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Fターム[5F157DC21]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | その他の課題の解決 (1,637) | 製造組立工程、検査、故障診断の改良 (75)

Fターム[5F157DC21]に分類される特許

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【課題】基板処理部に対する処理液の供給流量を調整するときの調整時間を短縮することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、基板Wを処理液で処理するための処理ユニット6と、処理ユニット6に処理液を供給するための処理液供給配管14と、処理液供給配管14に介装され、開度を変更するためのモータ24を有するニードルバルブ15とを備えている。処理液供給配管14およびニードルバルブ15は、流体ボックス7内に収容されており、この流体ボックス7によってニードルバルブ15全体が覆われている。制御部8がモータ24を制御してニードルバルブ15の開度を変更することによって、処理ユニット6に対する処理液の供給流量が変更される。 (もっと読む)


【課題】反応槽のクリーニングのためのドライエッチングの終点判断を正確に行うことができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】製造装置の反応槽内で基板上に構造膜を形成することにより半導体装置を製造するプロセスにおいて、反応槽内のクリーニングを行う。すなわち、反応槽の内壁にホウ素を含有したシリコン窒化膜からなるプレコート膜を堆積させ(ステップS11)、反応槽内において基板上に構造膜としてホウ素を含まないシリコン窒化膜を形成し(ステップS12)、反応槽の内壁をドライエッチングしてクリーニングする(ステップS13)。このとき、ドライエッチングは、反応槽から排出されるガスにホウ素が検出された後で終了させる。 (もっと読む)


【課題】チップ領域数を減らすことなく半導体ウェハにウォーターマークモニタ用パターンを配置する方法の提供。
【解決手段】半導体ウェハのスクライブライン領域5に、ウォーターマークモニタ用パターンとして第1モニタ用パターン7、第2モニタ用パターン9及び第3モニタ用パターン11が形成されている。第1モニタ用パターン7は半導体基板表面に形成された凹部によって形成されている。第2モニタ用パターン9は半導体基板表面に形成された複数の絶縁材料パターン9aによって形成されている。第3モニタ用パターン11は、半導体基板上に形成された半導体膜11aからなり、半導体膜11aには不純物が導入されていない第1半導体膜領域11bと第1半導体膜領域11bに隣接して形成された不純物が導入されている第2半導体膜領域11cが形成されている。 (もっと読む)


【課題】表面処理装置のノズルを処理槽から分離可能とし、かつ、処理槽内のガスが処理槽の設置口の周縁部とノズルとの間を通って外部に漏れるのを防止する。
【解決手段】処理槽10により、被処理物9の処理空間19を囲む。ノズル20を処理槽10の設置口13を介し処理空間19に臨ませ、処理空間19に処理ガスを供給する。ノズル20を処理槽10に対し分離可能又は移動可能にする。処理槽10の設置口周縁部14とノズル20との間を環状のシール部材30によって気密に塞ぐ。好ましくは、シール部材30を、柔軟性及び伸縮性を有するシート状にし、設置口周縁部14とノズル20とで作る環状の空間13aに張り渡す。 (もっと読む)


【課題】高濃度の処理ガスを用いる場合であっても、濃度計を用いることなく処理ガスの濃度を求めることができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】制御部69は、記憶部71に予め記憶してある、有機溶剤の飽和蒸気圧曲線に基づく圧力ごとの温度対濃度の露点情報と、圧力計56からの測定圧力と、温度計57からの測定温度とに基づき、処理ガス中における有機溶剤の濃度を算出濃度として算出する。この算出濃度は、表示部73に表示される。したがって、濃度計を用いることなく処理ガス中におけるイソプロピルアルコールの濃度を求めることができ、装置のオペレータに知らせることができる。また、強い減圧力のポンプ及び処理ガスの採取部を必要としないので、構成を簡単化することができて装置コストを低減することができる。 (もっと読む)


