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Fターム[2G051ED08]の内容

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【課題】 タイヤの種類、タイヤ表面の状態および照明の位置関係に依存することなく、検査の安定化を図ることができる画像処理方法、画像処理装置、プログラムおよび記録媒体を提供する。
【解決手段】 制御部12は、タイヤ回転方向に直交する方向のラインごとに、取込画像の各画素の濃度を、各画素が含まれるライン上の平均濃度に変換して、濃度射影変換する。次に、濃度射影変換が行われた画像に対して、タイヤの回転方向のラインのうちの1つのライン上の画素について、フーリエ展開する。また、濃度射影変換を行う前の取込画像から自己相関値を算出し、算出した自己相関値に基づいてブラダーグルーブの本数を算出する。フーリエ展開された周波数成分から、算出されたブラダーグルーブの本数で決まる周波数成分を除去し、残余の周波数成分を逆フーリエ展開し、逆フーリエ展開された画像に基づいて欠陥検出処理を行う。 (もっと読む)


【課題】複数の検査を行うことができ、各検査結果を複合的に分析することのできるレンズ検査装置及びレンズ検査方法を提供する。
【解決手段】上記課題を解決するため、観察光軸Lとしての被検レンズ10の光軸上に第一拡大光学系30を配置し、参照光軸L上に配置される参照ミラー51及び第二拡大光学系52を有する干渉縞観察照明光学系50と、被検レンズ10に対して平行光及び偏光光を照射する透過光観察照明光学系60及び偏光光観察照明光学系70と、第一拡大光学系30を介して、被検レンズ10の干渉縞画像、透過光画像及び偏光光画像を観察可能な観察光学系40とを備えるレンズ検査装置100を提供する。また、当該レンズ検査装置100を使用するレンズ検査方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】識別線の検査に関する精度及び効率に優れる検査方法と、検査装置との提供。
【解決手段】このタイヤ用トレッド識別線28の検査方法は、カメラ20から得られた画像データから、ゴムシート16の左右端位置を検出する。この左右端位置からゴムシート16のセンター位置を算出する。このセンター位置を基準にして識別線の位置を検出する画像データの検出領域が設定される。この検出領域で識別線の位置を検出する。この検出された識別線の位置に基づき画像データの検査領域が設定される。この検査領域で識別線の検査をする。この検査装置12は、この検査方法を実行するための、搬送部18と、カメラ20と、画像処理部22と、記録部24と、演算部26とを含む。この演算部26は、前述の検査方法により、画像データの識別線を検査する。 (もっと読む)


【課題】表面検査装置において、高精度化,ウェーハの大口径化や、検査の高機能化(マルチセンサなど)により処理すべきデータは年々、増加し、装置容積に占める信号処理部分の比率が増している。また、高機能化により、装置立ち上げ時の評価検査作業も増えている。その一方で、装置容積、コストの面から小型化が求められている。本発明の目的は、必要最低限の規模で一般検査が可能な装置構成を提供することである。
【解決手段】検出器単位で処理機能を分離することにより、一般検査時に不要な信号処理部を取り外し可能にする。また、パラメータ決定作業に使用される評価機能を備えた信号処理部も接続可能にする。 (もっと読む)


【課題】製品表面の特異部分の分布の特徴を効率的に検出すること。
【解決手段】特異部分分布特徴検出装置100は、画像取得部2が取得した表面画像から処理対象画像を生成する処理対象画像生成部10と、処理対象画像上の直交XY座標系の特異画素の座標を取得する特異画素座標取得部11と、特異画素の座標の二つを用いて補助線を導き出す補助線導出部12と、所定の矩形枠と補助線との間の二つの交点のそれぞれに至るまでの、原点から矩形枠を辿る経路長さを座標軸とする直交パラメータ座標系を用いて、経路長さの組み合わせを直交パラメータ座標系の座標へ変換し、その変換回数を座標毎に計数する座標系変換部13と、計数結果の解析に基づき特異画素が形成する直線状の特徴を検出する直線状特徴検出部14とを備え、直線状特徴検出部14は、検出対象の直線の特性に応じて計数結果の解析対象となる座標範囲を限定する。 (もっと読む)


