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国際特許分類[B24B7/04]の内容

国際特許分類[B24B7/04]に分類される特許

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【課題】
周縁の回路部用段部にプリント印刷を施し積層された液晶用ガラスの両面を全自動で研磨加工をする装置は無く、手間暇係る作業となっており、苦慮している実情である。
【解決手段】
本発明は、基板に対向基板を積層した液晶用ガラスAと、送出側カセット手段1と、加工前仮置き台2と、研削研磨加工手段3と、洗浄手段4と、反転手段5と、加工後仮置き台6と、テープ貼着手段7と、テープ剥離手段8と、収納側カセット手段9と、送出側カセット手段1と加工前仮置き台2と加工後仮置き台6とテープ貼着手段7とテープ剥離手段8と収納側カセット手段9との間で移送をさせる第1の移送手段10と、加工前仮置き台2と研削研磨加工手段3と洗浄手段4との間で移送をさせる第2の移送手段11と、反転手段5と加工後仮置き台6との間で移送をさせる第3の移送手段12を備えた。
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【課題】板状研削物の仕上がり面精度を低下させることなく、研削時間を短くする。
【解決手段】第2のエアーベアリング26に支持された研削ホイール25の研削砥石27を第1のエアーベアリング13に支持されたチャックテーブル10上のウェーハ9に押し付け、研削砥石27がウェーハ9を実際に研削し始めるときの第1のエアーベアリング13に設けた1対のチャック側圧力ポート41,42の圧力差P0Ac又は、第2のエアーベアリング26に設けた1対の砥石側圧力ポート43,44の圧力差P0Bwを計測し、記憶する。研削砥石27の切り込みを停止して研削ホイール25とチャックテーブル10とに溜まった撓みを開放するときに計測される1対のチャック側圧力ポート41,42の圧力差PAC又は1対の砥石側圧力ポート43,44の圧力差PBWが、記憶された圧力差P0Ac又はP0Bwまで低下したときに研削砥石をウェーハ9から離脱させる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、容易かつ正確にワークと砥石との相対角度の変化を検出できる研削盤を提供すること。
【解決手段】研削盤は、ワーク8を支持するワーク台5と、砥石16を回転駆動しつつ支持する砥石台13と、砥石台13を支持台12上で、角度調節し得る可動機構とを備え、第1のセンサ53と第2のセンサ54との変位の差により砥石16の傾きを検出する。このとき2つのセンサ53,54間の距離はワーク8の研削の幅より大きく構成されている。そのため、傾きのみを抽出するとともにセンサ53,54の見かけ感度を高め、正確にワーク8と砥石16との相対角度の変化を検出できる。 (もっと読む)


【課題】研削砥石を目詰まりさせることなく、仕上がり面精度を悪化させないで微少量のみ研削を行うことができる板状被研磨物の研削方法及び研削装置を提供する。
【解決手段】研削砥石が所定の研削圧力を受けて自生発刃を行いながらウェーハを安定して研削し始めるときの砥石回転用モータの消費電力である仕上げ電力W3を予め計測してティーチングしておく。チャックテーブルを回転させると共に、砥石回転用モータによって研削ホイールを回転させ、研削砥石をウェーハに近付けて当接させ、押し付けながら切り込んで研削する。砥石回転用モータの消費電力が仕上げ電力W3と等しくなったときに、研削砥石の切り込みを停止して、研削ホイールとチャックテーブルとに溜まった撓みを開放する。所定の研削量が削られた段階で研削砥石をウェーハから退避させる。 (もっと読む)


【課題】 簡便な構成で高い信頼性が図られる。
【解決手段】 被研磨材Wが、ワーク保持部30の表面側に形成されるとともに、前記被研磨材の裏面により閉塞される密閉空間36内に供給された加圧流体によって、その裏面側から押圧された状態で、ワーク保持部30の表面に保持されて、パッド保持部20に設けられた研磨パッド21により研磨される構成とされた研磨機10であって、加圧流体供給手段40は、加圧流体を供給する駆動部と密閉空間36とを連結させる加圧流体供給路41を備え、加圧流体供給路41に、前記加圧流体の流れを検知するフローメータ43が設けられ、該フローメータ43の出力信号に基づいて前記両保持部20、30の駆動を制御する制御部51が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 チャック径より小口径の半導体ウェーハを吸着固定して切削加工することを可能とし、半導体ウェーハの外周だれを抑制して厚み均一性が向上する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 チャックテーブル4のバリア部4bの外径φDbよりも小径で、かつチャックテーブル4の多孔部4aの外径(バリア部内径相当)φDhよりも大径なる支持板3に、支持板3の外径φDsよりも小径の加工前半導体ウェーハ1(外径φDw)を接着剤2を介して貼付し、加工前半導体ウェーハ1を半導体素子面側と相反する面側から加工し、加工前半導体ウェーハ1の加工除去部1bを取り除き、加工前半導体ウェーハ1を所望厚みの半導体ウェーハ1aに加工する(外径サイズ関係;φDb>φDs>φDh>φDw)。 (もっと読む)


【課題】スタンパの記録面に非接触でスタンパの裏面(非記録面)を研磨する。
【解決手段】スタンパ用裏面研磨機(10)は、スタンパ(1)を研磨位置でその中心のまわりに回転可能にガイドするガイド部材(30)と、スタンパ(1)に対して偏心して配置され、スタンパ(1)の裏面と接する研磨面にスタンパ(1)を磁気吸着可能な研磨盤(40)と、研磨盤(40)をその中心のまわりに回転駆動するモータ(60)とを備える。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で容易に板状被研削物を均一な厚さに研削する。
【解決手段】研削砥石27がチャックテーブル10の回転中心X上に載るようにチャックテーブル10の回転中心Xと研削ホイール25の回転中心Yとをオフセットして配置する。第1のエアーベアリング13に1対のチャック側圧力ポートを設け、第2のエアーベアリング26に1対の砥石側圧力ポートを設ける。第1のエアーベアリング13のハウジング12は、ウェーハ9の研削砥石27に対する当たり面の傾斜角を調整可能に構成する。1対のチャック側圧力ポートと1対の砥石側圧力ポートとで検出した圧力差PAC、PBWに基づいて、第1のエアーベアリング13のハウジング12を傾斜させる。 (もっと読む)


【課題】 基板の厚みが25〜50μmと極薄となっても、基板の研削工程中に基板の厚み測定誤差を小さくできる2点式インプロセスゲ−ジ機器の提供。
【解決手段】 接触子17bを支持するア−ム17eを冷却する冷却液供給機構24、2点式インプロセスゲ−ジ機器17を研削装置の基台より立設して支持する中空支柱19を冷却する支柱冷却手段20、および研削液飛散がア−ム17e,17fや接触子17a,17bに付着するのを防止する防水カバ−28を設けた2点式インプロセスゲ−ジ機器17。 (もっと読む)


【課題】装置及び工程を複雑にすることなく、簡単な方法で研削痕が発生するのを防いで良好な研削面を得る。
【解決手段】研削砥石27(研削手段)を回転させる砥石軸21(第1回転軸)の回転数をウェーハ9(被研削物)を回転させるチャック回転軸15(第2回転軸)の回転数で割った回転数比が整数倍とならないように、チャック回転軸15の回転数を変化させる。 (もっと読む)


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