【課題】 シールリングの劣化による液漏れリスクを低減し、メンテナンスコストの削減を図るとともに、信頼性向上に寄与する。
【解決手段】 外面に形成した熱交換面を冷却又は加熱することにより内部に流通する薬液Lに対して熱交換を行う薬液用熱交換器1を構成するに際して、所定の焼成素材Mを焼結して全体を一体形成することにより、内部に薬液Lを流通させる薬液流通路Rを設け、かつ少なくとも外面となる上面2u及び下面2dに熱交換面Cu,Cdを設けるとともに、上面2u及び下面2dの少なくとも一方に薬液流通路Rに臨む流入口Ri及び流出口Reを設けた熱交換ブロック2と、上面2u及び下面2dの少なくとも一方2u(2d)に固定し、かつ流入口Riに連通する流入側接続部Ji及び流出口Reに連通する流出側接続部Jeを設けた接続用ヘッダ3とを具備する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、表面の有機物と金属不純物の両方を除去して清浄化できる方法と、清浄化した酸化物基板に酸化物薄膜を形成する方法の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、真空雰囲気中に置いた酸化物基板5を加熱することなしに、その表面に原子状水素および原子状重水素のうち少なくとも一方を接触させて該酸化物基板5の表面から金属不純物を除去する第1の清浄化工程と、前記酸化物基板5の表面に酸素プラズマを接触させて該酸化物基板5の表面から有機系不純物を除去する第2の清浄化工程を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 耐久性とコストを両立する合板素材の振動板について、共振性能を向上させることができる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】 洗浄液を保持する洗浄槽と、洗浄槽に振動を伝播可能に設けられる振動板と、振動板を振動させる超音波振動素子とを具備する超音波洗浄装置であって、振動板は、第1素材により形成される第1板材と、第1板材に重ね合わされ第2素材により形成される第2板材からなり、第1板材の厚さをt、第2板材の厚さをt、第1板材の音速をv、第2板材の音速をv、超音波振動素子の発振周波数をf、自然数をnとすると、
【数1】


の関係を満たすことを特徴とする超音波洗浄装置。 (もっと読む)


【課題】表面に酸化銅が形成された銅膜を有する基板に対し、有機酸にてドライクリーニングを施して酸化銅を除去する際に、その終点を簡便にかつ高精度で、迅速に検出することができる終点検出方法を提供すること。
【解決手段】処理室内に有機酸ガスを導入してドライ洗浄処理を行っている際の処理室内のガスまたは処理室から排出されたガスの分析を行って、酸化銅が形成されている際と酸化銅が除去された際との所定のガス成分の濃度変化に基づいて終点を検出する。 (もっと読む)


【課題】
洗浄液を効率的に処理してミストを発生させず、部品交換の必要のない低コストのウェーハ洗浄装置を提供すること。
【解決手段】
洗浄槽21と、回転テーブル22と、洗浄ノズル14と、回転テーブル22外周部近傍に設けられたリング23と、回転テーブル22の底部外周縁に設けられた複数の板状部材25とにより、洗浄液を飛散させず、ミストを吸引しながらウェーハの洗浄を行なう。 (もっと読む)


【課題】Al合金膜のシリコン残渣が除去できて、製造工程の簡素化、製造コストが低減される半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法はシリコン基板1上にシリコンを含有するAl合金膜3を形成する工程と、Al合金膜3上にレジストパターン4を設ける工程と、レジストパターン4をマスクとしてAl合金膜3をエッチングする工程と、エッチ後洗浄する工程と、2流体ノズル6によってシリコン残渣5を除去する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】エキシマランプの放電容器が不意に破損しないように、エキシマランプの点灯の可否を判断する方法を提供する。
【解決手段】放電容器10内に形成された密閉空間に放電ガスが封入されると共に、当該密閉空間10を挟んで一対の電極17,18が前記放電容器10の外表面に形成され、前記放電容器10の内面に前記密閉空間内に発生した紫外線を光出射方向に向けて反射する紫外線反射膜が形成されたエキシマランプ1において、前記放電容器10が被処理体Wから遠ざかる方向に変形することを規制することにより生じる負荷を圧電素子3で電気信号に変換し、該負荷に対応する実測値と前記放電容器に割れが生じる危険性を有する水準の負荷に対応する基準限界値とを対比して、前記エキシマランプ1の点灯の可否を判断する。 (もっと読む)


