【課題】細胞の運動状態を定量的に把握可能な手段を提供する。
【解決手段】細胞観察の画像処理プログラムは、撮像装置により撮影され観察領域内に複数の細胞を含む第１画像及び第１画像よりも所定時間前に撮像装置により撮影された前記観察領域の第２画像を取得するステップ（Ｓ４０，Ｓ４５）と、第１画像に含まれる複数の細胞から一の細胞を注目細胞として選択するステップ（Ｓ３０）と、注目細胞の周辺に位置する細胞を周辺細胞として指定するステップ（Ｓ３５）と、第１画像及び第２画像における注目細胞と周辺細胞の相対移動量に基づいて注目細胞に対する周辺細胞の速度の統計量を算出するステップ（Ｓ５０）と、算出された各周辺細胞の速度の統計量を外部に出力するステップ（Ｓ５５）とを備えて構成される。 （もっと読む）

複数回の希釈を必要としない、自動システムで薄膜状試料中の抗体価を計測するための方法及び装置。このシステムは、いかなる精密な流体操作用部品も使用することなく、試料分析チャンバ内でインサイチュの希釈液を作成するための単純な方法を提供し、さらに、同じ原理を用いてチャンバ内に広範囲の試料希釈度を提供するため、広範囲の分析物濃度を含む可能性のある試料を取り扱うときに追加的な希釈ステップを行う必要がない。 （もっと読む）

【課題】基板上の蛍光物質の二次元画像を取得する上で、撮像範囲内で照射強度に面内ばらつきのない画像取得装置を提供する。
【解決手段】画像取得装置は、基板１５上の蛍光物質を励起するレーザービームを発するレーザー光源１と、レーザービームが臨界角以上の入射角で基板１５の表面に入射するようにレーザービームを導く光学部材１７とを有する。画像取得装置は、レーザービームを二次元に走査する二次元走査手段として、回転プリズム９と、光軸方向に移動可能な平面ミラー１３とを有する。画像取得装置はさらに、レーザービームで蛍光物質を励起することによって得られる蛍光画像を読み取る二次元アレイセンサー２３を有する。レーザービームは基板１５の表面への入射角度が固定された状態で走査される。 （もっと読む）

【課題】非常に強化された深度即ちＺ方向の分解能を提供する３次元光学顕微鏡法のための方法及び装置を提供する。
【解決手段】標本（９４）についてデュアル対向対物レンズ（７０、７２）及び拡張インコヒーレント照明（８４）を用いて向上された深度分解能を提供する３次元光学顕微鏡法のための方法及び装置が開示される。両対物レンズからの観察光は画像検出器（１２８）に入射され、ここで光路長調節器（１３８）によって干渉させられる。 （もっと読む）

【課題】プローブを回転させることなく一度に血管内壁を全周にわたって分光分析する。
【解決手段】近赤外光を発生する光源２と、血管Ａ内に挿入される挿入部３と、該挿入部３に長手方向に沿って配置され光を導光する導光部材７と、挿入部３の先端に配置され、導光部材７により導光されその先端から出射された近赤外光を全周にわたり半径方向外方の血管Ａ内壁に向けて偏向する一方、血管Ａ内壁から戻る戻り光を偏向して導光部材７の先端７ａに入射させる偏向部材８と、該偏向部材８により偏向され導光部材７を導光されてきた戻り光を分光分析する分光分析部とを備え、挿入部３の半径方向の中央部に、長手方向に貫通しガイドワイヤ６を挿通可能な貫通孔５が設けられている血管用分光分析装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 蛍光顕微鏡を用いて、迅速に且再現性よく、膜トランスロケーション反応の有無を判定するための細胞画像解析装置又は方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の装置は、任意の刺激を細胞に与えることにより細胞内に発生する膜トランスロケーション反応の有無を判定する細胞画像解析装置であって、細胞の刺激が与えられた後の蛍光顕微鏡像を画像データとして取得する手段と、細胞の蛍光像に於ける細胞の存在する領域を決定する手段と、細胞の存在する領域の外縁から所定の画素数の幅を有する該細胞の輪郭線を決定する手段と、細胞の輪郭線上に於ける輝度値と輪郭線より内側の輝度値とに基づいて膜トランスロケーション反応の有無を判定する手段とを含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルを正確に検出できる生体サンプル分析装置を提供する。
【解決手段】生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、
前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、を備えた生体サンプル分析装置。 （もっと読む）

