【課題】ラベルすることなく非侵襲的な方法で細胞の膜電位の変化を検出することが可能な膜電位変化検出装置および膜電位変化検出方法を提供する。
【解決手段】膜電位変化検出装置１は、反射干渉計測用光源１０６と、細胞１０１が載置された透明部材１０２ａを保持する保持部１０３と、反射干渉計測用光源１０６から放射され、透明部材１０２ａを介して細胞１０１から反射される光を撮像することにより、反射干渉画像を生成する反射干渉検出用カメラ１１０と、反射干渉画像から細胞１０１と透明部材１０２ａとの接着に関するパラメータｄＩを算出し、当該パラメータｄＩの変化に基づいて細胞１０１の膜電位の変化を検出する解析部２０２と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】パルス面を傾斜させたポンプ光パルスを非線形光学結晶に入射させてテラヘルツ波を発生させる場合にテラヘルツ波の強度分布の不均一化を抑制することができるテラヘルツ波発生装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波発生部２５Ａは、４個の結晶１１１〜１１４が組み合わされて構成されている。ポンプ光パルスＰの主光線に平行であってパルス面Ｓ_４に垂直な断面において、出射面２５ｂからのテラヘルツ波Ｔの出射方向に平行な二辺を有する平行四辺形であってポンプ光パルスＰが通過する特定領域に、テラヘルツ波を発生させる第１結晶１１１が設けられ、この特定領域以外の他の領域に、テラヘルツ波を発生しない第２結晶１１２〜１１４が設けられている。 （もっと読む）

【課題】複数の受光素子からなるラインセンサのＥＶＥＮ出力信号とＯＤＤ出力信号との間に生じる強度のズレに起因するノイズを低減させることができる信号処理方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ＣＣＤイメージセンサ１２０によって得られた受光信号に基づいて光源からの出力光の強度に相当する背景成分の強度情報とノイズ成分の強度情報を求め、背景成分の強度情報とノイズ成分の強度情報に基づいて補正量の大きさを算出し、補正量の大きさに基づいて補正係数を算出する。その補正係数に基づいて複数の群による受光信号間の強度のズレ補正を行う。 （もっと読む）

【課題】非侵襲的手法及び侵襲的手法の双方の欠点を解消した近赤外分光分析装置を提供する。
【解決手段】数値シミュレーションで作成したシミュレーションスペクトルからなるスペクトルデータセットを作成し、試料を実測して得られる実測スペクトルから定めた基準スペクトルに対する類似性を向上させるように、シミュレーションスペクトルに対して変換操作を行い、変換操作によってシミュレーションスペクトルから得られた変換スペクトルによる変換スペクトルデータセットを作成し、変換スペクトルデータセットを多変量解析することによって検量モデルを作成し、検量モデルを用いて、目的とする成分濃度の定量を行う。 （もっと読む）

【課題】試料ガス中における測定対象成分の分子数密度をその分子数密度に関して広いダイナミックレンジで測定することができるようにする。
【解決手段】波長可変レーザ装置６への駆動電流を変調周波数ｆａで変調させる変調部１６を備えている。試料セル２内を通過させたレーザ光を検出する受光部８からの信号を処理する信号処理部として、周波数２×ｆａの信号を抽出する第１信号処理部１８と周波数がｆａ未満の信号を抽出する第２信号処理部２０を備えている。演算部２２はこれらの信号処理部１８，２０からの信号に基づき、測定対象成分の分子数密度が高調波同期検出法を適用することができる低い分子数密度であるときは第１信号処理部１８からの信号に基づいて高調波同期検出法を用いた演算を行ない、測定対象成分の分子数密度が高調波同期検出法を適用することができない高い分子数密度であるときは直接吸収スペクトル法を用いた演算を行なう。 （もっと読む）

【課題】ガラス製の部材やプラスチック製の部材の品質安定化のためには、屈折率の分布を高精度に測定する必要があるが、従来の測定方法では、破壊検査であったり、有毒物を使用したり、平面でしか測れないといった課題がある。
【解決手段】光センサで得られた干渉信号に基づいて、被検物なしの基準反射面と、被検物の表面と、被検物の裏面と、被検物を透過後の基準反射面および被検物の手前で集光し平行光で反射する基準反射面の少なくとも一方との、それぞれの距離を測定し、これらの測定距離に基づいて被検物の屈折率を算出する。 （もっと読む）

