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Fターム[2G051CD06]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 受光系の制御 (712) | 光学系の制御 (615) | 照明系との同期制御 (95)

Fターム[2G051CD06]に分類される特許

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【課題】金属缶の天板部材に注出口として加締装着した口金について、加締装着を終えた段階で加締不良を迅速かつ確実に検出する手段を提供する。
【解決手段】天板部材11の口金2装着部分の全体に無影光を照射して稜線及び谷の輝度が同心円状に分布するように撮像し、画像処理装置4により、撮像した画像から、環状加締部3の稜線R1,R2を切り出し、稜線R1,R2に対応する近似真円C1,C2を演算して作定し、近似真円C1,C2と切り出し稜線R1,R2とに囲まれた領域Z1,Z2の面積を算出し、算出面積と設定した判定基準面積とを比較演算し、算出面積が判定基準面積以上である場合を加締不良と判定する。 (もっと読む)


【課題】廉価な測定装置を使用するとともに、測定方向が異なる種々の被検査部位を、同一方向から容易且つ正確に測定することを可能にする。
【解決手段】フレーム部材用検査装置10は、フレーム部材12に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査する。この検査装置10は、フレーム部材12を所定の姿勢に保持する保持機構50と、前記フレーム部材12の被検査部位に直接装着されるとともに、前記被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材12の横方向に向かう計測孔部86が設けられる検査治具52と、前記計測孔部86を測定して算出される該計測孔部86の位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する測定機構56L、56Rとを備えている。 (もっと読む)


【課題】ウェハ上の欠陥によって散乱される光は非常に弱く、その微弱光を高速かつ高感度に測定する検出方法としてはPMTやMPPCがある。上記検出方法では、微弱光を光電変換して、電子を増倍する機能があるが、光電変換の量子効率が50%以下と低いため、信号光を損失し、S/N比を低下させるという課題がある。
【解決手段】そこで、本発明では、光電変換をする前に直接光を増幅する光増幅に着目した。光増幅とは、信号光と励起用光源の光とを希土類を添加したファイバに導入し、誘導放出を起こして信号光を増幅する増幅方法である。本発明は、この光増幅を利用することを特徴とする。また、本発明は、この増幅率を様々な条件により変えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】検査対象物(例えば半導体パターン)の微細化により、検査すべき欠陥の大きさも微小化し、欠陥からの散乱光の強度が大幅に減少するが、このような欠陥からの微小な散乱光を検出するのに適した欠陥検査装置および方法を提供する。
【解決手段】表面にパターンが形成された試料100に光を照射するレーザ光源111を備える照明光学系110aと、前記照明光学系により照明された該試料から発生する光を検出するセンサ126を備える検出光学系120と、前記検出光学系により検出された光に基づく画像から欠陥を抽出する信号処理手段250と、を備え、前記検出光学系にて光を検出する間に前記センサの増幅率を動的に変化させることを特徴とする欠陥検査装置である。 (もっと読む)


【課題】試料に実在する欠陥に起因する輝度変化を、各種ノイズから分離して検出できる検査装置を実現する。
【解決手段】本発明では、試料表面上に主走査方向に整列した複数個の走査スポットを形成し、試料表面の同一の部位を、主走査方向に整列したn個の走査スポットにより所定の時間間隔で順次走査する。n個の走査スポットからの反射ビームをそれぞれ光検出素子により受光する。信号処理装置は、n個の光検出素子から出力される輝度信号中に、所定の閾値を超えると共に互いに時間的又は位置的に対応する輝度変化が存在する場合、試料上に欠陥が存在するものと判定する。本発明によれば、試料表面上に形成された欠陥に起因する輝度変化は、光源ノイズや光検出器の熱雑音から分離して検出されるので、疑似欠陥が増大することなく、欠陥の検出感度を高く設定することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】電子部品などに設けたアライメントマークを撮影画像から検出できない場合でも、表示パネルへの電子部品などの取付状態の検査が行えるようにする。
【解決手段】被検査対象となる表示パネルと電子部品又は電子部品搭載基板との接続部を、表示パネルの面に対してレンズの光軸をほぼ直交させた配置として、照明光を投射させて撮影する。そして、撮影して得た画像の輝度を検出する。その検出した輝度値が第1の輝度値の箇所を、電子部品又は電子部品搭載基板の電極部と判別する。また、検出した輝度値が第2の輝度値の箇所を、表示パネルの電極部と判別する。そして、判別した第1の輝度値の箇所と第2の輝度値の箇所との中間の点から、第1の輝度値または第2の輝度値が連続する長さを、接続部の接続状態の評価値とする処理を行う。 (もっと読む)


