【課題】検出コイルの端面を探傷表面に対向させて配置する渦電流探傷試験装置において、検出コイルに挿嵌されるフェライトコアと凹形状の探傷表面との間隔であるリフトオフを適正値にするとともに、検出コイルの空間分解能を高めることができる渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】渦電流探傷プローブは、探傷対象に渦電流を発生させる励磁コイル４と、探傷表面に対して一方の端面を対向させて配置され、磁場を検出する検出コイル８と、検出コイル８の軸心として設けられる軸心部９ｂと検出コイル８の探傷表面に対向する端面より突出した突出部９ｂとを有する検出コイル用フェライトコア９と、検出コイル用フェライトコア９の突出部９ｂのうち、磁場進入面２２を除いた面に磁場絶縁部材１０を介して設けた磁場遮蔽部材１１とを備える。 （もっと読む）

【課題】工作物の加工変質層を高精度に検出することが可能な加工変質層検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】加工変質層検出装置１は、励磁電流により工作物２の内部に渦電流を誘導し、励磁電流の周波数に応じた浸透深さにおける透磁率を測定するセンサ１０と、深層部を浸透深さとする第一周波数（０．５［ｋＨｚ］〜１．０［ｋＨｚ］）と表層部を浸透深さとする第二周波数（５０［ｋＨｚ］〜１．０［ＭＨｚ］）を含む複数の周波数を設定した励磁電流をセンサ１０に供給する供給手段３１と、第二周波数により測定される第二透磁率が第一周波数により測定される第一透磁率より大きな値である場合に、工作物２に加工変質層が生じているものと判定する判定手段３２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】回転ヘッドを高速回転しても精度良く検査できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。
【解決手段】ボア２の内部を検査するセンサー１１と、センサー１１を支持し、このセンサー１１をボア２内に入れた状態でセンサー１１とともに回転駆動される回転ヘッド２１と、回転中のセンサー１１とボア２の内部表面との間の距離変動を抑えるべくボア２の内部表面に向かって気体を噴出するエアノズル５５とを備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の表面形状の違いやリフトオフの変動によって検出信号データにノイズ成分が重畳しても、そのノイズ成分を除去し、かつ予め測定している基準検出信号と、材質変化等の特性変化などの検出信号とを正確に比較することが可能な渦電流探傷装置および表示装置を提供する。
【解決手段】渦電流探傷装置において、検出信号が発生する領域を抽出する信号発生領域抽出手段と、検出信号から不要な検出信号の成分を補正する信号補正手段と、検出位置及び検出時間のうち少なくとも一方を座標とする座標系にて信号補正した検出信号データを構成する信号分布合成手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】マルチコイル式プローブの探傷条件の設定、探傷装置の性能確認及び点検を容易にする新たな渦電流探傷法およびこれに用いる対比試験片を提供する。
【解決手段】渦電流探傷法に用いるマルチコイル式プローブの探傷条件の設定等に、複数個のスリットを人工きずとして単一円筒管の全周方向及び軸方向にずらして配置した対比試験片、または螺旋溝を有する対比試験片および軸方向と直交する単一スリットを有する対比試験片を組み合わせて用い、マルチコイル式プルーブの各コイルを容易且つ正確に校正する。 （もっと読む）

【課題】渦電流探傷プローブの被検査体への密着性をリフトオフ量で評価する際に、その評価時に配置場所に欠陥がある場合、密着性を誤評価する可能性があるので、これを回避する。
【解決手段】渦電流探傷装置に接続された渦電流探傷プローブとしてマルチコイルプローブを用い、そのプローブを被検査体に当てて検出信号を各チャンネルごとに取得し、前記検出信号の隣接チャンネル間の差分電圧を演算して取得し、取得した差分電圧の各チャンネルの並び方向の分布を確認して、その分布の中にプラスのピークとマイナスのピークとの対が存在する場合にはリフトオフ量を測ることの場所として不適と判断して、場所を変えて再度同様なことを繰り返し、前述の分布の中にプラスのピークとマイナスのピークとの対が存在しない場合にはリフトオフ量で前述の密着性を判断するに適していると判定してその変更後の場所で密着性をリフトオフ量で評価する。 （もっと読む）

多重コイル開心又は空心インダクタである共振型インピーダンスセンサであって、少なくとも２つのコイルを含み、１つのコイルは、周波数掃引を行う少なくとも１つの別の電流源に接続可能な励振コイルであり、別のコイルは、少なくとも１つのデータ処理システムに接続可能な検知コイルであり、前記電流源に電気接続したとき、前記励振コイルは、エネルギーを前記検知コイルに伝播し、これによってプロービング電磁場が発生し、前記検知コイルのＬＣＲパラメータが、所定の周波数における被試験物体のインピーダンスを測定するための共振条件を提供することができる共振型インピーダンスセンサ。 （もっと読む）

