２次元Ｘ線散乱カメラは、線源、光学素子、検出器、及び一対のコリメーション・ブロックを含む。線源は、光学素子によって試料の方へ反射されるＸ線ビームを放出する。検出器は試料からの散乱を検出し、一対のコリメーション・ブロックは、ビームを視準するために光学素子と検出器との間に設置される。１つのブロックの底面は他のブロックの上面と実質的に平行であり、これらのブロックは、旋回軸線の周りでビームに対して回転可能である。ビームがコリメーション・ブロックによってどのように視準されるかに関係なく、システムは、検出器の位置において主ビーム軸の周りに対称的な２次元ビームを形成する。したがって、システムはスミアを除去し、高分解能及び低Ｑ_ｍｉｎでの異方性小角散乱に使用することができる。
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【課題】 互いに対向配置されたＸ線源とＸ線検出器の間に、テープ状の検査対象物を長手方向に給送して一定の範囲ごとに合否判定を行う自動Ｘ線検査装置において、何らかの原因により判定動作が異常終了した場合でも、それまでに得られた判定結果を無駄にすることなく、異常終了に対応する位置から確実に判定動作を再開することのできる自動Ｘ線検査装置を提供する。
【解決手段】 給送装置１による検査対象物Ｗの給送位置を刻々と検出する給送位置検出手段５を設けるとともに、検査対象物Ｗの一定の範囲の合否判定ごとにその判定動作が正常に終了したか否かを判別し、異常終了と判別した場合には給送を停止するとともに、給送位置検出手段５の出力に基づいて、その判定に供したＸ線透過データを取り込んだ検査対象物Ｗの給送位置を特定して、その位置から運転を再開することにより、中断前後の判定結果を確実に連続させることを可能とする。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線ＣＴデータのような空間離散データによる内部欠陥検査について、より高精度な検査を行えるようにする。
【解決手段】空間離散的な要素で対象物の空間的な形状・構造を記述する空間離散データに基づいて対象物における内部欠陥を検査する内部欠陥検査方法について、要素を複数の含むサイズの第１の検出領域を空間離散データに設定する処理１０２、欠陥検出対象とする第１の検出領域を抽出する処理１０４、抽出された欠陥検出対象の第１の検出領域の特徴量を計測する処理１０５、欠陥検出対象の第１の検出領域を細分化した第２の検出領域を第１の検出領域に設定する処理１０６、第２の検出領域の特徴量を計測する処理１０７、第１、第２の各検出領域の特徴量を用いて実際の欠陥と擬似的な欠陥を判別するための欠陥判別基準を設定する処理１９８、および欠陥判別基準に基づいて欠陥を検出する処理１０９を含むものとしている。 （もっと読む）

【課題】 物品の端部に存在する異物の検出を高精度に行うことが可能なＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検査装置１０は、搬送中の商品Ｇに対して斜め方向からＸ線を照射し、このＸ線の透過光を検出して作成される２次元のＸ線画像に基づいて異物検査を行うＸ線検査装置であって、分割領域設定部３１ｂが、Ｘ線画像に含まれる商品Ｇに相当する縁領域Ｇｂを複数の領域（各分割領域Ｇｂ１〜Ｇｂ４）に分割し、検出レベル設定部３１ｃが、各分割領域Ｇｂ１〜Ｇｂ４について適正な検出レベルを設定して異物検査を行う。 （もっと読む）

【課題】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置を提供する。
【解決手段】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置は、骨セメント材料の温度に基づくコンテナー内のある種類のセメント材料が硬化するのに要する時間に関連するデータが記憶されたメモリ装置を含む。データプロセッサは、セメント材料の温度に関連するデータ、および、硬化の程度に関連するメモリ装置内のデータ、に基づいて、セメント材料が硬化するのに要する時間を計算するのに用いられる。出力装置は、コンテナー内のセメント材料の硬化の程度に関連する、データプロセッサからのデータ用に、設けられている。 （もっと読む）

【課題】 低いエネルギーのＸ線（電磁波）を照射して検査を行う場合でも、高感度でＸ線（電磁波）を検出し、高解像度の画像を作成して高精度な検査を実施することが可能な電磁波検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検査装置１０では、基板３１と、フォトダイオード３２と、蛍光体３３とを有しており、Ｘ線照射器１３側からみて、フォトダイオード３２、蛍光体３３の順に配置されている。 （もっと読む）

【課題】 化合物の結晶粒を確実に識別して、その構造解析を容易に行うことができる化合物の観察方法及び該方法に用いる着色溶液を提供すること。
【解決手段】 Ｘ線回折実験において、試料である化合物の結晶画像を撮影し、撮影した画像により結晶を観察しながら試料のＸ線照射位置決め作業を行うに際し、結晶を着色溶液６に入れた後、結晶を着色溶液６とともにすくい上げて固化し、結晶に透過光を照射して結晶画像を撮影するようにした。 （もっと読む）

