【課題】入射光の方向と射出光の基準方向を平行に維持しつつ、コンパクトな構成で高い分散角と高い光の利用効率を実現する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】分光器１１は、直視プリズム１５で屈折により波長毎に光を分散させて、分散した光を反射部材（１６、１７）で反射して、再度、直視プリズム１５で屈折させる。 （もっと読む）

【課題】スペクトルを変えるか、又は調整できることができる放射発生装置、スペクトル分析装置提供する。
【解決手段】調整可能な分光組成を有する電磁放射を発生させるための放射発生装置において、駆動時に放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをそれぞれ発生させるように構成された多数の放射素子１，１ａ〜１ｎであって、そのうちの第１の放射素子を第２の放射素子とは独立に駆動させることができる多数の放射素子１，１ａ〜１ｎと、分光素子２と、光開口３とを備え、分光素子２が放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをその波長とそれぞれの放射素子固有電磁放射を発生させる放射素子の位置とに応じて偏向させるように構成され、それにより各放射素子固有電磁放射の特定のスペクトル範囲が光開口３から出ることができ、その結果、多数の放射素子１ａ〜１ｎを選択的に駆動させることにより、光開口３を通して出る生成電磁放射２２０の分光組成を調整できる。 （もっと読む）

本発明は、受け取られた光のスペクトル成分を検出するスペクトル検出装置１００であって、前記受け取られた光をフィルタリングする及び所定の波長範囲内の波長を有する光を出力するフィルタリング構造１１０と、フィルタリング構造１１０により出力された光を検出する光センサ１２０とを有するスペクトル検出装置１００において、フィルタリング構造１１０は、時間とともに前記所定の波長範囲の変化を可能にするように可変である、スペクトル検出装置１００に関する。この配置は、低い費用において、提供されることができる小型のスペクトル検出装置を可能にする。
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検出光路と、少なくとも１つの第１の結像光学系（２、５）とを備えるレーザ走査顕微鏡又はスペクトル検出器であって、第１の結像光学系が、スペクトル分散されたプローブ光をフーリエ面に結像し、それにより、フーリエ面で、プローブ光の個々のスペクトル成分が空間的に互いに分離され、フーリエ面にはマイクロミラーアレイ（４）が設けられ、マイクロミラーの制御により、検出光線のスペクトル選択性偏向が行われ、検出器光線の有用光成分が検出器に達する、レーザ走査顕微鏡又はスペクトル検出器において、スペクトル選択を向上するために、少なくとも１つの第２のマイクロミラーアレイ（１５）が提供され、第２のマイクロミラーアレイへの第１のマイクロミラーアレイの１対１結像が提供されるか、または同じマイクロミラーアレイを光が少なくとも２回通過し、光学手段を通る第１の通過と第２の通過の間の光路内で、少なくともマイクロミラーアレイ上での第１の通過時と第２の通過時の光線の空間的なずれが生成される、レーザ走査顕微鏡又はスペクトル検出器。
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【課題】光源ユニットの熱が分光ユニットに伝わりにくい分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、光源の発熱の分光ユニット２への影響を最小限に抑えることができる分光装置の提供を目的としており、所定の波長範囲の光を発する光源４を内包する光源ユニット１と、前記光源ユニット１からの光を分光して所望の波長の光を抽出する分光ユニット２によって構成される分光装置において、前記光源ユニット１と前記分光ユニット２が相互間に放熱板１５を挟持して配設されていることを特徴とする。光源４の発熱によって光源ユニット１の温度が上昇し、筐体１７とスペーサ１６を通して放熱板１５に熱が伝導される。しかし、放熱板１５は多数の放熱フィン１９を通じて外気によって冷却されるため、放熱板１５の温度上昇は最小限に抑えられる。この結果、放熱板１５からスペーサ１６を通じて分光ユニット２の筐体１８に流れる熱量もまた最小限に抑えられる。 （もっと読む）

【課題】増倍型アレイ検出器内の光電陰極の量子効率を増大させるシステムおよび方法を提供すること。
【解決手段】装置であって、アレイ検出器と、該アレイ検出器が使用される場合に、該アレイ検出器上に入射する光線の経路内にあるように配置される量子効率（ＱＥ）向上デバイスとを備えている、装置。量子効率向上デバイスは、ＩＣＣＤの前に配置され、光電陰極上に入射する入射光線の入射角の増大を可能にするかまたは容易にするように構成されている。ＩＣＣＤ自体は、増大された入射角を達成するために傾けられ得、そのような傾きは好ましくは、ＩＣＣＤのピクセルの列が延びる方向だけにあり、それによって、ＩＣＣＤへの入射光の入射面が波長分散の方向と直角をなす。量子効率向上デバイスは、再結像光学素子と、光学傾き補償器と、光カプラとを含み得る。 （もっと読む）