【課題】信頼性が高い線形判別分析の判定結果を距離判別分析に反映させることにより、距離判別分析の閾値決定に対する収斂性を高め、距離判別分析の持つ簡便な判定性能を向上させるとともに、線形判別分析と距離判別分析とを共用することにより、優れた判定精度を実現できる良否判定装置、良否判定方法および良否判定プログラムを提供する。
【解決手段】検査対象から複数のパラメータを取得するパラメータ取得手段と、サンプルデータに基づいて算出した判別関数に検査対象に対応するパラメータを代入して得られる変数と閾値とを比較する線形判別分析手段と、パラメータ空間において良サンプルデータに対応する良クラスターの中心位置から検査対象に対応する要素の位置までの距離と閾値とを比較する距離判別分析手段と、線形判別分析手段および距離判別分析手段のいずれにおいても良のカテゴリーに判別された場合に良判定する良否判定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】良否判定の精度を低下させることなく、層間の位置ずれによって生じる無駄はねを防止することができる外観検査システムおよび外観検査方法を提供する。
【解決手段】位置補正手段は、検査画像における第1層101の代表点Pa1の位置座標から良品画像に対する第1層101の位置ずれ量を求め、第2層102の代表点Pb1の位置座標から良品画像に対する第2層102の位置ずれ量を求める。位置補正手段は、求めた第1層101と第2層102との各位置ずれ量に基づいて、検査画像における検査対象領域111およびマスク領域112の各位置を、それぞれ基準となる良品画像の検査対象領域111およびマスク領域112の各位置から平行移動させるように補正する。領域設定手段は、位置補正手段による補正後の検査対象領域111から同じく補正後のマスク領域112を除いた領域を、検査領域110として検査画像上に設定する。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の濃淡画像に微分を行わずにクラックを抽出してノイズの影響を低減し、粗面に生じた微細なクラックであっても精度よく検出することを可能にする。
【解決手段】検査対象物Wを撮像装置2により撮像した濃淡画像から2値化手段11により2値画像を生成する。候補選別手段13は、2値画像内で黒画素の連結成分のうち細長い形状の連結成分をクラック候補領域として抽出する。候補選別手段により抽出されたクラック候補領域は、クラスタリング手段14により、慣性主軸の傾きの類似性を用いて分類される。クラスタリング手段により分類されたクラック候補領域は、連結処理手段15により、分類ごとに連結可能性が評価される。判定手段16は、連結処理手段15が1つのクラックに属すると判断したクラック候補領域の長さの合計を用いて検査対象物Wの良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】海島型複合繊維を溶融紡糸する紡糸口金の内部に装着された数万本にも及ぶパイプに関して、少なくともパイプ曲りの発生を自動で検出することができる紡糸口金の異常検査装置及び異常検査方法を提供する。
【解決手段】直管型パイプが口金板に対して垂直に多数立設された口金板を装着する紡糸口金に対して各パイプのポリマー流路である貫通孔を通過した検査光をカメラで撮影して、撮影した画像データを二値化処理などの画像処理を行って各パイプの先端部のポリマー流路の中心座標を算出し、算出した中心座標が設計時の値よりもずれているかどうかを判断して、パイプ曲りの有無を検出する紡糸口金の異常検査装置及び異常検査方法とする。 (もっと読む)


【課題】処理結果に重複や漏れが発生することを防止すること。
【解決手段】検出装置は、画像表示装置の撮像画像を取得する。また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 (もっと読む)


