【課題】基板電位を安定化させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置に含まれるＦＥＴ素子１は、Ｎ角形をなす外周端部３０ｐと貫通孔を形作る内周端部３０ｉとを有する環状のゲート電極３０を備える。またＦＥＴ素子１は、貫通孔の直下方に形成された内側不純物拡散領域２１と、ゲート電極３０のＮ角形の辺の外側に形成された外側不純物拡散領域２２Ａ〜２２Ｄと、ゲート電極３０の頂点の外側に形成されたバックゲート領域２３Ａ〜２３Ｄとを備える。バックゲート領域２３Ａ〜２３Ｄは、ゲート電極３０のＮ角形の辺のうちゲート電極３０の頂点をなす２辺の延長線Ｅｘ，Ｅｙの少なくとも一方を跨るように形成されている。 （もっと読む）

【課題】入力トランジスタの構造を櫛形構造にしてゲート抵抗を抑えつつ、ＮＦの増大を防ぐことが可能なＣＭＯＳ集積回路を提供する。
【解決手段】トランジスタは、ゲート配線から櫛歯状に延びて形成され、信号入力端子からの入力信号が供給されるゲート電極と、ゲート配線に対向した位置に形成されるソース配線から、ゲート電極の櫛歯の間に１つ起きに櫛歯状に延びて形成される、接地端子に接続されたソース電極と、ゲート配線に対向した位置に形成されるドレイン配線から、ゲート電極の櫛歯の間のソース電極が存在しない箇所に櫛歯状に延びて形成される、電源端子に接続されたドレイン電極と、を備え、ゲート電極と、ソース電極またはドレイン電極とは、重なり合う領域が存在しないことを特徴とする、ＣＭＯＳ集積回路が提供される。 （もっと読む）

【課題】炭化珪素半導体装置に含まれる炭化珪素層の側面の面方位を特定の結晶面により近づけることができる炭化珪素半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板１上に、主表面が設けられた炭化珪素層１９が形成される。炭化珪素層１９の主表面の一部を覆うマスク１７が形成される。主表面に対して傾斜した側面ＳＳが炭化珪素層１９に設けられるように、マスク１７が形成された炭化珪素層１９の主表面に対して、塩素系ガスを用いた熱エッチングが行われる。熱エッチングを行う工程は、塩素系ガスの分圧が５０％以下である雰囲気下で行われる。 （もっと読む）

【課題】チャネル移動度の低下およびパンチスルーの発生が抑制され、かつ効率的に製造することができる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】ＭＯＳＦＥＴ１は、｛０００１｝面に対するオフ角が５０°以上６５°以下である側壁面２０Ａを有するトレンチ２０が形成された基板１０と、酸化膜３０と、ゲート電極４０とを備えている。基板１０は、ソース領域１４と、ボディ領域１３と、ソース領域１４との間にボディ領域１３を挟むように形成されたドリフト領域１２とを含む。ソース領域１４およびボディ領域１３はイオン注入により形成されている。ボディ領域１３においてソース領域１４とドリフト領域１２との間に挟まれた内部領域１３Ａの主表面１０Ａに垂直な方向における厚みは、１μｍ以下である。ボディ領域１３の不純物濃度は、３×１０^１７ｃｍ^−３以上である。 （もっと読む）

【課題】従来技術を発展させた半導体ガスセンサを提供すること。
【解決手段】第１の端子部分が、半導体本体（２０）の表面に設けられたパッシベーション層（３０）を貫通する第１の成形部分（１１２）を有し、該第１の成形部分（１１２）は、参照電位に接続された導電性層（１１５）を備えた底面を有し、該第１の端子部分と制御電極（１００）とは第１の接合材（１３０）を用いて電気的接続かつ摩擦接続的に結合されている。第２の端子部分と前記制御電極（１００）とは第２の接合材（１４０）を用いて少なくとも摩擦接続的に結合されており、前記第１の接合材（１３０）は前記成形部分を少なくとも部分的に充填し、前記制御電極（１００）と前記導電性層（１１５）とを接続する。 （もっと読む）

【課題】化合物半導体層を形成する前の基板の状態で非接触のスクリーニングを行うことで、事前に化合物半導体層の不良発生を認識してこれを防止することができ、歩留まりの向上及び製造コストの削減を可能とする信頼性の高い化合物半導体装置を得る。
【解決手段】偏光レーザ１２によりＳｉＣ基板１の基板面に偏光レーザ光を照射し、検出部１３によりＳｉＣ基板１からの発光を検出し、表示部１４によりＳｉＣ基板１の発光強度の面内分布を得て、ＳｉＣ基板１の窒素混入量を評価した後、ＳｉＣ基板１の上方に化合物半導体積層構造２を形成する。 （もっと読む）

【課題】結晶欠陥に起因したリーク電流を低くする。
【解決手段】ウェル１０６は、半導体基板１００の表層に形成されており、第２導電型を有している。ドレイン拡散層１３０は、半導体基板１００の表層に形成されており、ウェル１０６と接している。ドレイン拡散層１３０は、第１導電型を有する。ソース拡散層１４０はウェル１０６内に形成されており、第１導電型を有している。ゲート絶縁膜１１０は、半導体基板１００半導体基板上に形成されており、平面視でドレイン拡散層１３０とソース拡散層１４０の間に位置している。ゲート電極１２０は、ゲート絶縁膜１１０上に形成されている。そして平面視で、半導体基板１００は、結晶欠陥の密度が相対的に高い結晶欠陥集中領域１０１を有している。結晶欠陥集中領域１０１は、ウェル１０６と接していない。 （もっと読む）

【課題】微細化に対応した半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板の第1の領域内に第1の方向に沿って交互に配置されるように第1及び第２の素子分離領域を形成する。この際、第1及び第２の素子分離領域のうち少なくとも一方の素子分離領域の側面は半導体基板の主面に対して垂直とならないように第1及び第２の素子分離領域を形成する。この後、第1及び第２の素子分離領域の上部を除去して、第1の素子分離領域と第２の素子分離領域の間の半導体基板をフィンとして形成する。 （もっと読む）

【課題】低電流領域でのオン電圧を低減することができる、ＳｉＣ−ＩＧＢＴを備える半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】エミッタ電極２６と、エミッタ電極２６に接続されたエミッタ領域４１と、エミッタ領域４１に対してＳｉＣ半導体層２３の裏面２５側にエミッタ領域４１に接して形成されたチャネル領域３９と、チャネル領域３９に対してＳｉＣ半導体層２３の裏面２５側にチャネル領域３９に接して形成されたＳｉＣベース層３３と、ＳｉＣベース層３３に対してＳｉＣ半導体層２３の裏面２５側にＳｉＣベース層３３に接して形成されたコレクタ領域３７と、コレクタ領域３７に接続されたコレクタ電極２７とを含む、ＳｉＣ−ＩＧＢＴ９に対してＭＯＳＦＥＴ１１を並列に接続する。 （もっと読む）

【課題】電極と半導体基板が良好にオーミック接合している半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板の電極形成面に、単原子の金属イオンを注入するイオン注入工程と、金属イオンが注入された半導体基板をアニール処理して半導体基板にシリサイド層を形成するアニール工程と、アニール工程の後に、半導体基板の電極形成面に電極を形成する電極形成工程とを備えている。 （もっと読む）