【課題】この発明は、CF以外の最適なフッ素系ガスを使用すると共にプラズマ処理能力を向上させたプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】この発明は、処理ワークが配される処理空間と、該処理空間内にガスを導入するガス導入手段と、前記処理空間内に放電プラズマを形成するプラズマ生成手段とによって少なくとも構成されるプラズマ処理装置において、前記処理空間に導入されるガスは、フッ化カルボニル(COF)又はトリフルオロメタン(CHF)を含むガスであり、このガス圧力は、0.001Torr〜100Torrの範囲内であることを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】被処理物の種々のサイズに対応可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置Mは、長手方向に連なる複数の電極ユニット10,10を備えている。各電極ユニット10は、互いに対応する長さの第1、第2電極部材11,12と、第1誘電部材13と、一対のサイドフレーム16を有している。複数の電極ユニット10,10における第1電極部材11,11どうし、第1誘電部材13,13どうし、及び幅方向の同側のサイドフレーム16,16どうしが、それぞれ互いに同一規格に形成されるとともに長手方向に連ねられている。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理において、プラズマ照射部の熱を効率的に利用し、処理効率を高める。
【解決手段】プラズマ照射部10から処理位置Pに向けてプラズマを照射する。被処理物9を移動手段20によって処理位置Pを横切るように一方向に移動させる。処理位置Pを挟んでプラズマ照射部10側とは反対側に熱授受部材30を設ける。熱授受部材30の受熱部30aは、プラズマ照射部10と対向するよう配置され、プラズマ照射部10からの熱を受ける。この受熱部10から前記移動方向の少なくとも上流側に放熱部30bを延出する。放熱部30bは、受熱部10から伝播された熱を放射する。熱授受部材30の裏面に凸条32を設ける。 (もっと読む)


【課題】被処理物の処理スピードを高め、しかもランプハウスへの白粉の付着によって処理ムラ等が発生することを防止できる紫外光洗浄装置を提供する。
【解決手段】ランプハウス30には、紫外線ランプ32群全体を四周から囲んで下面側を開放させた開放ハウジング33が設けられている。開放ハウジング33の天井部には、例えばステンレス板に1〜3mmの孔を多数形成した多孔のガス拡散板35を配置してあり、ここから清浄な窒素ガス(不活性ガス)を供給して、紫外線ランプ32の周囲からワークWの紫外線照射空間Xにかけて全体が窒素で満たされ、酸素がほとんど存在しない不活性ガス雰囲気に維持される。 (もっと読む)


【課題】Ta、Ti、Ta−N、Ti−Nの成膜工程で使用した成膜装置部品の表面に付着・堆積した堆積物を、基材をできる限り傷めることなく、しかも短時間で除去する洗浄方法を提供する。
【解決手段】アルミニウム、ステンレス又はアルミナセラミックス等から構成される成膜装置部品の表面を算術平均粗さRaとして5ミクロン以上に粗面化することで、Ta、Ti、Ta−N、Ti−N堆積膜の形状を粒状に制御し、次いで硫酸とフッ化水素酸からなる洗浄液で洗浄することにより、堆積膜を除去する方法であり、粗面化した部品表面としては、部品表面にアルミニウム又はチタンの溶射膜を設けて粗面化したものが好ましい。 (もっと読む)


【課題】筐体内部等に対するメンテナンス性を阻害することのない筐体カバー機構を提供する。
【解決手段】少なくとも開口部233aを閉塞し得る大きさを有し可撓性を有するシート状カバー部材202を、移動手段215によって開口部233aを閉塞する閉塞位置と開口部233aを開放する開放位置との間で移動させることで、開口部233aを開閉するように構成し、開口部233aの開放時にはシート状カバー部材202を筐体233内部のメンテナンス性を阻害しない状態に維持することができるようにした。 (もっと読む)


【課題】本発明は、基板処理装置及びその製造方法を開示し、工程設備の工程ユニットをモジュール化し、モジュール化された工程ユニットをメインフレームに脱着可能に設置することを特徴とする。
【解決手段】工程設備の製造に必要とする作業時間及び作業量を減少させることができるだけでなく、各工程ユニットの維持補修をより容易に実施できる基板処理装置及びその製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】ウェーハを、凹部が形成された裏面を露出した状態に全面載置型のスピンナテーブルに保持して洗浄した後に、該ウェーハを安全、かつ確実に取り上げて所定の搬送先に円滑に搬送する。
【解決手段】スピンナテーブル71に保持して洗浄したウェーハ1の環状凸部5Aをウェーハ取り上げ機構90の吸着パッド94で吸着して取り上げ、次いで、露出した表面側を搬送ロボット23のロボットピック23cで受け取って吸着、保持し、搬送ロボット23を作動させてウェーハ1を回収カセット22B内に移送して収容する。 (もっと読む)


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