【課題】生産を停止することなく新たな検査条件に基づいた良否判定のシミュレートを行うことで、生産速度を向上させることが可能な外観検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象物10の検査対象面を撮像するカメラ3と、カメラ3に接続され、カメラ3からの映像信号に基づいて検査対象物10の良否判定を行う画像処理装置1と、画像処理装置1に接続されたシミュレート装置2とを備える。画像処理装置1は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第1の検査条件C1によって、検査対象物の良否判定を行う。シミュレート装置2は、画像処理装置1から画像データを受信し、検査条件C1とは異なる検査条件C2に基づいて検査対象物の良否判定をシミュレートする。 (もっと読む)


【課題】欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象物10の検査対象面を撮像するカメラ2と、カメラ2に接続され、カメラ2からの映像信号に基づいて検査対象物10の良否判定を行う画像処理装置1とを備える。画像処理装置1は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出して検査条件C1に基づいて良否判定を行うとともに、欠陥画素の位置情報、画像データ、及び、良否判定結果を記憶する。画像処理装置1は、装置本体1b及びモニタ1aを備え、記憶した欠陥がその位置情報に基づいて欠陥の発生頻度を装置本体1bが算出し、指定した欠陥発生頻度の画素領域を、画素の濃淡または色相のうち少なくともいずれか一方を変化させて、検査対象物10の画像と重ねて表示する。 (もっと読む)


【課題】機械加工が施されたワークの表面の傷の有無を検出し、かつ、その位置、大きさを推定できる表面検査装置を提供する。
【解決手段】シリンダブロック5に切削加工されたボア3の内側表面3Aを検査する表面検査装置9において、切削加工と直交する方向に所定長さ延びる1次元デジタル輝度画像を前記デジタル輝度画像から抽出し、1次元パワースペクトル処理部63と、1次元パワースペクトルデータの周波数fに対応するピッチごとに信号強度を示すピッチデータに変換するツール目ピッチ変換部64と、ピッチデータを並列に並べて評価用画像を生成する評価用画像生成部55と、前記評価用画像に基づいて傷の有無を検出する評価部57とを有し、前記1次元パワースペクトル処理部は、1次元方向の長さLを可変しながら1次元パワースペクトルデータを算出し、前記ツール目ピッチ変換部は、複数のピッチデータを合成して1つのピッチデータを生成する。 (もっと読む)


【課題】欠陥検査の目的や欠陥の特性等に応じて、最適なカラー表示を行うことができる欠陥検査装置及び画像表示方法を提供する。
【解決手段】フォトマスクの画像を種々の照明条件のもとで撮像し、A/D変換器からの出力信号を用いてフォトマスクの欠陥を検出し、検出された欠陥を含むフォトマスクのカラー画像を出力する信号処理装置とを具える。信号処理装置は、輝度/カラーに関する変換テーブル作成手段23と、フォトマスクの輝度/カラー変換手段24とを有する。変換テーブル作成手段23は、2種類のマスクパターンにそれぞれ割り当てた第1及び第2の2つの階調値、及び、前記第1の階調値と第2の階調値との間の輝度階調中に割り当てられるRGBのカラー数又は階調スパンを含むパラメータに基づいて変換テーブルを作成する。 (もっと読む)


【課題】欠陥判定処理を容易にすることができ、また、汎用性の高いシミュレータと連動して欠陥判定処理を行うことのできる検査装置を提供する。
【解決手段】制御計算機110の動作設定画面でリソグラフィ・シミュレータの情報を設定して検査装置100の校正を行った後、フォトマスク101の全面を検査する。検査で欠陥とされた箇所の座標は、XMLファイルに変換される。検査モードがダイ−トゥ−データベースのときには、検査装置100で参照データの生成に利用しているデータベースのパターンデータを制御計算機110で読み込み、汎用性の高いOASISフォーマットデータに変換する。検査装置100で撮像された光学画像はビットマップに変換される。これらのデータは、検査装置100の校正に使用した画像のデータやシミュレーションの動作条件とともに、リソグラフィ・シミュレータに転送される。 (もっと読む)


