【課題】高分子材料や有機材料等の熱に弱い材料の断面を、イオンビームの熱による影響を抑制し、かつ、短時間で加工可能な集束イオンビームによる高分子材料加工方法及び装置を実現する。
【解決手段】試料７から微小試料片を大電流イオンビームにより切り出す前に、微小試料１８に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６により微小試料１８の周囲に熱伝達抑制用の溝１９を形成し、その後、形成した溝１９の外周を大電流イオンビームにより微小試料片を切り出す。試料に熱影響を与えない小電流イオンビームにより微小試料片１８を切り出すことも考えられるが、微小試料片１８を切り出すまでに長時間を要する。試料７に熱影響を与えない小電流イオンビーム１６による溝１９の形成加工は、試料片の切り出し加工より短時間で終了可能である。 （もっと読む）

【課題】実際の口腔環境に近い環境を再現し、該環境下において実際の咀嚼を模擬することにより、実際の咀嚼において試料から発生する香りの成分、味成分により近い成分を得ることができると共に、咀嚼力が弱いと考えられる消費者の噛む力をも再現して、これら消費者を対象とした商品を開発することができる咀嚼模擬装置を提供する。
【解決手段】試料（Ｓ）を破砕及び摩砕することにより、咀嚼を模擬するための装置（１０）であって、前記試料（Ｓ）を収容するための容体（２０Ａ）と、該容体（２０Ａ）の内壁面（２２）に沿って一方が他方に向かって摺動するように、対向して配設された一対の咀嚼擬似歯（３１，３２）と、を少なくとも備えてなる。 （もっと読む）

【課題】好感度の大きなにおいなど、高価値のにおいを任意の時刻に任意の場所で再現する携帯用の手段を提供し、またいくつもの基準ガスまたは基準試料をにおい識別装置の近傍に用意する必要があった従来の校正作業を改善する。
【解決手段】捕集剤１１をベッド１２上に配設し、グラスウール１３および１４で挟持する。ベッド１２の一端に、常温では垂直方向に展開され加熱によって円弧状に変形する形状記憶合金製の扉１５を接合する。ベッド１２の下面は絶縁材料で絶縁し、加熱のためのヒータが印刷され端面に電力導入用のコネクタ１７を設けた基板１６の上面に載置する。基板１６を熱インシュレータ１８上に載置する。これらの要素類を内部カバー１９、さらに携帯用の外囲器２０内に収納する。においの流通のため、外囲器２０の前後は開口とし、ヒータの加熱によりあらかじめ吸着したにおいを発生させる。 （もっと読む）

【課題】従来よりも小さな粒径をもつ粗大粒子であっても、含有する量を制御できる金属酸化物微粒子の製造方法を提供することを解決すべき課題とする。
【解決手段】５μｍ以下の値である所定粒径以上の粒径をもつ粗大粒子を金属酸化物粉末から除去して前記粗大粒子の含有量が目標値以下となった金属酸化物微粒子の製造方法であって、前記粗大粒子を原料粉末から除去して被処理粉末を得る粗大粒子除去工程と、前記被処理粉末に対して分級処理を施して、前記粗大粒子の含有量を相対的に向上させた粗大粒子分画を分離濃縮させる粗大粒子分離工程と、前記粗大粒子分画中に含まれる前記粗大粒子の含有量を測定する測定工程と、をもつ評価工程と、を有し、前記評価工程にて得られた前記含有量が前記目標値以下になるまで、得られた前記被処理粉末を前記原料粉末として前記粗大粒子除去工程を繰り返し行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】微小試料台の個片化作業が容易な微小試料台集合体を提供すること。
【解決手段】シリコンウエハには、複数本の梁部３０が平行して配列され、各梁部３０の側面には、所定間隔で接続部２０を介して微小試料台１０が一つずつ保持されている。微小試料台１０は、接続部２０を折るようにして梁部３０から分離することができる。 （もっと読む）

【課題】対象物から切削によって切り出した場合においても、深さ方向の汚染程度を正確に把握して除染作業の合理化を図ることができる測定用サンプルの採取方法を提供する。
【解決手段】汚染された対象物を、円筒状の切削工具によって深さ方向に切削することにより円柱状のサンプル母材を切り出し、このサンプル母材を深さ方向の複数部位において円板状に切断した円板状のサンプル母材１０の外周部分を切断除去して汚染測定用サンプル１１を採取するに際して、円板状のサンプル母材１０の外周縁１０ａと汚染測定用サンプル１１の最外周部１１ａとの間の長さ寸法Ｌが、対象物の毛細管現象による液体の浸透深さ以上となるように、円板状のサンプル母材１０の外周部分１０ｂを切断除去することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】包埋ブロックの表面温度に極力影響を与えずに短時間で包埋ブロックを加湿すること。
【解決手段】生体試料が包埋剤に包埋された包埋ブロックＢを加湿する装置であって、所定温度に加熱された水蒸気Ｅを発生させる水蒸気発生機構２０と、発生した水蒸気が予め決められた待機位置（矢印Ｐで示す位置）にセットされた包埋ブロックの表面に当たるように、該水蒸気を包埋ブロックまで案内する案内機構２１と、を備えている包埋ブロック加湿装置１１を提供する。 （もっと読む）

