品質監視システム及び品質監視方法
【課題】反射防止フィルム製造工程の各層を形成する工程で、前工程の欠陥情報を利用して最新工程により検出した欠陥を選別し、最新工程における発生欠陥の監視精度の向上を行い、品質異常の検知速度を向上させ、早期に不良の発生を知ることが可能な品質監視システムを提供する。
【解決手段】製造工程内の各工程に備えられた検査機と、検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システム。
【解決手段】製造工程内の各工程に備えられた検査機と、検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射防止フィルムの製造工程において発生する欠陥を監視するシステムに関するもので、更に詳しくは製造工程における上流の検査情報を利用して現在の工程で発生した欠陥を選別し、欠陥発生時には異常を通知することによって品質管理を行う品質監視システム及び品質監視方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイ等の表示デバイスの表示画面の最表面には、表示画面をキズから保護したり、防汚、帯電防止、映り込み防止のために、透明フィルムに反射防止材料をコーティングして製造される反射防止フィルムが貼られている。
【０００３】
反射防止フィルムの製造工程では、ローラ状の長尺帯状の透光性のフィルムを巻き出し、塗布、蒸着、ラミネート等のプロセス処理を行い、再びロール状に巻き取る生産方式をとることが多い。図１は反射防止フィルムの一例を断面で示す図である。図１に示される反射防止フィルムはＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルムやＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルム等のフィルム基材１０１、ハードコート層１０２、反射防止層１０３の各層で構成されている。反射防止層１０３は例えば、ＬＲ（低反射層）１０３ａ、ＡＧ（防汚層）１０３ｂ、ＡＲ（高屈折率層）１０３ｃの各層から成っている。これら各層は形成毎にロールの巻き出しと巻取りが行われ、プロセス処理が行われる。
【０００４】
反射防止フィルムの上記プロセス処理が行われる際に発生する欠陥は、塗工された塗膜の膜厚の変動によるムラや色相の変化などによる光学欠陥や異物やキズやコスレなどの欠陥が存在する。また、フィルム自体のキズ、ヘコミ、等の欠陥もある。
【０００５】
上記各層を形成する為の工程内においては、形成された膜の表面状態に対する膜形成ミスや異物混入部といった欠陥の監視のために検査機が設置されている。図２は一般的に用いられている反射防止フィルム（以下、フィルム）の検査機の一例を示す概略構成図であって、複数のローラ１１１〜ローラ１１４からなる搬送ユニット（ローラの回転による搬送）によりフィルム１１５を搬送し、ＬＥＤ、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ、ＵＶランプ等を用いた照明光源１１６及び１１７によってフィルムの全幅を照明し、フィルム１１５を矢印１１８で示す方向に搬送しながらフィルムの幅方向を全走査できるよう複数のラインＣＣＤカメラ１１９（または２次元カメラ）によってフィルムを撮像する。照明光源１１６及び１１７は、その両方またはいずれか一方が適宜採用される。
【０００６】
一方、フィルム１１５の搬送距離に応じた信号をロータリーエンコーダ１２１より取得し、前記信号を撮像タイミング信号として、一定の搬送距離毎に前記ラインＣＣＤカメラ１１９によってフィルム表面を撮像し、撮像した画像を画像処理装置１２０で画像処理し、欠陥部分の抽出を行い、抽出した欠陥について、記憶機構を含む制御装置１２２に欠陥データ（欠陥の位置を示す座標、ラインＣＣＤカメラの画素数、濃度値）をファイル及びデータベース（以下、ＤＢ）にデータとして保存する機構を有する欠陥検査機である。この場合、ロータリーエンコーダ１２１の代わりに一定の搬送距離毎に撮像タイミング信号を発生するタイマーを用いることもある。
【０００７】
検査機により検出された欠陥情報は欠陥の大きさによってＡ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ等にランク付けされ、欠陥情報を作業員が定期的に確認・判定することにより工程における各層形成の品質状態の監視を行っている。この監視により異常と判定し、不良品と判断されたロールは、異常個所の切除等の処理を行い、切除後の長さが製品規格を満たす場合には
良品として進行し、満たさない場合は不良品として破棄される。
【０００８】
また、検査機により検出された欠陥情報は、検査対象のロールと紐付いた形で保管され、検査データを使用した解析作業に使用される。
【０００９】
しかしながら、工程内の検査機により検出された欠陥は、該当工程（最新工程）にて発生した欠陥のほか、前工程にて検出された欠陥を再検出する場合があるため、最新工程起因による欠陥に対する監視を行う為には、検出された欠陥を確認し、前工程にて検出されていた欠陥かどうか確認する必要があり、監視対象欠陥を選別する必要がある。従来はこの選別作業を人手で行っているため、しかも個々の欠陥に対して全て行う必要があるため、人手のみによる実現は難しく、工程内における欠陥監視の精度が悪く異常判断の速度が遅くなる場合があり、同じ工程内で同一の欠陥を発生してしまうことが多く、品質ロスの一因となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−３４１１０４号公報
【特許文献２】特開２００３−１７２７０７号公報
【特許文献３】特開２００６−１１２８２８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、反射防止フィルム製造工程の各層を形成する工程で検査機で検出した欠陥情報に対して、前工程の欠陥情報を利用して最新工程により検出した欠陥を選別し、最新工程における発生欠陥の監視精度の向上を行い、品質異常の検知速度を向上させ、早期に不良の発生を知ることが可能な品質監視シシテムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の請求項１に係る発明は、複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視システムであって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機と、
検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、
製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、
検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、
欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システムである。
【００１３】
本発明の請求項２に係る発明は、
欠陥選別手段は、ロールが初期工程に投入される際の初期ロール位置を基準として座標補正を行う機能と、
前工程の欠陥座標と最新工程情報に含まれる前工程の欠陥から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、
前工程で検出したマーキング位置と、最新工程で検出したマーキング位置から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、のいずれかによって座標補正を行い、最新工程において発生した欠陥を選別することを特徴とする請求項１に記
載の品質監視システムである。
【００１４】
本発明の請求項３に係る発明は、欠陥監視手段は選別された最新工程起因の欠陥から設定された異常条件により異常欠陥を判定し、異常を感知した場合には外部に異常を知らせることを特徴とする請求項１に記載の品質監視システムである。
【００１５】
本発明の請求項４に係る発明は、複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視方法であって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機から得られた検査情報に基づいて、欠陥情報の登録を行い、
登録された前工程における欠陥情報と最新工程における欠陥情報の欠陥発生座標の補正を行うことによって、最新工程において発生した欠陥を選別し、
選別した欠陥を異常条件と比較し、異常条件を満たした異常欠陥が存在した場合には、外部に異常を通知することを特徴とする品質監視方法である。
【発明の効果】
【００１６】
反射防止フィルム製造工程において、当該工程で発生した品質異常を早期に発見することが出来、その結果、不良発生を抑制することが出来、また当該工程で発生した欠陥の検出に要していた人手を省くことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】反射防止フィルムの一例を断面で示す図。
【図２】一般的に用いられている反射防止フィルムの欠陥検査機の一例を示す概略構成図。
【図３】本発明の品質監視システムによって品質が監視される反射防止フィルムの一例を断面で示す図。
【図４】本発明の品質監視システムの概略構成を示す図。
【図５】本発明に係る発生欠陥の選別〜欠陥の異常監視のフロー図。
【図６】本発明に係る製造工程内の検査機（１〜Ｎ）の概略構成図。
【図７】本発明に係る欠陥の抽出処理を説明するための図。（ａ−１）は欠陥部が含まれる撮像画像を示す図。（ａ−２）は撮像画像内に示される線分の画像信号を示す図。（ｂ−１）は（ａ−１）に示される撮像画像を予め設定した閾値で二値化処理した図。（ｂ−２）は（ａ−２）に示される画像信号を二値化処理した図。
【図８】本発明に係る抽出された欠陥の位置情報を決定する方法を示す図。
【図９】初期ロールに対して、発生した不良欠陥の発生箇所のフィルムを切除したフィルムを説明するための図。 (ａ）は初期ロールに欠陥４１が発生し更に前工程で欠陥４３が発生した場合を示す図。（ｂ）は欠陥４１の部分を切除したロールに最新工程で欠陥４４が発生した場合を示す図
【図１０】本発明に係るマーキング位置を利用した座標補正の方法を示す図。
【図１１】本発明に係る補正値決定のフロー図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図面を参照して本発明に係る品質監視システムを実施するための形態を説明する。
【００１９】
図３は、本発明に係る品質監視システムによって品質が監視される反射防止フィルムの一例を断面で示す図である。図３に示される反射防止フィルムはフィルム基材１、ハード
コート層２、反射防止層３の各層で構成されている。反射防止層３はＬＲ（低反射層）３ａ、ＡＧ（防汚層）３ｂ、ＡＲ（高屈折率層）３ｃの各層から構成されている。これら各層は形成毎にロールの巻き出しと巻取りが行われ、プロセス処理が行われる。
【００２０】