【課題】光学画像の歪みを最小限にして、高い検査精度を実現可能な検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】検査装置100において、光源1からマスク22に照射された光は、マスク22を透過した後、レンズ4を介しミラー25で反射してラインセンサ5に結像する。ステージ2の位置はレーザ側長システム7aで測定され、拡大光学系200の位置はレーザ側長システム7bで測定される。得られたステージ2の位置と拡大光学系200の位置との差分に基づき、ミラー制御部26によってミラー25の角度が制御される。また、これらの差分に基づき、ステージ制御部15によってステージ2の移動速度が制御される。 (もっと読む)


【課題】ブレードを撮像した画像におけるブレードの領域を検出することができる画像処理装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】CPU34cは、ジェットエンジン内に周期的に配置されたブレードを撮像した動画像を構成するブレード画像からテンプレート画像を抽出し、ブレード画像から、テンプレート画像に対して所定のフレーム数だけ離れた参照画像を抽出する。CPU34cは、テンプレート画像と参照画像との差分を抽出し、その差分に基づいてブレード領域を検出する。 (もっと読む)


【課題】ワイヤの接合部分の接合状態を安定して測定し、当該接合状態の良否の判断のばらつきを抑えることができるワイヤボンド検査装置及びワイヤボンド検査方法を提供する。
【解決手段】撮像装置により撮影される接合痕の画像情報に基づき、ボンディングワイヤが接触していた痕跡部分であるワイヤ接触領域、及び当該ワイヤ接触領域に含まれる領域であってボンディングワイヤが好適に接合されていた痕跡部分としてボンディングワイヤの一部分が残存するワイヤ残存領域における、シェアツールが近接する側のエッジをそれぞれ検出し、これらエッジの輪郭形状に基づき、ワイヤ接触領域及びワイヤ残存領域をそれぞれ楕円近似する。そして、これら近似楕円の面積をワイヤ接触領域及びワイヤ残存領域の面積としてそれぞれ求め、これら面積の比であるワイヤ接合率を、ワイヤの接合部分の検査の用に供される情報として算出する。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の表面の欠陥検査において検査スループット向上させ、検査時間を短縮する。
【解決手段】レチクル情報を蓄積するレチクル情報データベース26と、欠陥検査結果を蓄積する検査結果データベース27と、欠陥検査結果から異常判定規格を算出する規格算出部24と、算出された異常判定規格と欠陥検査結果とを照合して異常判定規格を上回る欠陥多発異常の検知件数を算出する規格異常検知件数算出部23と、検査条件から検査に要する時間を算出する検査時間算出部21と、単位時間当たりの異常検知件数を算出する異常検知能力算出部28と、半導体基板表面内で偏分布する分布異常を任意の検知率以上で検知できる間引き率を算出する分布異常検知限界間引き率算出部25と、単位検査時間当たりの異常検知件数が最大となる検査領域を自動で設定して、検査エリアを決定する検査エリア算出部22などを具備している。 (もっと読む)


【課題】直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。
【解決手段】欠陥検出方法は、被検査物の外周輪郭部を検出する輪郭検出工程と、外周輪郭部を1周する輪郭追跡方向を設定する追跡方向設定工程と、輪郭追跡方向に沿って連続する2画素間の画素方向を検出する画素方向検出工程と、画素方向が変化する方向変化点を検出する方向変化点検出工程と、連続する3つの方向変化点から画素方向の差である第一および第二方向差を算出する方向差算出工程と、第一および第二方向差に基づいて形状変化点を抽出する形状変化点抽出工程と、形状変化点間の距離が欠陥閾値以下となる欠陥候補部を抽出する欠陥候補抽出工程と、欠陥候補部のサイズがサイズ閾値以上となる欠陥部位を検出する欠陥検出工程と、を具備した。 (もっと読む)


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