説明

X線画像診断装置

【課題】短い時間でしかも精度の良い骨塩定量測定が可能なX線画像診断装置を提供すること。
【解決手段】エネルギーの異なるX線を発生するX線管と、このX線を単色化する線質フィルタと、このX線の照射範囲を制御するX線絞り器と、このX線を検出する平面状のX線検出器と、前記線質フィルタにより単色化された、高エネルギーと低エネルギーのX線に対してそれぞれ、広範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第1の画像取得手段と、狭範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第2の画像取得手段と、第1の画像取得手段で得られたX線画像に含まれる散乱線の影響を、前記第2の画像取得手段で得られた同一エネルギーのX線画像を用いて補正を行う散乱線補正手段と、前記散乱線補正手段で補正された高エネルギーと低エネルギーのX線画像に基づいて骨塩量を算出する骨塩量算出手段と、を有することを特徴とするX線画像診断装置。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、X線撮影による画像診断装置に関する。
【背景技術】
【0002】
骨粗鬆症とは骨の微細構造が劣化を起こし、骨の量が減少するために骨強度が低下し、骨折を起こしやすくなった疾患である。したがって骨粗鬆症の診断にあたっては、骨量の減少、骨の微細構造の劣化などの画像評価などが求められる。骨粗鬆症の診断は画像評価に加え、骨塩定量もしくは骨密度を測定することによって、疾患の診断指標とすることができる。
【0003】
骨粗鬆症の診断指標となる骨塩定量もしくは骨密度は、骨塩(ヒドロキシアパタイト)が他の軟部組織に比べX線に対する透過率が低いため、X線の吸収率を求めることによりその量を知ることができる。
【0004】
骨塩定量を測定する一般的な方法として、ファンビームあるいはペンシルビーム状の2つの異なるエネルギーのX線を被写体に照射し、このX線源と対向する半導体検出器で検出したX線透過量の差から骨塩定量を求めるものがある。
【0005】
この方法の場合、必要な測定範囲をカバーするために、対向するX線管と半導体検出器が連動しながら移動して測定を行うため、検査時間も要するものになっている。
【0006】
また、別の方法としてイメージングプレートを使用して、X線エネルギーの異なる複数枚の画像を取得し、それらの差分画像から骨塩定量を測定する方法もあるが、画像を得るためにイメージングプレートを画像読取装置ユニットに読み込ませる必要があるため、医師または検査技師がX線画像の確認を行ってから、骨塩定量の測定値を得るまでに時間を要していた。
【0007】
X線を用いて骨塩定量を測定する方法の特許文献として以下のような文献がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0008】
【特許文献1】特開2000−245723号公報
【特許文献2】特開2008−73115号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
従来の一般的な骨塩定量測定装置においては、ファンビームあるいはペンシルビーム状のX線源とそれに対向する半導体検出器を移動させながら必要な範囲を撮影するため、撮影時間がかかる。また、撮影時間がかかるため測定中に被写体が動いてしまうことなどにより、画像のブレが生ずるという問題がある。
【0010】
本発明は、上記問題を解決するためになされたもので、短い時間でしかも精度の良い骨塩定量測定が可能なX線画像診断装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明の請求項1によれば、エネルギーの異なるX線を発生するX線管と、このX線を単色化する線質フィルタと、このX線の照射範囲を制御するX線絞り器と、このX線を検出する平面状のX線検出器と、前記線質フィルタにより単色化された、高エネルギーと低エネルギーのX線に対してそれぞれ、広範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第1の画像取得手段と、狭範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第2の画像取得手段と、第1の画像取得手段で得られたX線画像に含まれる散乱線の影響を、前記第2の画像取得手段で得られた同一エネルギーのX線画像を用いて補正を行う散乱線補正手段と、前記散乱線補正手段で補正された高エネルギーと低エネルギーのX線画像に基づいて骨塩量を算出する骨塩量算出手段と、を有することを特徴とするX線画像診断装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【0012】