図４は本発明の品質監視システムの概略構成を示す図である。品質監視システムは、製造工程内にインラインで設置され、製品ロールにおける欠陥を検出する工程内検査機１〜Ｎと、各工程の欠陥検査機の検査情報、及び欠陥の関連情報を格納する検査情報管理データベース（以下、ＤＢ）と、製品ロールの各工程における生産実績等の情報を格納する生産情報管理ＤＢと、検査情報管理ＤＢを参照し、最新の検査結果に対する工程内発生欠陥かの選別を行う欠陥選別手段である欠陥選別ＰＣと、工程内発生欠陥の監視を行う欠陥監視手段である欠陥監視ＰＣと、から構成されており、各構成要素間は、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）等により接続されており、互いに通信可能となっている。
【００２１】
欠陥情報の最新工程における、発生欠陥の選別〜欠陥の異常監視のフローを図５に示す。
【００２２】
製品ロールの欠陥の検出（Ｓ１）
各工程内の検査機（検査機１〜Ｎ）により、製品ロールの欠陥を検出する。
【００２３】
欠陥情報の登録（Ｓ２）
次に各工程内検査機によって検出された欠陥情報は、検査情報管理ＤＢ内に登録され、リアルタイムで情報の登録が行われる。
【００２４】
最新工程における発生欠陥の選別（Ｓ３）
検査情報管理ＤＢに格納された欠陥情報は、欠陥選別ＰＣが生産情報管理ＤＢ内の生産実績情報と検査情報管理ＤＢ内の最新工程欠陥情報と前工程欠陥情報を比較し、最新工程にて新たに発生した欠陥を選別し、選別結果を検査情報管理ＤＢ内へ保存を行う。
【００２５】
発生欠陥の監視（Ｓ４）
検査情報管理ＤＢ内に格納された最新工程における発生欠陥情報を欠陥監視ＰＣが監視を行う。
【００２６】
欠陥監視ＰＣ内に設定された異常条件と合致した場合、現場作業者等へ異常の通知を行い（Ｓ５）、現場作業者は異常発生の原因を除去し、不良の再発生を防ぐ。
【００２７】
本発明の品質監視システムを構成する要素を説明する。
【００２８】
図６に製造工程内の検査機（１〜Ｎ）の概略構成図を示す。製造工程内の検査機は、複数のローラ１１〜ローラ１４からなる搬送ユニット（ローラの回転による搬送）によりフィルム１５を搬送し、ＬＥＤ、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ、ＵＶランプ等を用いた照明光源１６及び１７によってフィルムの全幅を照明し、フィルム１５を矢印１８で示す方向に搬送しながらフィルムの幅方向を全走査できるよう複数のラインＣＣＤカメラ１９（または２次元カメラ）によってフィルムを撮像する。照明光源１６及び１７は、その両方またはいずれか一方が適宜採用される。
【００２９】
一方、フィルム１５の搬送距離に応じた信号をロータリーエンコーダ２１より取得し、前記信号を撮像タイミング信号として、一定の搬送距離毎に前記ラインＣＣＤカメラ１９によってフィルム表面を撮像し、撮像した画像を画像処理装置２０で画像処理し、欠陥部分の抽出を行い、抽出した欠陥について、検査管理情報ＤＢ２３に欠陥データ（欠陥の位置を示す座標、ラインＣＣＤカメラの画素数、濃度値）を送信する。尚、２２は照明光源
１６及び１７、ラインＣＣＤカメラ１９、ロータリーエンコーダ２１を制御するための制御装置である。
【００３０】
欠陥の抽出処理は上記撮像された画像に対し、予め設定した閾値で二値化処理を行い、欠陥の検出を行う。図７は欠陥の抽出処理を説明するための図で、図７（ａ−１）は欠陥３１ａを含む撮像画像３１を示し、図７（ａ−２）は撮像画像の線分３２の画像信号３３を示す。図７（ａ−１）に示す撮像画像３１を予め設定した閾値で二値化処理し、図７（ｂ−１）に示す二値化画像３５を得る。図７（ｂ−２）は、図７（ａ−２）の画像信号３３を予め設定した閾値３４で二値化処理した欠陥信号３６を示す。このようにして欠陥３１ａは欠陥信号３６として抽出（検出）することが出来る。尚、抽出方法はこれに限定するものではなく、既存の様々な抽出方法から適宜採用することが出来る。
【００３１】
また、抽出された欠陥の位置情報は、図８に示すように幅方向Ｘと流動方向（フィルムの流れ方向）Ｙの座標情報により決定される。ここで、幅方向Ｘとはフィルムの幅端を原点とした距離であって、フィルム検査においては、フィルム流動により、フィルムの蛇行等により検出位置情報が変化しない様、リアルタイムで原点補正処理が行われていることとする。また、流動方向Ｙはフィルムの検査開始位置を原点とした距離を示す。
【００３２】
検査情報管理ＤＢについて説明する。検査情報管理ＤＢは、各工程の検査機によって検出された欠陥情報、及び欠陥情報を利用した様々な指標情報を管理する。各情報を管理するに当たり、少なくとも「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）と「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）を持つ。
【００３３】
「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）を表１に示す。「検出欠陥格納テーブル」は各工程における欠陥検査機の検査ロールに対する欠陥情報を格納するテーブルであり、テーブルの項目構成として、検査対象の工程識別ＩＤ（即ち、ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す工程ＩＤ、検査機の識別ＩＤを示す検査機ＩＤ、検査実施のロール識別ＩＤを示す検査ロールＩＤ、欠陥検出時の検出系（即ち、透過白／黒、反射白／黒、合成（透過と反射の両方による））を示す検出種別、検出欠陥の実サイズ（μｍΦ）を示す欠陥サイズ、検出欠陥のサイズランク（即ち、Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）を示す欠陥ランク、検出欠陥の幅方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｘ、検出欠陥の流動方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｙ、欠陥の検出日時を示す検出日時を含む情報で構成されている。
【００３４】
【表１】
【００３５】
「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）を表２に示す。「差分欠陥格納テーブル」は、各工程の検査機による欠陥検出情報を他の対象検査機の欠陥検出情報と比較し、比較対象の検査機により未検出であった欠陥情報を格納するテーブルであり（言い換えれば、該当工程（最新工程）で新たに検出された欠陥を格納するテーブルである）、テーブルの項目構成として、検査対象の工程識別ＩＤ（ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す工程ＩＤ、検査機の識別ＩＤを示す検査機ＩＤ、検査実施のロール識別ＩＤを示す検査ロールＩＤ、欠陥検出時の検出系（透過白／黒、反射白／黒、合成）を示す検出種別、検出欠陥の実サイズ（μｍΦ）を示す欠陥サイズ、検出欠陥のサイズランク（Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）を示す欠陥ランク、検出欠陥の幅方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｘ、検出欠陥の流動方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｙ、欠陥の検出日時を示す検出日時を含む情報で構成されている。
【００３６】
【表２】
【００３７】
生産情報管理ＤＢについて説明する。生産情報管理ＤＢは製品ロールに対する品種情報
や実績情報等を管理するテーブルであって、少なくとも「製品ロール情報管理テーブル」（ＴＢ３）を持つ。
【００３８】
「製品ロール情報管理テーブル」（ＴＢ３）を表３に示す。「製品ロール情報管理テーブル」は、製品ロールの関連情報を格納しているテーブルである。「製品ロール情報管理テーブル」の情報は、各ロールが各工程において処理終了（巻取り完了）した際に決定されるロール情報を人手による手動、または他システム等との連携により自動で登録可能とし、テーブルの項目構成として、製品ロールの識別ＩＤを示すロールＩＤ、最新ロールの長さを示すロール長、処理実施工程識別ＩＤ（ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す処理工程ＩＤ、製品ロールの親ロールＩＤを示す初期ロールＩＤ、製品ロールの断裁前ロールＩＤを示す前ロールＩＤ、製品ロール先頭の初期ロールＹ座標位置（ｍｍ）を示す初期ロール位置−開始、製品ロール最終の初期ロールＹ座標位置（ｍｍ）を示す初期ロール位置−最終、最新工程における処理日時を示す処理日時を含む情報で構成されている。
【００３９】
【表３】
【００４０】
欠陥選別ＰＣについて説明する。欠陥選別ＰＣは、各工程における検査機の欠陥情報から、前工程の欠陥情報を利用して最新工程において発生した欠陥の選別を行うＰＣである。欠陥の選別手順は、先ず（１）最新工程と前工程の座標比較を行い、その後に（２）最新工程欠陥の選別を行う。
【００４１】
（１）最新工程と前工程の座標比較について説明する。最新工程において発生した欠陥を選別する方法として最新工程と前工程で発生した流動方向の座標を知る必要がある。反射防止フィルムの製造においては、工程間において不良箇所の切除等の処理が行われるケースが発生する為、工程間の欠陥選別を行う際は、流動方向の座標を補正して比較する必要がある。例えば、図９に示される工程その１で発生した不良欠陥４１が発生した初期ロール４０に、工程その２で発生した不良欠陥４３が発生し（図９（ａ））、不良欠陥４１の部分（長さＬ）４２を切除したフィルムに次の工程その３で発生した不良欠陥４４があった場合に、工程その３（最新工程）で発生した不良欠陥４４を選別する場合には、ロール４５の最新工程（工程その３）と前工程（工程その２）の座標を補正して、最新工程その３で発生した不良欠陥４４を選別する必要がある（図９の場合は工程その２で発生した不良欠陥４３の座標Ｙ１を新たにＹ２＝Ｙ１−Ｌに補正する）。座標補正機能として、次に説明する３種類（補正方法１（１Ａ）、補正補正方法２（１Ｂ）、補正方法３（１Ｃ））の方法を用意する。
【００４２】
補正方法１（１Ａ）について説明する。補正方法１は初期ロール位置を基にした座標補正であって、選別対象ロールと選別対象ロールの前工程ロールの欠陥座標を初期ロールにおける位置に変換するもので、その欠陥座標は、最新ロール情報の取得（１Ａ−１）、選別対象ロールの前工程情報の取得（１Ａ−２）によって補正することが出来る。
【００４３】
最新ロール情報（１Ａ−１）の取得について説明する。欠陥選別ＰＣは、選別対象の検査機において、欠陥情報の選別を行うロールを取得する。取得は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」より、工程ＩＤと検査機ＩＤをキーとして最新日時の欠陥情報を持つロールＩＤを取得する。取得したロールＩＤを元に、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から、ロールＩＤ、工程ＩＤが一致する情報を検索し、＜最新ロール情報＞と＜最新ロール欠陥情報＞の情報を取得する。
