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Fターム[2G059LL01]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学系の特徴及び補助機能 (1,276) | 光軸合せ、焦点合せ、位置合せ、光路長設定 (719)

Fターム[2G059LL01]に分類される特許

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【課題】検者による確認時間を短くして、診断の効率を向上させること。
【解決手段】測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する眼科装置を有する眼科システムであって、前記複数の断層画像をそれぞれ連続的に表示する際、該複数の断層画像の表示枚数に基づいて断層画像の表示時間を変更する。 (もっと読む)


【課題】被写体の歯番を入力する手間を低減して被写体の画像をファイル管理する。
【解決手段】OCT装置(歯科用光干渉断層画像生成装置)のOCT制御装置100は、患者ファイル121を作成するファイル作成処理手段160と、歯番と歯列弓の位置とを対応付けた歯牙位置情報124と患者ファイル121とを記憶する記憶手段120とを備え、ファイル作成処理手段160は、患者毎に歯列弓と歯牙一覧表とを一画面に表示させ、歯列弓から歯牙が選択された場合、当該歯牙の歯番を記録すると共に、画面に歯列弓と同時に表示している歯牙一覧表に対応付ける入力支援処理手段161と、撮影後に表示された画面において、歯列弓側から歯牙が選択された場合には、表示中の患者ファイル一覧表からファイルを抽出して表示し、一方、患者ファイル一覧表側から歯番が選択された場合には、歯列弓から歯牙を抽出して表示する撮影部位確認表示処理手段162とを備える。 (もっと読む)


【課題】小型かつ薄型で、測定精度の高い簡易な構成の赤外線ガスセンサを提供すること。
【解決手段】本発明の赤外線ガスセンサは、赤外光を含む光を発する赤外光源1と、この赤外光源1からの赤外線を受ける赤外線センサ5と、この赤外線センサ5上に配置された特定の波長を通すバンドパスフィルタ7と、赤外光源1と赤外線センサ5とを支持する基板2と、赤外光源1と赤外線センサ5とを覆うドーム型筐体9とを備えている。赤外線センサ5の受光面の視野内に赤外光源1の発光面はなく、赤外光源1から発した光は、ドーム型筐体9の内面に反射して赤外線センサ5に入射するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 撮影条件を好適に調整し、眼底断層像を取得する。
【解決手段】 光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、眼底から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、測定光を眼底上で走査させる光スキャナと、光路長を調整するために配置された光学部材を駆動させる駆動手段と、を備え、検出器からの出力信号に基づいて眼の断層画像を撮像する眼底撮影装置において、駆動手段を制御して光学部材を移動させると共に、光学部材の各位置にて検出器から出力される出力信号に基づいて,眼底断層像が取得される位置に光学部材を移動させる第1光路長調整手段と、第1光路長調整手段によって調整された位置から光学部材の位置を再調整する第2光路長調整手段と、第1光路長調整手段と第2光路長調整手段の間に干渉光学系を調整する光学調整手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】撮影後に撮影の成否確認が行えるようにする。
【解決手段】走査光学系を介して被測定物体に照射された光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づいて被測定物体の複数の断層画像を生成する生成部301と、複数の断層画像の少なくともいずれかに対して画質を向上させる画像処理をする画像処理部304と、生成部301で生成した断層画像のいずれかを表示した後に画像処理部304で画像処理した画像をモニタ320に表示する表示制御部310と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 調整時間が不要に長くなることを防ぐ
【解決手段】 本発明に係る眼科システムは、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼の眼底の合焦位置を変更する合焦位置変更手段と、
前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
前記光路長差が所定の範囲になるように前記光路長差変更手段を制御した後に、前記合焦位置変更手段への変更指示を受け付ける制御手段と、を有する。 (もっと読む)


【課題】光励起によりテラヘルツ波を発生、検出する素子において低温成長半導体の歪みや欠陥がテラヘルツ波発生効率などを制限していた点を解決した光伝導素子等を提供する。
【解決手段】光伝導素子は、半導体低温成長層14を有し、半導体低温成長層14と半導体基板10との間に位置し且つ半導体低温成長層14よりも薄い半導体層11、12、13を有する。半導体低温成長層14は、半導体層11、12、13と格子整合し半導体基板10と格子整合しない半導体を含む。 (もっと読む)