【課題】検出対象となる光の検出量の低下を抑制し、且つ、特定波長の光を十分に排除する技術を提供することを課題とする。
【解決手段】入射光２０ａを波長分散素子２１により波長毎に分散させる。そして、波長分散素子２２と光検出器２６の間であって、特定波長の成分光２０ｄを含む、分散光２０ｂの一部が入射する領域に、波長に依存する光学特性を有する波長制限素子２５を配置する。これにより、特定波長の成分光２０ｄの光検出器２６へ入射が制限される。 （もっと読む）

【課題】検出波長範囲を自由に設定でき、精度が高い分光検出を迅速に行う。
【解決手段】標本からの蛍光を一方向に波長ごとに分散させる回折格子と、回折格子により分散させられた蛍光の分散方向に沿って配列された複数のセル６５を有するマルチチャンネルＰＭＴ６６と、複数のセル６５に入射される蛍光の入射範囲をセル６５の幅より小さい変化量で可変の制限幅により制限する遮光板６８Ａ，６８Ｂとを備える分光装置６０を提供する。 （もっと読む）

【課題】低コスト化及び高感度化が同時に可能な分光蛍光光度計及び反射型試料セルを提供する。
【解決手段】試料流路１１を備えた試料セル１と、励起光を発生する励起光用光源２と、励起光を分光する励起光側回析格子４と、励起光側回析格子４からの光が照射されて試料から発生した蛍光を分光する蛍光側回析格子５と、蛍光側回析格子５からの光を検出する第１の光学検知器７と、波長校正のための光を発生する波長校正用光源８とを有する分光蛍光光度計において、試料セル１は、試料流路１１内の試料からの蛍光を蛍光側回析格子５に入射するための入射スリット１９と、入射スリット１９が形成された側面に対向する側面に形成され、試料流路１１内の試料からの蛍光の一部を入射スリット１９側に反射し、波長校正用光源８からの光の一部を入射スリット１９側へ透過する細孔付き第１反射ミラー１２を一体的に備える。 （もっと読む）

改良された誤警報識別によって、低コストで火災を検出する火炎検出装置を提供し、火炎検出装置は、少なくとも２つの光センサを含み、それぞれは、異なる最短応答波長を有する長波長通過ＩＲフィルタによって構成され、ＭＷＩＲ帯を広くサンプリングするように配列されている。
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【課題】バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避し、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化を図る。
【解決手段】コンピュータ１０は、励起側分光器２および蛍光側分光器７が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器８によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ１２や蛍光パルスモータ１１で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。 （もっと読む）

【課題】演算負荷が小さく簡易な設定で精度が高いベースライン設定を行う。
【解決手段】Ｘ軸上に存在する半円、半楕円、又は二次曲線の図形をＸ軸方向に走査させ、前記図形を任意の位置を基準点として固定し、ピークがＹ軸正方向に出る場合は、Ｘ軸上に図形が存在する範囲においてスペクトルと図形の高さの差の最小値を求め、該最小値と前記基準点における図形の高さの和を求め、基準点を含む範囲において図形をずらしていき、それぞれの図形の位置において、同様にスペクトルと図形の高さの差の最小値と前記基準点における図形の高さの和を計算し、それらの計算された値のうち最大値Ｌ_（ｘｉ）を求め、該最大値Ｌ_（ｘｉ）を基準点のＸ座標におけるベースライン値として取得する。 （もっと読む）

携帯して使用可能な小型分光計が知られており、かかる小型分光計は、入射放射線によって物体中に誘導された出射放射線のスペクトルを分析するために用いられる。この装置は、ピンホールアパーチュアを備えた光源、照明ビーム経路、検出ビーム経路及びマイクロスペクトロメータから成る。好ましくは、ダイオードレーザが本発明の小型分光計用のエッジエミッタ（ピンホールアパーチュアなし）として用いられる。エッジエミッタの窓は、好ましくはピンホールアパーチュアなしの状態で照明ビーム経路（光ファイバなし）の入力部で収束レンズの焦点に配置される。エッジエミッタは、楕円形断面の発散ビームを生じさせる。楕円の主軸のアスペクト比は、２：１以上である。楕円の主長軸は、マイクロスペクトロメータの入射スリットの長手方向軸線に平行に延びる。小型分光計は、減少したサイズのものであると共に低強度の出射放射線に対して増大した感度のものである。励起放射線は、物体に応力をそれほど及ぼさない。応力を生じさせないでマイクロリットル又はミリリットル範囲の物体を分析することができる。
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時間遅延積分方式（TDI）センサー（22）は、1からNまでの番号が付けられたセル（42、44、42、44）のシーケンスを含む。そのTDIセンサーは、1の番号が付けられたセルから、2からN-1番号が付けられたセルを通ってNの番号が付けられたセルまで電荷を移動させるように構成されている。そのセルのシーケンスにおける各セル（42；44）は、TDIセンサー（22）が第1スペクトルを有する光（46）によって均等に照射されるとき、非感受性セル（44）のいずれかに入射する光の強度が、感受性セル（42）のいずれかに入射する光の強度のせいぜい90%であるという意味において、感受性であるか又は非感受性であるかのいずれか一方である。そのセルのシーケンス（42、44、42、44）は、以下の順番において：第1感受性（42）セル、少なくとも1つの非感受性セル（44）及び第2感受性セル（42）、を含む。イメージング・システムは、TDIセンサーを含み、物体のイメージングを行う方法も開示される。
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【課題】光源を点灯後速やかに安定で精密な蛍光測定を行うことができる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】ランプスイッチ２５がＯＦＦの場合、負高圧・ＡＤ変換回路２２はモニター用光電子増倍管２０と蛍光用光電子増倍管２１に印加する負高圧を基準値例えば−５００Ｖに設定しウォーミングアップする。ウォーミングアップ完了後、操作者がランプスイッチ２５をＯＮにし、キセノンランプ１を点灯すると、負高圧・ＡＤ変換回路２２はダイノードフィードバック方式を作動させる。蛍光用光電子増倍管２１の出力値はキセノンランプ１の出力変動の影響が補正された値になり、該出力値はデジタルデータに変換されデータ処理・制御部２３を介して蛍光強度値として表示される。 （もっと読む）