＜最新ロール情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）
（ｄ）初期ロール位置（最終）
の情報を取得する。また、
＜最新ロール欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
これによって、選別対象ロールのロール情報が最新ロール情報として取得される。
【００４４】
次に、選別対象ロールの前工程情報（１Ａ−２）の取得を行う。選別対象ロールの前工程情報の取得について説明する。上記最新ロール情報（１Ａ−１）の取得処理で得られた選別対象ロールの前工程ロール情報（１Ａ−２−１）の取得、及び前工程欠陥情報（１Ａ−２−２）の取得を行う。
【００４５】
先ず、前工程のロール情報（１Ａ−２−１）は、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、「製品ロール情報管理テーブル」内のロールＩＤ項目が、選別対象ロールＩＤと一致するデータを検索する。検索後、一致データ内の初期ロールＩＤを取得する。次に、取得した初期ロールＩＤを元に、テーブル内の初期ロールＩＤが一致するデータを検索する。これにより、選別対象ロールの処理済の工程における情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程ロール情報の取得＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）（即ち、製品ロール先頭の初期ロールにおけるＹ座標位置）
（ｄ）初期ロール位置（最終）（即ち、製品ロール最終の初期ロールにおけるＹ座標位置）
の情報を取得する。また、
【００４６】
前工程欠陥情報（１Ａ−２−２）は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、前工程ロール情報（１Ａ−２−１）として取得した、処理工程ＩＤとロールＩＤを元に、選別対象のロールにおいて各処理工程で検出された欠陥情報を全て検索する。次に、検索した各処理工程の欠陥検出位置から初期ロールにおける検出位置を補正する。補正は、各処理工程の検出位置Ｙの情報に、前工程情報として取得した初期ロール位置（先頭）の情報加算し、結果として以下の情報を作成する。例えば、処理工程の検出位置Ｙが５００ｍで初期ロール位置（先頭）が２００ｍの場合は検出位置Ｙ（初期ロール位置）は７００ｍと補正される。
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｄ）欠陥ランク
（ｅ）検出位置Ｘ
（ｆ）検出位置Ｙ
（ｇ）検出位置Ｙ（初期ロール位置）
の情報を取得する。
【００４７】
以上の処理により、前工程における欠陥情報の取得と、最新工程における欠陥情報の取得によって、前工程と最新工程における欠陥発生の流動方向の座標を初期ロールにおける位置に補正して変換でき、最新工程において発生した不良欠陥を選別することが出来る。
【００４８】
補正方法２（１Ｂ）について説明する。補正方法２は前工程情報との直接座標補正方法である。直接座標補正方法とは、選別対象ロールに存在する欠陥の１つを抽出し、その欠陥と一致する欠陥を前工程欠陥から選び出し、抽出した欠陥の座標に基づいて選別対象ロールの前工程情報を、選別対象ロールにおける座標情報へ変更する補正方法である。補正方法２は、最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得と、選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得と、選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定と、選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−４）の加工によって補正する方法である。
【００４９】
最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得について説明する。最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得の際には、欠陥選別ＰＣは、選別対象の検査機において、欠陥情報の選別を行うロールを取得する。取得は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」より、工程ＩＤと検査機ＩＤをキーとして最新日時の欠陥情報を持つロールＩＤを取得する。取得したロールＩＤを元に、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から、前ロールＩＤ、工程ＩＤが一致する情報を検索し、＜最新ロール情報＞と＜最新ロール欠陥情報＞の情報を取得する。
＜最新ロール情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）
（ｄ）初期ロール位置（最終）
の情報を取得する。また、
＜最新ロール欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５０】
選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得について説明する。選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得には、前工程ロール情報（１Ｂ−２−１）の取得と、前工程欠陥情報（１Ｂ−２−２）の取得と、によって行われる。
【００５１】
先ず、前工程ロール情報（１Ｂ−２−１）の取得は、上記補正方法１の場合の前工程ロール情報（１Ａ−２−１）取得と同じ方法で行われる。即ち、前工程ロール情報は、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、製品ロール情報管理テーブル内のロールＩＤ項目が、選別対象ロールＩＤと一致するデータを検索する。検索後、一致データ内の初期ロールＩＤを取得する。次に、取得した初期ロールＩＤを元に、テーブル内の初期ロールＩＤが一致するデータを検索する。これにより、選別対象ロールの処理済の工程における情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程ロール情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）初期ロール位置・・・先頭
（ｄ）初期ロール位置・・・最終
の情報を取得する。
【００５２】
前工程ロール欠陥情報（１Ｂ−２−２）の取得について説明する。前工程における欠陥情報を、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）から、前工程情報として取得した処理工程ＩＤとロールＩＤを元に、選別対象のロールにおいて各処理工程で検出された欠陥情報に対して、欠陥ランクが大きい情報（例えばランクＥ／Ｆ）を全て検索し取得する。その結果、
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク（Ｅ／Ｆ）
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５３】
選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定について説明する。前工程欠陥情報における座標補正用欠陥の検索（１Ｂ−３−１）を行う。先ず、最新ロール、及び前工程の欠陥情報を、検出位置Ｘ−検出位置Ｙ順にソートを行う。最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得で抽出を行った、＜最新ロールの欠陥情報＞から検出位置Ｙ順に座標補正基準欠陥として１点選択し、＜前工程欠陥情報＞において選択した欠陥情報と検出種別／欠陥ランク／検出位置Ｘの項目が一致する欠陥情報を全て検索し、以下の情報を取得する。
＜前工程取得情報＞
（ａ）検出種別
（ｂ）欠陥ランク
（ｃ）検出位置Ｘ
（ｄ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５４】
座標補正値の決定（１Ｂ−３−２）について説明する。検索により取得した欠陥情報を使用し、Ｙ方向の座標補正値を決定する手順を次に示す。
手順１・・・「座標補正基準欠陥」と一致する前工程情報における欠陥のＹ方向距離を取得する。ここでいう「座標補正基準欠陥」とは、取得した欠陥情報の中から上記選択した１点の欠陥を指し、選択した１点の欠陥と前工程情報における選択した１点の欠陥と一致する欠陥のＹ方向距離を求め、これを「基準欠陥間距離」として前工程欠陥の座標を補正する。
手順２・・・前工程欠陥の最新ロールにおける有無調査
次に、前工程欠陥（１Ｂ−２−２）で取得した＜前工程欠陥情報＞から、手順１で抽出した欠陥情報の周囲の欠陥を選択し、以下の情報を取得する。これは、手順１で抽出した欠陥情報が選択対象ロール内の選択した１点の欠陥と同一の欠陥であるかを確認するためのものである。
＜有無調査対象欠陥情報＞としては
（ａ）検出種別
（ｂ）欠陥ランク
（ｃ）検出位置Ｘ
（ｄ）検出位置Ｙ
（ｅ）検出位置Ｙ＋基準欠陥間距離である。
次に上記＜有無調査対象欠陥情報＞を取得後、最新ロールにおいて、以下項目が有無調査対象欠陥の情報と一致するか照合を行う。
＜欠陥有無判定条件＞
（ａ）検出種別：同じであること
（ｂ）欠陥ランク：同一、またはそれ以上であること
（ｃ）検出位置Ｘ：同一、もしくは一定の許容範囲内にあること
（ｄ）検出位置Ｙ：検出位置Ｙ＋基準欠陥間距離＋一定の許容範囲内にあること
を条件として、上記照合をＮ点（Ｎ：整数）に対して行い、最新ロール内にＮ点中Ｍ点（たとえば、３点中２点）の存在が確認できた場合には、ここで使用した「基準欠陥間距離」を、最新ロールと前工程における座標補正値として決定する。即ち、手順１で抽出した欠陥情報が選択対象ロール内の選択した１点の欠陥と同一の欠陥であるかを、周囲の欠陥を比較することによって確認するものである。
【００５５】
選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−４）の加工について説明する。
【００５６】
先ず、前工程における欠陥情報の座標補正（１Ｂ−４−１）について説明する。選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定で求められた座標補正値を使用し、選別対象ロールの前工程欠陥情報を、選別対象ロールにおける座標情報へ変更し、選別用前工程欠陥情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
（ｈ）検出位置Ｙ（選別対象ロール位置＝検出位置Ｙ−座標補正値）
以上の処理により、前工程における欠陥情報の取得と、取得した欠陥情報を選別対象ロールにおける位置に補正して変換することが出来、工程間の位置情報を比較することが可能となり、その結果、選別対象ロールの最新工程における不良欠陥が選別可能となる。
【００５７】