【課題】正確な歯牙咬合面の撮影を可能とし、歯牙咬合面う触の的確な診察を可能とする歯牙咬合面撮影用ＯＣＴ装置を提供する。
【解決手段】光源１１０と、シース１５０及びプローブ本体１３１を有するＯＣＴプローブ１４０と、導光手段と、画像表示部１２５とを備え、プローブ本体１３１は、光を観察対象２００である歯牙咬合面に射出してその反射光を導光手段に掃引し、この反射光に基づく画像を画像表示部１２５に表示する。ＯＣＴプローブ１４０は、プローブ本体１３１を回転駆動させる回転手段と、プローブ本体１３１をシース１５０内にて前後に移動させる移動手段とを有する。ＯＣＴプローブ１４０を水平に移動させる水平移動手段及び垂直に移動させる垂直移動手段を有する。 （もっと読む）

【課題】データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による３次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。
【解決手段】顕微鏡１００において、試料４を定置に保持することができ、照明光路２と検出光路５とには、この両光路２，５を試料近傍領域において摺動させる装置２４，２６が設けられている。この装置２４，２６は例えば、それぞれ１つの傾動可能な鏡を有しているビーム変向ユニットであって良い。両ビーム変向ユニット２４，２６は、その運動を互いに適合させるために１つの制御装置２８の制御下にある。これにより、試料４の、その時点で対象物照明領域２０´によって照射される領域が常に、検出光路５によって検出器８に結像されることが保証される。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光を用いて被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置に関して、使用者の利便性の観点から、測定光ごと（あるいは光干渉断層画像ごと）に制御性を良くすることが望まれる。
【解決手段】 本発明に係る撮像装置は、被検査物の交差画像（複数の測定光を被検査物に照射する方向に対して交差する方向の画像のこと。）における複数の測定光の走査範囲をそれぞれ示すように表示手段に表示させることができる。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプル８６に提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンス８２に提供する少なくとも１つの第１アレンジメントであって、前記第１電磁放射線または前記第２電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数が経時変化するものと、前記第１または第２電磁放射線の少なくとも１つの周波数をシフトし、前記干渉のマイナス周波数成分を少なくとも部分的に減縮し，区分し，または，無くすように構成された少なくとも１つの第２アレンジメントと、前記第１電磁放射線と第２電磁放射線を干渉させ、それで干渉信号を生成する干渉計と、前記第１電磁放射線と第２電磁放射線の間の干渉を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、を備える。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】少なくとも１つの第１電磁放射線をサンプル３２８に提供すると共に、少なくとも１つの第２電磁放射線をリファレンス３１６に提供し、該提供された放射線の周波数が経時変化する少なくとも１つの第１アレンジメントと、前記第１または第２電磁放射線の少なくとも１つの偏光を時間について変調する少なくとも１つの偏光変調器と、第１偏光状態において前記第１放射線と関連した少なくとも１つの第３放射線と、前記第２放射線と関連した少なくとも１つの第４放射線の間の第１干渉信号を検出する少なくとも１つの第２アレンジメントと、第２偏光状態において前記第３放射線と前記第４放射線の間の第２干渉信号を検出する少なくとも１つの第３アレンジメントと、を備え、前記第１及び第２偏光状態は、互いに異なっている。 （もっと読む）

【課題】 複数の測定光を用いて被検査物の複数の断層画像を生成する場合に、断層撮像装置内の光学系により生じる断層画像間の相違を目立ちにくくすることを目的とする。
【解決手段】 本発明は、複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光の信号から、前記被検査物の断層画像を取得する断層撮像装置であって、前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得するセンサと、前記センサ上における前記複数の合成光それぞれの分布特性を取得する取得手段と、前記分布特性を用いて、前記複数の合成光の信号を補正する補正手段と、前記補正された前記複数の合成光の信号から、前記被検査物の断層画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 眼底断層像と前眼部断層像の両方を鮮明に撮影可能にする。
【解決手段】 光源部から出射された光束を測定光束と参照光束に分け、測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系と、測定光束の進行方向を変える光スキャナと、受光素子から出力される受光信号を処理して被検眼の所定部位の断層像を取得する制御手段と、を備える眼科撮影装置において、光源部は、被検眼の眼底断層像を得るために設けられた第１波長光を発生する第１の光源と、被検眼の前眼部断層像を得るために設けられた第２波長光を発生する第２の光源と、を有し、制御手段は、第１の光源を制御し、第１の光源による第１波長光を用いて被検眼の眼底断層像を取得する一方、第２の光源を制御し、第２の光源による第２波長光を用いて被検眼の前眼部断層像を取得する。 （もっと読む）