【図1】本発明の一実施形態に係るX線画像診断装置の全体構成図である。
【図2】同実施形態に係るX線画像診断装置の演算・画像処理部の構成図である。
【図3】同実施形態に係るX線画像診断装置において撮影する4種類のX線画像例を示す図である。
【図4】同実施形態に係るX線画像診断装置において骨塩定量を取得するまでのフローチャート図である。
【図5】同実施形態に係るX線画像診断装置の第1の散乱線補正方法を示した図である。
【図6】同実施形態に係るX線画像診断装置の第2の散乱線補正方法を示した図である。
【図7】同実施形態に係るX線画像診断装置の第3および第4の散乱線補正方法を示した図である。
【図8】同実施形態に係るX線画像診断装置の第5の散乱線補正方法を示した図である。
【図9】同実施形態に係るX線画像診断装置の骨塩定量算出のための各種パラメータを示す図である。
【図10】同実施形態に係るX線画像診断装置の被写体ありの差分画像データのヒストグラムを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0013】
本発明の一実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図1に、本発明の一実施形態に係るX線画像診断装置の全体構成図を示す。本発明の一実施形態におけるX線画像診断装置は、X線を発生するためのX線管保持装置10と、被検体(被写体)11が横臥し、透過したX線を検出するための寝台12と、X線管に電圧を印加するためのX線高電圧装置13、およびこれらを制御するための画像処理装置14から構成されている。
【0014】
X線管保持装置10、寝台12およびX線高電圧装置13は、X線検査室に設置され、画像処理装置14は操作室に設置される。
【0015】
X線管保持装置10は、X線を発生するX線管101と、X線のビーム形状を制御するX線絞り器102と、発生したX線のエネルギーを単色化するための線質フィルタ103から構成される。
【0016】
寝台11は、被検体11を透過したX線を検出するX線検出部121、最適なX線露光量を自動的に制御するためのAEC(Auto Exposure Control)検出部122から構成される。このAEC検出部122は、自動制御のON/OFFが行え、ONの場合は被検体11の健康を害さないよう被爆量が考慮され最大撮影時間などが設定される。X線検出器121は、FPD(Flat Panel Detector)であることが好ましい。
【0017】
X線高電圧装置13は、X線管101に印加する高電圧を発生する高電圧発生器131と発生すべき高電圧を制御するX線制御部132から構成される。このX線制御部132は画像処理装置14から制御される。
【0018】
画像処理装置14は、X線管保持装置10、寝台12、および高電圧装置13を制御する制御部141を有する。この制御部141によって所定のエネルギーを持つX線を発生させるためX線制御部132を介して高電圧を発生し、この高電圧によって発生したX線を線質フィルタで単色化し、放射するX線のビーム形状をX線絞り器102で制御する。さらに被検体11を透過したX線を検出するX線検出器121を制御して、X線画像を取得する。
【0019】
この制御部141の配下には、X線検出器121の検出器出力が入力される入力部142、この検出器出力を演算し、画像処理を施す演算・画像処理部143、画像処理が施されたX線画像などを格納する記録装置144、X線画像を表示させるための表示出力部145と表示を行うモニタ146、またネットワークを介して外部へX線画像を出力するネットワーク出力部147が接続されて、この制御部141から各種制御が行われる。
【0020】
図2は、演算・画像処理部143の構成を示した図である。演算・画像処理部143は、一般的な演算・画像処理機能の他に骨塩定量を測定するために必要な主要な3つの機能ブロック、すなわち散乱線補正処理部201、差分画像生成部202、骨塩定量算出部203を含んでいる。
【0021】
散乱線補正処理部201では、撮影したX線画像に含まれる散乱線を除去するように補正処理を行う。差分画像生成部202では、後述するように、高エネルギーのX線条件で撮影したX線画像と、低エネルギーのX線条件で撮影したX線画像との差分画像データを生成する処理を行う。骨塩定量算出部203は、この差分画像を用いて骨塩定量を算出する処理を行う。
【0022】
図3は、本発明の一実施形態に係るX線画像診断装置において撮影する4種類のX線画像例を示す図である。X線のエネルギーとして高エネルギーと低エネルギーの2種類の線質を用い、X線のビーム形状としては、狭い照射範囲と広い照射範囲の2種類のビーム形状のX線を用いる。従って計4種類のX線画像を取得することになる。
【0023】