補正方法３（１Ｃ）について説明する。補正方法３はマーキング位置を利用した座標補正であって、反射防止フィルム製造工程において、図１０に示すように工程初期投入時にフィルム端部等にレーザーや、スタンプによりマーキングがフィルムに施されている場合、このマーキングを検査機により検出することにより、前工程と最新工程における座標補正値を補正することが可能となり、上記補正方法２（１Ｂ）同様に前工程情報を選別対象ロールにおける座標に変換できる。即ち、前工程におけるマーキングの位置Ｙ３と最新工程におけるマーキングの位置Ｙ４を検出し「座標補正値ＹＨ」＝前工程マーキング検出位置Ｙ３−最新工程マーキング検出位置Ｙ４とし、
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
（ｈ）検出位置Ｙ（選別対象ロール位置＝検出位置Ｙ−座標補正値）
を取得し、（ｈ）検出位置Ｙが求められる。
【００５８】
補正値決定フロー例を図１１に示す補正値決定フロー図を用いて説明する。実際の欠陥選別ＰＣによる補正値決定フロー例として以下のフローを記す。
【００５９】
マーキング位置を利用した座標補正処理（補正例３）（Ｈ１）〜（Ｈ４）
最新ロール投入時のマーキング位置の検出を行い（Ｈ１）、検出に成功した場合（Ｈ１のＹＥＳ）は補正例３の処理を実行し（Ｈ３）、前工程情報の補正を実行し座標補正処理を行う（Ｈ４）。
【００６０】
前工程情報との直接座標補正処理（補正例２）（Ｈ５）〜（Ｈ７）
上記初回投入時のマーキング位置の検出を行い検出に失敗した場合（Ｈ１のＮＯ）は、補正例２の処理を実行し、前工程情報の補正を実行する（Ｈ５）。補正例２の処理で欠陥選別ＰＣ内部で保持している設定回数内に補正値が決定した場合は（Ｈ６のＹＥＳ）、補正例２）による補正処理を行なう（Ｈ７）。補正例２の処理で欠陥選別ＰＣ内部で保持している設定回数内に補正値が決定しない場合は（Ｈ６のＮＯ）、補正例２による補正処理は中止し、ステップ（Ｈ８）に移行する。
【００６１】
初期ロール位置を基にした座標補正処理（補正例１）（Ｈ８）〜（Ｈ９）
ステップ（Ｈ８）では、補正例１の処理を実行し（Ｈ８）、前工程情報の補正を実行する（Ｈ９）。
【００６２】
上記説明では、処理を補正例３、補正例２、補正例１の順序で行うことを例示したが、これに限定されるものではなく、例えば補正例３、補正例１、補正例２の順や、補正例２、補正例１、補正例３の順でも良い。
【００６３】
（２）最新工程欠陥の選別について説明する。上記選別対象ロールの前工程情報の取得終了後、対象ロールに対する最新欠陥情報の選別を行う。選別方法は、先ず、最新欠陥情報を検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）から取得する。取得した欠陥情報について、上記補正した同位置に比較対象の工程において欠陥情報が存在するか検索を行う。比較対象欠陥の判定を行う際には、比較を行う欠陥については、予め欠陥選別ＰＣ内にて設定された情報に従って検索を行い、比較対象の欠陥を選び出す。
＜選別設定項目＞
（ａ）対象検査機ＩＤ・・・選別処理を行う検査機の識別ＩＤ
（ｂ）対象工程ＩＤ・・・選別処理を行う工程の識別ＩＤ
（ｃ）比較対象工程ＩＤ・・・選別の為の比較を行う工程の識別ＩＤ
（ｄ）対象検出系・・・選別処理を行う欠陥検出系
（ｅ）対象色・・・選別処理を行う欠陥の色（白／黒）
（ｆ）対象ランク・・・選別処理対象とする欠陥ランク（Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）
（ｇ）比較許容範囲Ｘ・・・同一欠陥とみなせる幅方向の許容範囲（例えば±Ｘ１０ｍｍ）
（ｈ）比較許容範囲Ｙ・・・同一欠陥とみなせる流動方向の許容範囲（例えば±Ｙ１０ｍｍ）を選別設定項目とし、設定内容に最新する最新の欠陥情報について、前工程情報と比較を行う。
【００６４】
前工程情報との比較について説明する。最新の欠陥情報と、前工程における検出欠陥を比較し、上記補正した同一位置の欠陥を比較する。比較項目として、以下の項目の比較を行う。
＜欠陥同定判定項目＞
（ａ）検出工程ＩＤ・・・比較対象の工程ＩＤであるか。
（ｂ）検出系・・・比較対象の検出系であるか。
（ｃ）検出色・・・比較対象の検出色であるか。
（ｄ）検出欠陥ランク・・・比較対象の欠陥ランクであるか。
（ｅ）検出位置Ｘ・・・検出位置Ｘが比較許容範囲Ｘ内にあるか。
（ｆ）検出位置Ｙ・・・検出位置Ｙが比較許容範囲Ｙ内にあるか。
以上の項目に対して、前工程の欠陥情報が存在する（一致する）場合、比較を行った最新の欠陥情報は前工程情報ありと判断し、一方、欠陥情報が存在しない（一致しない）場合には、比較を行った最新の欠陥情報は前工程情報無し、即ち最新工程における発生欠陥と判断する。
【００６５】
欠陥情報の比較終了後、欠陥情報が最新工程における発生欠陥と判断された場合、最新陥の情報を検査情報管理ＤＢ内の「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）へ登録を行う。この最新欠陥情報の選別をロールＩＤが変更になるまで繰り返し行う。
【００６６】
以上の処理により、最新工程における発生欠陥の選別が可能となる。
【００６７】
欠陥監視ＰＣについて説明する。欠陥監視ＰＣは、対象工程、対象検査機の検出欠陥をモニタリングし、欠陥監視ＰＣ内部で所持している異常判定条件に従い現在の欠陥検出状況を監視し、工程として進行不可となる条件に合致した場合には異常通知を製造現場作業員に行い、工程における処置を促す。
【００６８】
ここで言う異常判定条件とは、欠陥監視ＰＣにおいて、異常判定条件として、少なくとも以下の項目が設定可能とする。
＜異常判定条件設定項目＞
（ａ）判定対象検査機・・・判定対象とする検査機
（ｂ）判定対象工程・・・判定対象とする工程
（ｃ）判定対象検出系・・・判定対象とする検出系
（ｄ）判定対象色・・・判定対象とする検出色
（ｅ）判定対象欠陥ランク・・・判定対象とする欠陥ランク
（ｆ）判定範囲・・・ロールにおける判定の適用箇所（設定距離毎、またはロール全体）（ｇ）判定方法・・・判定方法（判定範囲における欠陥数の閾値越え、または累積の欠陥数の閾値越え等）
（ｈ）判定距離・・・判定範囲が設定距離毎の場合の設定距離
（ｉ）閾値・・・閾値とする検出数
（ｊ）異常発生時処理・・・異常発生時の処理方法（アラーム発報、または処置内容通知等）の項目を設定する。
【００６９】
欠陥監視ＰＣによる工程内発生欠陥の監視例（（Ｔ１）〜（Ｔ４））について説明する。欠陥の監視は、欠陥監視ＰＣで実現でき、且つ対象工程において発生した欠陥のみを監視することが出来る。
【００７０】
最新の工程内発生欠陥の取得（Ｔ１）
対象検査機、対象工程内にて発生した最新の欠陥情報を、検査情報管理ＤＢ内の「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）から取得する。
【００７１】
取得情報の集計（Ｔ２）
取得した欠陥情報を、検出系／色／欠陥ランク／（設定範囲）で分類し、最新カテゴリ内の欠陥数をカウントアップする。
【００７２】
集計情報の異常判定（Ｔ３）と異常発生時の処理（Ｔ４）
最新の集計情報に対して、上記異常判定条件に基づいた異常判定を行う。異常判定と判断した場合には、設定内容に沿い異常発生時の処理を行う。
【００７３】
このように、本発明による品質監視システム及び品質監視方法によれば、最新工程で発生した欠陥を選別することが出来、発生した欠陥を異常判定条件に沿って異常と判定した場合は、異常通知を行い、その結果、最新工程で発生した欠陥を従来の人手で選別していた方法に比べ、人手を要することがなく、短時間で選別が可能となり異常の発生を抑制することが出来る。
【符号の説明】
【００７４】
１・・・フィルム基材
２・・・ハードコート層
３・・・反射防止層
３ａ・・・ＬＲ（低反射層）
３ｂ・・・ＡＧ（防汚層）
３ｃ・・・ＡＲ（高屈折率層）
１１〜１４・・・ローラ
１５・・・フィルム
１６、１７・・・照明光源
１８・・・フィルムを搬送する方向を示す矢印
１９・・・ラインＣＣＤカメラ
２０・・・画像処理装置
２１・・・ロータリーエンコーダ
２２・・・制御装置
２３・・・検査管理情報ＤＢ
３１・・・撮像画像
３１ａ・・・欠陥
３２・・・撮像画像の線分
３３・・・撮像画像の線分３２の画像信号
３４・・・閾値
３５・・・二値化画像
３６・・・欠陥信号
４０・・・初期ロール
４１・・・不良欠陥
４２・・・切除部分
４３・・・不良欠陥
４４・・・不良欠陥
４５・・・ロール
１０１・・・フィルム基材
１０２・・・ハードコート層
１０３・・・反射防止層
１０３ａ・・・ＬＲ（低反射層）
１０３ｂ・・・ＡＧ（防汚層）
１０３ｃ・・・ＡＲ（高屈折率層）
１１１〜１１４・・・ローラ
１１５・・・フィルム
１１６、１１７・・・照明光源
１１８・・・フィルムの搬送方向を示す矢印
１１９・・・ラインＣＣＤカメラ
１２０・・・画像処理装置
１２１・・・ロータリーエンコーダ
１２２・・・制御装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射防止フィルムの製造工程において発生する欠陥を監視するシステムに関するもので、更に詳しくは製造工程における上流の検査情報を利用して現在の工程で発生した欠陥を選別し、欠陥発生時には異常を通知することによって品質管理を行う品質監視システム及び品質監視方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイ等の表示デバイスの表示画面の最表面には、表示画面をキズから保護したり、防汚、帯電防止、映り込み防止のために、透明フィルムに反射防止材料をコーティングして製造される反射防止フィルムが貼られている。
【０００３】
反射防止フィルムの製造工程では、ローラ状の長尺帯状の透光性のフィルムを巻き出し、塗布、蒸着、ラミネート等のプロセス処理を行い、再びロール状に巻き取る生産方式をとることが多い。図１は反射防止フィルムの一例を断面で示す図である。図１に示される反射防止フィルムはＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルムやＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルム等のフィルム基材１０１、ハードコート層１０２、反射防止層１０３の各層で構成されている。反射防止層１０３は例えば、ＬＲ（低反射層）１０３ａ、ＡＧ（防汚層）１０３ｂ、ＡＲ（高屈折率層）１０３ｃの各層から成っている。これら各層は形成毎にロールの巻き出しと巻取りが行われ、プロセス処理が行われる。
【０００４】
反射防止フィルムの上記プロセス処理が行われる際に発生する欠陥は、塗工された塗膜の膜厚の変動によるムラや色相の変化などによる光学欠陥や異物やキズやコスレなどの欠陥が存在する。また、フィルム自体のキズ、ヘコミ、等の欠陥もある。
【０００５】
上記各層を形成する為の工程内においては、形成された膜の表面状態に対する膜形成ミスや異物混入部といった欠陥の監視のために検査機が設置されている。図２は一般的に用いられている反射防止フィルム（以下、フィルム）の検査機の一例を示す概略構成図であって、複数のローラ１１１〜ローラ１１４からなる搬送ユニット（ローラの回転による搬送）によりフィルム１１５を搬送し、ＬＥＤ、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ、ＵＶランプ等を用いた照明光源１１６及び１１７によってフィルムの全幅を照明し、フィルム１１５を矢印１１８で示す方向に搬送しながらフィルムの幅方向を全走査できるよう複数のラインＣＣＤカメラ１１９（または２次元カメラ）によってフィルムを撮像する。照明光源１１６及び１１７は、その両方またはいずれか一方が適宜採用される。