【課題】固体試料又は気体試料に対して分析用レーザー光を照射する分光分析を改良する。
【解決手段】固体試料に対して分析用レーザー光を照射する分光分析のための試料ステージであって、試料ステージ１１１上に配置される固体試料１の分析される面に対して平行に、固体試料を運動させる平行運動機構を有する、試料ステージ；固体試料に対して分析用レーザー光を照射する分光分析のための固体試料冷却装置であって、試料の一部である測定対象箇所に向けて、冷媒を噴射して供給する、固体試料冷却装置；固体試料に対して分析用レーザー光を照射する分光分析のための試料ステージであって、第１の材料で作られている基材上に、第２の材料で作られている複数の分析領域が間隔を空けて配置されており、且つ第２の材料の熱伝導率が、第１材料の熱伝導率よりも大きい、試料ステージ等とする。 （もっと読む）

ラマン分光装置において、励起光は線焦点（３８）として試料（２６）上に焦点合わせされる。線焦点内の各ポイントのスペクトルは、画素の２次元状アレイを有するＣＣＤディテクタ（３４）上の行４６内に分散する。線焦点は、試料に対し、Ｙ方向内の長手方向に移動する。同時かつ同期的に、電荷はＣＣＤ内を平行なＹ’方向にシフトし、試料内の所定ポイントからのデータは継続して蓄積される。高速かつ低解像度の走査を通じたＸ方向の平均化を提供する目的で、境界線６０間で、線焦点はジグザグ状に試料を掃引する。
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【課題】 部品の表面上でレーザプラズマ分光を実施し、詳細には堆積物の浸透から損傷を受けやすい皮膜によって保護されたターボ機械部品上に集積する堆積物の範囲を具体的に検出し、分析し、決定するためのシステム及び方法を提供すること。
【解決手段】本システムは、レーザエネルギー源と、レーザエネルギー源と相互接続されてレーザビームを受け取り、次に部品が静止状態の間に部品の表面上にレーザビームを配向し、表面区域を走査するプローブとを含む。該プローブは、部品の表面でレーザビームによって発生したレーザ誘起プラズマから放出される放射線を集めるように更に構成される。本システムは、プローブから放射線を伝搬し、放射線をスペクトル分析するために装備される。 （もっと読む）

【課題】歯牙の齲蝕部分や歯周ポケットの断面画像を鮮明に表示すること。
【解決手段】歯の表面や散乱抑制剤をあらかじめ塗布し、その後光干渉断層画像診断装置によって歯とその周辺部分の断層画像を表示する。あらかじめ散乱抑制薬剤を塗布しておくことにより、歯の表面での散乱が防止され光が内部に浸透する。そのため鮮明な断面画像を表示することができる。又歯周ポケットや齲蝕部分も他の部分の間とでコントラストが大きくなり、鮮明な画像を得ることができる。これにより正確な歯牙齲蝕領域や歯周ポケットの判定を客観的、非侵襲、非破壊に実現でき、そのことによって正確な治療や予防策を講じることができる。 （もっと読む）

【課題】 共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。
【解決手段】 本発明の方法では、対物レンズの焦点領域を含む試料を流通させるための流路と、焦点領域の上流にて試料に励起光を照射する手段とが設けられ、自家蛍光よりも長い発光寿命を有する発光物質が付加されている被検物質を含む試料が準備される。発光の計測に於いては、試料は流路内に流通され、励起光が照射されてから所定時間経過後、夾雑物の自家蛍光が消滅してから、対物レンズの焦点領域に到達し、そこで、被検物質からの発光が検出される。 （もっと読む）

【課題】保持器及び転動体における潤滑剤の塗布状態の検査を行う際の撮像処理回数を低減させること。
【解決手段】パレット上のベアリングに対して上方から紫外光を照射し、下方から赤色の可視光を照射した状態で、上方からベアリングのカラー画像を撮像する。ボール上の潤滑剤は紫外光を受けて蛍光を発する。そこでボールにおける潤滑剤の付着状態を、撮像画像における、ボール上の潤滑剤付着領域と非付着領域とを色の違いに基づいて判断する。保持器における潤滑剤が塗布されていない領域は、紫外光による励起光と、赤色の可視光との混色により紫色に映し出される。保持器における潤滑剤の塗布されている領域は、赤色の可視光を透過せず、紫外光を受けて蛍光を発するため青色に映し出される。そこで保持器における潤滑剤の塗布状態を、保持器上の潤滑剤付着領域と非付着領域との色の違いに基づいて判断する。 （もっと読む）