【課題】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置を提供する。
【解決手段】本発明の装置は、放射線がコンテナー（２）内のセメントに向けられる放射源（６，８）と、コンテナー（２）内のセメントを通過した放射源（６，８）からの放射線を検出するため、および、検出された放射線の強度に基づく信号を生み出すための、センサー（１０）と、を含んでいる。データプロセッサは、セメントが硬化するときの放射源（６，８）からの放射線に対するコンテナー（２）内のセメントの不透明度の変化に起因する、センサー（１０）によって検出された放射線の強度の変化、を監視するために用いられる。 （もっと読む）

【課題】 蛍光Ｘ線分析装置において、試料の位置合わせを容易にかつ正確に実現することにある。
【解決手段】 蛍光Ｘ線分析装置１は、試料が搭載される試料ステージ５を有する筐体４と、筐体４内に配置され試料にＸ線を照射するＸ線管８と、筐体４内に配置され試料からの蛍光Ｘ線を検出する検出器１１と、筐体４内に配置され試料にレーザー光を照射するレーザー９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】情報を予め入力しておくことなく、検査が必要な領域のみを検査対象として有効に異物を検出できる異物検出装置を提供する。
【解決手段】被検査物のそれぞれには記録素子としてのＩＣタグが付与されている。このＩＣタグには、検査画像４中においてＩＣタグの像４３が存在することになる領域５１を示す情報が、あらかじめ記録される。異物検出装置では、この情報が読み出され、ＩＣタグの像４３が存在する領域５１が検査画像４から除外される。そして、領域５１以外の検査画像４の領域に基づいて、被検査物に異物が存在するか否かが判断される。これにより、検出対象から除外すべき領域の情報を異物検出装置に検査前に入力しておかなくても、検査が必要な領域のみを検査対象として有効に異物を検出できる。 （もっと読む）

【課題】 高感度で小型化が容易であり、しかも放射線損傷が少ない一次元イメージセンサを提供する。
【解決手段】 基本構成として、被検体（不図示）を透過した放射線１（電磁波あるいは放射線）の入射する方向に延在するシンチレータ２を備えている。そして、放射線１の入射する方向に対しほぼ直交する方向であって上記シンチレータ２の下部に配置された光学素子３と、該光学素子３の更に下部に配置された二次元受光素子４とを有する。これ等は、好ましくはスリット状の開口部５を有する遮蔽体６に覆われている。上記開口部５の所定の箇所にはシンチレータ２で発生するシンチレーション光の遮光膜７が取り付けられる。そして、二次元受光素子４の光電変換で生成した電気信号の出力を外部に伝送するケーブル８、電気回路９が取り付けられる。 （もっと読む）

【課題】 軽元素および重元素の定量値を低電圧および高電圧の２条件を用いることで検出する複数条件蛍光Ｘ線分析において検出効率のよい測定結果を短時間で得ることができるとともに、測定結果の定量値の標準偏差を小さくできる適正な測定時間を設定できる複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法を提供すること。
【解決手段】 Ｘ線管１から発せられた一次Ｘ線２が測定試料３に照射され、当該測定試料３から発せられる蛍光Ｘ線４を検出器６で検出し、その信号を信号処理手段を経てエネルギースペクトルとして読み取ることで当該測定試料３に含まれている軽元素および重元素を、それぞれＸ線管１の管電圧Ｅを低い管電圧とする測定および高い管電圧とする測定で検出するにあたり、予め設定された一定の測定時間Ｔ_ａ内における低い管電圧での測定時間Ｔ_Ｌと高い管電圧での測定時間Ｔ_Ｈとを異なる長さに設定可能としてある。 （もっと読む）

セラミックシンチレータは、Ｐｒ、ＴｂおよびＥｕから選ばれる少なくとも１種の元素を付活剤として含有する酸硫化ルテチウム蛍光体の焼結体を具備する。酸硫化ルテチウム蛍光体の焼結体は５〜１５ｐｐｍの範囲のアルカリ金属元素と５〜４０ｐｐｍの範囲のリンとを含有する。このようなセラミックシンチレータによれば、酸硫化ルテチウム蛍光体が本来有する特性を十分に生かし、小型化した場合においても良好なＸ線検出感度を得ることができる。
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【課題】画像再構成におけるアーチファクトを低減することを可能とする方法及び装置の提供。
【解決手段】目的物の検査領域２を撮像するための方法は、複数の投影方向に沿って少なくとも一つのエネルギー入力ビーム３を検査領域２に照射するステップを具備し、少なくとも一つのエネルギー入力ビーム３は、複数の別個のエネルギー入力ビーム成分を備え、エネルギー入力ビーム３は、少なくとも二つのエネルギー入力ビーム成分が異なる断面を有し、一つの投影方向に平行する平行エネルギー入力ビーム成分５．１、５．２、５．３、…のグループ５が検査領域２を連続的に照射するように成形される。さらに、目的物を撮像するための装置が記述される。 （もっと読む）