【０００６】
一方、フィルム１１５の搬送距離に応じた信号をロータリーエンコーダ１２１より取得し、前記信号を撮像タイミング信号として、一定の搬送距離毎に前記ラインＣＣＤカメラ１１９によってフィルム表面を撮像し、撮像した画像を画像処理装置１２０で画像処理し、欠陥部分の抽出を行い、抽出した欠陥について、記憶機構を含む制御装置１２２に欠陥データ（欠陥の位置を示す座標、ラインＣＣＤカメラの画素数、濃度値）をファイル及びデータベース（以下、ＤＢ）にデータとして保存する機構を有する欠陥検査機である。この場合、ロータリーエンコーダ１２１の代わりに一定の搬送距離毎に撮像タイミング信号を発生するタイマーを用いることもある。
【０００７】
検査機により検出された欠陥情報は欠陥の大きさによってＡ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ等にランク付けされ、欠陥情報を作業員が定期的に確認・判定することにより工程における各層形成の品質状態の監視を行っている。この監視により異常と判定し、不良品と判断されたロールは、異常個所の切除等の処理を行い、切除後の長さが製品規格を満たす場合には
良品として進行し、満たさない場合は不良品として破棄される。
【０００８】
また、検査機により検出された欠陥情報は、検査対象のロールと紐付いた形で保管され、検査データを使用した解析作業に使用される。
【０００９】
しかしながら、工程内の検査機により検出された欠陥は、該当工程（最新工程）にて発生した欠陥のほか、前工程にて検出された欠陥を再検出する場合があるため、最新工程起因による欠陥に対する監視を行う為には、検出された欠陥を確認し、前工程にて検出されていた欠陥かどうか確認する必要があり、監視対象欠陥を選別する必要がある。従来はこの選別作業を人手で行っているため、しかも個々の欠陥に対して全て行う必要があるため、人手のみによる実現は難しく、工程内における欠陥監視の精度が悪く異常判断の速度が遅くなる場合があり、同じ工程内で同一の欠陥を発生してしまうことが多く、品質ロスの一因となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−３４１１０４号公報
【特許文献２】特開２００３−１７２７０７号公報
【特許文献３】特開２００６−１１２８２８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、反射防止フィルム製造工程の各層を形成する工程で検査機で検出した欠陥情報に対して、前工程の欠陥情報を利用して最新工程により検出した欠陥を選別し、最新工程における発生欠陥の監視精度の向上を行い、品質異常の検知速度を向上させ、早期に不良の発生を知ることが可能な品質監視シシテムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の請求項１に係る発明は、複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視システムであって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機と、
検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、
製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、
検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、
欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システムである。
【００１３】
本発明の請求項２に係る発明は、
欠陥選別手段は、ロールが初期工程に投入される際の初期ロール位置を基準として座標補正を行う機能と、
前工程の欠陥座標と最新工程情報に含まれる前工程の欠陥から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、
前工程で検出したマーキング位置と、最新工程で検出したマーキング位置から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、のいずれかによって座標補正を行い、最新工程において発生した欠陥を選別することを特徴とする請求項１に記
載の品質監視システムである。
【００１４】
本発明の請求項３に係る発明は、欠陥監視手段は選別された最新工程起因の欠陥から設定された異常条件により異常欠陥を判定し、異常を感知した場合には外部に異常を知らせることを特徴とする請求項１に記載の品質監視システムである。
【００１５】
本発明の請求項４に係る発明は、複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視方法であって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機から得られた検査情報に基づいて、欠陥情報の登録を行い、
登録された前工程における欠陥情報と最新工程における欠陥情報の欠陥発生座標の補正を行うことによって、最新工程において発生した欠陥を選別し、
選別した欠陥を異常条件と比較し、異常条件を満たした異常欠陥が存在した場合には、外部に異常を通知することを特徴とする品質監視方法である。
【発明の効果】
【００１６】
反射防止フィルム製造工程において、当該工程で発生した品質異常を早期に発見することが出来、その結果、不良発生を抑制することが出来、また当該工程で発生した欠陥の検出に要していた人手を省くことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】反射防止フィルムの一例を断面で示す図。
【図２】一般的に用いられている反射防止フィルムの欠陥検査機の一例を示す概略構成図。
【図３】本発明の品質監視システムによって品質が監視される反射防止フィルムの一例を断面で示す図。
【図４】本発明の品質監視システムの概略構成を示す図。
【図５】本発明に係る発生欠陥の選別〜欠陥の異常監視のフロー図。
【図６】本発明に係る製造工程内の検査機（１〜Ｎ）の概略構成図。
【図７】本発明に係る欠陥の抽出処理を説明するための図。（ａ−１）は欠陥部が含まれる撮像画像を示す図。（ａ−２）は撮像画像内に示される線分の画像信号を示す図。（ｂ−１）は（ａ−１）に示される撮像画像を予め設定した閾値で二値化処理した図。（ｂ−２）は（ａ−２）に示される画像信号を二値化処理した図。
【図８】本発明に係る抽出された欠陥の位置情報を決定する方法を示す図。
【図９】初期ロールに対して、発生した不良欠陥の発生箇所のフィルムを切除したフィルムを説明するための図。 (ａ）は初期ロールに欠陥４１が発生し更に前工程で欠陥４３が発生した場合を示す図。（ｂ）は欠陥４１の部分を切除したロールに最新工程で欠陥４４が発生した場合を示す図
【図１０】本発明に係るマーキング位置を利用した座標補正の方法を示す図。
【図１１】本発明に係る補正値決定のフロー図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図面を参照して本発明に係る品質監視システムを実施するための形態を説明する。
【００１９】
図３は、本発明に係る品質監視システムによって品質が監視される反射防止フィルムの一例を断面で示す図である。図３に示される反射防止フィルムはフィルム基材１、ハード
コート層２、反射防止層３の各層で構成されている。反射防止層３はＬＲ（低反射層）３ａ、ＡＧ（防汚層）３ｂ、ＡＲ（高屈折率層）３ｃの各層から構成されている。これら各層は形成毎にロールの巻き出しと巻取りが行われ、プロセス処理が行われる。
【００２０】
図４は本発明の品質監視システムの概略構成を示す図である。品質監視システムは、製造工程内にインラインで設置され、製品ロールにおける欠陥を検出する工程内検査機１〜Ｎと、各工程の欠陥検査機の検査情報、及び欠陥の関連情報を格納する検査情報管理データベース（以下、ＤＢ）と、製品ロールの各工程における生産実績等の情報を格納する生産情報管理ＤＢと、検査情報管理ＤＢを参照し、最新の検査結果に対する工程内発生欠陥かの選別を行う欠陥選別手段である欠陥選別ＰＣと、工程内発生欠陥の監視を行う欠陥監視手段である欠陥監視ＰＣと、から構成されており、各構成要素間は、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）等により接続されており、互いに通信可能となっている。
【００２１】
欠陥情報の最新工程における、発生欠陥の選別〜欠陥の異常監視のフローを図５に示す。
【００２２】
製品ロールの欠陥の検出（Ｓ１）
各工程内の検査機（検査機１〜Ｎ）により、製品ロールの欠陥を検出する。
【００２３】
欠陥情報の登録（Ｓ２）
次に各工程内検査機によって検出された欠陥情報は、検査情報管理ＤＢ内に登録され、リアルタイムで情報の登録が行われる。
【００２４】
最新工程における発生欠陥の選別（Ｓ３）
検査情報管理ＤＢに格納された欠陥情報は、欠陥選別ＰＣが生産情報管理ＤＢ内の生産実績情報と検査情報管理ＤＢ内の最新工程欠陥情報と前工程欠陥情報を比較し、最新工程にて新たに発生した欠陥を選別し、選別結果を検査情報管理ＤＢ内へ保存を行う。
【００２５】
発生欠陥の監視（Ｓ４）
検査情報管理ＤＢ内に格納された最新工程における発生欠陥情報を欠陥監視ＰＣが監視を行う。
【００２６】
欠陥監視ＰＣ内に設定された異常条件と合致した場合、現場作業者等へ異常の通知を行い（Ｓ５）、現場作業者は異常発生の原因を除去し、不良の再発生を防ぐ。
【００２７】
本発明の品質監視システムを構成する要素を説明する。
【００２８】
図６に製造工程内の検査機（１〜Ｎ）の概略構成図を示す。製造工程内の検査機は、複数のローラ１１〜ローラ１４からなる搬送ユニット（ローラの回転による搬送）によりフィルム１５を搬送し、ＬＥＤ、蛍光灯、ハロゲンランプ、キセノンランプ、ＵＶランプ等を用いた照明光源１６及び１７によってフィルムの全幅を照明し、フィルム１５を矢印１８で示す方向に搬送しながらフィルムの幅方向を全走査できるよう複数のラインＣＣＤカメラ１９（または２次元カメラ）によってフィルムを撮像する。照明光源１６及び１７は、その両方またはいずれか一方が適宜採用される。
【００２９】
一方、フィルム１５の搬送距離に応じた信号をロータリーエンコーダ２１より取得し、前記信号を撮像タイミング信号として、一定の搬送距離毎に前記ラインＣＣＤカメラ１９によってフィルム表面を撮像し、撮像した画像を画像処理装置２０で画像処理し、欠陥部分の抽出を行い、抽出した欠陥について、検査管理情報ＤＢ２３に欠陥データ（欠陥の位置を示す座標、ラインＣＣＤカメラの画素数、濃度値）を送信する。尚、２２は照明光源
１６及び１７、ラインＣＣＤカメラ１９、ロータリーエンコーダ２１を制御するための制御装置である。