【課題】本発明は試料断面作製装置の試料遮蔽機構に関し、熱に弱い試料でも正確な試料断面を作製することができる試料断面作製装置の試料遮蔽機構を提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビームを用いて試料に断面を形成する試料断面作製装置に用いる試料遮蔽機構であって、イオンビームを遮蔽する第１の遮蔽手段３と、該第１の遮蔽手段３と接着され、その下部面に試料１が密着される第２の遮蔽手段４を設け、前記第１の遮蔽手段３と第２の遮蔽手段４との間に熱を遮断するための熱遮断手段５を設けて構成される。 （もっと読む）

【課題】本発明は試料作製装置の遮蔽材保持機構に関し、遮蔽材に遮蔽材保持部の熱ドリフトが伝達されないようにした試料作製装置の遮蔽材保持機構を提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビームにより試料をエッチングして試料観察面を作製するようにした試料作製装置に用いられる遮蔽材保持機構において、遮蔽材保持部５の先端部に設けられた第１の永久磁石６と、該遮蔽材保持部５の下方に配置された遮蔽材７と、該遮蔽材７の下方に設けられたその内部に試料１を保持する試料ホルダー２と、該試料ホルダー２に取り付けられた、その磁力をレバー３によりオン／オフできる第２の永久磁石と、を有し、前記第２の永久磁石をオフにすると、前記遮蔽材７は前記第１の永久磁石６により遮蔽材保持部５に吸着され、該第２の永久磁石をオンにすると、前記遮蔽材７は前記試料ホルダー２に吸着されるように構成される。 （もっと読む）

【課題】荷電粒子ビーム・システムを用いて欠陥を観察するための方法および装置を提供すること。
【解決手段】不正確に発見された欠陥が、一連のスライスをミリングし、軽い優先的エッチングを行って、類似する二次電子放出特性を有する材料間の形状的界面を提供することによって画像化される。スライスは小さな欠陥を補足するのに十分小さいものであるが、再堆積の問題を克服するには十分に大きいものである。 （もっと読む）

【課題】エレクトロスプレーを基にした自動サンプリングシステムおよび分析方法によって、被分析物を有する表面アレイスポットから試料を得る。
【解決手段】システムは、少なくとも１個のプローブを含み、そのプローブは、少なくとも１種の溶離溶媒を複数のスポットのそれぞれに流すための入口と、前記被分析物を前記スポットから送出するための出口とを含む。スポットに対してプローブを移動させていずれのスポットのサンプリングも可能にするために、自動位置決めシステムが設けられている。プローブに流動連通する投入口を有するエレクトロスプレーイオン源が、被分析物を受けて、被分析物からイオンを発生させる。イオン源は、被分析物を同定する分析のための構造、好ましくは質量分析計に発生したイオンを提供する。プローブは、アレイスポット表面の周囲に沿って密閉シールを形成する表面接触プローブであってもよい。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡観察をする際に試料を固定するための治具に関する。特に断面切削装置に
て断面出しをおこなった試料の断面構造を高精度に観察することが可能な観察用治具に関
する。
【解決手段】
断面切削装置にて断面出しをおこなった断面切削装置用試料ホルダーに固定された試料
を断面切削装置用試料ホルダーから取り外すことなく、顕微鏡で前記試料断面を観察する
ための顕微鏡観察用治具であって、該顕微鏡観察用固定治具が平板状であり、且つ、前記
断面切削用試料ホルダーの断面切削装置への固定部の少なくとも一部を挿入することがで
き、該断面切削用試料ホルダーを挿入した状態で前記断面切削用試料ホルダーに固定され
た試料の断面切削面を前記顕微鏡観察用固定治具に対して水平に保ちながら回転可能とす
るための穴を有していることを特徴とする顕微鏡観察用固定治具である。 （もっと読む）

【課題】透過電子顕微鏡用試料作製方法の生産性を向上させる。
【解決手段】透過電子顕微鏡で観察可能な略平面状の仕上げ面Ｗｂ１と、微小ピンセット５０によって仕上げ面に触れることなく把持可能な把持部Ｗｂ２とを有する透過電子顕微鏡用試料片Ｗｂを作製する方法であって、試料本体Ｗａから、試料本体と連結部で連結された該試料片を、荷電粒子ビームで切り出す第１の工程と、第１の工程で切り出した該試料片の仕上げ面を微小ピンセットで覆い隠しながら、該試料片の把持部を微小ピンセットで把持する第２の工程と、第２の工程において微小ピンセットで把持した該試料片を、該試料片の把持状態を維持しながら荷電粒子ビームで連結部を切断することによって試料本体から切り離す第３の工程と、第３の工程で切り離した該試料片を、微小ピンセットで試料ホルダに搬送して固定する第４の工程とを備えることを特徴とする透過電子顕微鏡用試料作製方法を提供すること。 （もっと読む）

