【課題】クロックゲーティング回路を搭載した半導体集積回路の回路規模の増大を抑制しながら、テスト時の消費電力を低減する。
【解決手段】本発明による半導体集積回路は、第１フリップフロップ回路５、第２フリップフロップ回路７、制御回路３、及びクロックゲーティング回路２を具備する。第１フリップフロップ５は、スキャンシフトによって第１データを格納する。第２フリップフロップ７は、スキャンシフトによって第２データを格納する。第３制御回路３は、第１データとスキャンイネーブル信号ＳＭＣとの論理演算結果と、第２データと組合せ回路９からの第１イネーブル信号ＥＮ１との論理演算結果との論理演算結果をゲート制御信号Ｃ１として出力する。クロックゲーティング回路２は、ゲート制御信号Ｃ１に応じて次段のフリップフロップ回路１へのクロック信号ＣＬＫの伝播を制御する。 （もっと読む）

【課題】 消費電流を抑えるため間欠動作するようにした温度検出用半導体集積回路において、外部端子を増加させることなく回路の評価および検査が行えるようにする。
【解決手段】 発振回路（１６）を備え、消費電流を抑えるため間欠動作する温度検出用半導体集積回路において、温度検出回路（１１）の出力と基準電圧とを比較する電圧比較回路（１３）の出力に対応した信号を出力する外部端子（ＤＥＴ）と、該外部端子に負電位が印加されたことを検出した場合に、温度検出回路と基準電圧回路と電圧比較回路を活性化させる信号を生成する制御回路（１７）と、制御回路が活性化信号を出力しかつ温度検出回路の出力が基準電圧を超えたと電圧比較回路（１３）が判定した場合に電流を流す電流回路（ＳＷ１，Ｒ０，ＳＷ２）とを設けるようにした。 （もっと読む）

【課題】不揮発性記憶装置内の制御プログラムの書き換え時間を短縮すること。
【解決手段】バウンダリスキャン回路は、不揮発性記憶装置に接続された第１バウンダリスキャンレジスタ装置、及び、不揮発性記憶装置に接続されない第２バウンダリスキャンレジスタ装置を含む回路であって、第１バウンダリスキャンレジスタ装置及び第２バウンダリスキャンレジスタ装置の双方を経由する第１経路と、第１バウンダリスキャンレジスタ装置を経由し第２バウンダリスキャンレジスタ装置を経由しない第２経路とが切り替え可能に接続される。制御信号回路は、ＴＡＰコントローラからバウンダリスキャンレジスタ装置に入力される制御信号の入力経路が、第１経路又は第２経路の切り替えに応じて切り替え可能に接続される。 （もっと読む）

【課題】評価環境を簡易化し、評価の効率化を図ることができる評価基板を得る。
【解決手段】評価基板１はパワーモジュール２を評価するために用いられる。パワーモジュール２は、パワー半導体装置３と、パワー半導体装置３の特性を検出する温度検出部４及び電圧検出部５とを有する。評価基板１の１枚の基板７に、電源回路８、フォトカプラ駆動回路９、及び表示部１０が設けられている。電源回路８はパワーモジュール２に電力を供給する。フォトカプラ駆動回路９はパワー半導体装置３を駆動する。表示部１０は温度検出部４及び電圧検出部５から入力した検出信号を表示する。 （もっと読む）

【課題】回路基板上の電源回路の出力電流の測定や各素子に流れる電流の測定にかかる手間と時間を削減することができる汎用性の高い電流測定治具を提供する。
【解決手段】測定対象となる素子１１を搭載し、回路基板１に実装される電流測定治具１０は、素子１１を保持する保持部１２と、保持部１２に保持された素子１１と回路基板１とを電気的に接続する導電部１３と、導電部１３に並列に接続可能なループケーブル１４と、を有し、導電部１３には、ループケーブル１４が導電部１３に接続されたときに素子１１と回路基板１との間に流れる電流をループケーブル１４に迂回させるスイッチ部２０が設けられている。 （もっと読む）