【課題】検査対象の発光素子に対する物理的な接触が無くても漏れ電流の有無のような不良の可否を判断することができる発光素子検査装置及びこれを用いた発光素子検査方法が提案される。
【解決手段】本発明の発光素子検査装置は、発光素子にＵＶを照射するＵＶ照射部、ＵＶが照射された発光素子のイメージを生成するイメージ生成部及び発光素子のイメージから発光素子の色相または強度情報を取得し色相または光強度情報に基づいて発光素子の不良の可否を判断する制御部を含む。 （もっと読む）

【課題】入射角度の調整に伴う作業を簡便に行うことができるエバネッセント波発生装置とこの発生装置を用いた観察装置を提供する。
【解決手段】プリズム５内に導入された光によりエバネッセント波を発生させるエバネッセント波発生装置１において、光軸Ｌに平行な光が入射した場合に、入射位置にかかわらず、当該光を一点に集中させる屈折機能を有した導入用レンズ６と、この導入用レンズ６の光軸Ｌと平行な光を当該導入用レンズ６に入射させる光入射手段１０とを備え、この光入射手段１０から導入用レンズ６へ入射し、当該導入用レンズ６を通過した光をプリズム５内に導入すると共に、光入射手段１０は、導入用レンズ６の光軸Ｌに対して平行に入射させる移動手段とを有し、導入用レンズ６の直径Ｄよりも狭い幅の光をこの導入用レンズ６に入射させる。 （もっと読む）

【課題】流路中において微小粒子の測定をするにあたり、正確な測定が可能である微小粒子の測定方法を提供すること。
【解決手段】流路中を流れる微小粒子の測定方法であり、少なくとも（１）測定用流路に微小粒子を含む被測定物質を、参照用流路に１以上の参照物質を、それぞれ流しながら、前記測定用流路の所定位置で前記被測定物質の物性測定を、前記参照用流路の所定位置で前記参照物質の物性測定を、それぞれ行う工程、（２）前記被測定物質の測定結果を、前記参照物質の測定結果に基づいて処理することを少なくとも行うことで、前記被測定物質の物性情報を得る工程、とを行う微小粒子の測定方法とすること。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。
【解決手段】本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 （もっと読む）

【課題】複数のマイクロチップを精度よく検査できる小型の検査装置を提供する。
【解決手段】マイクロチップに注入された試薬と検体を所定の温度に調節して反応させ反応結果をマイクロチップから測定する検査装置において、複数のマイクロチップをそれぞれ所定の温度に調節する複数の温度調節ユニットと、マイクロチップから反応結果を検出する検出ユニットと、複数のマイクロチップから反応結果を検出する複数の位置に順次検出ユニットを移動させる検出ユニット駆動手段と、検出ユニット駆動手段の駆動を制御する検出ユニット駆動制御手段と、を有し、検出ユニット駆動制御手段は、検出ユニットが反応結果を検出した後、検出ユニット駆動手段を駆動して検出ユニットを温度調節ユニットから離れた位置に移動させることを特徴とする検査装置。 （もっと読む）

【課題】短時間かつ高精度にラマンスペクトル測定を行う。
【解決手段】ステージ１１６により光電場増強基板１１０を１ＫＨｚで振動させ、光Ｌ１を光電場増強基板１１０に載置された試料１１１へ照射する。試料１１１から発せられるラマン散乱光および光電場増強基板１１０から発せられるバックグランド光からなる光Ｌ２を回折格子１５５により分光して、フォトダイオード１５７によりスペクトル強度信号を測定し、ロックインアンプ１６０により、このスペクトル強度信号から、１ｋＨｚに同期した信号を検出する。この信号は、光Ｌ１の照射位置と光電場増強基板１１０との相対位置が変化しても、光強度の変化が少ないバックグランド光の信号成分が抑圧され、相対位置の周期的変化と同期して光強度が変動する試料１１１から発せられるラマン散乱光の信号成分が多く含まれる。この信号に基づいて、ラマンスペクトルを取得する。 （もっと読む）

【課題】優れた測定処理速度及び測定精度を備える光学測定部及び光学検出用部材、並びにこれらを配設した微小粒子測定装置の提供。
【解決手段】測定光の走査方向に配設された複数の流路１１，１２，１３に対し、同方向に複数の測定光２１，２２，２３を走査して、該流路内に導入された微小粒子の光学測定を行う光学測定部を提供する。この光学測定部においては、一の測定光が一の流路に照射されている場合において、他の測定光はいずれの流路にも照射されないように測定光の走査を行うことが可能である。 （もっと読む）