【課題】 試料から軟Ｘ線分光装置に向う軟Ｘ線をできるだけ多く回折格子に入射させて、検出される軟Ｘ線の強度を高めた軟Ｘ線分光装置を提供する。
【解決手段】 入射する軟Ｘ線を回折する回折格子と、回折格子によって回折された軟Ｘ線を検出する検出器とを備える軟Ｘ線分光装置おいて、回折格子に入射する軟Ｘ線の中心光線を挟み、回折格子に垂直で中心光線を含む平面に平行かつ中心光線に垂直な方向の曲率が０の一対のミラーを備えて、回折格子の傍らに向って進む軟Ｘ線を、ミラーによって反射して回折格子に入射させる。 （もっと読む）

【課題】温度変化が起こったとしても分散特性の変化が十分に小さく、温度補償されている分光器とそのような分光器を使用した光学機器を提供する。
【解決手段】光が出射する出射部と、出射部の光出射側に配置された分散素子と、分散素子による分散光が入射する入射部と、出射部と入射部との間に配置され、分散光の入射部への入射角度が使用温度範囲内の温度変化に対してほぼ一定になるような温度補償素子と、を備える。また、光学機器は、このような温度補償されている分光器を有している。 （もっと読む）

【課題】 分光器内で発生する迷光の影響を低減することが可能な分光測定装置、測定方法、及び測定プログラムを提供する。
【解決手段】 試料Ｓが内部に配置される積分球２０と、試料Ｓからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。解析装置５０は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第１対象領域、及び試料Ｓからの発光に対応する第２対象領域を設定する対象領域設定部と、試料Ｓの発光量子収率を求める試料情報解析部とを有し、リファレンス測定及びサンプル測定の結果から発光量子収率の測定値Φ_０を求めるとともに、リファレンス測定での迷光に関する係数β、γを用い、Φ＝βΦ_０＋γによって迷光の影響を低減した発光量子収率の解析値Φを求める。 （もっと読む）

【課題】簡便且つ効率良く試料を所望の温度に調節することが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置１Ａは、測定対象の試料Ｓから発せられる被測定光を観測するための積分球２０と、試料Ｓが覆われるように試料Ｓの温度を調節するための媒体Ｒを保持すると共に、第２容器部５０ｂが積分球２０内に臨むように位置するデュワ５０と、を備えている。試料Ｓが覆われるように媒体Ｒを保持するデュワ５０を用いることにより、簡便に試料Ｓを所望の温度に調節することができる。第２容器部５０ｂが積分球２０内に臨むように位置することにより、積分球２０の外部環境からの試料Ｓへの影響を抑制しつつ、試料Ｓの温度を媒体Ｒにより調節することができる。したがって、効率良く試料Ｓを所望の温度に調節することもできる。 （もっと読む）

【課題】所望の温度に冷却した状態の試料を測定する場合でも、結露の発生を防ぐことが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置は、測定対象の試料Ｓが内部に配置され、試料Ｓから発せられる被測定光を観測する積分球２０と、試料Ｓを冷却するための冷媒Ｒを保持すると共に、少なくとも一部が積分球２０内に臨むように位置するデュワ５０とを備えている。冷媒Ｒから発生したガスは、ガス導入路として機能する所定の間隙Ｇ１〜Ｇ６及び支持台６１に形成された複数の連通路６４を通って、積分球２０内に導入される。積分球２０内に導入されたガスは、積分球２０内の水分を吸収し、積分球２０内の温度を低下させ、デュワ５０の第２容器部５０ｂにおける積分球２０内に露出している部分に結露が生じるのを防ぐ。 （もっと読む）