【課題】差動伝送方式を採用した半導体装置の試験で行われるＴＤＲタイミング測定の校正精度の低減を抑制すること。
【解決手段】複数のプローブ針を有し、プローブ針を半導体装置の電極パッドと接続させて所定の試験を行うためのプローブカードであって、互いに異なる電極パッドＰ１及びＰ２に接続するよう配置され、対となっている差動信号入力用の第１及び第２のプローブ針１ａ及び２ａと、互いに異なる電極パッドＰ１及びＰ２に接続するよう配置された第３及び第４のプローブ針１ｂ乃至２ｂ´と、第３及び第４のプローブ針１ｂ乃至２ｂ´各々と接続して、第３及び第４のプローブ針１ｂ乃至２ｂ´を導通させる配線３及び抵抗部材ＲＴと、を有し、第３及び第４のプローブ針１ｂ乃至２ｂ´、配線３及び抵抗部材ＲＴは電気的にフローティングな状態となっている。 （もっと読む）

【課題】消費電力を抑制する。
【解決手段】電源装置から印加された電源電圧により動作する対象回路の消費電流を補償する補償装置であって、電源装置から対象回路へと電源電圧を供給するための電源配線に接続され、電源配線に流れる電流を消費する電流消費部と、電流消費部に印加される電源電圧に応じて電流消費部により消費される電流を変化させる電流制御部と、電流消費部の基準電流量を変更する設定部と、を備え、設定部は、対象回路がスタンバイ状態において、基準電流量を低減する補償装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】電子機器の通常動作を妨げることなく、ＣＰＵの経時劣化を保障し、電子機器の性能を維持することができるようにする。
【解決手段】保守装置１は、ＣＰＵ１１に内蔵されるセンサ回路１２からＣＰＵ１１の劣化に応じて変化する劣化情報をＣＰＵ１１の通常動作時に取得する劣化情報取得部２と、劣化情報に基づいてＣＰＵ１１の劣化の進行度を示す劣化レベルを判定する劣化レベル判定部３と、劣化レベルの増大に伴いＣＰＵ１１に印加される電源電圧を増加させるように電源１３を制御する電源制御部４とを備える。 （もっと読む）

【課題】制御信号を必要とせずにスキャンテスト時のピーク消費電力を低減することが可能な出力制御スキャンフリップフロップを提供すること。
【解決手段】本発明にかかる出力制御スキャンフリップフロップは、通常動作時に第１データを、シフト動作時にテストデータを、クロック信号に同期して取り込んで出力するスキャンフリップフロップ２０３と、シフト動作時にスキャンフリップフロップ２０３から出力されたデータを、クロック信号に同期して取り込んで出力するスキャンフリップフロップ２０４と、通常動作時にスキャンフリップフロップ２０３から出力されたデータを出力データとして生成し、シフト動作時にスキャンフリップフロップ２０３，２０４からそれぞれ出力されたデータに基づいて論理値変化率の低い出力データを生成するゲーティング回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】高周波回路チップ上の回路と、モジュールを構成する配線基板上の回路についてその相対位置を検出することによって、容易に実装状態が測定できる高周波モジュールおよび高周波モジュールの測定方法を提供する。
【解決手段】入出力端子６を備えた高周波回路チップ１と、高周波回路チップ１の入出力端子６を、バンプ５を介してフリップチップ接続する接続用パッド７を含む配線部を備えた配線基板２とを備えた高周波モジュールであって、入出力端子の２端子間に接続された、スパイラルインダクタ３ｓと、スパイラルインダクタ３ｓに対向する位置に配設され、接地電位に接続された検出用導体４ｄとを備え、接続用パッド間のインダクタンスを測定することによって、スパイラルインダクタ３ｓと検出用導体４ｄとの距離の変化に起因する入出力端子６と接続用パッド７間の距離の変化を測定可能に構成される。 （もっと読む）