【００３０】
欠陥の抽出処理は上記撮像された画像に対し、予め設定した閾値で二値化処理を行い、欠陥の検出を行う。図７は欠陥の抽出処理を説明するための図で、図７（ａ−１）は欠陥３１ａを含む撮像画像３１を示し、図７（ａ−２）は撮像画像の線分３２の画像信号３３を示す。図７（ａ−１）に示す撮像画像３１を予め設定した閾値で二値化処理し、図７（ｂ−１）に示す二値化画像３５を得る。図７（ｂ−２）は、図７（ａ−２）の画像信号３３を予め設定した閾値３４で二値化処理した欠陥信号３６を示す。このようにして欠陥３１ａは欠陥信号３６として抽出（検出）することが出来る。尚、抽出方法はこれに限定するものではなく、既存の様々な抽出方法から適宜採用することが出来る。
【００３１】
また、抽出された欠陥の位置情報は、図８に示すように幅方向Ｘと流動方向（フィルムの流れ方向）Ｙの座標情報により決定される。ここで、幅方向Ｘとはフィルムの幅端を原点とした距離であって、フィルム検査においては、フィルム流動により、フィルムの蛇行等により検出位置情報が変化しない様、リアルタイムで原点補正処理が行われていることとする。また、流動方向Ｙはフィルムの検査開始位置を原点とした距離を示す。
【００３２】
検査情報管理ＤＢについて説明する。検査情報管理ＤＢは、各工程の検査機によって検出された欠陥情報、及び欠陥情報を利用した様々な指標情報を管理する。各情報を管理するに当たり、少なくとも「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）と「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）を持つ。
【００３３】
「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）を表１に示す。「検出欠陥格納テーブル」は各工程における欠陥検査機の検査ロールに対する欠陥情報を格納するテーブルであり、テーブルの項目構成として、検査対象の工程識別ＩＤ（即ち、ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す工程ＩＤ、検査機の識別ＩＤを示す検査機ＩＤ、検査実施のロール識別ＩＤを示す検査ロールＩＤ、欠陥検出時の検出系（即ち、透過白／黒、反射白／黒、合成（透過と反射の両方による））を示す検出種別、検出欠陥の実サイズ（μｍΦ）を示す欠陥サイズ、検出欠陥のサイズランク（即ち、Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）を示す欠陥ランク、検出欠陥の幅方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｘ、検出欠陥の流動方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｙ、欠陥の検出日時を示す検出日時を含む情報で構成されている。
【００３４】
【表１】
【００３５】
「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）を表２に示す。「差分欠陥格納テーブル」は、各工程の検査機による欠陥検出情報を他の対象検査機の欠陥検出情報と比較し、比較対象の検査機により未検出であった欠陥情報を格納するテーブルであり（言い換えれば、該当工程（最新工程）で新たに検出された欠陥を格納するテーブルである）、テーブルの項目構成として、検査対象の工程識別ＩＤ（ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す工程ＩＤ、検査機の識別ＩＤを示す検査機ＩＤ、検査実施のロール識別ＩＤを示す検査ロールＩＤ、欠陥検出時の検出系（透過白／黒、反射白／黒、合成）を示す検出種別、検出欠陥の実サイズ（μｍΦ）を示す欠陥サイズ、検出欠陥のサイズランク（Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）を示す欠陥ランク、検出欠陥の幅方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｘ、検出欠陥の流動方向位置（ｍｍ）を示す検出位置Ｙ、欠陥の検出日時を示す検出日時を含む情報で構成されている。
【００３６】
【表２】
【００３７】
生産情報管理ＤＢについて説明する。生産情報管理ＤＢは製品ロールに対する品種情報
や実績情報等を管理するテーブルであって、少なくとも「製品ロール情報管理テーブル」（ＴＢ３）を持つ。
【００３８】
「製品ロール情報管理テーブル」（ＴＢ３）を表３に示す。「製品ロール情報管理テーブル」は、製品ロールの関連情報を格納しているテーブルである。「製品ロール情報管理テーブル」の情報は、各ロールが各工程において処理終了（巻取り完了）した際に決定されるロール情報を人手による手動、または他システム等との連携により自動で登録可能とし、テーブルの項目構成として、製品ロールの識別ＩＤを示すロールＩＤ、最新ロールの長さを示すロール長、処理実施工程識別ＩＤ（ＨＣ／ＬＲ／ＡＧ／ＡＲ）を示す処理工程ＩＤ、製品ロールの親ロールＩＤを示す初期ロールＩＤ、製品ロールの断裁前ロールＩＤを示す前ロールＩＤ、製品ロール先頭の初期ロールＹ座標位置（ｍｍ）を示す初期ロール位置−開始、製品ロール最終の初期ロールＹ座標位置（ｍｍ）を示す初期ロール位置−最終、最新工程における処理日時を示す処理日時を含む情報で構成されている。
【００３９】
【表３】
【００４０】
欠陥選別ＰＣについて説明する。欠陥選別ＰＣは、各工程における検査機の欠陥情報から、前工程の欠陥情報を利用して最新工程において発生した欠陥の選別を行うＰＣである。欠陥の選別手順は、先ず（１）最新工程と前工程の座標比較を行い、その後に（２）最新工程欠陥の選別を行う。
【００４１】
（１）最新工程と前工程の座標比較について説明する。最新工程において発生した欠陥を選別する方法として最新工程と前工程で発生した流動方向の座標を知る必要がある。反射防止フィルムの製造においては、工程間において不良箇所の切除等の処理が行われるケースが発生する為、工程間の欠陥選別を行う際は、流動方向の座標を補正して比較する必要がある。例えば、図９に示される工程その１で発生した不良欠陥４１が発生した初期ロール４０に、工程その２で発生した不良欠陥４３が発生し（図９（ａ））、不良欠陥４１の部分（長さＬ）４２を切除したフィルムに次の工程その３で発生した不良欠陥４４があった場合に、工程その３（最新工程）で発生した不良欠陥４４を選別する場合には、ロール４５の最新工程（工程その３）と前工程（工程その２）の座標を補正して、最新工程その３で発生した不良欠陥４４を選別する必要がある（図９の場合は工程その２で発生した不良欠陥４３の座標Ｙ１を新たにＹ２＝Ｙ１−Ｌに補正する）。座標補正機能として、次に説明する３種類（補正方法１（１Ａ）、補正補正方法２（１Ｂ）、補正方法３（１Ｃ））の方法を用意する。
【００４２】
補正方法１（１Ａ）について説明する。補正方法１は初期ロール位置を基にした座標補正であって、選別対象ロールと選別対象ロールの前工程ロールの欠陥座標を初期ロールにおける位置に変換するもので、その欠陥座標は、最新ロール情報の取得（１Ａ−１）、選別対象ロールの前工程情報の取得（１Ａ−２）によって補正することが出来る。
【００４３】
最新ロール情報（１Ａ−１）の取得について説明する。欠陥選別ＰＣは、選別対象の検査機において、欠陥情報の選別を行うロールを取得する。取得は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」より、工程ＩＤと検査機ＩＤをキーとして最新日時の欠陥情報を持つロールＩＤを取得する。取得したロールＩＤを元に、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から、ロールＩＤ、工程ＩＤが一致する情報を検索し、＜最新ロール情報＞と＜最新ロール欠陥情報＞の情報を取得する。
＜最新ロール情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）
（ｄ）初期ロール位置（最終）
の情報を取得する。また、
＜最新ロール欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
これによって、選別対象ロールのロール情報が最新ロール情報として取得される。
【００４４】
次に、選別対象ロールの前工程情報（１Ａ−２）の取得を行う。選別対象ロールの前工程情報の取得について説明する。上記最新ロール情報（１Ａ−１）の取得処理で得られた選別対象ロールの前工程ロール情報（１Ａ−２−１）の取得、及び前工程欠陥情報（１Ａ−２−２）の取得を行う。
【００４５】
先ず、前工程のロール情報（１Ａ−２−１）は、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、「製品ロール情報管理テーブル」内のロールＩＤ項目が、選別対象ロールＩＤと一致するデータを検索する。検索後、一致データ内の初期ロールＩＤを取得する。次に、取得した初期ロールＩＤを元に、テーブル内の初期ロールＩＤが一致するデータを検索する。これにより、選別対象ロールの処理済の工程における情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程ロール情報の取得＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）（即ち、製品ロール先頭の初期ロールにおけるＹ座標位置）
（ｄ）初期ロール位置（最終）（即ち、製品ロール最終の初期ロールにおけるＹ座標位置）
の情報を取得する。また、
【００４６】
前工程欠陥情報（１Ａ−２−２）は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、前工程ロール情報（１Ａ−２−１）として取得した、処理工程ＩＤとロールＩＤを元に、選別対象のロールにおいて各処理工程で検出された欠陥情報を全て検索する。次に、検索した各処理工程の欠陥検出位置から初期ロールにおける検出位置を補正する。補正は、各処理工程の検出位置Ｙの情報に、前工程情報として取得した初期ロール位置（先頭）の情報加算し、結果として以下の情報を作成する。例えば、処理工程の検出位置Ｙが５００ｍで初期ロール位置（先頭）が２００ｍの場合は検出位置Ｙ（初期ロール位置）は７００ｍと補正される。
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｄ）欠陥ランク
（ｅ）検出位置Ｘ
（ｆ）検出位置Ｙ
（ｇ）検出位置Ｙ（初期ロール位置）
の情報を取得する。
【００４７】
以上の処理により、前工程における欠陥情報の取得と、最新工程における欠陥情報の取得によって、前工程と最新工程における欠陥発生の流動方向の座標を初期ロールにおける位置に補正して変換でき、最新工程において発生した不良欠陥を選別することが出来る。
【００４８】