【課題】 狭い視野のＸ線検出器を用いて広い領域のＸ線透過データを得ることができ、しかも、Ｘ線の照射角度の変化に起因する像の歪みが発生することのないＸ線撮影装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線検出器２を、Ｘ線発生装置１からのＸ線光軸Ｌに直交する平面上で移動させる検出器移動機構５を設け、その検出器移動機構５によりＸ線検出器２を複数の位置に移動させた状態で、それぞれ取り込んだＸ線透過データを用いることにより、拡張された透視領域での被写体のＸ線像を構築する。このデータの取り込み時に、Ｘ線発生装置１と被写体Ｗとを相対的に移動させないため、被写体Ｗに対するＸ線照射角は変化せず、従ってその照射角の変化に伴う像の歪みが生じず、そのための補正演算が不要となる。 （もっと読む）

【課題】検出器において生じた飽和現象をおよび被写体のはみ出し現象を補正する。
【解決手段】Ｘ線源とＸ線検出器を対向させて保持する保持装置と，検査対象に対するＸ線源およびＸ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と，計測データの演算処理を行う制御処理装置とを有するＸ線計測装置において，被写体を設置せずに撮影した感度データと被写体の計測データの除算演算を行う手段と，除算データを対数変換処理する手段と，対数変換データにおいて飽和領域を判別する手段と，飽和領域における値を飽和領域の境界点から外挿した値に変換する手段と，被写体のはみ出し領域における値を対数変換データの端から外挿した値に変換する手段と，値を変換した後の対数変換データを用いて再構成演算を行い３次元像を得る手段を有することを特徴とするＸ線計測装置により実現される。 （もっと読む）

【課題】、特定の添加元素を含むスクラップシリコンを容易に、短時間でかつ確実に選別する方法を提供する。
【解決手段】各スクラップシリコンをエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）による非破壊分析にかけ、得られたスペクトルデータから前記特定の添加元素を含んでいるか否かを判定し、この判定結果に基づいて特定の添加元素を含むスクラップシリコンを選別する。また、各スクラップシリコンの電気抵抗率を測定し、その測定結果からスクラップシリコンに含まれる添加元素の濃度を推定する。 （もっと読む）

白色エックス線発生手段２とエックス線検出手段３とをそれぞれ離散した第１の位置（図中、実線での位置）と第２の位置（図中、一点鎖線での位置）とに移動させて、それぞれの位置におけるエックス線検出手段により検出された各エネルギー毎のエックス線強度を、第１のデータ、第２のデータとして得、また第１のデータと第２の位置との差分に基づいて第３のデータつまり回折エックス線だけのデータを得、さらに第１、または第２のデータを第３のデータとの差分から蛍光エックス線に関するデータを得る。
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【課題】 製造ラインを停止させずに検査結果が正しいか否か、或いは検査結果の確からしさを容易に確認できることから検査結果の検証が容易となり、検査結果の誤差を自動的に補正できる。
【解決手段】 被検査物２を所定の搬送方向Ｙに搬送しながら計量する計量手段３と、計量手段３による計量値と設定値とを比較判定して判定信号を出力する制御手段６と、判定信号を受けて被検査物２を良品と不良品とに選別する排出手段７と、計量値を出力する出力手段９とを備える重量検査装置１において、計量値の確からしさを確認するために被検査物２ａを搬送方向Ｙと異なる方向に排出するようにモード切換信号を出力する排出指示手段５を備え、制御手段６は、モード切換信号を受けて計量値を確認用計量値として記憶するとともに被検査物２ａを搬送方向Ｙと異なる方向に排出する排出信号を出力し、出力手段９は、確認用計量値を出力する。 （もっと読む）

放射線源を支持する第１の車両を備える、対象物を検査するための放射線走査システムが開示される。第２の車両が検出器を支持する。線源および検出器は、車両間の貨物輸送物などの対象物を走査するために移動させることができる。第１および第２の車両は、伸張可能な長さを有することができ、線源および検出器は、長い対象物を走査するために伸張可能な長さ全域で移動することができる。放射線源は、ファンビームなどの、垂直に発散する放射ビームを放出するようになされることができる。放射線は、例えば、Ｘ線放射線とすることができる。車両は、トラックと開放可能にトラックに連結される伸張可能なトレーラを備えることができる。トレーラは、入れ子式のレールを備えることができる。第１および第２の車両は、検査場所に運転して運ぶことができ、そこで迅速に展開することができる。対象物を検査する方法も開示される。
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