方法及び保管方法を提供する。
【解決手段】本発明の洗浄方法は、ヒドロキシ酸を含む溶液中で、マイクロバブルの存在下で洗浄することを特徴とする。
【効果】本発明の洗浄方法により、シリコンウエハ表面のパーティクル成分、油分汚染等を効率的に洗浄除去し、再汚染を防止することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】最上層配線はAl膜厚が厚いため、レジストの膜厚も下層に比べて厚く、エッチング時間も長いためAl側壁へのポリマ堆積が他製品に比べても非常に多い。Alエッチ後のポリマ剥離液として使用している標準的なフッ化アンモニウム系のポリマ剥離液の処理時間を単に延長するだけでは、強固なポリマ膜等に対しては完全に除去することができていないことが明らかとなった。
【解決手段】本願発明はフッ化アンモニウム系のポリマ剥離液(弗化物塩添加有機溶剤水溶液)が一定の水希釈領域(高Alエッチ・レート領域)において、アルミニウム系の金属又は合金に対して、著しく大きなエッチング速度を呈する性質を利用してアルミニウム系の配線をドライ・エッチングする際に形成される側壁ポリマをリフトオフさせるために、ウエハのデバイス面へのポリマ剥離液および純水等の洗浄液の供給を交互に繰り返すものである。 (もっと読む)


【課題】NiSi(ニッケルシリサイド)を有する半導体デバイスの製造プロセスにおいて、ドライプロセス後の残渣を効果的に除去することが可能な残渣除去液を提供する。
【解決手段】ニッケルシリサイド(NiSi)を含む半導体基板をドライエッチング及び/又はアッシングした後に存在する残渣の除去液であって、フッ化アンモニウム、フッ化アミン、フッ化テトラアルキルアンモニウムよりなる群から選ばれる少なくとも1種のフッ化物塩;フッ化物塩以外のアンモニウム塩、フッ化物塩以外のアミン塩、フッ化物塩以外のテトラアルキルアンモニウム塩よりなる群から選ばれる少なくとも1種のフッ化物塩以外の塩;並びに水を含み、フッ化物塩の濃度が5重量%以上、フッ化物塩以外の塩の濃度が3重量%以上、フッ化テトラアルキルアンモニウム及びフッ化物塩以外のテトラアルキルアンモニウム塩の合計濃度が15重量%未満であり、pHが7〜9である残渣除去液。 (もっと読む)


【課題】フッ素含有ガスを用いたプラズマエッチング工程で発生するプラズマ重合物を有する被洗浄物を、良好に除去できる洗浄方法を提供する。
【解決手段】フッ素含有ガスを用いたプラズマエッチング工程で発生するプラズマ重合物を有する被洗浄物を、含フッ素化合物を含有する洗浄液に浸す浸漬工程を有する洗浄方法であって、前記含フッ素化合物が、炭素数5以上の直鎖または分岐構造のパーフルオロアルキル基を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成されたパターンを破壊することなく、短時間でレジストを剥離することのできる、基板処理方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】イオン注入処理時のマスクとして基板上に形成され、イオン注入処理により表層部に硬化層が形成されたレジストに、流体を供給する工程と、前記流体を供給する工程の後に、前記レジストに、前記レジストを剥離する剥離液を供給する工程とを具備し、前記流体を供給する工程は、前記流体として、純水を流量比で1/400以上含む流体を供給する工程を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】処理液の消費量を減らすことができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理液を用いて基板に対して液処理を施す複数の処理部22−1乃至22−6と、複数の処理部22−1乃至22−6に処理液を供給する複数の処理部22−1乃至22−6で共通の処理液供給管210と、複数の処理部22−1乃至22−6のうち、稼働する処理部の数に応じて、処理液供給管210中の処理液の流量を増加又は減少させるように制御する流量制御部220と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】過硫酸の自己分解を抑制し、少量の薬品で高濃度の過硫酸をオンタイムで供給することができる過硫酸製造装置を提供する。
【解決手段】陽極12と、陰極14と、陽極12と陰極と14の間に設けられた隔膜10と、陽極12および陰極14の隔膜10と反対側の面に接触して設けられた集電体16,18とを有し、陽極12側および陰極14側に電解液として硫酸溶液を流し、陽極12と陰極14との間に電圧を印加して過硫酸を電解生成させる電解槽4を備え、10〜96重量%濃度の硫酸溶液を電解液として、1回の流通で0.001mol/L〜0.2mol/Lの範囲の濃度の過硫酸を生成させる過硫酸製造装置1。 (もっと読む)


【課題】過硫酸の自己分解を抑制するとともに、電極で生成する気体による電解効率の低下を抑制することができる過硫酸製造装置を提供する。
【解決手段】陽極12および陰極14が隔膜10側の面と集電体16,18側の面に通ずる少なくとも1つの流路を有し、集電体16,18が電極12,14側の面に電解液の流れる方向と略平行な少なくとも1つの溝を有することにより、あるいは、陽極12および陰極14が隔膜10側の面に電解液の流れる方向と略平行な少なくとも1つの溝を有することにより、過硫酸の自己分解を抑制するとともに、電極で生成する気体による電解効率の低下を抑制することができる過硫酸製造装置1。 (もっと読む)


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