Fターム[2G061CB01]の内容

機械的応力負荷による材料の強さの調査 | 試験片、形状、構造及び部分、部品 | シート状

Fターム[2G061CB01]に分類される特許

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板状材料の破断ひずみ特定方法


【課題】伸びフランジ成形を行う際にフランジ端部に発生する破断ひずみを正確に特定することができる方法を提供する。
【解決手段】板端部に切欠き6が形成された板状試験片1をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。荷重印加時に発生する板端部から内部へのひずみ勾配と、板端部に沿うひずみ集中とを変えた2種類以上の板状試験片1を用いてデータを収集し、破断ひずみをひずみ勾配とひずみ集中との関数あるいはひずみ勾配とひずみ集中とのマップとして特定する。


破断予測方法、破断予測システム、プログラム及び記録媒体


【課題】比較的簡素な構成により、金属材料からなる薄板の破断限界線を用いた正確な破断予測を可能とする。
【解決手段】試料の板厚中心における第1の破断限界線を取得し、試料に曲げ変形を与え、破断が発生した際の表面歪量を算出し、破断が発生した際の表面歪量と、第1の破断限界線における平面歪量との差分値を算出して当該差分値を第1の破断限界線に加算して第2の破断限界線を取得し、薄板の表面歪量を算出し、算出された薄板の表面歪量に基づき、第2の破断限界線を基準として薄板の破断の有無を予測する。


二軸引張試験装置


【課題】1台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。
【解決手段】第一軸S1及び第二軸S2の交点においてこれら第一軸S1及び第二軸S2に直交する回転軸線Oを中心として回転するピニオンギア151を有し、第1把持部材16、第2把持部材26、第3把持部材36、第4把持部材46が、それぞれピニオンギア151に歯合されており、第1ラックギア10を駆動させて第1把持部材16を第一軸S1の一方側に向けて移動することにより、第2把持部材26が第一軸S1の他方側に向けて移動し、第3把持部材36が第二軸S2の一方側に向けて移動し、かつ、第4把持部材46が第二軸S2の他方側に向けて移動することを特徴とする。


ガラス強度試験装置


【課題】 簡単な構造でハンマーをガラスに衝突させる為の付勢部材の付勢力調整あるいは交換が容易にできる作業性の良いガラス強度試験装置を提供する。
【解決手段】 付勢部材7cを備えた本体7aと、一端がハンマー4の他端に連結され他端が付勢部材7cに連結される連結部材7bとから付勢装置7を構成する。付勢装置7を架台2に交換可能に設けて、付勢力の異なる複数種類の付勢装置7を容易に交換できることによりハンマー4の衝撃力を容易に変更できる。また、連結部材7bは全長Lを調整することで付勢部材7cの付勢力を調整する付勢力調整機構を備える。


パネル部材の剛性評価方法


【課題】設計段階でパネル部材のスポットひずみに対する剛性の評価を可能とし、これにより短時間かつ低コストでパネル部材の意匠面に生じるひずみを抑制可能とする設計変更を適正に行い得る、パネル部材の剛性評価方法を提供する。
【解決手段】パネル部材の解析モデルを作成するパネル部材モデル化工程S1と、パネル部材モデルに対して所定の1次変位を付与するための溶接用電極の解析モデルを作成する電極モデル化工程S2と、パネル部材モデルの周縁部に、溶接用電極モデルを押付けて、当該周縁部に所定の大きさの1次変位を与える1次変位付与工程S3と、1次変位により周縁部に発生した反力を算出する反力算出工程S4と、1次変位に起因してパネル部材の意匠面に2次的に生じた2次変位を算出する2次変位算出工程S5と、工程S4および工程S5にて得た反力と2次変位に基づき、パネル部材の剛性係数を算出する剛性係数算出工程S6とを主に備える。


つかみ具


【課題】 試験片の端部を容易にドラム部材に装着することが可能なつかみ具を提供すること。
【解決手段】 上つかみ具2は、その断面が略半円状の移動挟持部11と、その断面が略半円状の固定挟持部12とから構成され、その外周部が円筒状の形状をなすドラム部材10を備える。ハンドルギア33とドラム部材駆動ギア39と連結させ、ハンドル31を操作して、移動挟持部11と固定挟持部12からなるドラム部材10を回転させる。また、ハンドルギア33と回転軸駆動ギア38と連結させ、ハンドル31を操作して、回転軸21を回転させることにより、一対のテーパー部材23を移動させる。これにより、移動挟持部11が固定挟持部12に対して移動する。


