【課題】搬送装置によって縦向状態で搬送されるタイヤを無用に移動させることなく、または向きを変えることなく検査することのできるタイヤの非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】タイヤＴＡを縦向状態で搬送する第１の搬送装置１から搬出されるタイヤＴＡを載置台１０に縦向状態で載置するとともに、載置台１０上のタイヤＴＡを回転支持機構２０で支持して回転させ、回転しているタイヤＴＡの透過Ｘ線像を各カメラ４１，４２によって撮像するようにしたので、第１の搬送装置１によって縦向状態で搬送されるタイヤＴＡを無用に移動させることなく、または向きを変えることなく検査することができ、タイヤＴＡを移動させ、または向きを変えるための機構を設けない分だけ装置全体の小型化及び製造コストの低減を図ることができる。 （もっと読む）

【課題】 タイヤの内部構造、例えば、スチールコードのトレッド踏面に沿った方向の変形や挙動を、実使用状態に近い状態で観察することを可能とする。
【解決手段】 負荷荷重機構１４でタイヤ１２をベルト機構３４のベルト部材４０に押し付け、Ｘ線を出射する放射線源２０をリム３０の軸心に配置し、Ｘ線透過画像を得る放射線検出器２２をベルト部材４０の下方に配置する。この状態でＸ線を照射することで、荷重の負荷されたタイヤ１２のトレッド内部の構造、例えば、スチールコードの観察を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 物理量測定結果をそれに対応するＸ線画像と関連付けた測定結果の把握容易な表示を行なうことができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線源２と、Ｘ線検出部４と、データ処理部６と、表示部２０とを備えたＸ線検査装置において、Ｘ線検出部４からの検出情報のうち一部を抽出して少なくともＸ線画像の背景に相当する部分を除いた物理量測定領域のＸ線画像をデータ処理部６のＸ線画像生成部１１に生成させる領域抽出処理部８と、この領域抽出処理部８で抽出された検出情報に基づいてワークＷの大きさ又は質量に対応する物理量を算出する質量算出部１３と、物理量測定領域のＸ線画像と質量算出部１３で算出された物理量を示すグラフ表示要素とを関連付けて表示部２０に表示させる表示データ生成部１５とを設ける。 （もっと読む）

【課題】 ワークを検査しながらのゼロ点補正を可能にし、温度ドリフト等による精度のばらつきを低減させることのできるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線画像に基づいてワークの体積を測定するＸ線検査装置であって、その処理ユニット６が、各透過領域のＸ線画像濃度データから透過領域の等価厚画像の濃度データへの変換処理を施すデータ変換処理部６２と、等価厚画像の濃度データに基づいて複数の透過領域におけるワークの体積を測定する体積測定部６３と、Ｘ線透過量相当のデータを処理して、ワークにＸ線が照射されるときの背景の等価厚をゼロとするようＸ線画像濃度データをゼロ点補正するゼロ点補正部６１とを含み、ゼロ点補正部６１が、ワークの体積を測定する周期に応じてゼロ点補正を実行する。 （もっと読む）

【課題】 従来のオフセットスキャンに比して、補正時のデジタル誤差に起因する画質の低下を防止することのできるＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検出器２を、Ｘ線光軸Ｌおよび回転軸Ｒの双方に直交する方向（ｙ軸方向）に移動させる検出器移動機構４を設け、Ｘ線検出器２のｙ軸方向有効幅の中心近傍がＸ線光軸Ｌ上に位置する状態と、同検出器２の同方向有効幅の一端部近傍がＸ線光軸Ｌ上に位置する状態の間で少なくともＸ線検出器２を移動させる。回転テーブル３を移動する従来のオフセットスャキン時のようにその位置決め誤差のＸ線検出器２への入射位置が拡大されるのに対し、Ｘ線検出器２を移動させる場合にはその位置決め誤差が拡大されず、かつ、Ｘ線焦点１ａと回転軸Ｒを結ぶ線または平面はＸ線検出器２に直交しているので、従来のようなＸ線透過データの補正演算が不要となる。 （もっと読む）

