【課題】延伸過程にある試験片、さらに延伸過程から収縮過程にある試験片の精密で再現性よい観察を可能にするメッシュ及び該メッシュを用いた試験片の観察方法を提供する。
【解決手段】試験片をメッシュに載置固定する工程と、前記メッシュを観察用ホルダーに固定する工程と、引き続き、前記観察用ホルダーを延伸方向に移動させることにより前記メッシュの載置領域に固定された前記試験片を延伸させる工程と、該延伸過程における前記試験片を観察する工程とを含む試験片の観察方法において、前記観察用ホルダーに前記試験片を固定後、前記延伸過程で前記メッシュを分断することを特徴とする試験片の観察方法及び該観察方法に適したメッシュ。 （もっと読む）

【課題】アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。
【解決手段】観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。そして、マーク３近傍を照射部位として、超高圧電子線の照射が行なわれ、マーク３の近傍に位置する薄膜試料２の上面にて、保護膜４の形成が行なわれる。そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 （もっと読む）

【課題】電子線マイクロアナライザ分析用の試料ホルダであって試料の着脱が容易で且つチャージアップが発生しない試料ホルダを備えた電子線マイクロアナライザを提供する。
【解決手段】包埋試料を収納する空間を形成するＵ字形保持枠を有し、枠の底部に設置したコイルバネにて包埋試料を力が作用した状態で保持し、しかも上面には試料マスクを載置してホルダと試料間の導電系を保持させつつ保持するものである。したがってチャージアップは生起しない。 （もっと読む）

【課題】 様々な薬剤液を使用して組織試料（２１）の浸潤を加速させることを実現する。
【解決手段】 組織浸潤装置は、組織試料（２１）及び、組織試料に浸潤する誘電体液（１９）を受け入れるように適合された反応チャンバ（４）を含む。反応チャンバは、底部（３）及び、マイクロ波照射に対して透過性の少なくとも１つの窓部分（５）を有する円周状の壁（２）を含む。保持要素は、所定の時間にわたって、前記窓部分（５）から前記誘電体液（１９）の３ＰＤの距離に、前記組織試料（２１）を保持する。ＰＤは、前記誘電体液（１９）への前記マイクロ波の浸透深度であり、最初のマイクロ波の電磁界強度が１／ｅまで減少している深度として定義される。マイクロ波システム（７）は、マイクロ波を、前記窓部分（５）を介して前記反応チャンバ（４）に照射する。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、微小試料片およびまたはその周辺領域を汚染することなく、確実で安定的な微小試料片の分離、摘出、格納を行う装置および方法を提供することにある
。
【解決手段】試料基板から観察すべき領域を含む試料片をイオンビームスパッタ法により分離し、試料を押し込んで保持し、引き抜いて分離するための、根元に比較して先端が細く、該先端部が割れている形状で、該形状により得られる試料片を保持する部位の弾性変形による力で試料片を保持する棒状部材からなるはり部材を用いて、前記試料片を試料基板から摘出し、試料片を載置するための載置台上へ移動させた後、前記はり部材と前記試料片を分離することで該試料片の格納を行う。 （もっと読む）

【課題】試料表面の帯電現象を防止する為に複雑な形状を有する該試料のあらゆる面及び孔の内部にも出来るだけ均一に導電性薄膜微粒子を付着（コーティング）させる為の前処理装置。
【解決手段】スパッタされたターゲット２の原子がステージ１１上に載置された試料１０に付着することにより試料表面上に導電性薄膜が形成される。その際、該試料の表面ないしは側壁面上に存在する微細な突起の周囲や孔の内壁に出来るだけ均一な導電性薄膜を一様に形成せしめるべく該試料を載置するステージ１１を制御器７を用いて該ステージ面の中心から互いに離間した３つの保持位置の下部に取り付けられている３つのアクチュエータ１２を通して上下運動させることにより、該ステージ面上の試料を回転させることなく３６０度方位全域で該試料を一定傾斜状態のまま保持することで該ステージ上に載置された非導電性試料の表面ないしは側壁面に一様にコーティングが可能となる。 （もっと読む）

【課題】高温測定が可能であり且つ繰り返して使用することができる試料ホルダを提供することを課題とする。
【解決手段】図（ａ）に示すように、ヒータ収納凹部２１へヒータ１５を入れ、下蓋１４を被せ、第２ボルト３５で固定する。これで、（ｂ）に示す形態のヒータ付き試料ホルダ１０が完成する。
【効果】Ｘ線透過部材３１は金属であるため、皺が寄ったり劣化する心配が無く、繰り返し使用することができると共に高温にも耐える。したがって、本発明によれば、普通のＸ線回析計測装置を用いるにも拘わらず高温測定が可能であり且つ繰り返して使用することができる試料ホルダが提供される。 （もっと読む）