狭い照射範囲のビーム形状としては、例えばファンビームまたはペンシルビームを用いるのが好ましい。また、広い照射範囲のビーム形状としては、例えばコーンビームを用いることが好ましい。
【0024】
図3は、被検体の腰椎に対してX線の照射範囲を設定した例である。ここで狭い照射範囲と広い照射範囲のX線照射範囲をそれぞれ四角で表す。
【0025】
狭い照射範囲のビームを用いたX線画像は散乱線の影響をほとんど受けない画像が得られる。しかしながらX線ビームとそれに対向するX線検出器を移動させながら撮影し、得られたX線画像を複数繋ぎ合わせて、ある範囲の撮影画像を取得しようとすると、複数の画像の位置ずれによるアーチファクトが発生する。また、移動により撮影時間がかかるため測定中に被写体が動いてしまうことなどにより画像にブレが生ずるという問題がある。
【0026】
一方、広い照射範囲のビームを用いたX線画像は、1回の撮影で取得できるため非常に短時間に画像が取得できるが、散乱線の影響を受けやすい画像となる問題がある。散乱線は雑音となるため、コントラストなどの画像品質が低下するなどの問題を生ずる。
【0027】
従って、本発明の実施形態においては、散乱線の影響がほとんどない、狭い照射範囲のビームを用いたX線画像を用いて、広い照射範囲のビームを用いたX線画像の散乱線の影響を補正し、画像の位置ずれやボケ・ブレのない高品質なX線画像を非常に短時間に取得できる。
【0028】
図4は、同実施形態において骨塩定量を取得するまでのフローチャート図である。尚、装置構成は図1を参照する。
【0029】
ステップST401では、まず、骨塩定量を測定する被検体11を寝台12に横臥させる。本実施形態では腰椎の骨塩定量を測定することにする。その後、医師または検査技師等は、画像処理装置14のモニタ146に表示される患者選択画面から骨塩定量測定を行なうべき患者を選択し、検査を開始する。
【0030】
ステップST402では、医師または検査技師等は、モニタ146に表示される検査画面から、骨塩定量測定のプロトコルを選択する。骨塩定量測定のプロトコルには、例えば、図3に示した4種類の撮影条件に対して管電圧、管電流、撮影時間、AEC設定、線質フィルタ等の項目が設定されているものとする。
【0031】
ステップST403では、医師または検査技師等が被検体11に微量のX線を照射して透視を行いながら、骨塩定量測定を行うための撮影範囲を決定する。ここでは、腰椎についての実施形態について述べるが、測定部位は骨部であればどこでも構わない。また、この撮影範囲の位置決めは、X線透視にかかわらず、他の方法、例えばレーザ測定などで範囲を決定してもよい。
【0032】
狭い照射範囲の位置決めについては、例えば長手方向(Y軸方向)に対して、測定対象の腰椎の個数分をカバーし、横手方向(X軸方向)はなるべく細く絞るようにしたファンビームとする。横手方向の位置は、腰椎の中心を通るようにし、長手方向の照射範囲は、通常、透視で決めた長手方向の撮影範囲と同じになるようにする。また、横手方向の(細い)照射幅は、骨塩定量測定のプロトコルに設定されていても良いし、据付時にシステムの設定として登録しておいても良い。
【0033】
広い照射範囲の位置決めに関しては、例えば長手方向に対して、測定対象の腰椎の個数分をカバーし、横手方向は測定対象の腰椎の幅をカバーするように設定し、X線ビーム形状はコーンビームとする。通常、長手方向、横手方向の照射範囲は、ともに透視で決めた撮影範囲と同じにする。
【0034】
ステップST404では、医師または検査技師等が高エネルギーX線条件を確認し、曝射スイッチを押すことによって図3に示したように狭い照射範囲と広い照射範囲のビームで2種類の撮影を行う。X線の照射範囲の変更は、制御部141によりX線絞り器102の絞り開度が変更されることにより行なわれる。
【0035】
ステップST405では、ステップST404で設定した高エネルギー画像撮影条件から低エネルギー画像撮影条件にX線条件の変更を行う。このX線条件の変更も制御部141により行なうことができる。続いて医師または検査技師等は、低エネルギーX線条件を確認し、曝射スイッチを押すことによって図3に示したように狭い照射範囲と広い照射範囲のビームで2種類の撮影を行う。この照射範囲の変更も、制御部141によりX線絞り器102の絞り開度が変更されることにより行なわれる。
【0036】
なお、本実施形態においては、最初に高エネルギーX線条件で撮影を行い、次に低エネルギーX線条件で撮影を行なったが、この逆でも構わない。すなわち、本特許の実施形態においては、図3に示した4種類のX線画像が取得できればよいので、広い照射範囲にX線絞り器102を設定した後、高電圧発生器131の電圧を変化させて高エネルギーと低エネルギーの撮影条件で撮影し、次に狭い照射範囲にX線絞り器102を設定した後、高電圧発生器131の電圧を変化させて高エネルギーX線条件と低エネルギーX線条件での撮影を行っても構わない。なお、図3に示した4種類の画像の撮影枚数はそれぞれ1枚またはそれ以上とする。特に、狭い照射範囲のX線画像は、ステップST406で後述するように散乱線の補正に使用するので、多ければ多いほど散乱線の補正を正確にすることが可能になる。