薄膜歪み電気特性評価装置及び薄膜歪み電気特性評価方法


【課題】 本発明は、このような状況を鑑みてなされたもので、簡易な構成で、従来よりも詳細に薄膜の電気特性の評価を行うことができる薄膜歪み電気特性評価装置及び薄膜歪み電気特性評価方法を提供するものである。
【解決手段】薄膜Fを支持する支持部としての試料台支持部2と、薄膜Fを押圧し、当該薄膜Fを歪んだ状態にさせる押圧手段としてのピエゾアクチュエータ6と、ピエゾアクチュエータ6による押圧により薄膜Fが歪む際の薄膜Fの電気抵抗(電気特性)を測定する測定手段としての測定制御・解析部7とを備えるようにした。これにより薄膜歪み電気特性評価装置1では、ピエゾアクチュエータ6により薄膜Fを単に押圧して歪ませる簡単な構成を用いつつ、当該ピエゾアクチュエータ6による薄膜Fの歪ませ初めから、当該薄膜Fの歪ませ終了時までの途中過程における当該薄膜Fの電気抵抗を測定でき、かくして簡易な構成で、従来よりも詳細に薄膜の電気抵抗の評価を行うことができる。


試験装置、試験方法


【課題】試験片の屈曲耐性を求めることができる試験装置、試験方法を提供する。
【解決手段】試験片72を載置する載置面86xと、載置面86xに対して略垂直に配置されると共に、試験片72を載置面86xの面上で湾曲させた状態で挟持する第1平板73及び第2平板74と、第1平板73と第2平板74との距離を相対的に移動させる移動機構75と、第1平板73と第2平板74との距離を測定する計測器と、を備える。


シリコンウェーハの機械的強度測定装置および測定方法


【課題】ウェーハを試験片として切り出すことなく、ウェーハ自体の機械的強度を精度よく測定するために好適な装置および方法の提供。
【解決手段】所定の間隔を置いて平行に配置されたライン状凸曲面部を有する一対の支持部材と、該支持部材間の上方位置に、支持部材と平行に配置されたライン状凸曲面部を有する押圧部材とを具え、前記支持部材および前記押圧部材の少なくともシリコンウェーハと接触する前記凸曲面部の表面における算術平均粗さRaが0.4〜3.0μmの範囲であり、前記支持部材に載置したシリコンウェーハの真上から前記押圧部材をシリコンウェーハ面との平行状態を維持しながら降下させてシリコンウェーハを押圧し、押圧部材を包む方向にシリコンウェーハを曲げ変形させることによりシリコンウェーハの機械的強度を測定することを特徴とする、シリコンウェーハの機械的強度測定装置。


シングルリード楽器のリード検査装置


【課題】リードの表面と裏面の特性の比較、左右のバランス及び標準品と比較した硬さの特性を客観的な指標で表示する。
【解決手段】回転テーブル2上にホルダガイド11を設け、このホルダガイド11に着脱自在にホルダ10を装着する。ホルダ10は検査対象のリードRを保持する。ホルダ10を反転させて、リードRの裏と表の検査を行う。リードRの表面に探針20を一定の圧力で接触させ、回転テーブル2を回転させながら探針20の変形度を変位センサ30で検出する。変位センサ30からリードRの幅方向の剛性分布が得られる。表側の特性グラフと裏側の特性グラフの反転グラフとを一画面に表示することで表裏の剛性分布特性を検査する。表側と裏側の特性グラフをそれらの反転グラフと重ねあわせてできる面積から、バランス指標を計算する。検査対象のリードの表裏の特性の積分値と、標準品のリードの表裏の特性の積分値に基いて固さ指標を得る。


破壊試験片


【課題】同じ溶接残留応力分布下における塑性拘束の影響を評価できる破壊試験片を提供すること。
【解決手段】所定の延在方向に延びる板状の破壊試験片1であって、溶接ビード2と、上記溶接ビード2を分断し板厚方向に抜ける溝状のき裂3とを有する。


部材の疲労破壊確率推定装置、部材の疲労破壊確率推定方法、及びコンピュータプログラム


【課題】 機械部品の長寿命域において低い確率で起こる疲労破壊の確率を従来よりも正確に推定できるようにする。
【解決手段】 部材の位置によって変化する平均応力に対応して変化する部材の疲労強度が、部材の位置に関わらず、見かけ上、部材の平均応力が0(ゼロ)のときの値で一定となるように、部材の各位置の有効応力(応力振幅)σipに応力補正量σcorrを加算して部材の有効体積Vepを計算し、この部材の有効体積Vepを使って部材の疲労による累積破壊確率Pfpを導出する。


粘弾性体の試験方法および試験装置


【課題】任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。
【解決手段】粘弾性体の試料を試験する方法であって、試料を、少なくとも10%の初期歪みを与えた状態で試料保持手段に固定する工程と、固定された試料に対し、試料保持手段とは別に設けられた試験手段を用いて試験を行う工程とを含む試験方法である。また、粘弾性体の試料を試験する装置であって、試料40を静的に固定可能な試料保持手段30と、試料を試験する試験手段20とを備え、試料保持手段30と試験手段20とがそれぞれ独立して設けられている試験装置10である。


試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料


【課題】当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。
【解決手段】荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置13a及び13bは、前記屈曲に伴い、把持部21a及び21bを回動し、一対の把持部21a及び21bを近接又は離反するように移動可能とする軸部22a及び22bと、を備える


