高炉内原料レベル測定装置
【課題】電磁波を利用した高炉内原料レベル測定装置の校正を、高炉に装着したたまの状態で簡単に実施できるようにすること。
【解決手段】電磁波を発振部１から伝播管２を通して高炉Ｂ内に放射し、高炉内原料Ｃ上面からの反射波を受信することによって発振部１から高炉内原料Ｃ上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置Ａにおいて、伝播管２から高炉Ｂの途中の箇所であって、発振部１から測定不能距離Ｌ以上離れた位置に校正用反射板３ａを挿入・退避可能な機構を設ける。通常のレベル測定時には校正用反射板３ａを退避させておき、校正時に校正用反射板３ａを伝播管２から高炉Ｂの途中の箇所に挿入させて校正処理を行う。校正用反射板３ａとしては、スライド式ゲート弁３のゲート板を用いる。スライド式ゲート弁３の開閉操作は遠隔操作で行う。
【解決手段】電磁波を発振部１から伝播管２を通して高炉Ｂ内に放射し、高炉内原料Ｃ上面からの反射波を受信することによって発振部１から高炉内原料Ｃ上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置Ａにおいて、伝播管２から高炉Ｂの途中の箇所であって、発振部１から測定不能距離Ｌ以上離れた位置に校正用反射板３ａを挿入・退避可能な機構を設ける。通常のレベル測定時には校正用反射板３ａを退避させておき、校正時に校正用反射板３ａを伝播管２から高炉Ｂの途中の箇所に挿入させて校正処理を行う。校正用反射板３ａとしては、スライド式ゲート弁３のゲート板を用いる。スライド式ゲート弁３の開閉操作は遠隔操作で行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁波を利用して高炉内の原料レベルを測定する高炉内原料レベル測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
超音波、Ｘ線、マイクロ波といった電磁波を利用して距離や物体の厚さを測定する技術は従来周知であり（例えば特許文献１、２参照）、高炉においてもマイクロ波を利用した高炉内原料レベル測定装置が実用化されている。
【０００３】
この高炉内原料レベル測定装置は、マイクロ波を発振部から高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定するものである。この高炉内原料レベル測定装置は、マイクロ波を利用しているため非接触での測定が可能であり、炉内粉塵等の影響も受けないため耐環境性にも優れているという利点がある。
【０００４】
ただし、この高炉内原料レベル測定装置においては、測定結果の妥当性を判断するために定期的な校正が必要であり、従来は、測定装置本体を取り外し、別の場所で校正用反射板にマイクロ波を放射して実測の距離に基づき校正していた。
【０００５】
しかし、このような従来の校正方法では、３００〜４００ｋｇもある測定装置本体を取り外し、これを校正用の場所に移動するために吊り上げ、吊り下げを行うといった大掛かりな作業が必要であった。またこの校正作業には時間が掛かるために、高炉内原料レベルを継続的に監視したい操業中での実施は困難であり、休風中に実施しなければならないという制約があった。
【特許文献１】特開平５−２７２９５６号公報
【特許文献２】特開２００４−３０１７９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、電磁波を利用した高炉内原料レベル測定装置の校正を、高炉に装着したたままの状態で簡単に実施できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、電磁波を発振部から伝播管を通して高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置において、伝播管から高炉の途中の箇所であって、発振部から測定不能距離以上離れた位置に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたことを特徴とする。
【０００８】
すなわち、本発明の高炉内原料レベル測定装置では、通常のレベル測定時には校正用反射板を退避させておき、校正時に校正用反射板を伝播管から高炉の途中の箇所に挿入させて校正処理を行う。
【０００９】
校正用反射板としては、スライド式ゲート弁のゲート板を用いることができる。スライド式ゲート弁の開閉操作は遠隔操作で行うようにすることもできる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、伝播管から高炉の途中の箇所に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたので、高炉に装着したたままの状態で高炉の操業中に任意の時に校正を行うことができる。また、校正作業にあたっては、校正用反射板を伝播管から高炉の途中の箇所に挿入・退避させるという簡単な操作を行うだけで済むので、従来のように大掛かりな作業を伴うことなく極めて簡単に校正を行うことができる。したがって、校正のための要員の作業負荷を軽減できると共に、要員数も削減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図に示す実施例に基づき本発明の実施の形態を説明する。