【0037】
ステップST406では、図3で示す4種類のX線画像を収集後、画像処理装置14の演算・画像処理部143において、高エネルギーX線条件と、低エネルギーX線条件のそれぞれについて、広い照射範囲のX線画像に対して散乱線の除去を目的とする補正処理を行なう。この補正には狭い照射範囲のX線画像を用いて行う。散乱線補正処理は、散乱線補正処理部201で行われ、具体的な処理方法については後述する。
【0038】
ステップST407では、ステップST406で散乱線補正がなされた高エネルギーX線条件での広い照射範囲画像と、低エネルギーX線条件での広い照射範囲画像とで差分処理(サブストラクション)を行うことで軟部組織が除去され、骨のみが描出された差分画像データが生成される。差分画像データの生成は、差分画像生成部202で行われ、具体的な処理方法については後述する。
【0039】
ステップST408では、ステップST407で得られた骨のみが描出された差分画像データに対して、骨塩定量を算出する。この骨塩定量を算出については、骨塩定量生成部203によって行われ、この具体的な処理方法については後述する。以上のステップにより、本発明の実施形態の骨塩定量の算出処理を終了する。
【0040】
散乱線補正処理は、散乱線を含む画像データから散乱線だけの画像データを求め、(散乱線画像)散乱線を含む画像データから散乱線画像をサブトラクションすることで散乱線のないX線画像を得ることが可能である。以下散乱線補正処理の方法について記述する。
【0041】
<第1の散乱線補正方法>
図5は、同実施形態に係るX線画像診断装置の第1の散乱線補正方法を示す図である。(a)にフローチャートを、(b)にフローチャートを説明するため参考図を示す。
【0042】
まず、ステップST501では、撮影範囲において、狭い照射範囲と同じ位置の画像データを広い照射範囲の画像データから抜き出す。この抜き出した画像データには、骨などで散乱される散乱線が多く含まれる。この散乱線は雑音となるので画像のコントラスト低下や後述の骨塩定量の算出に誤差を生ずる。一方、狭い照射範囲の画像データは、照射範囲外から照射範囲内に散乱してくるX線は当然存在しないため散乱線成分はほとんど含まれない。
【0043】
従って、ステップST502では、広い照射範囲の画像データから狭い照射範囲と同じ位置の画像データを抜き出した画像データから、狭い照射範囲の画像データの差分をとることで散乱線のみを抽出することが可能になる。
【0044】
ステップST503では、ステップST502で得られたY軸方向に分布する散乱線の量(画素値)を平均し、広い照射範囲の画像データに含まれている散乱線を一様な画素値で表す。
【0045】
ステップST504では、広い照射範囲の画像データからステップST503で得られた散乱線の平均画素値を一様に減算することで散乱線を除去した画像データを得ることができる。
【0046】
以上のステップにより、高エネルギーX線条件と低エネルギーX線条件のそれぞれについて、広い照射範囲画像の画像データから散乱線を除去した画像データを取得し、その後は、図4のステップST407に示すように、それぞれの画像データ間で差分処理(サブストラクション)を行うことで軟部組織が除去され、骨のみが描出された差分画像データが作成される。さらにステップST408に示すように、得られた差分画像データから骨塩定量を算出する。
【0047】
<第2の散乱線補正方法>
図6は、同実施形態に係るX線画像診断装置の第2の散乱線補正方法を示す図である。
【0048】
まず、ステップST601では、狭い照射範囲と同じ位置の画像データを広い照射範囲の画像データから抜き出す。この抜き出した画像データには、骨などで散乱する散乱線が多く含まれている。この散乱線は雑音となるので画像のコントラスト低下や後述の骨塩定量の算出に誤差を生ずる。一方、狭い照射範囲の画像データは、照射範囲外から照射範囲内に散乱してくるX線は当然存在しないため散乱線成分はほとんど含まれない。
【0049】
従って、ステップST602では、広い照射範囲の画像データから狭い照射範囲と同じ位置の画像データを抜き出した画像データから狭い照射範囲の画像データの差分をとることでY軸方向散乱線のみを抽出することが可能になる。ここでは、Y軸方向の数画素を単位として、この単位毎に平均をとっても構わない。
【0050】
ステップST603では、ステップST602で得られたY軸方向に分布する散乱線に対してX軸方向の量は一定と仮定して、広い照射範囲の画像データに含まれている散乱線画像を求める。