本発明は、病原体、細菌、癌細胞および他の異常なヒトおよび動物の細胞の迅速な同定を達成する。一実施形態では、本発明のシステムは、病原体、細菌および他の異常な細胞の試料の画像を得て処理する第一のサブシステムと、この画像を受容し、高度画像セグメンテーションを用いてこの画像の特定の特徴を切り離し、次いで、パターン認識プロセスを用いることによってこの病原体、細菌および他の異常な細胞を迅速かつ正確に同定し、ここでこのオリジナル画像のセグメント分けまたは切り離された特徴を既知の参照画像と比較する第二のサブシステムとを含む。
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不活性ガス雰囲気にある試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、分光室は不活性ガスで置換しないですむとともに試料室と連通せず、かつ十分な強度の２次Ｘ線を得ることができ、さらに隔壁が長寿命である装置を提供する。試料４が収納される試料室１と、試料４に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７が収納され、前記試料室１と連通する照射室２と、試料４から発生する２次Ｘ線８を分光して検出する検出手段９が収納される分光室３と、前記照射室２と分光室３とを仕切るように配置されて前記２次Ｘ線８を通過させる隔壁１０とを備え、前記試料室１および照射室２が不活性ガスで置換されるとともに、前記分光室３が真空排気される。
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【課題】本発明は、固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定するための方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定するための方法において、
検出成分を含まない粉末状試料と粉末状の検出成分を、濃度を変えて混合及び成形して検出成分濃度の異なる検量線作成用試料を複数個用意する工程と、
上記各検量線作成用試料の検出成分特異元素のＸ線強度を測定する工程と、
上記各検量線作成用試料中の検出成分濃度と前記Ｘ線強度から前記検出成分特異元素の測定値についての検量線を作成する工程と、
前記固形状測定対象物質の断面の任意の直線上の各位置における検出成分特異元素のＸ線強度を測定し、前記検量線によって検出成分の濃度に換算することによって、上記固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定する工程からなることを特徴とする固形状測定対象物質断面における検出成分の分布濃度測定方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】 ワーク厚さに対する直線性の良好な等価厚画像濃度データが得られる濃度データ変換方法および装置を実現し、体積や質量等の測定精度が高いＸ線検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷのＸ線透過量に対応するＸ線画像濃度データＰからワークＷの厚さに対応する等価厚画像濃度データＱ（Ｐ）への変換処理を施す方法であって、Ｘ線画像における背景の濃度値Ｐ_０と、Ｘ線画像における前景の代表濃度Ｐ_１と、等価厚画像の最大濃度Ｑmaxとをそれぞれ設定し、変換処理を、次式〔１〕により実行し、
Ｑ（Ｐ）＝［｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ）｝／｛ｌｎ（Ｐ_０）−ｌｎ（Ｐ_１）｝］^γ・Ｑmax ・・・〔１〕
等価厚画像の濃度データＱ（Ｐ）の直線性を確保するよう式〔１〕中の補正指数値γを調整する。 （もっと読む）

【課題】回路パターンの検査において、３次元Ｘ線ＣＴ装置を用いることで、欠陥部位を特定するこができ、かつその検査時間を高速に実現する方法を提供する。
【解決手段】回路基板を透過した透過Ｘ線像を用いて被検体の断層画像を生成する３次元Ｘ線ＣＴ検査装置であって、被検体にＸ線を照射する手段１２１と、被検体を透過したＸ線を計測する手段１２４と、Ｘ線計測手段により計測したＸ線データを用いて前記被検体の断層画像の３次元画像再構成を行う手段１５１と、断層画像から回路パターンの位置を決定し、決定した回路パターンの位置から、基板近似面を決定する手段１５２と、決定した基板近似面から、検査領域を決定する手段１５３と、前記決定した検査領域に対して検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、エネルギー制御や収束が容易で、コントラスの良いホログラムが得られる逆Ｘ線光電子ホログラフィー装置及びその測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 電子線を測定試料に照射し、該測定試料の電子線に対する姿勢を変えることにより電子線の入射角及び回転角を変化させ、該測定試料が励起されて放出される特性Ｘ線の強度変化を特定元素の原子周りの原子分解能ホログラムとして記録する逆Ｘ線光電子ホログラフィー測定方法において、該測定試料の原子の特性Ｘ線として強度を検知することにより、該測定試料に入射する電子が特定Ｘ線発生原子に到達する電子波としてのホログラフィーにおける参照波及び近接原子によって散乱された電子波としての物体波が発生し、前記参照波、物体波が合成されることで干渉パターンが形成される電子線強度のモニターとする。 （もっと読む）

【課題】迅速に動作し、寿命が長いスキャナを有するＸ線画像形成装置の提供。
【解決手段】Ｘ線走査装置は、軸Ｘの周りに離間していると共に、当該軸上の対象物を通してセンサ（５２）により検出されるＸ線を放射するように配置される複数の多重焦点Ｘ線管（２５）を備える。各管（２５）は、複数の線源位置からＸ線を放射することができる。各管の線源位置それぞれが一度使用される各走査サイクルにおいて、管（２５）に対する熱負荷を最小にするように、使用される位置の順序が設定される。これは、各線源位置が前のアクティブな線源位置及び次のアクティブな線源位置と隣接しないことを確実にすることにより達成される。
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【課題】 ３次元以上の画像データの歪み情報を出力させることのできる展開画像投影方法、展開画像投影プログラム、展開画像投影装置を提供する。
【解決手段】 展開画像作成時に投射する仮想光線の位置と基準となる仮想光線の位置との差に応じて歪み量を算出し（ステップＳ１−１０）、その仮想光線に歪み量に応じた色付けをし（ステップＳ１−１５）、その色付けされた仮想光線を投射して展開画像データＤ１を生成する（ステップＳ１−２０）。そして、同じ仮想光線を投射して透視投影画像データＤ２を生成し（ステップＳ１−２５）、それら展開画像データＤ１及び透視投影画像データＤ２を後処理することにより（ステップＳ１−３０）、展開画像ＵＰ及び透視投影画像ＯＰをモニタに出力する（ステップＳ１−３５）。 （もっと読む）