【課題】 光干渉断層診断装置において、光プローブ部内の光学ミラー部の回転速度に関する誤操作を起こりにくくし、且つ、操作性に優れたスキャンを行うことを可能にする。
【解決手段】 光干渉断層診断装置は、ラジアルスキャンを指示するスイッチの操作を検出すると、光プローブの先端の光学ミラー部を1800rpmの速度で回転駆動し、その速度で血管断層像の測定と表示を行う。また、9600rpmでの回転駆動を指示するプルバックスイッチは、そのスイッチ操作が行われる時点で既に1800rpmで光学ミラー部が回転している場合に限って、有効と判断される。 (もっと読む)


【課題】被写体の所望の断層画像を高速に取得すること。
【解決手段】OCT装置(光干渉断層画像生成装置)1のOCT制御装置100は、レーザ光に同期してガルバノミラー33を制御することで撮影を行うと共にディテクタ23の検出信号を変換したデータから被写体のOCT画像(光干渉断層画像)を生成する制御を行うものであって、被写体の内部情報を測定するためにガルバノミラー33にサンプルSの撮影対象範囲を所定ピッチで走査させる測定指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を開始し、所定ピッチに応じた撮影時間で撮影を終了する第1撮影制御手段141と、ガルバノミラー33に撮影対象範囲を前記所定ピッチよりも粗いピッチで走査させるプレビュー指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を開始し、プレビュー指示を解除する指示として前記測定指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を終了する第2撮影制御手段142とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定の感度向上と確からしさの向上をもたらすCD測定装置及び方法を提供すること。
【解決手段】円二色性測定装置は、直線偏光の互いに直交する2つの偏光成分間の位相差(δ)を変調して、長軸方向の一致する扁平率の大きい左右の楕円偏光を交互に形成する楕円偏光変調手段と、被測定試料を透過した前記左右の楕円偏光から短軸方向の偏光成分を取り出して、該偏光成分の強度変化を測定する偏光強度測定手段と、前記強度変化の直流成分(DC)、および、前記位相差の変調に同期する前記強度変化の交流成分(AC)をそれぞれ抽出して、該交流成分および該直流成分の比(AC/DC)に前記位相差の変調振幅(δ)を掛けた値を算出して、被測定試料の円二色性を取得する演算手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被観察物に応じた好適な検出が可能な観察を実現する。
【解決手段】入射した光を第1の参照光と第1の測定光とに分岐する第1の分岐手段3と、被観察物に対して第1の測定光を斜入射照明する第1の照明光学系と、斜入射照明された被観察物からの透過光と第1の参照光とを合成する第1の合成手段4と、第1の参照光と被観察物からの透過光との第1の干渉光を検出する第1の検出手段16とを備えた透過型観察装置と、入射した光を第2の参照光と第2の測定光とに分岐する第2の分岐手段4と、被観察物に第2の測定光を照明する第2の照明光学系と、第2の参照光と被観察物からの反射光とを合成する第2の合成手段4と、第2の参照光と被観察物からの反射光との第2の干渉光を検出する第2の検出手段16とを備えた反射型観察装置とを備える。 (もっと読む)


【課題】表面に凹凸を有する検査対象物の光沢を検査することができる外観検査方法を提供する。
【解決手段】傾斜面12を有する凹凸が表面に形成された検査対象物Bの光沢を検査する外観検査方法である。前記検査対象物Bの表面から離間した位置に、光源3と受光器2とを前記検査対象物Bの表面からこの順で配置し、前記受光器2から前記検査対象物Bの表面に前記光源3を投影した位置を基準として前記検査対象物Bの表面の対称な位置を二つの検査領域B1、B2とし、前記光源3から前記検査対象物Bの表面に光L1、L2を照射し、前記二つの検査領域B1、B2からの反射光L3、L4を前記受光器2で受光し、前記受光器2で受光した反射光L3,L4から得られる前記各検査領域B1、B2の測定値を比較して前記測定値の差が所定の閾値以下か否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】測光装置および測光方法において、測定可能波長領域の全域にわたって測定精度を向上することができるようにする。
【解決手段】測光装置は、蓄積時間を変えて1次元撮像素子を駆動する制御回路13と、光強度データを取得するデータ取得部102と、未飽和蓄積時間を蓄積時間に設定した際に、データ取得部102が取得した被測定試料および基準試料による光強度データから最大光強度を求めて、最大光強度をN分割(ただし、Nは2以上の整数)した光強度範囲に対応するN群の分割波長領域を設定する波長領域分割部103と、N群の分割波長領域ごとに異なる蓄積時間を設定する蓄積時間設定部104と、被測定試料および基準試料からの測定光の光強度データを用いて、N群の分割波長領域ごとに、光強度データの比率を求めて被測定試料の相対測光値を算出する相対測光値算出部105と、を備える。 (もっと読む)