【0051】
ステップST604では、広い照射範囲の画像データからステップST603で得られた散乱線画像を画素ごとに減算することで散乱線を除去した画像データを得ることができる。
【0052】
以上のステップにより、高エネルギーX線条件と低エネルギーX線条件のそれぞれについて、広い照射範囲画像の画像データから散乱線を除去した画像データを取得し、その後は、図4のステップST407に示すように、それぞれの画像データ間で差分処理(サブストラクション)を行うことで軟部組織が除去され、骨のみが描出された差分画像データが作成される。さらにステップST408に示すように、得られた差分画像データから骨塩定量を算出する。
【0053】
この散乱線補正方法の場合、X軸方向の散乱線は一定と仮定し、狭い撮影範囲の画像データはY軸方向を長手方向としたもの1枚を取得する場合について記載したが、さらにX軸方向(例えばY方向の中心位置において)にビームを照射する狭い照射範囲の画像データを取得し、狭い撮影範囲の画像データとしてX軸方向とY軸方向の計2枚を取得すれば、X軸方向とY軸方向の散乱線分を考慮した散乱線画像を取得することが可能である。
【0054】
<第3の散乱線補正方法>
広い照射範囲の画像データには散乱線が多く含まれており、また狭い照射範囲の撮影画像には、散乱の広がり方の情報(散乱成分)が含まれている。従って狭い照射範囲の画像データから、散乱成分を推定し、広い照射範囲の画像データに含まれる散乱線を補正することを行う。
【0055】
図7(a)(b)は、同実施形態に係るX線画像診断装置の第3および第4の散乱線補正方法を示した図である。ステップST701では、狭い照射範囲の画像データの代表的な1ライン(例えばY軸の中心値)を選択する。
【0056】
ステップST702では、X軸方向沿ってプロファイル曲線を求める。図示するように狭い照射範囲の部分に直接線のピークを持ち、それ以外の部分には散乱成分が存在する。したがってステップST703では、このプロファイルから直接線のピークを除去することで散乱成分のみを推定する。この散乱成分を広がり関数(Spread Function)という。この例では、一次元(X軸方向)の広がり関数であるので線広がり関数(LSF:Linear Spread Function)という。
【0057】
ステップST704では、このLSFがXY平面上で等方的と仮定することで2次元フィルタを作成する。
【0058】
ステップST705では、広い照射範囲の撮影画像とこの2次元フィルタとのコンボリューション積分を行うことで散乱線画像を取得する。
【0059】
<第4の散乱線補正方法>
図7(b)に示す本補正方法は、図7(a)に示す第3の散乱線補正方法のように代表的な1ラインのプロファイルを求めるのではなく、Y軸方向に対して各プロファイルの平均を取るようにする。
【0060】
ステップST706では、狭い照射範囲の画像データの各画素のY軸値に対して、プロファイルを作成する。また、Y軸の各画素全部についてプロファイルを求めるのでなくY軸方向の照射範囲をN等分し(Nは2以上の整数)、プロファイルを作成する複数のラインを選択して行ってもよい。
【0061】
ステップST707では、ステップST706で求めた各プロファイルを平均することにより、平均化したプロファイルを求める。ステップST702と同様に、このプロファイルも狭い照射範囲の部分に直接線のピークを持ち、それ以外の部分に散乱成分が存在するのでステップST708では、このプロファイルから直接線のピークを除去することで散乱成分の一次元(X軸方向)の広がり関数(LSF)のみを推定する。
【0062】
ステップST709では、このLSFがXY平面上で等方的に分布すると仮定することで2次元フィルタを作成する。
【0063】
ステップST710では、広い照射範囲の撮影画像とこの2次元フィルタとのコンボリューション積分を行うことで散乱線画像を取得する。
【0064】
なお、第3および第4の散乱線補正方法で述べたような2次元フィルタは、X線の照射範囲をペンシルビームのような点状のビーム形状にすることにより、点広がり関数(PSF:Point Spread Function)を求めて作成することもできる。
【0065】
<第5の散乱線補正方法>
図8は、同実施形態に係るX線画像診断装置の第5の散乱線補正方法を示す図である。本補正方法は各ラインにおいてコンボリューション積分を行い、各ラインの散乱線を求め、各ラインを足し合わせていくことにより、最終的に広い照射範囲の画像データに含まれる散乱線画像を生成する方法である。
【0066】
ステップST801では、狭い照射範囲の画像データのあるY軸の1ライン(ここでは広い照射範囲の最上部)を選択する。ステップST802では、選択したY軸値に対して、X方向に沿ってプロファイルを作成する。