【課題】凹形状の磁気感応部の対向二辺それぞれに共振型のコイルを組み込んでも対向二辺の間隙での感度が良く且つ電子回路の規模が小さい金属異物検知装置１０を実現。
【解決手段】感応部３２，３３を対向二辺とする凹形状の磁気感応部３０と、第１感応部３２に同心配置された主コイル３２ａ及び副コイル３２ｂと、第２感応部３３に同心配置された主コイル３３ａ及び副コイル３３ｂと、主コイル３２ａ，３３ａをインダクタンス部分とする共振回路４２と、副コイル３２ｂ，３３ｂの惹起信号に基づいて金属異物の検出と判定を行う検出判定回路４３〜４６とを備え、主コイル３２ａ，３３ａ同士が直列接続されて両コイル間の磁束を加増させる向きに配置され、副コイル３２ｂ，３３ｂ同士も直列接続されて両コイルの起電力を加増させる向きに配置されている。 （もっと読む）

【課題】部品の表面硬化深さを検査する多周波渦電流（ＭＦＥＣ）検査システムを提供する。
【解決手段】ＭＦＥＣ検査システムは、多周波励起信号を発生するように構成された発生器と、部品の一方の側に配設されるように構成された渦電流プローブとを具備する。渦電流プローブは、ドライバ及びピックアップセンサを具備する。ドライバは、多周波励起信号を受信して、部品中に渦電流を誘導するように構成される。ピックアップセンサは、部品の局所領域内で誘導された渦電流を検出して、多周波応答信号を発生するように構成される。ＭＦＥＣシステムは、多周波応答信号を受信して、部品の局所領域の表面硬化深さを判定するために処理を行うように構成されたプロセッサを更に具備する。パルス渦電流検査システム及び渦電流検査方法も提示される。 （もっと読む）

【課題】小形化、感度の向上および低コスト化を実現しつつ幅広い用途で使用可能な磁気検出センサを提供する。
【解決手段】フラックスゲート型の磁気検出素子１１と、交流電流Ｉｈを出力する交流電流出力部１２と、磁気検出素子１１に対して交流電流Ｉｈが供給されている状態において磁気検出素子１１から出力される電圧信号Ｓｖを検出する検出部１３とを備え、磁気検出素子１１は、導電体で形成されて交流電流Ｉｈの供給によって励磁用の磁界Ｈｅを発生する線状の励磁用電極２１と、励磁用電極２１とは別体に形成されると共に励磁用電極２１の近傍に配置されて磁界Ｈｅによって励磁される線状の軟磁性体２３と、励磁用電極２１および軟磁性体２３の近傍に配置されて磁界Ｈｅの強度および磁気検出素子１１に印加される外部からの磁界Ｈｅの強度に応じた電圧信号Ｓｖを出力する検出コイル２４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】外径が変化する検査対象物であっても測定部位に関わらず高い検査精度で検査することができるため、外径が大きく変化するような高周波焼入れ部品を検査する場合であっても焼入れ深さ／硬度測定試験に適用することが可能な、渦流式検査装置、及び、渦流式検査方法を提供する。
【解決手段】励磁コイル４１・４２・４３と検出コイルブロック３１・３２・３３が内部に配設された３個のリング状渦流センサ２１・２２・２３と、リング状渦流センサ２１・２２・２３に電気的に接続されるセンサ本体１１とを備える渦流式検査装置１０であって、リング状渦流センサ２１・２２・２３のうち測定部Ｒを形成する部分の検出コイルブロック３１・３２・３３が前記誘導磁場を検出する構成とした。 （もっと読む）

【課題】被検査体の多様な直径に対し互換可能にするとともに、多様な探触子を着脱式探触子を備えて多様な検査を実行する着脱式探触子を備えた検査装置を提供する。
【解決手段】管状被検査体を検査するための検査装置１０であって、柱の一側または両側に長手方向に延びるガイド溝１０１を備えたフレーム１００、フレームの先端に設置されるカメラモジュールを含むヘッド部、ヘッド部に結合され、外面に多数のブラケットが形成された第１本体部、第１本体部の後面に設けられ、多数のホールを備えるプレート、プレートのホールに挿設される照明モジュール部、フレームに嵌合し、外面に多数のブラケットが形成された第２本体部、第１本体部と第２本体部の間に介設されるコイルスプリング、第１本体部及び第２本体部の外面に形成されたブラケットにリンクで連結され、管状被検査体の管径に対応するように形成されたリンク部を含む。 （もっと読む）

【課題】Ｎ個の導電板を積層した導電板（積層導電板）からなる励磁素子と磁束検出素子を備えた渦電流探傷プローブにおいて、導電板が１個のときのＮ倍の励磁磁束を発生すること。
【解決手段】図１（ａ１），（ａ２）の長さＬ、幅Ｗ、厚みｔの導電板Ｄと同じ導電板Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を、絶縁材Ｓを介して図１（ｂ）のように積層して積層導電板ＤＳを形成する。導電板Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３は、励磁電流ｉ１，ｉ２，ｉ３の方向が同じになるように直列に接続してある。積層導電板ＤＳは、図１（ｃ）のように、長尺の導電板ＤＬ１を積層して積層導体板ＤＬＳを形成し、その積層導体板ＤＬＳ上に検出コイル２１を複数個一列に配置してもよい。 （もっと読む）