材料への水素チャージ方法および材料の水素脆化特性の評価方法

【課題】材料への水素チャージ方法およびこの水素チャージ方法を利用した水素脆化特性の評価方法において、材料の溶失をほとんど生じさせることなく、材料に対して、必要とされるレベルの拡散性水素濃度に水素を簡便且つ低コストにチャージする。
【解決手段】pH3.0以上の緩衝液に水素チャージ用触媒を添加した溶液、好ましくは水素チャージ用触媒を0.001mass%以上含む溶液に材料を浸漬することにより、材料に水素をチャージする。


コンベヤベルトの衝撃試験方法および装置


【課題】簡便な設備によって、衝撃力を受けた際のコンベヤベルトの変形状態のデータを取得できるコンベヤベルトの衝撃試験方法および装置を提供する。
【解決手段】コンベヤベルトの試験サンプル8の長手方向のそれぞれの端部を固定クランプ2aと可動クランプ2bによってクランプして張設した試験サンプル8を、長手方向に所定間隔Sをあけた2つの支持位置SPで支持体3によって支持し、2つの支持位置SPの間の試験サンプル8上に設定した落下位置FPに落下体4を落下させることにより、下方に突出するように変形させた試験サンプル8によって、落下位置FPで試験サンプル8の下方に配置した変形形状保持体5を押圧して変形させて、この変形させた試験サンプル8の変形形状を転写した変形形状保持体5の形状に基づいて試験サンプル8の変形状態のデータを取得する。


二軸引張試験装置


【課題】単軸の引張試験機によって直交する二軸に沿った四方向への引っ張り試験が可能となり、かつその引っ張り動作を四方向について互いに同期させて行うことができるとともに、従来のような、4台の油圧シリンダを用いた機構のように二軸の四方向に沿う面倒な軸合わせが不要となる二軸引張試験装置を提供する。
【解決手段】第1、第2の回転板2,3が互いに平行にかつ面方向に沿って相対回転可能に配置される。左右のリンク5A〜8A、5B〜8Bの内端をそれぞれ第1、第2の回転板にまたがった状態で回転可能に取り付けられるとともに左右のリンクの外端を互いに回転可能に連結されたリンク組が、第1、第2の回転板の回転軸線を中心にその周方向へ90度おきに設けられて第1〜第4のリンク組5〜8とされる。第1〜第4のリンク組には、それぞれ試験片を保持するための試験片保持手段が取り付けられている。


薄膜の機械的特性測定装置及び測定方法


【課題】 圧縮残留応力のある薄膜でも機械的特性を容易に測定する。
【解決手段】 ウエハ4上にほぼ扇形に形成された共振デバイス2がその扇形の要付近に回転可能に支持部6によって支持され、扇形の一方の辺に静電引力付与用の櫛歯電極8を有している。櫛歯電極8に振動用の電圧を周波数可変電源18が供給する。共振デバイス2単独及び共振デバイス2に薄膜を成膜した状態で、周波数可変電源18から周波数を変化させた電圧が供給されたときの振幅の変化から共振デバイス2単独及び成膜時の共振デバイス2の共振周波数をそれぞれ共振デバイス2の櫛歯電極12を用いて測定する。共振デバイス2単独の共振周波数と、成膜時の共振デバイス2の共振周波数と、薄膜の密度及び厚さと、共振デバイス2単独のヤング率、密度及び厚さとに基づいて、薄膜のヤング率を演算装置24が算出する。


応力ひずみ曲線算出装置、応力ひずみ曲線算出方法およびプログラム


【課題】軟質発泡材に対して、ひずみ速度に依存する応力ひずみ曲線を算出することができる応力ひずみ曲線算出装置等を提供する。
【解決手段】制御部13は、ある加振周波数によって行った加振実験の実験データ(=加振周波数、試験片1にかかる荷重、試験片1の変位)を入力する(S101)。制御部13は、慣性力補正後の荷重を算出し(S102)、試験片1のひずみ、ひずみ速度、応力を算出する(S103)。制御部13は、S103にて算出されたひずみ、ひずみ速度、応力の3変数データを三次元散布図にプロットする(S104)。制御部13は、全ての実験済みの加振周波数について処理が終了したか確認し(S105)、処理が終了している場合、制御部13は、S104にて生成された三次元散布図上の点群から補完処理を行い、応力の応答曲面を生成し、記憶部15に記憶する(S106)。


試験装置及び試験方法


【課題】半導体装置に安定して応力を加えることができ、応力が加えられた半導体装置を容易に確認できる。
【解決手段】基板1gの主面に配置された半導体装置Xの曲げ試験を行う試験装置10は、基板1gの主面の反対側の裏面に対向配置された凸状表面を有する押し駒4と、基板1gを押し駒4側に移動させて、裏面を押し駒4に当接させる当接手段1と、を有する。このような試験装置10では、半導体装置Xに安定して応力を加えることができ、応力が加えられた半導体装置Xを容易に確認できる。


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