放射線検出器は、低エネルギーの放射線イベントを可視光に変換し、高エネルギー放射線を透過するように、Ｘ線源（１４）に対向して備えられている上部シンチレータ（３０_Ｔ）の二次元アレイを有する。下部シンチレータ（３０_Ｂ）の二次元アレイは、透過された高エネルギー放射線を可視光に変換するように、Ｘ線源（１４）から遠位側に上部シンチレータ（３０_Ｔ）に隣接して備えられている。上部及び下部光検出器（３８_Ｔ，３８_Ｂ）は、上部及び下部シンチレータ（３０_Ｔ，３０_Ｂ）の内側（６０）においてそれぞれのシンチレータ（３０_Ｔ，３０_Ｂ）に光学的に結合されている。光学要素（１００）は、上部シンチレータ（３０_Ｔ）から光を収集して、対応する上部光検出器（３８_Ｔ）に導くように、上部シンチレータ（３０_Ｔ）に光学的に結合されている。

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【課題】 複数種類の検査結果を同時に見易く表示することのできる物品検査システムを提供する。
【解決手段】 ワークＷに対応する所定の物理量を特定してその物理量を表わす測定信号を出力する物理量測定部１３と、ワークＷについての所定の品質検査を実行してその品質検査の結果を表わす検査結果信号を出力する品質検査部１５とを備えた物品検査システムであり、更に、測定信号および検査結果信号に基づいて、測定信号で表わされる物理量および検査結果信号で表わされる品質検査結果を含む検査結果情報を、表示画面上の時間軸方向に各ワークＷの測定順に並べて表示する表示部２１を備える。 （もっと読む）

【課題】 アナターゼ型結晶とルチル型結晶が不均一に混合共存する酸化チタン試料の混合比分布画像を得る方法を提供する。
【解決手段】 単色の入射Ｘ線で酸化チタン試料表面の被測定領域全体を照らし、各部位からの回折Ｘ線を二次元位置敏感型検出器で区別して検出して強度分布画像を形成する。単色の入射Ｘ線の波長を変えてアナターゼ型結晶の所定の格子面とルチル型結晶の所定の格子面での強度分布画像を取得し、それらを割り算して換算した混合比分布画像を形成する。 （もっと読む）

【課題】 検査対象とすべき最適な断層像を特定することが困難であり、結果として高精度の検査を行うことができなかった。
【解決手段】 Ｘ線によって検査対象を検査するにあたり、Ｘ線を基板上の検査対象品に照射して異なる位置に配設した検出器によって撮影した複数のＸ線画像を取得し、上記複数のＸ線画像に基づいて再構成演算を実行し、当該再構成演算によって得られた再構成情報に含まれる上記基板の配線パターンの情報に基づいて上記検査対象品の良否を判定するための検査位置を決定し、良否判定を行う。 （もっと読む）

【課題】 高分解能のマイクロ蛍光Ｘ線測定を実行するための、改善された方法およびシステムを提供する。
【解決手段】 試料の表面に適用された材料を試験する方法は、既知のビーム幅および強度断面を有する励起ビームを試料の領域に方向付けることを包含する。励起ビームに応答して領域から放射された蛍光Ｘ線の強度が測定される。測定された蛍光Ｘ線強度および励起ビームの強度断面に応答して、ビーム幅よりも微細な空間分解能で、領域内の材料の分布が概算される。 （もっと読む）

【課題】 供給される物品を簡素化された構成で精度よく検査することができ、しかも装置外部へのＸ線の漏洩を効果的に防止することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 上下に対向配置されたＸ線源とＸ線検出器２３とを収容するシールドボックス２１の上流側縦壁２１ａの上流側に、Ｘ線の透過距離が短くなるように、物品搬送経路を横断する断面内で幅寸法より高さ寸法ｈ０の方が大きい物品Ｍの姿勢を変更して、幅寸法より高さ寸法ｈ１の方が小さい姿勢とする第１姿勢変更ユニット１０を備える。そして、シールドボックス２１の上下流縦壁２１ａ，２１ｂにそれぞれ形成した物品通過口２１ａ′，２１ｂ′を、前記第１姿勢変更ユニット１０による姿勢変更前の物品Ｍの高さ寸法ｈ０より低い寸法に設定する。 （もっと読む）

【課題】
サブnmから数10nmの厚さの表面結晶層、あるいは、薄膜結晶の結晶構造、結晶ドメインサイズ、および、方位の異なる複数の結晶ドメインが存在する場合のドメインの割合を迅速に解析するための装置である。
【解決手段】
試料の表面とX線のなす角を制御する入射角変更機構、その機構の高さを調節する台、試料の高さを調節する台、２次元検出器、２次元検出器用の支持台、および試料ホルダから構成される超微細構造体のX線迅速構造解析装置。 （もっと読む）