【0067】
ステップST702と同様であるが、このプロファイルは狭い照射範囲に対応する部分に直接線のピークを持ち、それ以外の部分に散乱成分が存在するものとなる。したがって、ステップST803では、このプロファイルから直接線のピークを除去することで散乱成分の線広がり関数(LSF)のみを推定できる。
【0068】
ステップST804では、このLSPと広い照射範囲の対応するY軸座標値の画像データと、コンボリューション積分を実行する。これにより選択したY軸値のラインにおける散乱線が求められる。
【0069】
ステップST805では、選択するY軸座標値を所定量シフトする。ステップST806では、このシフトしたY軸座標に対してX方向にプロファイルを求める。ステップST807では、ステップST803と同様、直接線のピークを除去したLSFを求める。
【0070】
ステップST808では、ステップST804と同様、このLSPと広い照射範囲の画像データ対応するY軸座標値の画像データとのコンボリューション積分を実行する。これによりシフトしたY軸値のラインにおける散乱線が求められる。
【0071】
ステップST809では、ステップST805からステップST808までを広い照射範囲のY方向にわたって繰り返し、各散乱線を足し合わすことによって広い照射範囲に対応する散乱線画像を求める。
【0072】
以上、散乱線補正方法の例を述べたが、このほかにも同様な考え方や組み合わせにより、他の散乱線補正方法が考えられる。
【0073】
次に、STステップ407の差分画像の生成について詳細に述べる。図9は同実施形態に係るX線画像診断装置の骨塩定量算出のための各種パラメータを示す図である。パラメータは、高エネルギーX線条件、低エネルギーX線条件のそれぞれに対して、被写体がない時の検出器入射光子数I0h 、I0l 、骨密度ρb 、骨の厚さtb 、骨部の質量減弱係数μbh 、μbl 、軟部組織密度ρs、軟部組織の厚さts 、軟部組織の質量減弱係数μsh 、μslをパラメータとして、被写体を透過する光子数に対して次のような関係式が成り立つ。
【0074】
高エネルギーX線条件での透過光子数Ih は、式(1)で表される。
【0075】
Ih = I0h exp(−μbhρbtb − μshρsts) ・・・(1)
また、低エネルギーX線条件での透過光子数Il は、式(2)で表される。
【0076】
Il = I0l exp(−μblρbtb − μslρsts) ・・・(2)
上記の式(1)、(2)であらわされる透過光子数がX線検出器121に入射することになる。ここでは、線質フィルタ102等の手段により、X線のエネルギーが単色化されるので、透過光子がX線検出器121に入射することによって得られるデジタル出力S(以後、画素値と呼ぶ)は、X線検出器121に入射する光子数に線形的に比例すると仮定できる。これにより、X線検出器121から得られる画素値について、式(1)、(2)は以下のように変形される。
【0077】
高エネルギーX線条件
Sh = S0h exp(−μbhρbtb − μshρsts) ・・・(3)
低エネルギーX線条件
Sl = S0l exp(−μblρbtb − μslρsts) ・・・(4)
まず、式(3)、(4)の両辺の対数をとることにより、下記の式(5)、(6)を得る。
【0078】
高エネルギーX線条件
ln(Sh) = ln(S0h) −μbhρbtb − μshρsts・・・(5)
低エネルギーX線条件
ln(Sl) = ln(S0l) −μblρbtb − μslρsts・・・(6)
次に、式(5)−μsh/μsl×式(6)を実行すると、軟部組織の成分をキャンセルすることができ、下記式(7)(μsh/μslを差分係数wと表す)が得られる。これにより骨のみが描出された画像を得ることができる。
【0079】
ln(Sh) − w×ln(Sl) = ln(S0h) − w×ln(S0l) − (μbh− w×μblbtb ・・・(7)
ここで、ln(Sh) − w×ln(Sl)を差分画像データと呼ぶことにする。
【0080】
次に式(7)で用いた差分係数wの求め方について記述する。
【0081】
<第1の差分係数の算出方法>
X線管101に印加する管電圧毎に軟部組織の減弱係数を定めておき、高エネルギーX線条件と低エネルギーX線条件に対する軟部組織の質量減弱係数の比を差分係数wとする。
【0082】
<第2の差分係数の算出方法>
高エネルギーX線条件で得られたX線画像、低エネルギーX線条件で得られたX線画像のヒストグラムの情報を用いて、メインヒストグラムの幅の比を差分係数とする。本手法は、特願2009−089960に記載されている。
【0083】
最後に、ステップST408の骨塩定量の算出方法について記述する。
【0084】