【課題】構成の簡略化及び低コスト化を図りながら向上した切れ味を長時間確保した上で、刃先の傾きやうねりに影響されること無く、高品質な薄切片を作製すること。
【解決手段】生体試料Ａが包埋された包埋ブロックＢを薄切して薄切片を作製する装置であって、包埋ブロックを薄切するカッター３と、包埋ブロックとカッターとを接近離間する接近離間方向Ｘに沿って相対的に移動させる移動機構４と、両者を垂直方向に沿って相対的に移動させる高さ調整機構と、両者を接近離間方向に略直交するスライド方向Ｙに沿って相対的に移動させるスライド機構３０と、予め設定された初期位置から両者が動き始めように制御し、カッターの刃先３ｂの同一ポイントに包埋ブロックを接触させ、その後、接近離間方向の速度とスライド方向の速度との比を同一に保った状態で同一方向にカッターをスライドさせる制御部４と、を備えている薄切片作製装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】測定精度をより向上できる溶融金属試料採取プローブを提供せんとする。
【解決手段】金属製薄型採取容器６０と該採取容器に隙間を介して外装される金属製外装体６１とで溶融金属採取室を構成し、薄型採取容器６０は、底部から高さ方向に沿って次第に薄肉となるテーパー状に構成し、熱電対８の測温部８１が位置する高さでの肉厚ｔを２．０〜４．０ｍｍとなるように設定した。また薄型採取容器６０と金属製外装体６１との間に全周にわたって紙製シート体６２を介装し、薄型採取容器６０の底部６０ｂに紙製の筒状支持体９を同軸状に取り付けた。 （もっと読む）

【課題】微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。
【解決手段】試料片１０の加工にダイサーを用い、試料片上の観察対象となる部分を突起状に削り出す加工に集束イオンビーム加工を用い、試料片１０を１軸全方向傾斜試料ホルダに、突起１１の中心軸と試料傾斜軸Ｚを一致させて固定し、高角に散乱された電子で結像したＴＥＭ像を投影像として用い、再構成を行う。 （もっと読む）

【課題】 検出する試料を迅速に効率よく試料分析装置に導入することができ、検出速度を向上させて大量の検査を短時間で行うこと。
【解決手段】 試料採取装置３に収容された試料を、分析装置用排気ポンプ２７を備えた質量分析装置７に導入するための試料導入装置５であって、一端が試料採取装置３に流通可能に接続される差動排気配管１３と、差動排気配管１３の他端に接続され、差動排気配管１３内を排気して減圧する差動排気ポンプ１９と、差動排気配管１３と質量分析装置７とを流通可能に接続するキャピラリ管２３とを備え、キャピラリ管２３が接続された差動排気配管１３内の圧力が、５０Ｐａ以上７０ｋＰａ以下とされ、キャピラリ管２３のコンダクタンスが、１×１０^−１０以上１×１０^−７ｍ^３／ｓ以下とされる試料導入装置５を提供する。 （もっと読む）

【課題】スラグ中の微量元素、特に揮発性微量元素を正確且つ迅速に分析することができるスラグ分析方法を提供する。
【解決手段】採取したスラグの少なくとも９５％以上が球換算直径で５０μｍ以下となるようにスラグを粉砕し、圧力３０ｔ／ｃｍ^２以上で且つ２０秒以上加圧プレスすることにより、厚さが２〜４ｍｍで分析面の凹凸が０．０５ｍｍ以下の試料を成形し、上記分析面に対し、電圧３０ｋＶ〜４０ｋＶ、電流５０〜７０ｍＡのＸ線を照射してスラグ中の揮発性微量元素の分析を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来の超音波疲労試験片では、線材の表面ないし表面近傍の疲労特性を正しく評価できず、疲労特性評価の信頼度が低い。
【解決手段】線材を所定長さに切断して試験片の素材とし、該素材の試験片試験部長手方向中央相当部分１５の両側の部分を同時に塑性加工して溝状空間１４となし、ついで前記試験片試験部長手方向中央相当部分を塑性加工により縮径し、該縮径した後の素材を切削、研削、研磨のいずれか１種または２種以上により機械加工して前記試験片の目標形状に仕上げる。 （もっと読む）

【課題】透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。
【解決手段】荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料Ｗ１を、保持部材５０により保持して凹状の嵌合部Ｈ１ａを有する試料ホルダＨ１に固定する方法であって、試料ホルダの嵌合部と嵌合可能な被嵌合部Ｗ１ａを有する薄片試料を荷電粒子ビームによって加工して作製する薄片試料作製工程と、該薄片試料作製工程で作製した薄片試料を保持部材によって保持する薄片試料保持工程と、該薄片試料保持工程で保持した薄片試料を試料ホルダに対して位置決めし、薄片試料の被嵌合部を試料ホルダの嵌合部に嵌合する薄片試料嵌合工程とを備えることを特徴とする透過電子顕微鏡用試料作製方法を提供する。 （もっと読む）