【課題】多段積みされた裁断対象を精度良く検査できる裁断対象検査装置等を提供する。
【解決手段】多段積みされた裁断対象Bkを検査する裁断対象検査装置において、所定形状のレーザ光L1、L2が投影された裁断対象の画像データを取得し(S7)、画像データからレーザ光が投影された部分の画像を抽出し、抽出されたレーザ光の画像からレーザ光の投影形状の情報を算出し(S8)、所定形状の情報と投影形状の情報とに基づき、多段積みされた裁断対象の良否を判定する(S11)。 (もっと読む)


【課題】構造の異なる新たなセンサに変更した場合でも変更前のセンサ用基準データを利用して印刷物を検査する。
【解決手段】ラインセンサによって計測したデータ上に、ポイントセンサによる検査領域の計測を再現する領域を設定し、設定された領域に含まれる画素値を重み係数によって変換して検査データを生成し、当該検査データをポイントセンサ基準データと比較して印刷物検査を行う。検査に利用する重み係数は、基準媒体をラインセンサによって計測したデータとポイントセンサ基準データとが所定の類似性を満たすように、投受光される光や、投受光素子の取り付け状態を考慮して決定される。重み係数の決定と当該重み係数を用いた印刷物評価とを同じ印刷物検査装置によって行う。 (もっと読む)


【課題】被測定物の状態によらず、高い検出感度を得るための調整が容易であり、検出感度の劣化要因となる照明光の発生を防ぐことが可能な照明装置、および光学装置を提供すること。
【解決手段】一定の領域1を照明するように構成され、光源として複数のLEDを有し、その複数のLEDと一定の領域1との間に、互いに異なる偏光方向15、25、35をそれぞれ有する複数の偏光子12、22、32を有し、複数のLEDは、それぞれ数個〜十数個のLEDからなる複数のLED群10、20、30に分割して駆動することができるように構成され、各LED群の出射光はそれぞれ1つの偏光子のみを通過するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】地中電力線検査のための検査システム及び方法を提供する。
【解決手段】地中ユーティリティ埋設室の検査システム及び方法は、地中ユーティリティ埋設室内に設置された所定のレールウェイ12と、検査職員に検査結果を提供するように前記レールウェイを移動するように構成された検査車両11と、を備える。前記検査車両は、地中電力線及び設備を検査し、検査結果を記録し、及び、前記検査職員に前記検査結果を伝送するための検査ツールを含む。 (もっと読む)


【課題】本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】カラーフィルタ基板の平面方向と高さ方向の欠陥を同時に検出する立体欠陥検査装置であって、前記カラーフィルタ基板を載置しXY平面上を搬送させる搬送手段と、前記カラーフィルタ基板上をカメラと光源が同期かつ軸移動可能な撮像手段と、前記撮像手段により得られた撮像データに対して演算処理を行う画像処理手段と、前記画像処理手段で得られた立体欠陥データにより前記カラーフィルタ基板の合否判定を行う手段を具備することを特徴とする立体欠陥検査装置である。 (もっと読む)


【課題】光学的手法を用いて被処理基板の構造をより高精度に評価することができるプロセスモニター装置を提供する。
【解決手段】プロセスモニター装置11は、光を出射する光源部と、光の強度を検知可能な光検知部と、光源部から出射された光をウェハWまで導き、ウェハWから反射した反射波を光検知部まで導く第一光経路21と、第一光経路21と同等の光伝搬特性を有するように構成され、光源部から出射された光を、ウェハWを経由することなく光検知部まで導く第二光経路と、第二光経路を通して光検知部により検知された光の強度情報に基づいて、第一光経路21を通して光検知部により検知された光の強度情報を補正し、ウェハWの構造を解析するコントローラ17とを備える。 (もっと読む)


【課題】PTPシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。
【解決手段】錠剤検査装置21は、照明装置22、カメラ23及び画像処理装置24等を備え、まず照明装置22から錠剤に対し照射される光の光量を段階的に変更し、当該錠剤を透過する透過光をカメラ23により撮像することにより、複数通りの輝度画像データを取得する。そして、当該複数通りの輝度画像データにおける各座標毎の輝度値をそれぞれ合算して、錠剤の表面に係る三次元データを作成する。これに基づき、錠剤の外観形状が検査される。 (もっと読む)


【課題】ワークに設けられる貫通孔の内部に生じたバリを、ロボットを用いて確実に検出する。
【解決手段】各孔検出カメラ51a,51bにより各油孔21a〜21gの両端側を撮像し、ずれ算出部で各油孔21a〜21gの軸線と軸線C2とのずれ量を算出し、ずれ量に基づいてロボット30を駆動制御してクランクシャフト20をバリ検出カメラ53と正対させる。軸線C1は軸線C2と平行なので、バリ検出カメラ53は各油孔21a〜21gの内部を全域に亘ってとらえることができる。したがって、ロボット30によりクランクシャフト20を精度良く移動して、バリ検出カメラ53により各油孔21a〜21gの内部に生じたバリを確実に検出し、バリ有無判定部により各油孔21a〜21gの内部に生じたバリの有無を間違えること無く判定することができる。 (もっと読む)