【課題】従来技術とは異なる手法によってテラヘルツ時間領域分光法を行い、テラヘルツ波の時間波形に関する情報を取得するための装置の提供。
【解決手段】テラヘルツ波が発生部11で発生してから、このテラヘルツ波の波形情報として検出部12で検出されるまでの時間を変えるための遅延部14を有する。遅延部14は、発生部11により発生したテラヘルツ波の伝播距離を変えるように構成される。発生部11により発生したテラヘルツ波ごとに、検出部12で検出されたテラヘルツ波の波形情報と伝播距離とを関連付ける。電磁波発生位置で発生する電磁波のパルスを発生させるタイミングを決めるパルス周波数と、電磁波検出位置に伝播してきた電磁波を取り込むタイミングを決めるサンプリング周波数との比がn:1（nは1以上の自然数）になっている。 （もっと読む）

【課題】低コヒーレンス干渉測定および光コヒーレントトモグラフィの光源の有用度と走査速度の欠点の克服を図る。
【解決手段】組織の構造及び組成のうち少なくとも１つと関連した特定データを求めるシステムであって、所定の手法を実行するとき、ａ）サンプル８６から得られた少なくとも１つの第１電磁放射線と、リファレンス８２から得られた少なくとも１つの第２電磁放射線から形成される干渉信号と関連した情報を受け取り、ここで、前記第１電磁放射線と第２電磁放射線のうち少なくとも１つの周波数をシフトさせ、ｂ）前記情報をサンプル化し、それで、サンプル化データを第１フォーマットで生成し、ｃ）前記サンプル化データを第２フォーマットの特定データに変換する［ここで、第１フォーマットと第２フォーマットは互いに異なる］ように構成された処理アレンジメントを備える。 （もっと読む）

【課題】 干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像を取得する。
【解決手段】 光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き，参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、被検物上でＸ−Ｙ方向に測定光束を走査させるために測定光束の進行方向を変える光スキャナと、干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し，スペクトルに含まれる干渉信号を変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、被検物上で測定光がＸ−Ｙ方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し，スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のＸ―Ｙ方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備える。 （もっと読む）

【課題】 分光光学系で光学部材の位置ずれが生じても、信頼性の高い断層画像や光学表面プロファイルを得る。
【解決手段】 低コヒーレント長の光の一部を測定光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし，該参照光と前記測定光の反射光とを合成し，干渉させる干渉光学系と、該干渉光学系によって得られた干渉光を各周波数成分に分光し，分光された干渉光を受光手段に受光させる分光光学系と、該受光手段からの受光信号に基づいて被検眼の画像情報を取得する眼科装置において、該受光手段から出力される受光信号に基づいて、前記受光手段と，前記分光光学系に設けられた該受光手段以外の他の光学部材と，の相対的な位置関係を調整する調整手段を備える。 （もっと読む）

【課題】 キャビティリングダウン分光計およびプロセッサを含むシステムが提供される。
【解決手段】 該分光計は、電磁スペクトルのテラヘルツ領域における１つ以上の選択可能な送信周波数の各々で変調済み連続波電磁信号をキャビティ共振器に通過させるように構成されている。該分光計は、該キャビティ共振器によって、該キャビティ共振器の単一共振モードを励起するように構成されている送信機を含む。該プロセッサは、該変調済み電磁信号の該通過部分の測定値を受信し、該測定値に基づいて該変調済み電磁信号の位相シフトを決定するように構成されている。該プロセッサは、該位相シフトの関数として該キャビティ共振器のリングダウンタイムを計算するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層診断装置において、不必要な情報の記録を低減する。
【解決手段】装置内部で光源から出力された光を測定光と参照光に分割し、体内に挿入されたプローブを介して体腔内に前記測定光を出射することにより得られた反射光と前記参照光とから得られる干渉光に基づいて断面画像を形成する光干渉断層診断装置は、プローブの先端部に設けられ、測定光を出射するとともに反射光を受光する送受信部を、回転及び軸方向移動させ、取得された反射光と参照光との干渉光から断層像に対応したデータを生成し、保持する。光干渉断層診断装置は、送受信部の軸方向移動の間に、プローブを導くためのガイディングカテーテルの内部に送受信部が入ったことをデータを用いて検出し、これが検出された場合は、光干渉に基づいた断層像の生成から保持に関わる処理の少なくとも一部、例えばデータの保持動作及び／またはフラッシュ動作を行わないように制御する。 （もっと読む）