補正方法２（１Ｂ）について説明する。補正方法２は前工程情報との直接座標補正方法である。直接座標補正方法とは、選別対象ロールに存在する欠陥の１つを抽出し、その欠陥と一致する欠陥を前工程欠陥から選び出し、抽出した欠陥の座標に基づいて選別対象ロールの前工程情報を、選別対象ロールにおける座標情報へ変更する補正方法である。補正方法２は、最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得と、選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得と、選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定と、選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−４）の加工によって補正する方法である。
【００４９】
最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得について説明する。最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得の際には、欠陥選別ＰＣは、選別対象の検査機において、欠陥情報の選別を行うロールを取得する。取得は、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」より、工程ＩＤと検査機ＩＤをキーとして最新日時の欠陥情報を持つロールＩＤを取得する。取得したロールＩＤを元に、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から、前ロールＩＤ、工程ＩＤが一致する情報を検索し、＜最新ロール情報＞と＜最新ロール欠陥情報＞の情報を取得する。
＜最新ロール情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）初期ロール位置（先頭）
（ｄ）初期ロール位置（最終）
の情報を取得する。また、
＜最新ロール欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５０】
選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得について説明する。選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−２）の取得には、前工程ロール情報（１Ｂ−２−１）の取得と、前工程欠陥情報（１Ｂ−２−２）の取得と、によって行われる。
【００５１】
先ず、前工程ロール情報（１Ｂ−２−１）の取得は、上記補正方法１の場合の前工程ロール情報（１Ａ−２−１）取得と同じ方法で行われる。即ち、前工程ロール情報は、生産情報管理ＤＢ内の「製品ロール情報管理テーブル」から取得する。取得手順は、先ず、製品ロール情報管理テーブル内のロールＩＤ項目が、選別対象ロールＩＤと一致するデータを検索する。検索後、一致データ内の初期ロールＩＤを取得する。次に、取得した初期ロールＩＤを元に、テーブル内の初期ロールＩＤが一致するデータを検索する。これにより、選別対象ロールの処理済の工程における情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程ロール情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）初期ロール位置・・・先頭
（ｄ）初期ロール位置・・・最終
の情報を取得する。
【００５２】
前工程ロール欠陥情報（１Ｂ−２−２）の取得について説明する。前工程における欠陥情報を、検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）から、前工程情報として取得した処理工程ＩＤとロールＩＤを元に、選別対象のロールにおいて各処理工程で検出された欠陥情報に対して、欠陥ランクが大きい情報（例えばランクＥ／Ｆ）を全て検索し取得する。その結果、
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）ロールＩＤ
（ｂ）処理工程ＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク（Ｅ／Ｆ）
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５３】
選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定について説明する。前工程欠陥情報における座標補正用欠陥の検索（１Ｂ−３−１）を行う。先ず、最新ロール、及び前工程の欠陥情報を、検出位置Ｘ−検出位置Ｙ順にソートを行う。最新ロール情報（１Ｂ−１）の取得で抽出を行った、＜最新ロールの欠陥情報＞から検出位置Ｙ順に座標補正基準欠陥として１点選択し、＜前工程欠陥情報＞において選択した欠陥情報と検出種別／欠陥ランク／検出位置Ｘの項目が一致する欠陥情報を全て検索し、以下の情報を取得する。
＜前工程取得情報＞
（ａ）検出種別
（ｂ）欠陥ランク
（ｃ）検出位置Ｘ
（ｄ）検出位置Ｙ
の情報を取得する。
【００５４】
座標補正値の決定（１Ｂ−３−２）について説明する。検索により取得した欠陥情報を使用し、Ｙ方向の座標補正値を決定する手順を次に示す。
手順１・・・「座標補正基準欠陥」と一致する前工程情報における欠陥のＹ方向距離を取得する。ここでいう「座標補正基準欠陥」とは、取得した欠陥情報の中から上記選択した１点の欠陥を指し、選択した１点の欠陥と前工程情報における選択した１点の欠陥と一致する欠陥のＹ方向距離を求め、これを「基準欠陥間距離」として前工程欠陥の座標を補正する。
手順２・・・前工程欠陥の最新ロールにおける有無調査
次に、前工程欠陥（１Ｂ−２−２）で取得した＜前工程欠陥情報＞から、手順１で抽出した欠陥情報の周囲の欠陥を選択し、以下の情報を取得する。これは、手順１で抽出した欠陥情報が選択対象ロール内の選択した１点の欠陥と同一の欠陥であるかを確認するためのものである。
＜有無調査対象欠陥情報＞としては
（ａ）検出種別
（ｂ）欠陥ランク
（ｃ）検出位置Ｘ
（ｄ）検出位置Ｙ
（ｅ）検出位置Ｙ＋基準欠陥間距離である。
次に上記＜有無調査対象欠陥情報＞を取得後、最新ロールにおいて、以下項目が有無調査対象欠陥の情報と一致するか照合を行う。
＜欠陥有無判定条件＞
（ａ）検出種別：同じであること
（ｂ）欠陥ランク：同一、またはそれ以上であること
（ｃ）検出位置Ｘ：同一、もしくは一定の許容範囲内にあること
（ｄ）検出位置Ｙ：検出位置Ｙ＋基準欠陥間距離＋一定の許容範囲内にあること
を条件として、上記照合をＮ点（Ｎ：整数）に対して行い、最新ロール内にＮ点中Ｍ点（たとえば、３点中２点）の存在が確認できた場合には、ここで使用した「基準欠陥間距離」を、最新ロールと前工程における座標補正値として決定する。即ち、手順１で抽出した欠陥情報が選択対象ロール内の選択した１点の欠陥と同一の欠陥であるかを、周囲の欠陥を比較することによって確認するものである。
【００５５】
選別対象ロールの前工程情報（１Ｂ−４）の加工について説明する。
【００５６】
先ず、前工程における欠陥情報の座標補正（１Ｂ−４−１）について説明する。選別対象ロールと前工程情報の座標補正値（１Ｂ−３）の決定で求められた座標補正値を使用し、選別対象ロールの前工程欠陥情報を、選別対象ロールにおける座標情報へ変更し、選別用前工程欠陥情報として、以下の情報を取得する。
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
（ｈ）検出位置Ｙ（選別対象ロール位置＝検出位置Ｙ−座標補正値）
以上の処理により、前工程における欠陥情報の取得と、取得した欠陥情報を選別対象ロールにおける位置に補正して変換することが出来、工程間の位置情報を比較することが可能となり、その結果、選別対象ロールの最新工程における不良欠陥が選別可能となる。
【００５７】
補正方法３（１Ｃ）について説明する。補正方法３はマーキング位置を利用した座標補正であって、反射防止フィルム製造工程において、図１０に示すように工程初期投入時にフィルム端部等にレーザーや、スタンプによりマーキングがフィルムに施されている場合、このマーキングを検査機により検出することにより、前工程と最新工程における座標補正値を補正することが可能となり、上記補正方法２（１Ｂ）同様に前工程情報を選別対象ロールにおける座標に変換できる。即ち、前工程におけるマーキングの位置Ｙ３と最新工程におけるマーキングの位置Ｙ４を検出し「座標補正値ＹＨ」＝前工程マーキング検出位置Ｙ３−最新工程マーキング検出位置Ｙ４とし、
＜前工程欠陥情報＞
（ａ）処理工程ＩＤ
（ｂ）ロールＩＤ
（ｃ）検出種別
（ｄ）欠陥サイズ
（ｅ）欠陥ランク
（ｆ）検出位置Ｘ
（ｇ）検出位置Ｙ
（ｈ）検出位置Ｙ（選別対象ロール位置＝検出位置Ｙ−座標補正値）
を取得し、（ｈ）検出位置Ｙが求められる。
【００５８】
補正値決定フロー例を図１１に示す補正値決定フロー図を用いて説明する。実際の欠陥選別ＰＣによる補正値決定フロー例として以下のフローを記す。
【００５９】
マーキング位置を利用した座標補正処理（補正例３）（Ｈ１）〜（Ｈ４）
最新ロール投入時のマーキング位置の検出を行い（Ｈ１）、検出に成功した場合（Ｈ１のＹＥＳ）は補正例３の処理を実行し（Ｈ３）、前工程情報の補正を実行し座標補正処理を行う（Ｈ４）。
【００６０】
前工程情報との直接座標補正処理（補正例２）（Ｈ５）〜（Ｈ７）
上記初回投入時のマーキング位置の検出を行い検出に失敗した場合（Ｈ１のＮＯ）は、補正例２の処理を実行し、前工程情報の補正を実行する（Ｈ５）。補正例２の処理で欠陥選別ＰＣ内部で保持している設定回数内に補正値が決定した場合は（Ｈ６のＹＥＳ）、補正例２）による補正処理を行なう（Ｈ７）。補正例２の処理で欠陥選別ＰＣ内部で保持している設定回数内に補正値が決定しない場合は（Ｈ６のＮＯ）、補正例２による補正処理は中止し、ステップ（Ｈ８）に移行する。
【００６１】
初期ロール位置を基にした座標補正処理（補正例１）（Ｈ８）〜（Ｈ９）
ステップ（Ｈ８）では、補正例１の処理を実行し（Ｈ８）、前工程情報の補正を実行する（Ｈ９）。
【００６２】
上記説明では、処理を補正例３、補正例２、補正例１の順序で行うことを例示したが、これに限定されるものではなく、例えば補正例３、補正例１、補正例２の順や、補正例２、補正例１、補正例３の順でも良い。
【００６３】
（２）最新工程欠陥の選別について説明する。上記選別対象ロールの前工程情報の取得終了後、対象ロールに対する最新欠陥情報の選別を行う。選別方法は、先ず、最新欠陥情報を検査情報管理ＤＢ内の「検出欠陥格納テーブル」（ＴＢ１）から取得する。取得した欠陥情報について、上記補正した同位置に比較対象の工程において欠陥情報が存在するか検索を行う。比較対象欠陥の判定を行う際には、比較を行う欠陥については、予め欠陥選別ＰＣ内にて設定された情報に従って検索を行い、比較対象の欠陥を選び出す。
＜選別設定項目＞
（ａ）対象検査機ＩＤ・・・選別処理を行う検査機の識別ＩＤ
（ｂ）対象工程ＩＤ・・・選別処理を行う工程の識別ＩＤ
（ｃ）比較対象工程ＩＤ・・・選別の為の比較を行う工程の識別ＩＤ
（ｄ）対象検出系・・・選別処理を行う欠陥検出系
（ｅ）対象色・・・選別処理を行う欠陥の色（白／黒）
（ｆ）対象ランク・・・選別処理対象とする欠陥ランク（Ａ／Ｂ／Ｃ／Ｄ／Ｅ／Ｆ）
（ｇ）比較許容範囲Ｘ・・・同一欠陥とみなせる幅方向の許容範囲（例えば±Ｘ１０ｍｍ）