【課題】本発明は透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体に関し、試料片への通電を容易に行なうことができる透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体を提供することを目的としている。
【解決手段】真空外で、半月状の導電性部材１の弦の部分に電気的絶縁膜３を形成し、該電気的絶縁膜３の上に金線４を接着し、アクチュエータを用いて、予め作製されていた試料片を前記半月状の導電性部材１の弦の部分に取り付けて固定し、真空内で、前記試料片部分に電気的導通のためのデポジションを行ない、前記金線４と試料片２ａとの間に導電性プローブを固定のためのデポジションにより取り付け、前記導電性プローブを切断することにより透過型電子顕微鏡の試料を作製するように構成する。 （もっと読む）

【課題】装置の奥行き寸法を抑えることができ、小型化を図ることができる薄切片作製装置を提供することを目的とする。
【解決手段】生体試料が包埋された包埋ブロックＢを薄切するための切刃６と、包埋ブロックＢを切刃６の刃側に向けて移動させて包埋ブロックＢの上面を切刃６で薄切させる移動機構５と、包埋ブロックＢから削り出された薄切片Ｘを搬送する搬送機構９と、を備えた薄切片作製装置１において、切刃６の刃が、装置前面１ａに対して垂直に延在され、包埋ブロックＢが移動機構５によって装置前面１ａに対して斜めに移動され、薄切片Ｘが搬送機構９によって装置前面１ａに沿って搬送される。 （もっと読む）

【課題】地震などにより不意に横向きの応力が加わったとしても、収容部が外枠部の外に飛び出して落下するのを防ぐことができ、また収容部内のプレパラートを取り出す場合には容易に収容部を引き出すことができる、安全性が高く且つ使いやすいプレパラート収納ケースを提供する。
【解決手段】一の側方が開口された直方体状の外枠部２の中に、上方が開口された直方体状の収容部３が挿入された、引き出し式のプレパラート収納ケース１であって、収容部３の底板下面にはストッパー片Ａ：３ａが突設され、該ストッパー片Ａ：３ａは引き出し方向手前側の面が収容部底面に対して略垂直面３ｂであるとともに、引き出し方向奥側の面が収容部底面に対して角度が浅い斜面３ｃであり、外枠部２の底板上面には前記ストッパー片３ａの引き出し方向手前側の略垂直面３ｂと衝合可能な略垂直面２ｂを有するストッパー片Ｂ：２ａが突設されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】薄膜状試料に張力を与えた時に発生するクラックについて、引張り率の変化やさらには温度依存に応じた挙動の詳細な観察を容易かつ簡単にできる薄膜試料観察用治具を提供する。
【解決手段】基板１０の載置面１０ａ上に載置された薄膜状試料４０を固定する試料固定機構２０と、基板１０の載置面１０ａ上に固定された薄膜状試料４０に張力を付与する張力付与機構３０を備え、張力付与機構３０は、張力が付与された薄膜状試料４０を加熱する加熱手段を含んで構成されている。 （もっと読む）

組織位置付けデバイス（１０）が、組織標本（１００）を受容するための少なくとも一つの穿孔されたチャンネル（３０ａ−ｄ）を備えた穿孔された組織支持体（１２）と、処理及び包埋の間に組織標本を保持するために、チャンネルに沿ってチャンネル内に延びるように構成された複数のタブ（１８）とを備える。組織位置付けデバイス（２００）が、一つ以上の生検組織標本をその間に保持するための互いに結合された細長い脚部（２０４，２０６，２０８，２１０）を備える。関連する方法が、処理、包埋及びミクロトーム薄片化の間に組織標本を保持し位置づけるためのカセット（１２）及び位置付けデバイス（２００）を使用するステップを含む。
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【課題】本発明は、試料を取り外すことなく、試料を多方向から加工することを可能にする、集束イオンビーム加工装置と透過型電子顕微鏡に用いる共用試料ホルダーを提供することを課題とする。
【解決手段】試料ホルダー本体と、回転操作のための突起を有する円弧状回転台と、試料を搭載する試料台であって前記回転台の突起に嵌合するための穴を有する試料台と、前記試料ホルダー本体に装着された前記試料台を当該試料台の上から押さえる試料台押さえ手段と、前記試料台押さえ手段を試料ホルダーに固定する固定手段と、を少なくとも有すると共に、試料ホルダー本体に、ＦＩＢが入射する側の一部に形成されたＦＩＢ加工用の切り欠き部と、ＴＥＭ観察用の電子線通過穴と、該通過穴に沿った円弧状の溝と、が前記円弧状回転台を嵌合可能に形成されており、試料台押さえ手段によって、前記試料ホルダーに前記試料台を固定する試料ホルダーである。 （もっと読む）