【００１２】
図１は、本発明の高炉内原料レベル測定装置の装着状態を示す縦断面図である。図１において、本発明の高炉内原料レベル測定装置Ａは高炉Ｂの頂部近傍に装着されている。高炉内原料レベル測定装置Ａはマイクロ波を放射する発振部１と、発振部１と高炉Ｂ内とを連通してマイクロ波の伝播経路となる伝播管２を備える。
【００１３】
伝播管２と高炉Ｂの途中の箇所にはスライド式ゲート弁３が設けられ、そのゲート板３ａが校正用反射板として挿入・退避可能な機構が設けられている。発振部１からゲート板３ａまでの距離は、高炉内原料レベル測定装置Ａの測定不能距離（不感帯）以上の距離Ｌ（例えば３ｍ）とする。また、スライド式ゲート弁３の開閉操作は、操作制御盤４からの遠隔操作によって行うことができるようにしている。
【００１４】
以上の構成において、通常のレベル測定時には、ゲート板３ａを退避させておき、マイクロ波を発振部１から伝播管２を通して高炉Ｂ内に放射し、高炉内原料Ｃ上面からの反射波を受信することによって発振部１から高炉内原料Ｃ上面までの距離を測定する。
【００１５】
校正時には、ゲート板３ａを伝播管２内に挿入させ、ゲート板３ａからの反射波を受信する。そして、発振部１からゲート板３ａまでの距離の実測値に基づき校正処理を行う。
【００１６】
以上のように、本発明によれば、高炉に装着したたままの状態で高炉の操業中に任意の時に校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の高炉内原料レベル測定装置の装着状態を示す縦断面図である。
【符号の説明】
【００１８】
Ａ 本発明の高炉内原料レベル測定装置
Ｂ 高炉
Ｃ 高炉内原料
１ 発振部
２ 伝播管
３ スライド式ゲート弁
３ａ ゲート板
４ 操作制御盤
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁波を利用して高炉内の原料レベルを測定する高炉内原料レベル測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
超音波、Ｘ線、マイクロ波といった電磁波を利用して距離や物体の厚さを測定する技術は従来周知であり（例えば特許文献１、２参照）、高炉においてもマイクロ波を利用した高炉内原料レベル測定装置が実用化されている。
【０００３】
この高炉内原料レベル測定装置は、マイクロ波を発振部から高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定するものである。この高炉内原料レベル測定装置は、マイクロ波を利用しているため非接触での測定が可能であり、炉内粉塵等の影響も受けないため耐環境性にも優れているという利点がある。
【０００４】
ただし、この高炉内原料レベル測定装置においては、測定結果の妥当性を判断するために定期的な校正が必要であり、従来は、測定装置本体を取り外し、別の場所で校正用反射板にマイクロ波を放射して実測の距離に基づき校正していた。
【０００５】
しかし、このような従来の校正方法では、３００〜４００ｋｇもある測定装置本体を取り外し、これを校正用の場所に移動するために吊り上げ、吊り下げを行うといった大掛かりな作業が必要であった。またこの校正作業には時間が掛かるために、高炉内原料レベルを継続的に監視したい操業中での実施は困難であり、休風中に実施しなければならないという制約があった。
【特許文献１】特開平５−２７２９５６号公報
【特許文献２】特開２００４−３０１７９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、電磁波を利用した高炉内原料レベル測定装置の校正を、高炉に装着したたままの状態で簡単に実施できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、電磁波を発振部から伝播管を通して高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置において、伝播管から高炉の途中の箇所であって、発振部から測定不能距離以上離れた位置に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたことを特徴とする。
【０００８】
すなわち、本発明の高炉内原料レベル測定装置では、通常のレベル測定時には校正用反射板を退避させておき、校正時に校正用反射板を伝播管から高炉の途中の箇所に挿入させて校正処理を行う。
【０００９】