（ｈ）比較許容範囲Ｙ・・・同一欠陥とみなせる流動方向の許容範囲（例えば±Ｙ１０ｍｍ）を選別設定項目とし、設定内容に最新する最新の欠陥情報について、前工程情報と比較を行う。
【００６４】
前工程情報との比較について説明する。最新の欠陥情報と、前工程における検出欠陥を比較し、上記補正した同一位置の欠陥を比較する。比較項目として、以下の項目の比較を行う。
＜欠陥同定判定項目＞
（ａ）検出工程ＩＤ・・・比較対象の工程ＩＤであるか。
（ｂ）検出系・・・比較対象の検出系であるか。
（ｃ）検出色・・・比較対象の検出色であるか。
（ｄ）検出欠陥ランク・・・比較対象の欠陥ランクであるか。
（ｅ）検出位置Ｘ・・・検出位置Ｘが比較許容範囲Ｘ内にあるか。
（ｆ）検出位置Ｙ・・・検出位置Ｙが比較許容範囲Ｙ内にあるか。
以上の項目に対して、前工程の欠陥情報が存在する（一致する）場合、比較を行った最新の欠陥情報は前工程情報ありと判断し、一方、欠陥情報が存在しない（一致しない）場合には、比較を行った最新の欠陥情報は前工程情報無し、即ち最新工程における発生欠陥と判断する。
【００６５】
欠陥情報の比較終了後、欠陥情報が最新工程における発生欠陥と判断された場合、最新陥の情報を検査情報管理ＤＢ内の「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）へ登録を行う。この最新欠陥情報の選別をロールＩＤが変更になるまで繰り返し行う。
【００６６】
以上の処理により、最新工程における発生欠陥の選別が可能となる。
【００６７】
欠陥監視ＰＣについて説明する。欠陥監視ＰＣは、対象工程、対象検査機の検出欠陥をモニタリングし、欠陥監視ＰＣ内部で所持している異常判定条件に従い現在の欠陥検出状況を監視し、工程として進行不可となる条件に合致した場合には異常通知を製造現場作業員に行い、工程における処置を促す。
【００６８】
ここで言う異常判定条件とは、欠陥監視ＰＣにおいて、異常判定条件として、少なくとも以下の項目が設定可能とする。
＜異常判定条件設定項目＞
（ａ）判定対象検査機・・・判定対象とする検査機
（ｂ）判定対象工程・・・判定対象とする工程
（ｃ）判定対象検出系・・・判定対象とする検出系
（ｄ）判定対象色・・・判定対象とする検出色
（ｅ）判定対象欠陥ランク・・・判定対象とする欠陥ランク
（ｆ）判定範囲・・・ロールにおける判定の適用箇所（設定距離毎、またはロール全体）（ｇ）判定方法・・・判定方法（判定範囲における欠陥数の閾値越え、または累積の欠陥数の閾値越え等）
（ｈ）判定距離・・・判定範囲が設定距離毎の場合の設定距離
（ｉ）閾値・・・閾値とする検出数
（ｊ）異常発生時処理・・・異常発生時の処理方法（アラーム発報、または処置内容通知等）の項目を設定する。
【００６９】
欠陥監視ＰＣによる工程内発生欠陥の監視例（（Ｔ１）〜（Ｔ４））について説明する。欠陥の監視は、欠陥監視ＰＣで実現でき、且つ対象工程において発生した欠陥のみを監視することが出来る。
【００７０】
最新の工程内発生欠陥の取得（Ｔ１）
対象検査機、対象工程内にて発生した最新の欠陥情報を、検査情報管理ＤＢ内の「差分欠陥格納テーブル」（ＴＢ２）から取得する。
【００７１】
取得情報の集計（Ｔ２）
取得した欠陥情報を、検出系／色／欠陥ランク／（設定範囲）で分類し、最新カテゴリ内の欠陥数をカウントアップする。
【００７２】
集計情報の異常判定（Ｔ３）と異常発生時の処理（Ｔ４）
最新の集計情報に対して、上記異常判定条件に基づいた異常判定を行う。異常判定と判断した場合には、設定内容に沿い異常発生時の処理を行う。
【００７３】
このように、本発明による品質監視システム及び品質監視方法によれば、最新工程で発生した欠陥を選別することが出来、発生した欠陥を異常判定条件に沿って異常と判定した場合は、異常通知を行い、その結果、最新工程で発生した欠陥を従来の人手で選別していた方法に比べ、人手を要することがなく、短時間で選別が可能となり異常の発生を抑制することが出来る。
【符号の説明】
【００７４】
１・・・フィルム基材
２・・・ハードコート層
３・・・反射防止層
３ａ・・・ＬＲ（低反射層）
３ｂ・・・ＡＧ（防汚層）
３ｃ・・・ＡＲ（高屈折率層）
１１〜１４・・・ローラ
１５・・・フィルム
１６、１７・・・照明光源
１８・・・フィルムを搬送する方向を示す矢印
１９・・・ラインＣＣＤカメラ
２０・・・画像処理装置
２１・・・ロータリーエンコーダ
２２・・・制御装置
２３・・・検査管理情報ＤＢ
３１・・・撮像画像
３１ａ・・・欠陥
３２・・・撮像画像の線分
３３・・・撮像画像の線分３２の画像信号
３４・・・閾値
３５・・・二値化画像
３６・・・欠陥信号
４０・・・初期ロール
４１・・・不良欠陥
４２・・・切除部分
４３・・・不良欠陥
４４・・・不良欠陥
４５・・・ロール
１０１・・・フィルム基材
１０２・・・ハードコート層
１０３・・・反射防止層
１０３ａ・・・ＬＲ（低反射層）
１０３ｂ・・・ＡＧ（防汚層）
１０３ｃ・・・ＡＲ（高屈折率層）
１１１〜１１４・・・ローラ
１１５・・・フィルム
１１６、１１７・・・照明光源
１１８・・・フィルムの搬送方向を示す矢印
１１９・・・ラインＣＣＤカメラ
１２０・・・画像処理装置
１２１・・・ロータリーエンコーダ
１２２・・・制御装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視システムであって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機と、
検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、
製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、
検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、
欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システム。
【請求項２】
欠陥選別手段は、ロールが初期工程に投入される際の初期ロール位置を基準として座標補正を行う機能と、
前工程の欠陥座標と最新工程情報に含まれる前工程の欠陥から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、
前工程で検出したマーキング位置と、最新工程で検出したマーキング位置から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、のいずれかによって座標補正を行い、最新工程において発生した欠陥を選別することを特徴とする請求項１に記載の品質監視システム。
【請求項３】
欠陥監視手段は選別された最新工程起因の欠陥から設定された異常条件により異常欠陥を判定し、異常を感知した場合には外部に異常を知らせることを特徴とする請求項１に記載の品質監視システム。
【請求項４】
複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視方法であって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機から得られた検査情報に基づいて、欠陥情報の登録を行い、
登録された前工程における欠陥情報と最新工程における欠陥情報の欠陥発生座標の補正を行うことによって、最新工程において発生した欠陥を選別し、
選別した欠陥を異常条件と比較し、異常条件を満たした異常欠陥が存在した場合には、外部に異常を通知することを特徴とする品質監視方法。
【請求項１】
複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視システムであって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機と、
検査機から得られた検査情報を格納し管理する検査情報管理データベースと、
製品ロールの各工程における品質情報や実績情報を管理する生産情報管理データベースと、
検査情報管理データベースと生産情報管理データベースに基づいて、最新工程と前工程での欠陥検出位置の座標を補正することによって最新工程で発生した欠陥を選別する欠陥選別手段と、
欠陥選別手段によって選別された欠陥を異常判定条件に基づいて異常と判断し、異常を通知する欠陥監視手段と、を備えたことを特徴とする品質監視システム。
【請求項２】
欠陥選別手段は、ロールが初期工程に投入される際の初期ロール位置を基準として座標補正を行う機能と、
前工程の欠陥座標と最新工程情報に含まれる前工程の欠陥から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、
前工程で検出したマーキング位置と、最新工程で検出したマーキング位置から前工程のロールの欠陥座標を最新工程のロールの座標に補正を行う機能と、のいずれかによって座標補正を行い、最新工程において発生した欠陥を選別することを特徴とする請求項１に記載の品質監視システム。
【請求項３】
欠陥監視手段は選別された最新工程起因の欠陥から設定された異常条件により異常欠陥を判定し、異常を感知した場合には外部に異常を知らせることを特徴とする請求項１に記載の品質監視システム。
【請求項４】
複数の工程からなるロール状の反射防止フィルムの製造工程において、上流工程と最新工程の間で異常個所の発生によって製品ロールの一部が切除処理された場合であっても、上流工程の検査情報と最新工程の検査情報から最新工程で発生した欠陥を選別することによって品質管理を行う品質監視方法であって、
製造工程内の各工程に備えられた検査機から得られた検査情報に基づいて、欠陥情報の登録を行い、
登録された前工程における欠陥情報と最新工程における欠陥情報の欠陥発生座標の補正を行うことによって、最新工程において発生した欠陥を選別し、
選別した欠陥を異常条件と比較し、異常条件を満たした異常欠陥が存在した場合には、外部に異常を通知することを特徴とする品質監視方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
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【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２０１３−８８２４７（Ｐ２０１３−８８２４７Ａ）
【公開日】平成２５年５月１３日（２０１３．５．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２２７９３８（Ｐ２０１１−２２７９３８）
【出願日】平成２３年１０月１７日（２０１１．１０．１７）
【出願人】（０００００３１９３）凸版印刷株式会社 (10,630)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月１３日（２０１３．５．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月１７日（２０１１．１０．１７）
【出願人】（０００００３１９３）凸版印刷株式会社 (10,630)
【Ｆターム（参考）】
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