骨塩定量は、単位面積当たりの骨密度Mbに測定対象面積を乗じたもので評価できる。従ってMbは、ρb tbに相当し、式(8)が得られる。
【0085】
Mb = ρbtb = {(ln(S0h) − w×ln(S0l) − (ln(Sh) − w×ln(Sl))} / (μbh− w×μbl)
・・・(8)
ln(Sh) − w×ln(Sl)は、式(7)で定義した差分画像データに相当する。また、ln(S0h) − w×ln(S0l)は、被写体なしの時の差分画像データに相当することがわかる。したがって、被写体ありの差分画像データを、被写体なしの差分画像データと質量減弱係数の情報 (μbh−w×μbl)で補正することにより、単位面積当たりの骨密度Mbを得ることができる。
【0086】
被写体なしの時の差分画像データの算出の例を以下に説明する。
【0087】
<第1の被写体なしの時の差分画像データの算出方法>
被写体撮影後、被写体なしの状態で高エネルギーX線条件でのX線画像と低エネルギーX線条件でのX線画像を取得し、それらの画像から差分画像データを得る。この時のX線撮影条件は、被写体ありの時のX線撮影条件と同じとする。また、被写体が存在しないため散乱線が発生しないので、撮影された画像データの補正を行う必要はなく、高エネルギーX線条件、低エネルギーX線条件ともに広い照射範囲でのみ撮影を行なえばよい。(狭い照射範囲での撮影は必要ない。)差分画像データを得る時に採用する差分係数wは、被写体ありの時に使用した値を使用するものとする。
【0088】
<第2の被写体なしの時の差分画像データの算出方法>
高エネルギーX線条件、および低エネルギーX線条件で、被写体なしの時に得られる画素値を予め定めておく。具体的には、X線管101に印加する管電圧毎に、管電流と撮影時間の積(mAs)と画素値の関係式を定めておき、この関係式から実際に撮影で用いた管電流と撮影時間の積(mAs)に対応する画素値を、高エネルギーX線条件の管電圧と低エネルギーX線条件の管電圧の場合のそれぞれに対して求める。そして、それぞれの画素値より差分画像データを得る。
【0089】
<第3の被写体なしの時の差分画像データの算出方法>
被写体ありの差分画像データにおいて、骨のない軟部組織領域に対応する画素値は、骨の厚さtbが0となるため、被写体なしの差分画像データに相当すると考えてよい。このため、図10に示すように、被写体ありの差分画像データのヒストグラムを求め、これから、たとえば骨のない軟部組織領域に対応する代表画素値Psを決めることができる。図10において、分布Aは骨のない軟部組織領域を示す分布であり、分布Bは骨と軟部組織領域の両方を示す分布である。このように決まった代表画素値Psを被写体なしの差分画像データとする。
【0090】
以上、述べたように、従来の一般的な骨塩定量測定装置においては、ファンビームあるいはペンシルビーム状のX線源とそれに対向する半導体検出器を移動させて測定に必要な範囲を撮影していたので、移動により撮影時間がかかるため測定中に被写体が動いてしまうことなどにより画像にブレが生ずるという問題が生じていた。
【0091】
本発明の一実施形態によれば、散乱線の影響がほとんどない、狭い照射範囲のビームを用いたX線画像を用いて、広い照射範囲のビームを用いたX線画像に含まれる散乱線の影響を補正することができるので、画像の位置ずれやボケ・ブレのないX線画像を非常に短時間に取得できる。したがって、骨塩定量の算出においても短時間で精度のよい値を得ることが可能である。
【0092】
また、X線検出器にFPDを用いているので、従来のようにイメージングプレートを別の画像読取装置で読み取るような手順を必要としないので時間の無駄を生じない。さらに、骨塩定量が、取得したX線画像の画素間の演算によって求めることができる。従って、ボケやブレのない高コントラストな骨画像が取得できるとともに対応する画素毎に骨塩定量を表示することが可能となる。
【0093】
また、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。本発明の技術思想を用いる限りこれらの変形例も本発明に含まれる。
【符号の説明】
【0094】
10…X線管保持装置、
11…被検体、
12…寝台、
13…X線高電圧装置、
14…画像処理装置、
101…X線管、
102…X線絞り器、
103…線質フィルタ、
121…X線検出器、
122…AEC検出器、
131…高電圧発生器、
132…X線制御部、
141…制御部、
142…入力部、
143…演算・画像処理部、
144…記憶装置、
145…表示出力部、
146…モニタ、
147…ネットワーク出力部。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
エネルギーの異なるX線を発生するX線管と、
このX線を単色化する線質フィルタと、