【課題】検査員の主観に依らずして客観的な基準により鏡面球体のショット玉を検出し、安定した検査精度を実現でき、検査の自動化によりインラインで全数検査を実施できる鋳物穴加工品の鏡面球体残留検査装置および方法を提供する。
【解決手段】鋳物穴加工品11の加工穴12の内部を照らす照明部と、加工穴内を撮像可能なCCDカメラ21と、ボアスコープ22を撮像対象加工穴12に挿入するXYステージ30と、CCDカメラ21で撮像した画像を画像処理する画像処理装置52を備え、画像処理装置52は、撮像した取得画像において、ハイライト領域を有し、かつハイライト領域を囲む周辺部位にハイライト領域よりも輝度値の低い環状の暗領域を有する画像領域を、鏡面球体像の候補領域として選択し、候補領域におけるハイライト領域の輝度値が上位閾値より高く、かつ暗領域の輝度値が下位閾値より低い場合に候補領域が真の鏡面球体像であると判断する。 (もっと読む)


【課題】簡便かつ安価な装置構成で、搬送方向に直交する幅方向の全幅に亘って均一な検査を行うことができる表面検査装置を提供する。
【解決手段】長手方向に搬送される長尺状の酸洗鋼板1の表面に対して、照射光が搬送方向と直交する幅方向に平行なライン状であって、かつ、該酸洗鋼板1表面上で全幅に亘って搬送方向に互いにラップするように照射する2台のライン状拡散照明2,3と、酸洗鋼板1表面上で照射光がラップする領域Eを撮像する1台以上のエリアセンサカメラ4と、エリアセンサカメラ4を酸洗鋼板1の全幅をカバーするように幅方向に往復移動させるカメラ移動手段5とを備える。 (もっと読む)


【課題】 ケーブルの周りを一周にわたって簡単に、かつ短時間で点検できる装置を提供する。
【解決手段】 この装置は、ケーブル21が通される通路を有するフレーム部材11と、フレーム部材11の長手方向の両端に形成され通路に連続する開口10の中心に向けて突出するように設けられ、通路を通されたケーブル21の外表面に当接して、フレーム部材11をケーブル21に支持するとともに、フレーム部材11をケーブル21の長さ方向へ移動させることが可能な走行支持手段12と、フレーム部材11に、ケーブル21と周方向に対向して取り付けられる複数の撮影手段14とを含む。 (もっと読む)


【課題】
試料上の欠陥からの散乱光強度が、欠陥径に応じて微小になった場合には、センサから出力される検出信号にはセンサ素子自身の暗ノイズの占める割合が大きくなり、微小な欠陥の検出が困難となる。また、レーザ光源はパルス発振しているため、センサから出力される検出信号にはレーザ光源のパルス成分も重畳することになり、高精度に欠陥を検査することが困難となる。
【解決手段】
試料の表面にパルス発振してレーザビームを照射する照射手段と、前記照射手段による照射により該試料の表面より発生した散乱光を検出する検出手段と、前記照射手段により照射された該レーザビームに基づき遅延信号を生成し、該遅延信号を用いて前記検出手段により検出された散乱光を処理する処理部とを備えた欠陥検査装置である。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の表面や欠陥の形状に関わらず、欠陥を精度良く検出できるようにする。
【解決手段】検査対象物の表面に生成される照射パターンが少なくとも十字形状及びリング形状となる2種類以上のパターン光を発光部601から検査対象物の表面に照射する。そして、所定の方向に走査しながら前記検査対象物の表面にパターン光を照射するようにする。一方、撮像部602は、照射されたパターン光により生成される照射パターンを含む画像を撮影し、画像処理部603は、前記撮影された画像に含まれる照射パターンの形状の変化に基づいて前記検査対象物の表面の欠陥を検出する。 (もっと読む)


【課題】
検査対象基板において不規則な回路パターン部分では、パターンからの散乱光によって欠陥信号が見落とされ、感度が低下する課題があった。
【解決手段】
光源から出射した光を検査対象基板上の所定の領域に所定の複数の光学条件をもって導く照明工程と、前記所定領域において、前記複数の光学条件に対応して生じる複数の散乱光分布の各々につき、所定の方位角範囲および所定の仰角範囲に伝播する散乱光成分を受光器に導き電気信号を得る検出工程と、該検出工程において得られる複数の電気信号に基づいて欠陥を判定する欠陥判定工程とを有することを特徴とする欠陥検査方法を提案する。 (もっと読む)


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