【課題】渦電流探傷プローブの励磁素子に導電板を用いた渦電流探傷装置において、励磁電流供給用増幅器の励磁電流を小さくし、導電板の励磁電流を大きくすること。
【解決手段】ステップダウン型のトランスＴｒの一次巻線に励磁電源２１、増幅器２３を接続し、二次巻線に励磁素子用の導電板２２ａを接続してある。一次巻線を流れる電流ｉ１、二次巻線を流れる電流ｉ２は、ｉ１＜ｉ２、一次巻線の電圧ｖ１、二次巻線の電圧ｖ２は、ｖ１＞ｖ２となる。したがって増幅器２３の励磁電流は、小さくなり、導電板２２ａの励磁電流は、大きくなる。検出コイル２２ｂは、被検査体のキズに起因して発生するキズ信号を検出する。 （もっと読む）

【課題】高感度でかつ小形化が可能な利点を生かしつつ幅広い用途で使用可能な磁気検出センサを提供する。
【解決手段】非晶質材料で形成された検出電極１１と、導電性材料で形成されて検出電極１１に近接して配置された励磁用電極１２と、励磁用電極１２に対して交流電流Ｉｈを供給する交流電流出力部１３と、励磁用電極１２に対して交流電流Ｉｈが供給されている状態における検出電極１１の両端部間の電位差Ｖｄを検出する検出部１４とを備えている。この場合、検出電極１１および励磁用電極１２を直線的な線状にそれぞれ形成すると共に、互いに平行またはほぼ平行となるように配置する。 （もっと読む）

【課題】導電板からなる励磁素子と磁束検出素子を備えた渦電流探傷プローブにおいて、導電板、磁束検出素子の配置や導電板の接続の仕方を変えることにより検出信号を大きくして検出感度を高くすること。
【解決手段】図１（ｂ）の長さＬ、幅Ｗ、厚みｔの導電板Ｄを３分割して、図１（ｃ１）、（ｃ２）のように導電板Ｄ１，Ｄ２を平行に配置し、導電板Ｄ１，Ｄ２の間を覆うように検出コイル２１を配置してある。図１（ｄ１）は、導電板Ｄ１，Ｄ２を並列に接続し、図１（ｄ２）は、導電板Ｄ１，Ｄ２を励磁電流ｉ１，ｉ２の方向が同じになるように直列に接続してある。導電板Ｄ１，Ｄ２は、夫々複数の導電板を積層し、直列に接続して積層した導電板にすることもできる。 （もっと読む）

本発明は、放射部と受信部を備え、凹面または凸面構造中の少なくとも１つの欠損を検出するための装置に関するものであって、前記装置において、前記放射部は、影響が最小限にされるべき欠損と同一の方向に沿っておおよそ配向した電流を生成することを可能にする少なくとも一つの導電層（２０，２１）を備え、前記受信部は、フレキシブルな支持体上に付加またはエッチングされた、少なくとも１つの磁場レシーバ（２８）を備える。
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【課題】 検出コイルの面積を大きくすることなく、検査対象物全体の検査時間を短縮する。
【解決手段】 検出コイルを含み、当該検出コイルによって検出される磁界に応じた測定磁界データを出力する磁気センサと、検査対象物表面の、前記検出コイルより面積が大きい領域からの磁界を前記検出コイルに集束する磁界集束部と、前記測定磁界データに基づいて、前記検査対象物表面からの磁界を求めるデータ処理部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】工作物の加工変質層を高精度に検出することが可能な加工変質層検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】工作物２の検査表面の幅Ｗ１よりも検出幅Ｗ２が小さいセンサヘッド１２を有し、検査表面の加工変質層に応じた信号を出力するセンサ１０と、センサヘッド１２が検査表面に対して複数回の走査を行うように工作物２とセンサ１０を相対移動させる移動手段１５ａ，２０と、センサ１０の出力信号に応じた表示属性を記憶している表示属性記憶手段３１と、センサ１０による出力信号および表示属性に基づいて、検査表面に対応する加工変質層分布図を表示する表示手段３０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】被検体の欠陥深さを正確に特定することができる被検体の欠陥評価方法を提供すること。
【解決手段】被検体に交流磁界を印加することにより渦電流を発生させ、前記渦電流の変化をセンサで検出することによって、前記被検体の欠陥を評価する欠陥評価方法であって、被検体の欠陥の両端部に生ずる第１振幅信号よりも外側に生ずる第２振幅信号を検出する第２振幅信号検出工程と、欠陥深さを横軸とし第２振幅信号を縦軸とした二次元座標上に、欠陥深さが既知である被検体の第２振幅信号の数値データを記入することで得られる評価線を準備する評価線準備工程と、前記評価線と、前記第２振幅信号検出工程により検出される前記第２振幅信号とに基づいて被検体の欠陥深さを決定する欠陥深さ決定工程とを有する。 （もっと読む）