校正用反射板としては、スライド式ゲート弁のゲート板を用いることができる。スライド式ゲート弁の開閉操作は遠隔操作で行うようにすることもできる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、伝播管から高炉の途中の箇所に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたので、高炉に装着したたままの状態で高炉の操業中に任意の時に校正を行うことができる。また、校正作業にあたっては、校正用反射板を伝播管から高炉の途中の箇所に挿入・退避させるという簡単な操作を行うだけで済むので、従来のように大掛かりな作業を伴うことなく極めて簡単に校正を行うことができる。したがって、校正のための要員の作業負荷を軽減できると共に、要員数も削減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図に示す実施例に基づき本発明の実施の形態を説明する。
【００１２】
図１は、本発明の高炉内原料レベル測定装置の装着状態を示す縦断面図である。図１において、本発明の高炉内原料レベル測定装置Ａは高炉Ｂの頂部近傍に装着されている。高炉内原料レベル測定装置Ａはマイクロ波を放射する発振部１と、発振部１と高炉Ｂ内とを連通してマイクロ波の伝播経路となる伝播管２を備える。
【００１３】
伝播管２と高炉Ｂの途中の箇所にはスライド式ゲート弁３が設けられ、そのゲート板３ａが校正用反射板として挿入・退避可能な機構が設けられている。発振部１からゲート板３ａまでの距離は、高炉内原料レベル測定装置Ａの測定不能距離（不感帯）以上の距離Ｌ（例えば３ｍ）とする。また、スライド式ゲート弁３の開閉操作は、操作制御盤４からの遠隔操作によって行うことができるようにしている。
【００１４】
以上の構成において、通常のレベル測定時には、ゲート板３ａを退避させておき、マイクロ波を発振部１から伝播管２を通して高炉Ｂ内に放射し、高炉内原料Ｃ上面からの反射波を受信することによって発振部１から高炉内原料Ｃ上面までの距離を測定する。
【００１５】
校正時には、ゲート板３ａを伝播管２内に挿入させ、ゲート板３ａからの反射波を受信する。そして、発振部１からゲート板３ａまでの距離の実測値に基づき校正処理を行う。
【００１６】
以上のように、本発明によれば、高炉に装着したたままの状態で高炉の操業中に任意の時に校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の高炉内原料レベル測定装置の装着状態を示す縦断面図である。
【符号の説明】
【００１８】
Ａ 本発明の高炉内原料レベル測定装置
Ｂ 高炉
Ｃ 高炉内原料
１ 発振部
２ 伝播管
３ スライド式ゲート弁
３ａ ゲート板
４ 操作制御盤
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁波を発振部から伝播管を通して高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置において、伝播管から高炉の途中の箇所であって、発振部から測定不能距離以上離れた位置に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたことを特徴とする高炉内原料レベル測定装置。
【請求項２】
校正用反射板として、スライド式ゲート弁のゲート板を用いた請求項１に記載の高炉内原料レベル測定装置。
【請求項３】
スライド式ゲート弁の開閉操作を遠隔操作で行うようにした請求項２に記載の高炉内原料レベル測定装置。
【請求項１】
電磁波を発振部から伝播管を通して高炉内に放射し、高炉内原料上面からの反射波を受信することによって発振部から高炉内原料上面までの距離を測定する高炉内原料レベル測定装置において、伝播管から高炉の途中の箇所であって、発振部から測定不能距離以上離れた位置に校正用反射板を挿入・退避可能な機構を設けたことを特徴とする高炉内原料レベル測定装置。
【請求項２】
校正用反射板として、スライド式ゲート弁のゲート板を用いた請求項１に記載の高炉内原料レベル測定装置。
【請求項３】
スライド式ゲート弁の開閉操作を遠隔操作で行うようにした請求項２に記載の高炉内原料レベル測定装置。
【図１】
【公開番号】特開２００６−２５７４５７（Ｐ２００６−２５７４５７Ａ）
【公開日】平成１８年９月２８日（２００６．９．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−７３１２２（Ｐ２００５−７３１２２）
【出願日】平成１７年３月１５日（２００５．３．１５）
【出願人】（０００００６６５５）新日本製鐵株式会社 (6,474)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年９月２８日（２００６．９．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年３月１５日（２００５．３．１５）
【出願人】（０００００６６５５）新日本製鐵株式会社 (6,474)
【Ｆターム（参考）】
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