このX線の照射範囲を制御するX線絞り器と、
このX線を検出する平面状のX線検出器と、
前記線質フィルタにより単色化された、高エネルギーと低エネルギーのX線に対してそれぞれ、広範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第1の画像取得手段と、
狭範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第2の画像取得手段と、
第1の画像取得手段で得られたX線画像に含まれる散乱線の影響を、前記第2の画像取得手段で得られた同一エネルギーのX線画像を用いて補正を行う散乱線補正手段と、
前記散乱線補正手段で補正された高エネルギーと低エネルギーのX線画像に基づいて骨塩量を算出する骨塩量算出手段と、を有することを特徴とするX線画像診断装置。
【請求項2】
線質フィルタにより単色化された、高エネルギーと低エネルギーのX線に対してそれぞれ、広範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第1の画像取得手段と、
狭範囲なX線照射領域を設定してX線画像を取得する第2の画像取得手段と、
第1の画像取得手段で得られたX線画像に含まれる散乱線の影響を、前記第2の画像取得手段で得られた同一エネルギーのX線画像を用いて補正を行う散乱線補正手段と、を有することを特徴とするX線画像診断装置。
【請求項3】
線質フィルタにより単色化された、高エネルギーと低エネルギーのX線に対してそれぞれ、所定のX線照射領域を設定して照射するX線照射手段と、
このX線のエネルギーに比例する画素値を出力する平面状のX線検出器と、
この平面状のX線検出器で得られたX線画像に対して、差分係数で重み付けされた差分画像を生成するための差分画像生成手段と、
この差分画像から骨塩量を算出する骨塩量算出手段と、
を有することを特徴とするX線画像診断装置。
【請求項4】
前記散乱線補正手段は、第2の画像取得手段で得られたX線画像と同位置の領域を第1の画像取得手段で得られたX線画像の差分から散乱線量を求めることを特徴とする請求項1または2記載のX線画像診断装置。
【請求項5】
前記散乱線補正手段は、第2の画像取得手段で得られたX線画像の広がり関数を求め、
第1の画像取得手段で得られたX線画像と、この広がり関数との畳み込み積分から散乱線画像を取得することを特徴とする請求項1または2記載のX線画像診断装置。
【請求項6】
前記差分係数は、前記X線管に印加する管電圧毎に被検体の軟部組織の減弱係数を定めておき、撮影時の高エネルギーX線と低エネルギーX線に対する軟部組織の減弱係数の比とすることを特徴とする請求項1または3記載のX線画像診断装置。
【請求項7】
前記差分係数は、高エネルギーの画像と低エネルギーの画像のヒストグラムの幅の比とすることを特徴とする請求項1または3記載のX線画像診断装置。
【請求項8】
前記骨塩定量算出手段は、被写体なしの場合のX線差分画像データと被写体ありの場合のX線差分画像を用いて算出することを特徴とする請求項1、3から7のいずれかに記載のX線画像診断装置。
【請求項9】
被写体なしの場合のX線差分画像データは、被写体なしの状態で高エネルギーX線画像と低エネルギーX線画像を取得し、これらの画像から差分画像データを得ること特徴とする請求項8記載のX線画像診断装置。
【請求項10】
被写体なしの場合のX線差分画像データは、X線条件毎に前記検出器の画素値を定めておき、撮影時のX線条件に対応する画素値から差分画像データを得ること特徴とする請求項8記載のX線画像診断装置。
【請求項11】
被写体なしの場合のX線差分画像データは、被写体ありの差分画像データのヒストグラムから軟部組織に対応する画素値を求め、この画素値を用いること特徴とする請求項8記載のX線画像診断装置。
【請求項12】
前記平面状の検出器は、FPDであることを特徴とする請求項1または3記載のX線画像診断装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図7】
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【公開番号】特開2011−245117(P2011−245117A)
【公開日】平成23年12月8日(2011.12.8)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−123071(P2010−123071)
【出願日】平成22年5月28日(2010.5.28)
【出願人】(000003078)株式会社東芝 (54,554)
【出願人】(594164542)東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Fターム(参考)】