【課題】厚さの均一性が高く、かつ、観察部位から所望の距離に真空領域を有する観察試料を作製することができる観察試料作製方法及び観察試料作製装置を提供する。
【解決手段】少なくともパターンが形成された構造部７１とパターンが形成されていない無構造部７２の２つの部分を有する加工対象試料７の無構造部７２側からＦＩＢを照射し、構造部７１と無構造部７２との界面を含む側面を加工して加対象試料７の構造を観察する観察対象面を形成し、観察対象面に沿う方向からＦＩＢを照射することにより加工対象試料７を加工する。 （もっと読む）

【課題】高コントラスト観察とライン分析による粒子内の組成分析を可能とし、コアシェル粒子を容易に同定する。
【解決手段】被検物であるコアシェル粒子を担体に担持する工程を含むことを特徴とするコアシェル粒子の分析法である。このコアシェル粒子の分析法には、更に、コアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡によりコアシェル構造であることを確認する工程、及びコアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡により組成分析する工程を付加することができる。 （もっと読む）

【課題】採血管などの試料容器を直立した姿勢で安定して保持しうる試料容器スタンドを提供すること。
【解決手段】試料を収容する円筒部を有する試料容器を直立状態で保持する試料容器スタンドＤであって、上記円筒部に接する接触部として突起６１ａ、１対の突起６２ａ、および１対の舌部先端６３ａがあり、これらの接触部の少なくとも１つが上記円筒部の周方向における位置が異なり、上記円筒部の軸方向における位置が異なる。 （もっと読む）

【課題】試料分析装置において、観察しようとする試料に形成されたデバイスに含まれるプラグや配線構造をはじめとする試料特定箇所に、単一または多数系統の外部電圧を印加し、デバイスをオン・オフさせたときの構造、組成、電子状態の変化を分析できるものにおいて、試料を自由に回転・傾斜させることを可能にする。
【解決手段】試料傾斜機構を備えた試料ホルダ本体を有する試料分析装置において、サンプルキャリアは、第一の固定部材と、第二の固定部材と、前記第一の固定部材と前記第二の固定部材とを接続する変型可能な接続部と、当該接続部上に形成され前記第一の固定部材と第二の固定部材とを導通させる単一または多数の配線構造と、を備える。前記試料傾斜機構を操作して傾斜角を調整し、試料ホルダ本体先端に設けた回転ピボットを中心に試料ホルダ本体を回して回転角を調整する。 （もっと読む）

【課題】鉛直方向へ移動させる移動手段を用いなくても蓋を開けることが可能であり、かつ、搬送時であっても試料が配置された密閉空間の気密性を確保可能な分析装置を提供する。
【解決手段】分析試料を保持する試料台、及び、試料台に保持された分析試料を少なくとも覆う蓋を備え、蓋によって覆われた空間が密閉され、密閉された空間内の圧力をＰ１、蓋を境に該空間と隣接する隣接空間の圧力をＰ２、とするとき、分析試料の分析が開始されるまでに、Ｐ２＜Ｐ１とされ、少なくとも圧力差Ｐ１−Ｐ２に起因する力Ｆを受けた蓋が動くことによって空間の密閉が解除されるように、蓋の質量が決定されている、分析装置とする。 （もっと読む）

【課題】本発明はイオン液体を用いた試料の処理方法及び処理システムに関し、大気中を搬送しても試料表面が大気に曝されないようにすることができるイオン液体を用いた試料の処理方法及び処理システムを提供することを目的としている。
【解決手段】イオンビーム加工装置等の真空中で試料２に加工処理を施し、加工処理が施された試料２にイオン液体を塗布し、イオン液体が塗布された試料２を電子顕微鏡等の予備排気室８に搬送し、該予備排気室８でイオン液体を除去し、該イオン液体が除去された試料２を電子顕微鏡本体で観察するように構成される。 （もっと読む）

【課題】半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。
【解決手段】FIB加工と、摘出試料の移送、さらには摘出試料の試料ホルダへの固定技術
を用いる。
【効果】分析や計測用の試料作製に経験や熟練技能工程を排除し、サンプリング箇所の決定から各種装置への装填までの時間が短縮でき、総合的に分析や計測の効率が向上する。 （もっと読む）