【課題】音響センサおよび音響センサの製造方法を提供する。
【解決手段】音響センサは、少なくとも1つのフォトニック結晶構造と、この少なくとも1つのフォトニック結晶構造に光学的に結合された端部を有する光ファイバとを含む。音響センサはさらに、上記少なくとも1つのフォトニック結晶構造および光ファイバに機械的に結合された構造部分を含む。上記少なくとも1つのフォトニック結晶構造、光ファイバおよび構造部分は、音響センサの周波数応答が音響周波数の範囲内で全体的に平坦となるように、ある体積を有する領域と実質的に境をなす。 (もっと読む)


【課題】固体の被測定物に関する光学定数を精度良く計測することができる全反射分光計測方法を提供する。
【解決手段】全反射分光計測装置1を用いた全反射分光計測方法は、プリズム31の全反射面31cの上に被測定物34を配置し、内部全反射プリズム31を通って全反射面31cで全反射したテラヘルツ波に基づいて、被測定物34に関する光学定数を計測する全反射分光計測方法であって、少なくとも全反射面31cと被測定物34との間に、被測定物34が不溶性を示す液体50を介在させる。この液体50と被測定物34との間に働く接着力等の力により、被測定物34を全反射面31cに近接させることが可能となり、エバネッセント成分と被測定物34との相互作用を安定して生じさせることができる。 (もっと読む)


【課題】試料とATRプリズムとの圧着と離間を繰り返すことなく、しかも安価にATRマッピング分析を行うことができるATRマッピング方法及びATRマッピング装置を提供する。
【解決手段】本実施例の赤外線検出部9は、結像光学系の結像面に受光部151が配置された赤外線検出器15と、結像面に平行に赤外線検出器15を移動させることにより、結像面上で受光部151を移動させる検出器移動機構16と、を備える。受光部151がある結像面では、試料とATRプリズムとの接触面の像が結像光学系の倍率に従い、拡大されて結像する。受光部151は、この拡大された像全体を網羅するように移動し、結像面上の接触面の像を走査することで、マッピング測定を行う。 (もっと読む)


【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】眼底からの戻り光と参照ミラーからの戻り光を光干渉させて眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、断層像を取得し、取得した断層像を含む画像を表示装置の画面に表示させ、断層像が画像の上端、下端のいずれか一方にかかる場合に警告表示する。 (もっと読む)


【課題】光路長を補正して吸光度の測定精度を向上させる光学的測定装置を提供する。
【解決手段】光源8からの光が、測定槽1内の反応液を透過する透過光量を測定する第1の受光部15と、この第1の受光部15で測定した透過光量より液体試料の濃度を計算する計算部16と、測定槽1内の反応液内を進行する、光源部19からの光の光路長を測定する光路長測定部20を設けるとともに、この光路長測定部20が測定した光路長に基づいて、液体試料の濃度を補正する補正部18とを備える。 (もっと読む)


【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】 光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、眼底における二次元の計測範囲の中央部及び対向する端部の位置の断層像を取得し、取得された断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる。 (もっと読む)


【課題】 追尾機能を有する光断層像撮像装置において、断層像を取得するときに適切な走査の制御をすることができる。
【解決手段】 本発明の光断層像撮像装置の制御方法は、被検眼の眼底画像を撮像する眼底画像撮像部と、被検眼の断層画像を撮像する断層像撮像部とを有し、眼底画像において、予め取得した複数の特徴領域と一致する座標の値を計算する工程、複数の座標の値の間における空間変化を計算する工程、及び計算結果に基づき、断層画像を取得するための断層像撮像部による測定光の走査を制御する工程、を有することうを特徴とする。 (もっと読む)


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